FI124240B - Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto - Google Patents
Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto Download PDFInfo
- Publication number
- FI124240B FI124240B FI20115822A FI20115822A FI124240B FI 124240 B FI124240 B FI 124240B FI 20115822 A FI20115822 A FI 20115822A FI 20115822 A FI20115822 A FI 20115822A FI 124240 B FI124240 B FI 124240B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- filter
- emission
- site
- store
- excitation
- Prior art date
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 45
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 25
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 4
- 238000002875 fluorescence polarization Methods 0.000 claims description 4
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012883 sequential measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004781 supercooling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6445—Measuring fluorescence polarisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0444—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using means for replacing an element by another, e.g. for replacing a filter or grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0488—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0488—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering
- G01J1/0492—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering using at least two different filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/006—Filter holders
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
KUOPPALEVYNLUKIJA JA DYNAAMINEN SUODINVARASTO
TEKNIIKAN ALA
5
Esillä oleva keksintö koskee yleisesti kuoppalevynlukijaa. Keksintö koskee erityisesti, mutta ei yksinomaan, suotimien dynaamista varastointia kuoppalevynlukijaa varten.
10 TAUSTAN A O LEVA TEKNIIKKA
Nykyisin tunnetaan kuoppalevynlukijoita, joissa on erillisiä suodinluisteja virityssuotimia ja emissiosuotimia varten. Laitteistot näytteiden säteilyttämiseksi, joille voi olla ominaista se, että valo läpäisee näytteet (läpäisy), se, että näytteet 15 heijastavat valon (heijastus), se, että valo on lähtöisin näytteen päältä tai sisältä (fluoresenssi), tai se, että näytteet itse emittoivat valon (luminesenssi), ovat pitkään olleet tunnettuja mikroskoopeista, spektrofotometreista, fluoresenssimittareista ja vastaavista. Valoa, joka tunkeutuu näytteen läpi säteilytyksen aikana tai joka heijastuu siitä, tai fluoresenssia, joka on lähtöisin 20 näytteen päältä tai sisältä, kutsutaan seuraavassa ’’näytteestä lähteväksi valoksi”, ja sitä mitataan esimerkiksi yhdellä tai useammalla fotoilmaisimella. Tunnetaan eri optisten suotimien käyttö niihin valonsäteisiin vaikuttamiseksi, joilla näytteitä säteilytetään, tai siihen valoon vaikuttamiseksi, joka läpäisee ne (ns. virityssuotimet). Samalla tavoin tunnetaan emissiosuotimia, jotka vaikuttavat 0 25 näytteiden emittoimaan valoon. Suodinluistit, jotka käsittävät vähintään yhden cvj sellaisen suotimen, mutta edullisesti useita sellaisia optisia suotimia, joita voidaan i g siirtää määritellyllä liikkeellä valotielle, ovat erityisen käyttäjäystävällisiä.
CC
YHTEENVETO
CVJ
cm on co 30 m ^ Keksinnön ensimmäisen esimerkinomaisen näkökohdan mukaan saadaan aikaan o
CVJ
suodinmoduuli suotimen varastoimiseksi ja siirtämiseksi varastopaikan, virityspaikan ja emissiopaikan välillä, joka suodinmoduuli käsittää 2 ensimmäisen suodinvaraston, joka käsittää ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon; toisen suodinvaraston, joka käsittää toisen suodinvarastopaikkojen joukon; ja 5 suotimen siirtomekanismin, joka on konfiguroitu siirtämään suodinta virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä.
Keksinnön toisen esimerkinomaisen näkökohdan mukaan saadaan aikaan 10 laitteisto näytteiden mittaamiseksi optisesti, joka laitteisto käsittää säteilylähteen, joka on konfiguroitu muodostamaan viritysvalo virityskanavaan; ilmaisimen, joka on konfiguroitu ilmaisemaan emissiovalo emissiokanavassa; 15 suotimen, joka on konfiguroitu sijaitsemaan virityspaikassa virityskanavassa ja emissiopaikassa emissiokanavassa; ja ensimmäisen näkökohdan mukaisen suodinmoduulin.
Laitteisto voi olla konfiguroitu tallentamaan suotimen optisten tietojen ja suotimen 20 paikan välinen yhteys, jolloin suotimen paikka on vähintään yksi seuraavista: virityspaikka, emissiopaikka, ensimmäinen suodinvarastopaikkojen joukko ja toinen suodinvarastopaikkojen joukko. Lisäksi suotimen siirtomekanismin aiheuttama suotimen siirto voidaan ilmaista, ja suotimen optisten tietojen ja suotimen paikan välistä yhteyttä voidaan päivittää.
δ 25 c\j cvj Eräässä suoritusmuodossa tarjotaan suotimia koskevia tietoja laitteiston i g käyttäjälle, ja käyttäjälle annetaan mahdollisuus valita suodin vähintään yhdelle x seuraavista: virityspaikka ja emissiopaikka. Suodinta voidaan siirtää suotimen
CL
siirtomekanismia käyttäen virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen
CVJ
ra 30 suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä ^ käyttäjän valinnan mukaisesti.
CVJ
3
Ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto voivat sijaita vähintään osittain vastaavasti virityskanavassa ja emissiokanavassa. Virityspaikka voi olla konfiguroitu olemaan ensimmäisen suodinvaraston suodinvarastopaikka, ja emissiopaikka voi olla konfiguroitu olemaan toisen suodinvaraston 5 suodinvarastopaikka. Toinen suodinvarasto voi olla konfiguroitu varastoimaan suotimen vaihtopaikka, ja suotimen siirtomekanismi voi lisäksi olla konfiguroitu siirtämään suodinta suotimen vaihtopaikan ja ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä. Ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto ovat esimerkiksi pyöreämuotoisia tai luistin muotoisia. Ensimmäinen 10 suodinvarasto ja toinen suodinvarasto voi olla konfiguroitu olemaan siirrettävissä säteilylähteen ja ilmaisimen suhteen.
Eräässä suoritusmuodossa ensimmäinen suodinvarasto sijaitsee toisen suodinvaraston vieressä. Lisäksi vähintään yksi ensimmäisestä 15 suodinvarastopaikkojen joukosta ja toisesta ensimmäisten suodinvarastopaikkojen joukosta käsittää apertuurin, joka on konfiguroitu saamaan aikaan fokuspiste mitattavalle näytteelle. Vielä lisäksi vähintään kaksi suodinvarastopaikkaa käsittää erikokoiset apertuurit, jotka on konfiguroitu saamaan aikaan vaihtoehtoiset fokuspisteet mitattavalle näytteelle. Laitteisto voi lisäksi käsittää kuoppalevyn 20 lukijan ja mitattavat näytteet voivat olla kuoppalevyllä. Näytettä mitataan käyttäen esimerkiksi vähintään yhtä seuraavista teknologioista: fluoresenssin intensiteetti; absorbanssi; luminesenssi; δ 25 - aikaerotteinen fluoresenssi ja
C\J
cvj - fluoresenssin polarisaatio.
i m o x Kolmannen esimerkinomaisen näkökohdan mukaisesti saadaan aikaan
CC
CL
menetelmä näytteiden mittaamiseksi optisesti käyttäen ensimmäisen näkökohdan co 30 mukaista suodinmoduulia, joka menetelmä käsittää seuraavaa:
LO J
^ tarjotaan ensimmäinen suodinvarastopaikkojen joukko ensimmäiseen 00 suodinvarastoon; tarjotaan toinen suodinvarastopaikkojen joukko toiseen suodinvarastoon; 4 siirretään virityssuodinta ja emissiosuodinta virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä; muodostetaan viritysvalo virityskanavaan käyttäen säteilylähdettä; 5 suodatetaan viritysvalo virityskanavassa käyttäen virityspaikassa sijaitsevaa virityssuodinta; suodatetaan emissiovalo emissiokanavassa käyttäen emissiopaikassa sijaitsevaa emissiosuodinta; ja ilmaistaan emissiovalo emissiokanavassa käyttäen ilmaisinta.
10
Neljännen esimerkinomaisen näkökohdan mukaisesti saadaan aikaan tietokoneohjelma, joka sisältyy tietokoneen luettavissa olevaan tietovälineeseen, joka käsittää tietokoneen suoritettavissa olevan ohjelmakoodin, joka, kun se suoritetaan laitteiston vähintään yhdessä suorittimessa, saa laitteiston 15 suorittamaan kolmannen näkökohdan mukaisen menetelmän.
Edellä on havainnollistettu esillä olevan keksinnön erilaisia sitomattomia esimerkinomaisia näkökohtia ja suoritusmuotoja. Edellä esitettyjä suoritusmuotoja käytetään vain selittämään valikoituja näkökohtia tai vaiheita, joita voidaan 20 hyödyntää esillä olevan keksinnön toteutuksissa. Jotkin suoritusmuodot voi olla esitetty vain viittaamalla keksinnön tiettyihin esimerkinomaisiin näkökohtiin. On ymmärrettävä, että vastaavat suoritusmuodot voivat koskea myös muita esimerkinomaisia näkökohtia.
δ 25 PIIRUSTUSTEN LYHYT KUVAUS c\j C\l
O
g Keksintöä kuvataan vain esimerkinomaisesti viittaamalla oheisiin piirustuksiin, x joissa
CL
C\J
co 30 kuvio 1 esittää kaavamaisen kuvan keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon m ^ mukaisen laitteiston suodinmoduulista; o ’
CM
kuvio 2 esittää kaavamaisen kuvan keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaisen sellaisen laitteiston suodinmoduulista, jossa ei ole kansiosaa; 5 kuvio 3 esittää kaavamaisen kuvan suodinmoduulista yksityiskohtaisemmassa paikassa keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaista suotimen siirtomekanismia varten; kuvio 4 esittää esimerkinomaisen lohkokaavion laitteistosta, johon keksinnön 5 erilaisia suoritusmuotoja voidaan soveltaa; ja kuvio 5 esittää keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaisen menetelmän vuokaaviota.
YKSITYISKOHTAINEN KUVAUS
10
Seuraavassa kuvauksessa samankaltaiset numerot osoittavat samankaltaisia elementtejä.
Kuoppalevynlukijassa käytetään viritykseen ja emissioon käytettävien suotimien 15 joukkoa. Keksinnön eräässä suoritusmuodossa laitteisto käsittää vähintään yhden suodinvaraston ja mekanismin suotimien siirtämiseksi varaston ja viritystä ja emissiota varten olevien käyttöpaikkojen välillä. Lisäksi on saatu aikaan tietokonejärjestelmä suotimen käytön ja vaihdon ohjaamiseksi. Laitteiston käyttäjälle voidaan antaa luettelo varastossa olevista suotimista ja niiden optisista 20 ominaisuuksista, ja tietokonejärjestelmä voi käyttäjän valintojen mukaisesti ohjata mekanismia haluttujen suotimien käyttämiseksi viritykseen ja emissioon.
Eräässä suoritusmuodossa suodin on optinen suodin, joka toimii säteilyn, esimerkiksi valon, tiettyä aallonpituutta ympäröivällä kaistalla. Lisäksi voidaan o 25 käyttää ylipäästö- ja alipäästösuotimia. Optinen suodin voi olla esimerkiksi cvj interferenssisuodin, värillinen lasisuodin tai niiden yhdistelmä. Virityssuodinta i g voidaan käyttää tietyn keskiaallonpituuskaistan kaistanpäästöön näytteen x virityssäteilytyksestä. Emissiosuodinta voidaan käyttää tietyn
CL
keskiaallonpituuskaistan kaistanpäästöön näytteen emissiosäteilytyksestä.
cu on oo 30 m ^ Eräässä suoritusmuodossa laitteisto käsittää suodinvaraston, joka on konfiguroitu
CU
varastoimaan sekä virityssuotimia että emissiosuotimia. Tällainen suodinvarasto voi käsittää kaksi suodinvarastoa suotimien varastoimiseksi ja suotimen 6 siirtomekanismin suotimien siirtämiseksi kahden varaston välillä. Vähintään yksi ensimmäisen suodinvaraston paikka voi olla konfiguroitu olemaan virityspaikka, joka on vähintään osittain päällekkäinen laitteiston virityskanavan kanssa. Vähintään yksi toisen suodinvaraston paikka voi olla konfiguroitu olemaan 5 emissiopaikka, joka on vähintään osittain päällekkäinen laitteiston emissiokanavan kanssa. Suotimen siirtomekanismi on konfiguroitu siirtämään suotimia myös virityspaikasta emissiopaikkaan ja päinvastoin käyttäen kahta suodinvarastoa. Laitteisto voi lisäksi käsittää vaihtopaikan, jonka kautta suotimia voidaan lisätä suodinvarastoon ja poistaa siitä. Laitteiston tietokonejärjestelmä voi ohjata 10 suotimien lisäämistä varastoon ja poistamista siitä, ja se pitää kirjaa suotimien tarkasta paikasta varastossa.
Kuvio 1 esittää kaavamaisen kuvan keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaisen laitteiston suodinmoduulista 100. Tässä esimerkissä laitteisto on 15 kuoppalevynlukija. Kuviossa 1 laitteiston suodinmoduuli 100 on esitetty normaalissa käyttöpaikassa. Suodinmoduuli 100 käsittää vähintään yhden kansiosan 110, joka peittää vähintään osittain ensimmäisen ja toisen suodinvaraston (ei esitetty). Suodinmoduuli 100 voi lisäksi käsittää suotimen siirtomekanismin 120 suotimien siirtämiseksi varastossa ja varastoon/varastosta. 20 Suodinmoduuli 100 voi lisäksi käsittää moottorin 130 ensimmäisen suodinvaraston siirtämiseksi ja moottorin 140 toisen suodinvaraston siirtämiseksi. Moottorit voivat siirtää suodinvarastoja esimerkiksi käyttäen hihnaa tai hammaspyörää. Lisäksi kansiosaan 110 on aikaansaatu vaihtoapertuuri 150. Laitteiston käyttäjä voi lisätä ja poistaa suotimia suodinmoduulin 100 suodinvarastoon/suodinvarastosta o 25 käyttäen vaihtoapertuuria 150. Kansiosa 110 voi myös käsittää vähintään yhden cvj valoapertuurin 160, jonka kautta säteilyvalo voi kulkea vähintään osittain i g suodinmoduulin 100 suodinvaraston läpi. Säteilyvalo voi olla esimerkiksi viritysvalo x tai emissiovalo kuoppalevyn näytteen mittaamiseksi. Suodinmoduulin 100
CL
suodinvarasto voi siten olla vähintään osittain päällekkäinen viritysvalon ra 30 virityskanavan kanssa tai emissiovalon emissiokanavan kanssa. Rullia tai ^ laakereita 170 voidaan käyttää avustamaan suodinvarastojen siirtämisessä ja
C\J
niiden liikkeen ohjaamisessa.
7
Kuvio 2 esittää kaavamaisen kuvan keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaisen sellaisen laitteiston suodinmoduulista 100, jossa ei ole kansiosaa. Suodinmoduuli 100 voi käsittää vähintään kaksi suodinvarastoa, joilla on pyöreä muoto, esimerkiksi ympyrän muoto. Ensimmäinen suodinvarasto 210 on sijoitettu 5 sisempään ympyrään, ja se voi käsittää oletusarvoisesti esimerkiksi virityssuotimet. Toinen suodinvarasto 220 on sijoitettu ulompaan ympyrään, ja se voi käsittää oletusarvoisesti esimerkiksi emissiosuotimet. Ensimmäinen ja toinen suodinvarasto voivat pyöriä suhteessa toisiinsa siten, että suotimia voidaan siirtää ensimmäisestä varastosta toiseen ja päinvastoin. Ensimmäistä ja toista 10 suodinvarastoa pyöritetään suhteessa toisiinsa haluttuun paikkaan, jossa halutut varastopaikat ovat vastakkain toisiinsa nähden. Suotimen siirtomekanismi 120 voi sitten siirtää suotimen suodinvarastopaikasta toiseen. Kussakin suodinvarastossa olevien varastopaikkojen määrä voi määräytyä suodinvarastojen koon ja suotimien koon mukaisesti. Kuviossa 2 esitetyssä esimerkinomaisessa suoritusmuodossa 15 sisempi suodinvarasto käsittää 14 suodinpaikkaa ja ulompi suodinvarasto käsittää 24 suodinpaikkaa. Yksi ulommista suodinvarastopaikoista on ns. vaihtopaikka 260, jota voidaan käyttää suotimen lisäämiseen tai poistamiseen.
Eräässä suoritusmuodossa ensimmäinen suodinvarasto 210 voi käsittää 20 virityssuotimet ja toinen suodinvarasto 220 voi käsittää emissiosuotimet. Suodinmoduuli 100 voi lisäksi käsittää kolme tai useampia suodinvarastoja, jotka on sijoitettu samalla tavoin kuin on kuvattu edellä.
Eräässä suoritusmuodossa suotimen siirtomekanismi 120 voi käsittää moottorin 't δ 25 230, akselin 240 ja suodinluistin 250 suotimien siirtämiseksi
C\J
cvj suodinvarastopaikkojen välillä. Moottori 230 käyttää akselia 240, joka saa i g suodinluistin 250 liikkumaan yhdensuuntaisesti (nuolen osoittamalla tavalla) x akselin 240 kanssa ja siirtämään suotimia.
cc 1
CL
CVJ
ra 30 Kun laitteiston 100 käyttäjä haluaa lisätä uuden suotimen varastoon, tietokoneen ^ ohjaama järjestelmä aktivoidaan. Ensin käyttäjä käskee tietokoneen ohjaamaa
C\J
järjestelmää Hipaisemaan suotimen lataustoimenpiteen. Suotimen lataustoimenpiteessä ulompaa suodinvarastoa 220 pyöritetään siten, että 8 vaihtopaikka on kohti käyttäjää ja kohdistettu kansiosan vaihtoapertuuriin 150. Uusi suodin sijoitetaan ulommassa suodinvarastossa 220 olevaan vaihtopaikkaan 260, ja käyttäjä syöttää suotimen tiedot tietokoneen ohjaamaan järjestelmään. Suotimen tiedot voivat käsittää mitä tahansa ominaispiirteitä koskevia tietoja, 5 kuten esimerkiksi kaistanpäästöaallonpituuden. Kun suotimen tiedot on syötetty järjestelmään, suotimen siirtomekanismi 230, 240, 250 ja pyörivät suodinvarastot 210, 220 konfiguroidaan siirtämään suodin ulommassa suodinvarastossa 220 olevasta vaihtopaikasta 260 esimerkiksi mihin tahansa sisemmässä suodinvarastossa 210 tai ulommassa suodinvarastossa 220 olevaan vapaaseen 10 suodinpaikkaan. Ulompaa suodinvarastoa 220 voidaan ensin pyörittää siten, että vaihtopaikka 260 on samalla kohtaa kuin suotimen siirtomekanismin suodinluisti 250. Ulomman suodinvaraston pyöritys voidaan toteuttaa käyttäen moottoria 270, vetopyörää 271, laakereita 272 ja hihnaa (ei esitetty). Sähkömoottorin 270 vetopyörä 271 kuljettaa hihnaa ulomman suodinvaraston 220 ympäri. Hihna 15 pyörittää laakereita 272, jotka kuljettavat suodinvarastoa 220. Samanaikaisesti sisempää suodinvarastoa 210 pyöritetään siten, että tyhjä suodinpaikka on suodinluistin 250 kohdalla. Sisempää suodinvarastoa 210 voidaan pyörittää käyttäen sähkömoottoria 280 samankaltaisella tavalla kuin ulompaa suodinvarastoa 220. Kun suodinvarastot on pyöritetty haluttuihin paikkoihin, 20 suotimen siirtomekaniikka voi siirtää suotimen ulommasta suodinpaikasta sisempään suodinpaikkaan. Jos sisempi suodinvarasto olisi täynnä suotimia, suodin sisemmästä suodinvarastosta olisi siirretty sisemmästä varastosta ulompaan varastoon ennen uuden suotimen lisäämistä järjestelmään. Tietokoneen ohjaama järjestelmä huolehtii siitä, että varastossa on vapaita suodinpaikkoja δ 25 suotimien siirtämiseksi sisemmän ja ulomman varaston välillä tarvittavien
C\J
cvj suotimen liikkeiden suorittamiseksi, o i m o x Eräässä suoritusmuodossa tietokoneen ohjaama järjestelmä tallentaa kaikkia
CL
suotimia koskevat suodintiedot järjestelmän tietokantaan. Lisäksi järjestelmä co 30 tallentaa tiedon kaikkien varastossa olevien suotimien tarkoista m ^ suodinvarastopaikoista. Näin toimimalla järjestelmä tietää tarkasti, missä
CVJ
suodinvarastopaikassa mikäkin suodin on, ja kun käyttäjä pyytää käyttämään haluttua suodinta viritykseen tai emissioon, tietokoneen ohjaama järjestelmä voi 9 käyttää laitteistoa järjestääkseen halutun suotimen suodinvaraston käyttöpaikkaan.
Suotimen poisto varastosta suoritetaan samankaltaisella tavalla, mutta 5 käänteisessä järjestyksessä. Poistettava suodin siirretään ensin sisempään varastoon 210, ja poistettavaa suodinta pyöritetään siten, että suodin on suodinluistin 250 kohdalla. Ulompaa suodinvarastoa 220 pyöritetään siten, että myös vaihtopaikka 260 on suodinluistin 250 kohdalla. Poistettava suodin siirretään sisemmästä suodinvarastosta 210 ulomman suodinvaraston 220 vaihtopaikkaan 10 260, ja ulompaa suodinvarastoa 220 pyöritetään siten, että vaihtopaikka on vaihtoapertuurin 150 kohdalla. Käyttäjä voi sitten poistaa suotimen apertuurista, ja samanaikaisesti tietokoneen ohjaama järjestelmä varmistaa suotimen poiston aktiivisesta suodinjoukosta laitteistossa 100.
15 Eräässä suoritusmuodossa käyttäjä voi valita halutut suotimet tietokoneen ohjaamasta järjestelmän tietokannasta käytettäväksi näytteen mittaamiseen. Voidaan saada aikaan luettelo suotimista ja järjestää se esimerkiksi suotimien aallonpituuden perusteella. Mitä tahansa suodinvarastossa olevia suotimia voidaan käyttää sekä viritystarkoituksiin että emissiotarkoituksiin, ja käyttäjän ei 20 tarvitse tietää suotimen tarkkaa paikkaa varastossa. Laitteisto siirtää käyttäjän valitsemat suotimet oikeisiin paikkoihin. Kun suotimet on siirretty, valittu virityssuodin on virityspaikan kohdalla virityskanavassa ja valittu emissiosuodin on emissiopaikan kohdalla emissiokanavassa. Käyttäjä voi myös määritellä useiden suotimien ohjelman käytettäväksi peräkkäin mittauksessa. Tällaisessa o 25 tapauksessa laitteisto järjestää valitut peräkkäiset suotimet vierekkäisiin paikkoihin cvj suodinvarastokehällä. Tämänkaltainen järjestely vähentää suotimien vaihtoon i m tarvittavaa aikaa.
0
CC
CL
Eräässä suoritusmuodossa vähintään toinen virityspaikasta ja emissiopaikasta ra 30 voidaan sijoittaa ensimmäisen suodinvaraston ja toisen suodinvaraston ^ ulkopuolelle. Tarkoitukseen varattu viritys-/emissiopaikka (ei esitetty) voi olla
CVJ
sijoitettu esimerkiksi säteittäin toisen suodinvaraston 220 viereen, vastakkaiselle puolelle kuin ensimmäinen suodinvarasto 210. Suotimen siirtomekanismi 230, 10 240, 250 voi sitten siirtää suotimia säteittäisesti ensimmäisen suodinvaraston 210, toisen suodinvaraston 220 ja tarkoitukseen varatun viritys-/emissiopaikan välillä.
Eräässä suoritusmuodossa laitteisto voi myös olla konfiguroitu saamaan aikaan 5 erikokoisia fokuspisteitä mitattaville näytteille esimerkiksi viritys- ja emissiovaloja varten. Laitteisto voi käsittää erikokoisia apertuureja valokanavassa tätä tarkoitusta varten. Erikokoiset apertuurit voivat sijaita sisemmässä tai ulommassa suodinvarastossa tai laitteiston kansiosassa. Apertuurin käytetty koko määrittelee näytteen fokuspisteen koon. Pienemmän fokuspisteen käyttäminen vähentää 10 kuoppalevyllä olevien naapurinäytteiden vaikutusta mitattavaan näytteeseen eli ns. ylikuuluvuus pienenee. Suodinvarastoon voidaan toteuttaa valikoima erikokoisia apertuureja fokuspisteen halutun koon mahdollistamiseksi.
Fluoresenssin polarisaation mittauksiin tarvitaan tyypillisesti polarisaatiosuodin. 15 Eräässä suoritusmuodossa vähintään yksi ulomman suodinvaraston suodinpaikka ja vähintään yksi sisemmän suodinvaraston suodinpaikka käsittävät kiinteästi polarisaatiosuotimet. Näitä suodinpaikkoja voidaan käyttää fluoresenssin polarisaatiomittauksissa, kun halutut viritys- ja emissiosuotimet lisätään näihin paikkoihin. Siten ei tarvitse lisätä erikseen tarvittavan aallonpituussuotimen ja 20 polarisaatiosuotimen suodinyhdistelmää. Tällaisia suodinvarastopaikkoja voidaan käyttää normaaleina varastopaikkoina mille tahansa suotimelle, kun ei käytetä fluoresenssin polarisaatiomittausta.
Eräässä suoritusmuodossa suodinvarastot voidaan sijoittaa toistensa päälle tai o 25 viereen. Suotimen siirtomekanismi voi siirtää suotimia suodinvarastojen välillä cvj samankaltaisella tavalla kuin sisempi/ulompi-ratkaisussa. Eräässä toisessa i g suoritusmuodossa suodinvarasto voi käsittää suodinluisteja ja niiden välissä x olevan suotimen siirtomekanismin suotimien siirtämiseksi varastoluistipaikkojen
CL
välillä. Vielä eräässä toisessa suoritusmuodossa suodinvarasto voi käsittää
CVJ
ra 30 pyöreämuotoisen suodinvaraston ja luistisuodinvaraston, jossa on suotimen ^ siirtomekanismi.
o
CVJ
11
Kuvio 3 esittää kaavamaisen kuvan suodinmoduulista 100 yksityiskohtaisemmassa paikassa keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaista suotimen siirtomekanismia varten. Suodinluisti 310 voi käsittää kolme sormea 320 suotimien siirtämiseksi sisemmässä ja ulommassa varastossa olevien 5 suodinvarastopaikkojen välillä. Urat 330, jotka mahdollistavat suodinluistin liikkeen, sijaitsevat kummassakin suodinvarastossa ja myös laitteiston kansiosassa (ei esitetty).
Eräässä suoritusmuodossa vähintään yksi suodinvarastopaikka käsittää apertuurin 10 340 fokuspisteen koon määrittelemiseksi mitattavaa näytettä varten. Kaikkia sellaisia suodinvarastopaikkoja, jotka käsittävät apertuurin 340, voidaan käyttää käyttöpaikkana, kun ne on sijoitettu valokanavaan. Apertuuri 340 voi sijaita myös laitteiston kansiosassa.
15 Kuvio 4 esittää esimerkinomaisen lohkokaavion laitteistosta, johon keksinnön erilaisia suoritusmuotoja voidaan soveltaa. Tämä voi olla kuoppalevyn lukija, optinen mittauslaitteisto tai mikä tahansa vastaava laitteisto.
Laitteiston 400 yleinen rakenne käsittää näytön 440, suodinmoduulin 450, jossa on 20 suodinvarastoja ja siirtomekanismi, tietoliikennerajapinnan 470, liikeanturin 480, suorittimen 410 ja suorittimeen 410 kytketyn muistin 420. Laitteisto 400 käsittää lisäksi muistiin 420 tallennetun ohjelmiston 430, joka voidaan toiminnallisesti ladata suorittimeen 410 ja suorittaa siinä. Joissakin suoritusmuodoissa ohjelmisto 430 käsittää yhden tai useamman ohjelmistomoduulin ja voi olla δ 25 tietokoneohjelmatuotteen muodossa. Laitteisto 400 voi lisäksi käsittää c\j valonlähteen 490, ilmaisimen 495 ja optiikan 499. Laitteisto voi vielä lisäksi cp lo käsittää suorittimeen 410 kytketyn käyttöliittymän ohjaimen 460.
0
CC
Suoritin 410 voi olla esimerkiksi keskusyksikkö (central processing unit, CPU), C\l co 30 mikrosuoritin, digitaalinen signaalisuoritin (digital signal processor, DSP), grafiikan
LO
^ käsittely-yksikkö tai vastaava. Kuviossa 4 on esitetty yksi suoritin 410, mutta 00 joissakin suoritusmuodoissa laitteisto 400 käsittää useita suorittimia.
12
Muisti 420 voi olla esimerkiksi haihtumaton tai haihtuva muisti, kuten lukumuisti (read-only memory, ROM), ohjelmoitava lukumuisti (programmable read-only memory, PROM), uudelleenohjelmoitava lukumuisti (erasable programmable readonly memory, EPROM), luku-kirjoitusmuisti (random-access memory, RAM), flash-5 muisti, datalevy, optinen muisti, magneettinen muisti, älykortti tai vastaava. Joissakin suoritusmuodoissa laitteisto 400 käsittää useita muisteja. Muisti 420 voi olla rakennettu osana laitteistoa 400, tai käyttäjä voi lisätä sen laitteiston 400 korttipaikkaan, porttiin tai vastaavaan. Muisti voi toimia yksinomaan datan tallennustarkoituksessa, tai se voi olla rakennettu osana laitteistoa, joka palvelee 10 muita tarkoituksia, kuten datankäsittelyä.
Suodinmoduuli 450 voi käsittää vähintään kaksi suodinvarastoa ja suotimen siirtomekanismin, joita voidaan kaikkia kuljettaa ja ohjata ohjelmakoodin 430 ja suorittimen 410 pohjalta. Suodinmoduuli 450 voi myös käsittää suodinvarastojen 15 ulkopuolella olevia tarkoitukseen varattuja viritys-/emissiopaikkoja.
Liikeanturi 480 voi sisältyä laitteistoon 400 suodinvarastojen ja suodinluistin paikkojen tunnistamiseksi.
20 Tietoliikennerajapintamoduuli 470 toteuttaa vähintään osan datan siirrosta laitteistosta 400 ulkoiseen laitteistoon tai järjestelmään keksinnön erilaisia suoritusmuotoja varten. Tietoliikennerajapintamoduuli 470 voi olla esimerkiksi kiinteä rajapintamoduuli, kuten LAN, tai radiorajapintamoduuli, kuten WLAN-, Bluetooth-, GSM/GPRS-, CDMA-, WCDMA- tai LTE- (Long Term Evolution) 0 25 radiomoduuli. Tietoliikennerajapintamoduuli 470 voi olla integroitu laitteistoon 400 ώ tai sovittimeen, korttiin tai vastaavaan, joka voidaan lisätä laitteiston 400 sopivaan cp g korttipaikkaan tai porttiin. Tietoliikennerajapintamoduuli 470 voi tukea yhtä 1 radiorajapintateknologiaa tai useita teknologioita. Kuviossa 4 on esitetty yksi tietoliikennerajapintamoduuli 470, mutta joissakin suoritusmuodoissa laitteisto 400 ra 30 käsittää useita tietoliikennerajapintamoduuleja 470.
δ ^ Näyttö 440 voi olla esimerkiksi nestekidenäyttö (liquid crystal display, LCD) tai valodiodeihin (light emitting diode, LED) perustuva näyttö. Näyttöön 440 voi olla 13 integroitu kosketusherkkä pinta kosketusnäyttönä tai kosketusruutuna. Kosketusherkkä pinta voi sisältyä laitteistoon myös erillisenä elementtinä, esimerkiksi kosketuslevynä.
5 Käyttöliittymän ohjain 460 käsittää piiristön syötteen vastaanottamiseksi laitteiston 400 käyttäjältä esimerkiksi näppäimistön, graafisen käyttöliittymän, joka on esitetty laitteiston 400 näytössä 440, puheentunnistuspiiristön tai oheislaitteen kuten kuulokemikrofonin kautta ja tulostietojen antamiseksi käyttäjälle esimerkiksi graafisen käyttöliittymän tai kaiuttimen kautta.
10
Valonlähde 490 voi olla polykromaattinen valonlähde, kuten esimerkiksi halogeenilamppu. Optiikka 499 voi käsittää vähintään yhden linssin, joka voidaan sijoittaa valonlähteen 490 ja suotimen väliin. Ilmaisin 495 voi olla esimerkiksi valosähköinen ilmaisin, joka muuntaa valon sähköiseksi signaaliksi käsittelyä 15 varten.
Ammattitaitoinen henkilö ymmärtää, että kuviossa 4 esitettyjen elementtien lisäksi laitteisto 400 käsittää joissakin suoritusmuodoissa muita elementtejä, kuten mikrofoneja, lisänäyttöjä sekä lisäpiiristöjä kuten tulo/lähtöpiiristöjä (input/output, 20 I/O), muistisiruja, sovelluskohtaisia integroituja piirejä (application-specific integrated circuit, ASIC), käsittelypiiristöjä tiettyjä tarkoituksia varten, kuten lähteen koodaus-/dekoodauspiiristöjä, kanavan koodaus-/dekoodauspiiristöjä, salaus- / salauksen purkupiiristöjä ja vastaavia. Lisäksi laitteisto 400 käsittää kertakäyttöisen pariston tai uudelleenladattavan akun (ei esitetty) käyttötehon 0 25 tuottamiseksi laitteistolle, ellei ulkoista teholähdettä ole käytettävissä. Toinen cvj vaihtoehto on käyttää kondensaattoria pariston/akun sijasta käyttötehon i g tuottamiseksi laitteistolle, ellei ulkoista teholähdettä ole käytettävissä.
CC
CL
Kuvio 5 esittää keksinnön esimerkinomaisen suoritusmuodon mukaisen
CVJ
co 30 menetelmän vuokaaviota. Menetelmä alkaa lohkosta 501. Lohkossa 502 m ^ ensimmäiseen suodinvarastoon saadaan aikaan ensimmäinen o
CVJ
suodinvarastopaikkojen joukko. Lohkossa 503 saadaan aikaan toinen suodinvarastopaikkojen joukko. Lohkossa 504 virityssuodinta ja emissiosuodinta 14 siirretään virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä. Lohkossa 505 muodostetaan viritysvalo. Lohkossa 506 viritysvalo suodatetaan. Lohkossa 507 suodatetaan emissiovalo. Suodatettu emissiovalo ilmaistaan lohkossa 508. 5 Menetelmä päättyy lohkossa 509. Edellä esitetty esimerkinomainen menetelmä on vain esimerkki. Muissa suoritusmuodoissa menetelmän eri toiminnot voivat tapahtua keskenään eri järjestyksessä.
On esitetty erilaisia suoritusmuotoja. On ymmärrettävä, että tässä asiakirjassa 10 sanoja käsittää, sisältää ja sisältyä on kutakin käytetty avoimina ilmaisuina tarkoittamatta yksinomaisuutta.
Edellä oleva kuvaus on antanut täydellisen ja informatiivisen kuvauksen parhaasta tavasta toteuttaa keksintö kuten keksijät nykyisin pitävät mahdollisena 15 rajoittamattomina esimerkkeinä keksinnön tietyistä toteutuksista ja suoritusmuodoista. Alan ammattilaiselle on kuitenkin selvää, että keksintöä ei ole rajoitettu edellä esitettyjen suoritusmuotojen yksityiskohtiin vaan että se voidaan toteuttaa toisissa suoritusmuodoissa käyttäen ekvivalentteja keinoja tai suoritusmuotojen eri yhdistelmiä poikkeamatta keksinnön ominaispiirteistä.
20
Lisäksi tämän keksinnön joidenkin edellä esitettyjen suoritusmuotojen ominaisuuksia voivaan käyttää edullisesti käyttämättä vastaavasti muita ominaisuuksia. Edellä olevaa kuvausta voidaan sinänsä pitää vain esillä olevan keksinnön periaatteita havainnollistavana eikä niitä rajoittavana. Siten keksinnön o 25 suojapiiriä rajoittavat vain oheiset patenttivaatimukset.
i
C\J
o m o
X
IX
Q.
C\J
C\J
00 m δ
C\J
Claims (20)
1. Suodinmoduuli suotimen varastoimiseksi ja siirtämiseksi varastopaikan, virityspaikan ja emissiopaikan välillä 5 tunnettu siitä, että suodinmoduuli käsittää ensimmäisen suodinvaraston, joka käsittää ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon; toisen suodinvaraston, joka käsittää toisen suodinvarastopaikkojen joukon; ja 10 suotimen siirtomekanismin, joka on konfiguroitu siirtämään suodinta virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä.
2. Laitteisto näytteiden mittaamiseksi optisesti, joka laitteisto käsittää 15 säteilylähteen, joka on konfiguroitu muodostamaan viritysvalo virityskanavaan; ilmaisimen, joka on konfiguroitu ilmaisemaan emissiovalo emissiokanavassa; suotimen, joka on konfiguroitu sijaitsemaan virityspaikassa virityskanavassa 20 ja emissiopaikassa emissiokanavassa; joka laitteisto käsittää lisäksi patenttivaatimuksen 1 mukaisen suodinmoduulin.
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laitteisto, joka käsittää lisäksi vähintään yhden suorittimen ja o 25 tietokoneohjelmakoodia sisältävän vähintään yhden muistin, vähintään cvj yhden muistin ja tietokoneohjelmakoodin ollessa konfiguroitu yhdessä vähintään i g yhden suorittimen kanssa saamaan laitteisto vähintään x tallentamaan suotimen optisten tietojen ja suotimen paikan välinen CL yhteys, jolloin suotimen paikka on vähintään yksi seuraavista: virityspaikka, CVJ ra 30 emissiopaikka, ensimmäinen suodinvarastopaikkojen joukko ja toinen ^ suodinvarastopaikkojen joukko. CVJ
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laitteisto, jossa vähintään yksi muisti ja tietokoneohjelmakoodi on konfiguroitu yhdessä vähintään yhden suorittimen kanssa saamaan laitteisto lisäksi ilmaisemaan suotimen siirtomekanismin aikaansaama suotimen liike ja 5 päivittämään suotimen optisten tietojen ja suotimen paikan välinen yhteys.
5. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laitteisto, jossa vähintään yksi muisti ja tietokoneohjelmakoodi on konfiguroitu yhdessä 10 vähintään yhden suorittimen kanssa saamaan laitteisto lisäksi tarjoamaan suotimia koskevia tietoja laitteiston käyttäjälle; tarjoamaan käyttäjälle mahdollisuus valita suodin vähintään yhdelle seuraavista: virityspaikka ja emissiopaikka; ja siirtämään suodinta käyttäen suotimen siirtomekanismia 15 virityspaikan, emissiopaikan, ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja toisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä käyttäjän valinnan mukaisesti.
6. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-5 mukainen laitteisto, jossa 20 ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto sijaitsevat vähintään osittain vastaavasti virityskanavassa ja emissiokanavassa.
7. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-6 mukainen laitteisto, jossa virityspaikka on konfiguroitu olemaan ensimmäisen suodinvaraston ^ 25 suodinvarastopaikka. C\J i
8. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-7 mukainen laitteisto, jossa o emissiopaikka on konfiguroitu olemaan toisen suodinvaraston | suodinvarastopaikka. cvj 30 ra 9. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-8 mukainen laitteisto, jossa toinen ^ suodinvarasto on konfiguroitu varastoimaan suotimen vaihtopaikka. CVJ
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen laitteisto, jossa suotimen siirtomekanismi on lisäksi konfiguroitu siirtämään suodinta suotimen vaihtopaikan ja ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon välillä. Ujonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-10 mukainen laitteisto, jossa 5 ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto ovat pyöreämuotoisia.
12. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-11 mukainen laitteisto, jossa ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto ovat luistin muotoisia.
13. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-12 mukainen laitteisto, jossa ensimmäinen suodinvarasto ja toinen suodinvarasto on konfiguroitu olemaan siirrettävissä säteilylähteen ja ilmaisimeen suhteen.
14. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-13 mukainen laitteisto, jossa 15 ensimmäinen suodinvarasto sijaitsee toisen suodinvaraston vieressä.
15. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-14 mukainen laitteisto, jossa vähintään yksi ensimmäisestä suodinvarastopaikkojen joukosta ja toisesta ensimmäisten suodinvarastopaikkojen joukosta käsittää apertuurin, joka on 20 konfiguroitu saamaan aikaan fokuspiste mitattavalle näytteelle.
16. Patenttivaatimuksen 15 mukainen laitteisto, jossa vähintään kaksi suodinvarastopaikkaa käsittää erikokoiset apertuurit, jotka on konfiguroitu tarjoamaan vaihtoehtoiset fokuspisteet mitattavalle näytteelle. 25
17. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-16 mukainen laitteisto, jossa 5 lai,,eis,° käsi,,ää kuoppalevynlukijan ja mitattavat näytteet ovat kuoppalevyllä. C\J
18. Jonkin edeltävistä patenttivaatimuksista 2-17 mukainen laitteisto, jossa o 30 näytettä mitataan hyödyntäen vähintään yhtä seuraavista teknologioista: ir - fluoresenssin intensiteetti; CL ’ cvj - absorbanssi; CVJ Lo - luminesenssi; δ - aikaerotteinen fluoresenssi ja CVJ 1 35. fluoresenssin polarisaatio.
19. Menetelmä näytteiden mittaamiseksi optisesti käyttäen patenttivaatimuksen 1 mukaista suodinmoduulia, joka menetelmä käsittää seuraavaa: tarjotaan ensimmäinen suodinvarastopaikkojen joukko ensimmäiseen suodinvarastoon; 5 tarjotaan toinen suodinvarastopaikkojen joukko toiseen suodinvarastoon; siirretään virityssuodinta ensimmäisen suodinvarastopaikkojen joukon ja virityspaikan välillä; siirretään emissiosuodinta toisen suodinvarastopaikkojen joukon ja emissiopaikan välillä; 10 muodostetaan viritysvalo virityskanavaan käyttäen säteilylähdettä; suodatetaan viritysvalo virityskanavassa käyttäen virityspaikassa sijaitsevaa virityssuodinta; suodatetaan emissiovalo emissiokanavassa käyttäen emissiopaikassa sijaitsevaa emissiosuodinta; ja 15 ilmaistaan emissiovalo emissiokanavassa käyttäen ilmaisinta.
20. Tietokoneohjelma, joka sisältyy tietokoneen luettavissa olevaan tietovälineeseen, joka käsittää tietokoneen suoritettavissa olevan ohjelmakoodin, joka, kun se suoritetaan laitteiston vähintään yhdessä suorittimessa, saa laitteiston 20 suorittamaan patenttivaatimuksen 19 mukaisen menetelmän. 't δ c\j C\l O m o X cc CL CM CM CO LO δ CM
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20115822A FI124240B (fi) | 2011-08-24 | 2011-08-24 | Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto |
| EP12825483.6A EP2748586B1 (en) | 2011-08-24 | 2012-08-22 | Microtiter plate reader apparatus and dynamic filter storage |
| PCT/FI2012/050799 WO2013026959A1 (en) | 2011-08-24 | 2012-08-22 | Microtiter plate reader apparatus and dynamic filter storage |
| US13/593,485 US9354173B2 (en) | 2011-08-24 | 2012-08-23 | Microtiter plate reader apparatus and dynamic filter storage |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20115822 | 2011-08-24 | ||
| FI20115822A FI124240B (fi) | 2011-08-24 | 2011-08-24 | Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20115822A0 FI20115822A0 (fi) | 2011-08-24 |
| FI20115822A FI20115822A (fi) | 2013-02-25 |
| FI124240B true FI124240B (fi) | 2014-05-15 |
Family
ID=44515455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20115822A FI124240B (fi) | 2011-08-24 | 2011-08-24 | Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9354173B2 (fi) |
| EP (1) | EP2748586B1 (fi) |
| FI (1) | FI124240B (fi) |
| WO (1) | WO2013026959A1 (fi) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6746376B2 (ja) * | 2016-05-23 | 2020-08-26 | 株式会社ミツトヨ | 測定システム及び調整用設定値の切替方法 |
| DE102022206219A1 (de) * | 2022-06-22 | 2023-12-28 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Optisches System mit Filterträger |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2408646A1 (de) | 1974-02-22 | 1975-08-28 | Max Planck Gesellschaft | Reaktionskinetisches messgeraet |
| CA1138221A (en) * | 1977-06-20 | 1982-12-28 | Thomas Horne | Apparatus for monitoring chemical reactions and employing moving photometer means |
| US4977325A (en) * | 1989-07-12 | 1990-12-11 | P B Diagnostic Systems, Inc. | Optical read system and immunoassay method |
| FI103434B (fi) * | 1996-04-22 | 1999-06-30 | Wallac Oy | Monileimamittauslaite |
| DE19702754B4 (de) * | 1997-01-27 | 2007-10-04 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Filterwechsler für Mikroskope |
| US6097025A (en) * | 1997-10-31 | 2000-08-01 | Ljl Biosystems, Inc. | Light detection device having an optical-path switching mechanism |
| US6982431B2 (en) * | 1998-08-31 | 2006-01-03 | Molecular Devices Corporation | Sample analysis systems |
| US6790652B1 (en) * | 1998-01-08 | 2004-09-14 | Bioimage A/S | Method and apparatus for high density format screening for bioactive molecules |
| US6236456B1 (en) * | 1998-08-18 | 2001-05-22 | Molecular Devices Corporation | Optical system for a scanning fluorometer |
| US7265833B2 (en) * | 2001-07-25 | 2007-09-04 | Applera Corporation | Electrophoretic system with multi-notch filter and laser excitation source |
| DE10136863A1 (de) * | 2001-07-28 | 2003-02-20 | Berthold Tech Gmbh & Co Kg | Vorrichtung zur wahlweisen Messung von insbesondere Lumineszenz- und/oder Fluoreszenzstrahlung |
| US7023553B2 (en) * | 2001-09-07 | 2006-04-04 | Wallac Oy | Intelligent instrumentation with changeable optical components |
| DE10154481B4 (de) * | 2001-11-08 | 2005-02-10 | Siemens Ag | Medizinische Röntgenanlage mit einer Vorrichtung zum Filtern eines Röntgenstrahlenbündels |
| US7764821B2 (en) * | 2002-02-14 | 2010-07-27 | Veridex, Llc | Methods and algorithms for cell enumeration in a low-cost cytometer |
| JP4054222B2 (ja) * | 2002-06-05 | 2008-02-27 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置用光源装置 |
| DE10355523A1 (de) * | 2003-11-21 | 2005-08-11 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Auflicht-Fluoreszenz-Stereomikroskop |
| US7561014B2 (en) * | 2003-12-29 | 2009-07-14 | Honeywell International Inc. | Fast insertion means and method |
| EP1598686A3 (en) | 2004-05-17 | 2005-12-07 | JDS Uniphase Corporation | RF absorbing strain relief bushing |
| JP4673000B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2011-04-20 | 株式会社キーエンス | 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 |
-
2011
- 2011-08-24 FI FI20115822A patent/FI124240B/fi active IP Right Grant
-
2012
- 2012-08-22 EP EP12825483.6A patent/EP2748586B1/en active Active
- 2012-08-22 WO PCT/FI2012/050799 patent/WO2013026959A1/en active Search and Examination
- 2012-08-23 US US13/593,485 patent/US9354173B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2748586A4 (en) | 2015-07-08 |
| US9354173B2 (en) | 2016-05-31 |
| FI20115822A (fi) | 2013-02-25 |
| FI20115822A0 (fi) | 2011-08-24 |
| US20130050705A1 (en) | 2013-02-28 |
| EP2748586A1 (en) | 2014-07-02 |
| EP2748586B1 (en) | 2020-01-22 |
| WO2013026959A1 (en) | 2013-02-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10234445B2 (en) | Automated imaging of chromophore labeled samples | |
| CN107449758B (zh) | 一种高效金刚石nv色心荧光收集装置 | |
| US9046489B2 (en) | Fluorescence imaging device | |
| WO2017014807A1 (en) | Improved light collection from dnv sensors | |
| FI124240B (fi) | Kuoppalevynlukija ja dynaaminen suodinvarasto | |
| TWI804751B (zh) | 光學量測裝置、光學裝置以及使用者裝置 | |
| US20070037272A1 (en) | System for optically analyzing a substance | |
| Wessels et al. | Light‐emitting diodes in modern microscopy—from David to Goliath? | |
| US20130027688A1 (en) | Surface plasmon resonance detection system | |
| CN102621119B (zh) | 多道荧光滤光器立方盒及荧光显微成像系统 | |
| JP2011530129A5 (fi) | ||
| WO2018061883A1 (ja) | 観察装置 | |
| US10345239B1 (en) | Thin stackup for diffuse fluorescence system | |
| CN113376822A (zh) | 用于显微镜的照明系统，用于显微镜的系统、方法和计算机程序以及显微镜系统 | |
| CN101810466A (zh) | 多光谱成像装置 | |
| KR20210075648A (ko) | 소형 라만 센서 및 생체성분 추정 장치 | |
| CN104027071A (zh) | 一种立式旋转荧光分子层析成像系统 | |
| US20140296719A1 (en) | Biometric device, biometric method, program, and recording medium | |
| CN109477795B (zh) | 用于具有可选择的激发光路的基于光学的测量的方法和系统 | |
| EP2859328B1 (en) | Microtiter plate reader apparatus and method for measuring optical component | |
| Roschelle et al. | Multicolor fluorescence microscopy for surgical guidance using a chip-scale imager with a low-NA fiber optic plate and a multi-bandpass interference filter | |
| US10258983B2 (en) | Apparatus for analyte examination | |
| CN110346317A (zh) | 紫外可见荧光光谱仪 | |
| WO2016063950A1 (ja) | 検体用ホルダ | |
| BE1025624B1 (fr) | Dispositif de lecture optique avec choix de méthode de lecture automatisé d’un support solide amovible pour la détection et/ou la quantification d’analytes présents dans un échantillon |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Ref document number: 124240 Country of ref document: FI Kind code of ref document: B |