FI122448B - Bilderingsanordning - Google Patents

Bilderingsanordning Download PDF

Info

Publication number
FI122448B
FI122448B FI20085741A FI20085741A FI122448B FI 122448 B FI122448 B FI 122448B FI 20085741 A FI20085741 A FI 20085741A FI 20085741 A FI20085741 A FI 20085741A FI 122448 B FI122448 B FI 122448B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
wavelength
wavelength component
radiation
web
camera
Prior art date
Application number
FI20085741A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20085741A (sv
FI20085741A0 (sv
Inventor
Heimo Ihalainen
Juha Kalevi Parviainen
Ate Johannes Korkalainen
Markku Tapani Maentylae
Hans Bertel Nystroem
Bo Erik Alexander Sundqvist
Markku Juhani Markkanen
Toni Petteri Kuparinen
Original Assignee
Labvision Technologies Ltd Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Labvision Technologies Ltd Oy filed Critical Labvision Technologies Ltd Oy
Priority to FI20085741A priority Critical patent/FI122448B/sv
Publication of FI20085741A0 publication Critical patent/FI20085741A0/sv
Priority to EP09800104A priority patent/EP2313738A1/en
Priority to PCT/FI2009/050569 priority patent/WO2010010229A1/en
Publication of FI20085741A publication Critical patent/FI20085741A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI122448B publication Critical patent/FI122448B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • G01N2021/8663Paper, e.g. gloss, moisture content

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Claims (29)

1. Arrangemang för att avbilda topografin av ett bestämt ställe pä ytan av en löpande bana i en belysning som har förverkligats med en sadan okoherent sträl- 5 ning som har ätminstone en första väglängdskomponent (λ±ε) ooh en andra väg-längdskomponent (λ), kännetecknat av att i arrangemanget - sagda en första väglängdskomponent (λ±ε) ooh sagda en andra väglängdskomponent (λ) är anpassade att mottas med en väglängds-komponentanknuten kamera (102) i ändan av en väglängdskomponent-10 anknuten gren (OP.4b, OP4a) av en optisk Stig (OP.1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) som leder tili varje kamera, vilken optisk Stig (OP.1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) omfattar i riktningen av sagda strälning, efter strälningskällan (101), det sagda stället av ytan (105) som skall avbil-das, ooh att arrangemanget omfattar 15 - en väglängdsselektiv film (104) o för att rikta sagda första väglängdskomponent (λ±ε) mot en första väglängdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film (104) för en första optisk händelse längs en första väglängdskompo-nentanknuten gren (OP.4a) av den optiska stigen, ooh 20 o för att rikta sagda andra väglängdskomponent (λ) mot en andra väg längdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film (104) för en andra optisk händelse längs en andra väg-___ längdskomponentanknuten gren (OP.4b) av den optiska stigen, o o för att lagra bilden som tas med varje kamera (102) pä ett lag- £! 25 ringsmedium i takt med belysningens pulsering, ^ - ooh att arrangemanget omfattar fasningsmedel för att ställa en gemensam g frekvens för strälning av en första väglängdskomponent och för strälning av CL en andra väglängdskomponent i en bestämd ömsesidig fas med hjälp av fasskillnaden. 00 § 30 C\l
2. Arrangemang enligt patentkrav 1, varvid en grupp av väglängdsanknutna lasersträlningskällor är anordnade för att ästadkomma sagda en första väglängdskomponent och sagda en andra väglängdskomponent med en egen grupp av väg- 28 längdsanknutna lasersträlningskällor, vars fasning eller storlek som päverkar ko-herens är blandade för att nä inkoherens för varje väglängdskomponent.
3. Arrangemang enligt patentkrav 2, varvid strälningskällor av sagda straining 5 är anordnade för att ästadkomma en sadan grupp av väglängdskomponenter, vil-ken grupp omfattar ätminstone tvä eller flera väglängdskomponenter, varvid sagda första ooh andra väglängdskomponenter är nägra i sagda grupp av väglängskom-ponenter.
4. Arrangemang enligt patentkrav 3, varvid frekvensen av pulseringen är mindre än 10 MHz för en grupp av lasersträlningskällor för att ästadkomma en första väglängdskomponent.
5. Arrangemang enligt patentkrav 4, varvid frekvensen av pulseringen är 15 mindre än 1 MHz för en grupp av lasersträlningskällor för att ästadkomma en första väglängdskomponent.
6. Arrangemang enligt patentkrav 5, varvid frekvensen av pulseringen är mindre än 0,1 MHz för en grupp av lasersträlningskällor för att ästadkomma en 20 första väglängdskomponent.
7. Arrangemang enligt patentkrav 6, varvid frekvensen av pulseringen är mindre än 0,01 MHz för en grupp av lasersträlningskällor för att ästadkomma en ^ första väglängdskomponent. ? 25 (M
8. Arrangemang enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid frekven- ™ sen av en lasersträlningskälla som hör tili en bestämd grupp av lasersträlningskäl- ^ lor infaller pä ätminstone en av följande frekvensintervaller: g 0,001 MHz -0,03 MHz; 0,08 MHz - 0,1 Hz; 0,3 MHz - 0,8 MHz; 1 MHz - 3 MHz; S 30 8 MHz - 13 MHz; 15 MHz - 50M Hz; 55 MHz-150 MHz, ooh en sädan frekvensin- o o «m tervall, i vilken den nedre gränsen av frekvensintervallen är nägon annan än den högsta av ovannämnda gränser för frekvensintervaller, men den Övre gränsen är högre än sagda nedre gräns, för att ästadkomma en andra väglängdskomponent. 29
9. Arrangemang enligt patentkrav 8, vilket omfattar pulseringsmedel anordna-de för att ställa frekvensen för pulsering av straining pä sagda andra väglängd i storleken av en frän noil avvikande heltalmultipel av frekvensen av straining pä 5 sagda första väglängd.
10. Arrangemang enligt patentkrav 1, varvid sagda fasskillnad är i praxis ställd till noil. 10
11. Arrangemang enligt patentkrav 1, varvid sagda fasskillnad är anordnad att vid bantillverkning motsvara tidskonstanten för excitering av fluorescens och/eller fosforens av ett ämne som äterstär i banan, varvid sagda första väglängdskompo-nent är vald för att excitera sagda fluorescens och/eller fosforens. 15
12. Arrangemang enligt patentkrav 1, varvid pulsbredden i ett tillständ som motsvarar belysning med den andra väglängdskomponenten är kortare än pulsbredden i ett tillständ som motsvarar belysning med den första väglängdskomponenten. 20
13. Arrangemang enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid pulse-ringen av strälning som är förknippad med en första väglängd är anordnad pä en olik frekvens än pulseringen av strälning som är förknippad med en andra väg- ^ längd. ? 25 (M
14. Arrangemang enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid den väg- ™ längdsanknutna kameran än anordnad för lagring av en bild som lagras med väg- * längden som i praktiken har ett toppvärde i omgivningen av bara en väglängd. sj- g 30
15. Arrangemang enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid intensite- O <m ten av en laserstralningskälla som hör tili en bestämd grupp av laserstralningskäl- lor, vilka är anordnade för anordning av belysning, infaller pä ätminstone ett av föl-jande frekvensintervaller: 30 1 mW - 300 mW, 800 mW - 1 W, 1 W - 3 W, 8 W - 13 W, 10 W - 55 W, 100 W-1 kW, och en intensitetsintervall, i vilken den nedre gränsen för intensitetsinterval-len är nägon annan än den högsta av de ovannämnda gränser för intervallerna, men den övre gränsen är högre än sagda nedre gräns. 5
16. Arrangemang enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid arran-gemanget är anpassat för att avbilda topografin av ett bestämt ställe pä en snabbt löpande bana. 10
17. Förfarande för att avbilda topografin av ett bestämt ställe pä ytan av en lö pande bana i en belysning som förverkligas med inkoherent strälning, känneteck-nat av att sagda inkoherenta strälning har ätminstone en första väglängdskompo-nent (λ±ε) och en andra väglängdskomponent (λ), varvid förfarandet omfattar ätminstone följande steg: 15. man riktar (501) den inkoherenta belysningen längs en optisk Stig (OP. 1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) mot ett bestämt ställe som skall avbildas pä ytan av den löpande banan, - man pulserar (501) sagda belysning med pulseringsmedel för att ta en momen-tan frusen bild med varje kamera (102) som är anordnad pä en ända av den optis- 20 ka stigen, - man riktar (502) sagda belysning frän sagda bestämda ställe pä ytan (105) mot en väglängdsselektiv (λ, λ+ε) film (104) som befinner sig pä sagda optiska Stig (OP.1a, OP.1 b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b), 5. för att distribuera en första väglängdskomponent (λ±ε) av besträl- (M c\i 25 ningen som använts för att ästadkomma belysning genom en första ,1 optisk händelse tili en första gren (OP.4a) av den optiska stigen, tili CM x en första kamera (102) pä ändan av denna, CC o för att distribuera en andra väglängdskomponent (λ±ε) av besträl-^ ningen som använts för att ästadkomma belysning genom en andra o 30 optisk händelse tili en andra gren (OP.4b) av sagda optiska Stig, tili C\J en andra kamera (102) pä ändan av denna, - man lagrar (504) bilden med sagda första kamera i form av en första bild pä ett första lagringsmedel, och 31 - man lagrar (504) bilden med sagda andra kamera i form av en andra bild pä ett andra lagringsmedel, - man ställer pulseringens gemensamma frekvens för straining av en första väg-längdskomponent och för straining av en andra vaglängdskomponent i en be- 5 stämd ömsesidig fas med hjälp av fasskillnaden.
18. Förfarande enligt patentkrav 17, varvid en bild tas med ätminstone en första eller en andra kamera i takt med frekvensen av belysningens pulsering. 10
19. Förfarande enligt patentkrav 17, varvid en med en kamera tagen bild be- handlas (505) som en matris i pixelform för att förenas med en kumulerad bild, i vars matris pä storhetsvärdet av varje pixelelement före bildtagningen inriktas en aritmetisk räkneoperation med storhetsvärdet av sagda pixelelement i den tagna bilden, för att bilda en ny kumulerad bild. 15
20. Förfarande enligt patentkrav 19, varvid storhetsvärdet av pixelelementet i den kumulativa bilden normeras med hjälp av en storhet som är beroende pä an-talet bilder som förenats med den kumulativa bilden. 20
21. Förfarande enligt patentkrav 20, varvid storhetsvärdet av pixelelementet förändras (506) pä basis av storhetsvärden av pixelelement intill i en bestämd rikt-ning.
^ 22. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, varvid man avbildar ^ 25 topografin av ett bestämt ställe pä ytan av en snabbt löpande bana. ^ 23. System för att avbilda topografin av ett bestämt ställe pä ytan av en löpande * bana, kännetecknat av att - systemet omfattar ätminstone tvä arrangemang (100) för att avbilda topo- LO § 30 grafin av ytan (105) pa den löpande banan vid ätminstone tvä ställen i en o belysning som har förverkligats med en sädan inkoherent strälning som har ätminstone en första väglängdskomponent (λ±ε) och en andra väglängds-komponent (λ), 32 - vilka sagda ätminstone en första och en andra väglängdskomponenter är anordnade att mottas, vid varje ätminstone tvä ställen som skall avbildas, med en väglängdskomponentanknuten kamera (102) i ändan av en väg-längdskomponentanknuten gren (OP.4b, OP4a) av en optisk Stig (OP.1a, 5 OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) som leder tili en kamera, vilken optisk Stig (OP.1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) omfattar i löpriktningen av sagda straining efter strälningskällan (101) ätminstone ett av sagda ställen pä ytan (105) som skall avbildas, och att systemet omfattar 10. en väglängdsselektiv film (104) för varje ätminstone tvä ställen som skall avbildas, o för att rikta sagda första väglängdskomponent (λ±ε) mot en första väg-längdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film (104) för en första optisk händelse längs en första väglängdskomponentanknuten 15 gren (OP.4a) av den optiska stigen, och o för att rikta sagda andra väglängdskomponent (λ) mot en andra väg-längdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film (104) för en andra optisk händelse längs en andra väglängdskomponentanknuten gren (OP.4a) av den optiska stigen, 20. för att lagra bilden som tas med en första och en andra väglängds komponentanknuten kamera (102), vilka bildar ett kamerapar som mot-svarar varje, ätminstone tvä ställen som skall avbildas, pä ett lagrings-medel i takt med belysningens pulsering, 5. och att arrangemanget omfattar fasningsmedel för att ställa en gemensam (M ^ 25 frekvens för strälning av en första väglängdskomponent och för strälning av ^ en andra väglängdskomponent i en bestämd ömsesidig fas med hjälp av (M x fasskillnaden. tr CL
23. System enligt patentkrav 23, varvid systemet är anpassat att avbilda topogra- o 30 fin av ett bestämt ställe pä ytan av en snabbt löpande bana. o (M
24. Vira för att föra en bana, kännetecknad av att viran omfattar ett arrange-mang för att avbilda topografin av ett bestämt ställe pä ytan av en löpande bana i 33 en belysning som har förverkligats med en sadan inkoherent straining som har ätminstone en första väglängdskomponent (λ±ε) och en andra väglängdskompo-nent (λ), i vilket arrangemang - sagda en första väglängdskomponent (λ±ε) och sagda en andra väg- 5 längdskomponent (λ) är anpassade att mottas med en väglängds- komponentanknuten kamera (102) i ändan av en väglängdskomponent-anknuten gren (OP.4b, OP4a) av en optisk Stig (OP.1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) som leder tili en kamera, vilken optisk Stig (OP.1a, OP.1b, OP.2, OP.3, OP.4a, OP4b) har i löpriktning av sagda strälning, efter 10 strälningskällan (101), det sagda stället av ytan (105) som skall avbildas, och att arrangemanget omfattar - en väglängdsselektiv film (104) o för att rikta sagda första väglängdskomponent (λ±ε) mot en första väglängdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film 15 (104) för en första optisk händelse längs en första väglängdskompo- nentanknuten gren (OP.4a) av den optiska stigen, och o för att rikta sagda andra väglängdskomponent (λ) mot en andra väglängdsanknuten kamera (102) genom att använda sagda film (104) för en andra optisk händelse längs en andra väg-20 längdskomponentanknuten gren (OP.4b) av den optiska stigen, o för att lagra bilden som tas med varje kamera (102) pä ett lag-ringsmedium i takt med belysningens pulsering, - och att arrangemanget omfattar fasningsmedel för att ställa en gemensam ° frekvens för strälning av en första väglängdskomponent och för strälning av £! 25 en andra väglängdskomponent i en bestämd ömsesidig fas med hjälp av fasskillnaden. CC Q_
25. Vira enligt patentkrav 24, kännetecknad av att viran är anordnad i en pap-persmaskin (300). 00 § 30 (M
26. Vira enligt patentkrav 24, kännetecknad av att viran är anordnad i en tryckmaskin (200). 34
27. Vira enligt patentkrav 24, kännetecknad av att viran är anordnad i en enhet för tillverkning av en bana (400).
28. Användning av ett arrangemang enligt patentkrav 1 för övervakning av den 5 strukturella jämnheten av en bana.
29. Användning av ett arrangemang enligt patentkrav 1 för övervakning av jämnheten av en bana. δ (M i (M δ X en CL Sj- h-· m oo o o (M
FI20085741A 2008-07-23 2008-07-23 Bilderingsanordning FI122448B (sv)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20085741A FI122448B (sv) 2008-07-23 2008-07-23 Bilderingsanordning
EP09800104A EP2313738A1 (en) 2008-07-23 2009-06-25 Imaging arrangement
PCT/FI2009/050569 WO2010010229A1 (en) 2008-07-23 2009-06-25 Imaging arrangement

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20085741A FI122448B (sv) 2008-07-23 2008-07-23 Bilderingsanordning
FI20085741 2008-07-23

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20085741A0 FI20085741A0 (sv) 2008-07-23
FI20085741A FI20085741A (sv) 2010-01-24
FI122448B true FI122448B (sv) 2012-01-31

Family

ID=39677618

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20085741A FI122448B (sv) 2008-07-23 2008-07-23 Bilderingsanordning

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP2313738A1 (sv)
FI (1) FI122448B (sv)
WO (1) WO2010010229A1 (sv)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2885402T3 (es) 2012-01-06 2021-12-13 Kemira Oyj Método de caracterización de materiales crepados
WO2015102644A1 (en) * 2014-01-06 2015-07-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Paper classification based on three-dimensional characteristics
JP7209610B2 (ja) * 2019-10-15 2023-01-20 株式会社アドバンテスト 光学試験用装置および光学測定器具の試験方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3752556A (en) * 1971-06-02 1973-08-14 R Kurtz Real time moving scene holographic camera system
US5365084A (en) * 1991-02-20 1994-11-15 Pressco Technology, Inc. Video inspection system employing multiple spectrum LED illumination
JPH07286968A (ja) * 1994-04-20 1995-10-31 Sumitomo Metal Ind Ltd 表面欠陥検査装置
US5982493A (en) * 1998-06-02 1999-11-09 Motorola, Inc. Apparatus and method for acquiring multiple images
JP2000131042A (ja) * 1998-10-27 2000-05-12 Technical Systems:Kk 被検査物体の欠陥判定用カメラおよびこれを用いた欠陥判定装置
SE511985C2 (sv) 1999-01-28 2000-01-10 Skogsind Tekn Foskningsinst Topografisk bestämning av en av infallande ljus belyst yta
US6597006B1 (en) * 2001-10-09 2003-07-22 Kla-Tencor Technologies Corp. Dual beam symmetric height systems and methods
US7777199B2 (en) * 2004-09-17 2010-08-17 Wichita State University System and method for capturing image sequences at ultra-high framing rates

Also Published As

Publication number Publication date
FI20085741A (sv) 2010-01-24
WO2010010229A1 (en) 2010-01-28
FI20085741A0 (sv) 2008-07-23
EP2313738A1 (en) 2011-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100669040B1 (ko) 다중광속을 이용한 곡률 측정 장치와 방법
CN104502357B (zh) 用于光学检测的照射系统
TWI606233B (zh) 用於樣本之光譜成像之光學測量系統
KR101414867B1 (ko) 인쇄 회로 기판 타깃의 정렬
US11463675B2 (en) Light-source characterizer and associated methods
JP5417723B2 (ja) 方位測定方法及び方位測定装置
KR100964251B1 (ko) 빔 스캐닝 방식의 크로마틱 공초점 현미경
US20100295938A1 (en) Apparatus for the Optical Inspection of Wafers
CN103575218A (zh) 彩色共焦扫描装置
CN112236666A (zh) 瞬时椭偏仪或散射仪及相关测量方法
FI122448B (sv) Bilderingsanordning
CN106030288A (zh) 荧光分析器
TW201923305A (zh) 藉由干涉距離測量手段來偵測物體表面輪廓之組件
KR101175780B1 (ko) 적외선 레이저 프로젝션 디스플레이를 이용한 3차원 깊이 카메라
CN106546333A (zh) 高动态范围红外成像光谱仪
TW201903463A (zh) 採用進階光學干涉顯微術之光學切層裝置
CN102680497A (zh) 用于检测图案缺陷的设备
US7945087B2 (en) Alignment of printed circuit board targets
KR20220120588A (ko) 결합된 ocd 및 광반사변조 방법 및 시스템
JP2010096913A (ja) レーザ顕微鏡装置
RU2544305C1 (ru) Лазерная локационная система
KR101533994B1 (ko) 광섬유를 이용한 미세 패턴의 선폭 및 깊이 측정 장치 및 측정 방법
KR20170141943A (ko) 반도체의 고속 광학 검사방법
JP2022146623A (ja) 検査装置
CN106645097A (zh) 一种用于激光探针成分分析仪的光路系统

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: OY LABVISION TECHNOLOGIES LTD

Free format text: OY LABVISION TECHNOLOGIES LTD

FG Patent granted

Ref document number: 122448

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed