FI125240B - Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa - Google Patents

Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa Download PDF

Info

Publication number
FI125240B
FI125240B FI20135483A FI20135483A FI125240B FI 125240 B FI125240 B FI 125240B FI 20135483 A FI20135483 A FI 20135483A FI 20135483 A FI20135483 A FI 20135483A FI 125240 B FI125240 B FI 125240B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
image
light source
paper
objects
pixel
Prior art date
Application number
FI20135483A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20135483A (fi
Inventor
Jukka-Pekka Raunio
Mikko Mäkinen
Henry Skoog
Clayton Campbell
Original Assignee
Kemira Oyj
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to FI20135483A priority Critical patent/FI125240B/fi
Application filed by Kemira Oyj filed Critical Kemira Oyj
Priority to PT147275747T priority patent/PT2994748T/pt
Priority to KR1020157030585A priority patent/KR102191209B1/ko
Priority to PCT/FI2014/050344 priority patent/WO2014181044A1/en
Priority to EP14727574.7A priority patent/EP2994748B1/en
Priority to CN201480026553.2A priority patent/CN105229464B/zh
Priority to AU2014264458A priority patent/AU2014264458B2/en
Priority to CA2909404A priority patent/CA2909404C/en
Priority to BR112015027412-9A priority patent/BR112015027412B1/pt
Priority to US14/888,989 priority patent/US9816977B2/en
Priority to ES14727574.7T priority patent/ES2642824T3/es
Publication of FI20135483A publication Critical patent/FI20135483A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI125240B publication Critical patent/FI125240B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34—Paper
    • G01N33/346—Paper paper sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34—Paper
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/40—Analysis of texture
    • G06T7/41—Analysis of texture based on statistical description of texture
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/50—Depth or shape recovery
    • G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
    • G06T7/586—Depth or shape recovery from multiple images from multiple light sources, e.g. photometric stereo
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G01N2021/8663—Paper, e.g. gloss, moisture content
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G01N2021/8917—Paper, also ondulated
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N2021/8924—Dents; Relief flaws
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30124—Fabrics; Textile; Paper

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Probability & Statistics with Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (11)

1. Menetelmä kuitujen vapaiden päiden detektoimiseksi paperin pinnassa, joka menetelmä käsittää - kohdenäytteen kuitujen vapaita päitä käsittävän pinnan valaisemisen ainakin neljästä suunnasta yksi kerrallaan ainakin yhdellä valonlähteellä (1), - yhden alkuperäisen heijastuskuvan saamisen kohdenäytteen pinnasta kuvanta-mislaitteella (4) kustakin valonlähteen suunnasta, tunnettu siitä, että - estimoidaan alkuperäisen heijastuskuvan kullekin kuvapikselille pinnan normaali, - rekonstruoidaan rekonstruoitu heijastuskuva estimoiduista pinnan normaaleista, ja - verrataan rekonstruoitua heijastuskuvaa ja alkuperäistä heijastuskuvaa ja konstruoidaan erotuskuva, jossa erot edustavat kuitujen vapaiden päiden varjo-objekteja paperin pinnassa.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että - rekonstruoidaan kaksi rekonstruoitua heijastuskuvaa estimoiduista pinnan normaaleista, - verrataan kutakin rekonstruoitua heijastuskuvaa ja alkuperäistä heijastuskuvaa ja konstruoidaan kaksi erotuskuvaa, joissa erot edustavat kuitujen vapaiden päiden varjo-objekteja paperin pinnassa, ja - lasketaan varjo-objektien lukumäärän keskiarvo erotuskuvissa.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valonlähteen (1) sädekuvio kohdenäytteen pinnalla kompensoidaan käyttämällä toisen kertaluvun 2D-polynomin sovitusta alkuperäiseen heijastuskuvaan.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että - pikseli-intensiteettiarvoja kompensoidaan laskemalla kunkin kuvapikselin ja valonlähteen (1) väliset etäisyydet pikseli-intensiteetin kompensointitulosten matriisin saamiseksi, ja - alkuperäinen heijastuskuva kerrotaan pisteittäin pikseli-intensiteetin kompensoin-titulosten matriisin kanssa ja jaetaan alkuperäinen heijastuskuva pisteittäin 2D-polynomilla.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että varjo-objektit detektoidaan erotuskuvassa käyttämällä suodatus- ja/tai prosessointimenetelmiä, jotka vahvistavat kuitujen vapaiden päiden varjo-objekteja paperin pinnassa.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että - lasketaan histogrammi, joka esittää pikseliarvojakauman suodatetul-le/prosessoidulle erotuskuvalle, jossa varjo-objektit on vahvistettu, - asetetaan kynnys haluttuun arvoon ja saadaan rajattu erotuskuva, - pyöreät objektit poistetaan rajatusta erotuskuvasta käyttämällä ellipsinsovitusal-goritmeja, ja - hyväksytään rajatusta erotuskuvasta varjo-objektit, joiden pituus on suurempi kuin hyväksymisraja, ja/tai objektit, joiden eksentrisyys ylittää ennalta määrätyn arvon, ja/tai objektit, joiden pääakseli poikkeaa korkeintaan 30 astetta, 45 astetta tai 90 astetta valonlähteen (1) suunnasta.
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kohdenäytteen kuitujen vapaita päitä käsittävää pintaa valaistaan ainakin 6:sta, edullisesti ainakin 8:sta, vieläkin edullisemmin ainakin 10:stä, jopa vieläkin edullisemmin ainakin 12:sta, suunnasta.
8. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kohdenäyte on liikkuva paperiraina ja että menetelmä suoritetaan on-line.
9. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että varjo-objektien lukumäärä lasketaan ja prosessiparametreja muutetaan saadun tuloksen perusteella.
10. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että - ensimmäinen lineaarinen polarisaattori järjestetään kuvantamislaitteen (4) eteen ja toinen lineaarinen polarisaattori valonlähteen (1) eteen ensimmäisen ja toisen polarisaattorin ollessa 90 asteen kulmassa toisiinsa, ja - polarisaattorien välinen orientaatio säilytetään vakiona mittauksen ajan.
11. Järjestelmä kuitujen vapaiden päiden detektoimiseksi paperissa, erityisesti pehmopaperilaaduissa, joka järjestelmä käsittää - ainakin neljä valonlähdettä (1), kuten LEDiä, jotka on kiinnitetty kuvantamislaitteen (4) ympärille, tai yhden valonlähteen (1), joka on kiinnitetty tukivarteen, joka on järjestetty kiertämään kuvantamislaitteen (4) ympäri, ja jotka valonlähteet on järjestetty valaisemaan kohdenäytteen kuitujen vapaita päitä käsittävä pinta ainakin neljästä suunnasta yksi kerrallaan, ja - kuvantamislaitteen (4), kuten digitaalisen järjestelmäkameran, joka on järjestetty etäisyyden päähän näytepidikkeestä, yhden alkuperäisen heijastuskuvadatan detektoimiseksi kohdenäytteen pinnasta kullekin valonlähteen suunnalle, tunnettu siitä, että järjestelmä käsittää dataprosessointiyksikön, joka on järjestetty - alkuperäisen heijastuskuvadatan vastaanottamiseksi kuvantamislait-teelta (4), - pinnan normaalin estimoimiseksi alkuperäisen heijastuskuvan kullekin kuvapikselille, - rekonstruoidun heijastuskuvan rekonstruoimiseksi estimoiduista pinnan normaaleista, ja - rekonstruoidun heijastuskuvan ja alkuperäisen heijastuskuvan vertaamiseksi ja erotuskuvan konstruoimiseksi, jossa erot edustavat kuitujen vapaiden päiden varjo-objekteja paperin pinnassa.
FI20135483A 2013-05-10 2013-05-10 Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa FI125240B (fi)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20135483A FI125240B (fi) 2013-05-10 2013-05-10 Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa
KR1020157030585A KR102191209B1 (ko) 2013-05-10 2014-05-09 페이퍼 내 자유 섬유 단부를 검출하기 위한 방법 및 장치
PCT/FI2014/050344 WO2014181044A1 (en) 2013-05-10 2014-05-09 Method and arrangement for detecting free fibre ends in paper
EP14727574.7A EP2994748B1 (en) 2013-05-10 2014-05-09 Method and arrangement for detecting free fibre ends in paper
PT147275747T PT2994748T (pt) 2013-05-10 2014-05-09 Método e disposição para detetar extremidades livres de fibra em papel
CN201480026553.2A CN105229464B (zh) 2013-05-10 2014-05-09 检测纸张中的游离纤维端部的方法及装置
AU2014264458A AU2014264458B2 (en) 2013-05-10 2014-05-09 Method and arrangement for detecting free fibre ends in paper
CA2909404A CA2909404C (en) 2013-05-10 2014-05-09 Method and arrangement for detecting free fibre ends in paper
BR112015027412-9A BR112015027412B1 (pt) 2013-05-10 2014-05-09 Método e arranjo para detectar extremidades livres de fibra em papel
US14/888,989 US9816977B2 (en) 2013-05-10 2014-05-09 Method and arrangement for detecting free fibre ends in paper
ES14727574.7T ES2642824T3 (es) 2013-05-10 2014-05-09 Método y disposición para detectar extremos libres de fibras en papel

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20135483A FI125240B (fi) 2013-05-10 2013-05-10 Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa
FI20135483 2013-05-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI20135483A FI20135483A (fi) 2014-11-11
FI125240B true FI125240B (fi) 2015-07-31

Family

ID=50877333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20135483A FI125240B (fi) 2013-05-10 2013-05-10 Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa

Country Status (11)

Country Link
US (1) US9816977B2 (fi)
EP (1) EP2994748B1 (fi)
KR (1) KR102191209B1 (fi)
CN (1) CN105229464B (fi)
AU (1) AU2014264458B2 (fi)
BR (1) BR112015027412B1 (fi)
CA (1) CA2909404C (fi)
ES (1) ES2642824T3 (fi)
FI (1) FI125240B (fi)
PT (1) PT2994748T (fi)
WO (1) WO2014181044A1 (fi)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI126174B (fi) * 2012-12-04 2016-07-29 Valmet Automation Oy Pehmopaperin mittaus
EP3057067B1 (en) * 2015-02-16 2017-08-23 Thomson Licensing Device and method for estimating a glossy part of radiation
EP3193158B1 (en) * 2016-01-14 2020-06-17 Volkswagen AG System and method for assessing the visual appearance of a reflective surface
BR112021017036A2 (pt) * 2019-03-20 2021-11-09 Bobst Mex Sa Sistema de geração de imagens de câmeras múltiplas usando uma linha de laser
CN109916339B (zh) * 2019-03-21 2020-11-06 浙江理工大学 一种基于光照体视系统的测量纤维角度的方法及装置
DE102019115138B3 (de) * 2019-06-05 2020-12-10 TRüTZSCHLER GMBH & CO. KG Karde, Vliesleitelement, Spinnereivorbereitungsanlage und Verfahren zur Erfassung von störenden Partikeln
CN111896550A (zh) * 2020-03-31 2020-11-06 广西师范大学 一种表面缺陷检测装置及方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI45799C (fi) * 1971-03-23 1972-09-11 Valmet Oy Menetelmä paperin tai vastaavan kuituorientaation määräämiseksi paperi sta heijastuneen valon avulla.
US4300981A (en) 1979-11-13 1981-11-17 The Procter & Gamble Company Layered paper having a soft and smooth velutinous surface, and method of making such paper
FI84761B (fi) * 1989-04-05 1991-09-30 Keskuslaboratorio Foerfarande och anordning foer bestaemning av dimensionen pao traespaon.
WO1998041814A1 (en) * 1997-03-14 1998-09-24 Hewlett-Packard Company Non-contact position sensor
FI108675B (fi) 1998-06-23 2002-02-28 Ambertec Oy Menetelmä ja laite kuituorientaation määrittämiseen paperinäytteestä
JP2002340797A (ja) * 2001-05-15 2002-11-27 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 反射特性計測装置
US7826642B2 (en) * 2002-06-24 2010-11-02 Shenkar College Of Engineering And Design Electro-optical method and apparatus for evaluating protrusions of fibers from a fabric surface
WO2004072659A2 (en) * 2003-02-07 2004-08-26 University Of Southern California Reflectometry apparatus and method
CN1170118C (zh) * 2003-03-18 2004-10-06 周胜 实时检测非织造布厚度和纤维取向度的方法
DE602004030697D1 (de) 2003-09-16 2011-02-03 Paper Australia Pty Ltd Blattoberflächen-analysator und verfahren zum analysieren einer blattoberfläche
GB0424417D0 (en) * 2004-11-03 2004-12-08 Univ Heriot Watt 3D surface and reflectance function recovery using scanned illumination
JP4073907B2 (ja) * 2004-11-16 2008-04-09 株式会社日本コンラックス 紙葉類識別装置
US8385657B2 (en) 2007-08-01 2013-02-26 Yeda Research And Development Co. Ltd. Multiscale edge detection and fiber enhancement using differences of oriented means
JP5116462B2 (ja) * 2007-12-28 2013-01-09 Ｊｆｅ電制株式会社 紙の裁断面の品質評価装置及びそれを用いた品質評価方法
US20100040825A1 (en) 2008-08-18 2010-02-18 John Allen Manifold Fibrous structures and methods for making same
US20100155004A1 (en) 2008-12-19 2010-06-24 Soerens Dave A Water-Soluble Creping Materials
US8958898B2 (en) 2011-11-07 2015-02-17 Nalco Company Method and apparatus to monitor and control sheet characteristics on a creping process

Also Published As

Publication number Publication date
AU2014264458A1 (en) 2015-11-05
ES2642824T3 (es) 2017-11-20
BR112015027412B1 (pt) 2022-03-15
WO2014181044A1 (en) 2014-11-13
AU2014264458B2 (en) 2018-02-22
CN105229464A (zh) 2016-01-06
CA2909404C (en) 2021-08-31
CN105229464B (zh) 2017-05-03
FI20135483A (fi) 2014-11-11
BR112015027412A2 (fi) 2017-08-29
US20160084819A1 (en) 2016-03-24
CA2909404A1 (en) 2014-11-13
EP2994748A1 (en) 2016-03-16
PT2994748T (pt) 2017-09-13
KR20160006171A (ko) 2016-01-18
EP2994748B1 (en) 2017-07-12
US9816977B2 (en) 2017-11-14
KR102191209B1 (ko) 2020-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI125240B (fi) Menetelmä ja järjestelmä vapaiden kuidunpäiden havaitsemiseen paperissa
US9841383B2 (en) Multiscale uniformity analysis of a material
US20170191946A1 (en) Apparatus for and method of inspecting surface topography of a moving object
TWI285737B (en) Inspection of transparent substrates for defects
KR102291429B1 (ko) 표면 검사 시스템 및 표면 검사 방법
JPH01235837A (ja) ウエブ材料を分析する方法及び装置
Hansson et al. Topography and reflectance analysis of paper surfaces using a photometric stereo method
Inoue et al. Point spread function of specular reflection and gonio-reflectance distribution
Raunio et al. Method for detecting free fiber ends in tissue paper
Raunio Quality characterization of tissue and newsprint paper based on image measurements; possibilities of on-line imaging
JP3586169B2 (ja) 鮮明度光沢度の測定方法及び測定装置
JP2005003691A5 (fi)
JP2007506072A (ja) シート表面の分析装置と分析方法
Nakamura et al. Measurement of Gloss Unevenness with Different Reflection Angles
Johnson Defect and thickness inspection system for cast thin films using machine vision and full-field transmission densitometry
Kuivalainen Glossmeters for the measurement of gloss from flat and curved objects
Dirckx et al. Reflective coatings in optical interferometry for in vitro studies of the eardrum
Raunio et al. Web-wide imaging of paper; Analyzing the potential of on-line light transmittance measurement in quality control and diagnostics of paper
JP2004053534A (ja) 光沢測定装置及び方法
JP2019124522A (ja) 湿紙の検査方法
Hansson Surface characterization using radiometric and Fourier optical methods
CN112326600A (zh) 三维断层摄影检查装置及方法
Goddard Jr et al. Depth measurement of moving slurry at the wet end of a paper machine
WO2017222365A1 (en) Method for testing banknote quality and device for testing banknote quality
Abidi et al. Depth Measurement of Moving Slurry at the Wet End of a Paper Machine

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 125240

Country of ref document: FI

Kind code of ref document: B