FI121400B - Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus - Google Patents

Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus Download PDF

Info

Publication number
FI121400B
FI121400B FI20085710A FI20085710A FI121400B FI 121400 B FI121400 B FI 121400B FI 20085710 A FI20085710 A FI 20085710A FI 20085710 A FI20085710 A FI 20085710A FI 121400 B FI121400 B FI 121400B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
pattern
projector
subject
led
sensors
Prior art date
Application number
FI20085710A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20085710A (sv
FI20085710A0 (sv
Inventor
Heikki Kauhanen
Original Assignee
Teknillinen Korkeakoulu
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teknillinen Korkeakoulu filed Critical Teknillinen Korkeakoulu
Priority to FI20085710A priority Critical patent/FI121400B/sv
Publication of FI20085710A0 publication Critical patent/FI20085710A0/sv
Publication of FI20085710A publication Critical patent/FI20085710A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI121400B publication Critical patent/FI121400B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (32)

1. Förfarande för att insamla data om ett ob-jekt med användning av maskinsyn, kännetecknat av att förfarandet innefattar skeden för att: 5 projicera ett mönster av väsentligt monokromatisk elektromagnetisk straining pä objektets yta, där mönstret genereras pulsformigt med ätminstone en LED; mätä mönstret pä objektets yta med användning av ätminstone tvä optiska sensorer; och 10 filtrera det uppmätta mönstret spektralt, sä att data om objektet klarläggs.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: 15 använda strälningen inom närä infrarödomrädet i mönstret som skall projiceras.
3. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: 20 projicera mönstret med en reflekterande projektor.
4. Förfarande enligt patentkrav 3, kännetecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: projicera mönstret med användning av digital mik-25 rospegelteknologi (DMD).
5. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: mätä mönstret samtidigt med ätminstone tvä kam-30 eror, som har fasta relativa positioner i förhällande tili projektorn.
6. Förfarande enligt patentkrav Ϊ, kännetecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: 35 styra projektorn och sensorerna, sä att de är rik- tade väsentligt i samma vinkel.
7. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e -tecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: utlösa ätminstone en LED tillsammans med de opti-5 ska sensorerna.
8. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n -netecknat av att förfarandet vidare innefattar skeden för att: mätä objektet dä ätminstone en LED är tillkopplad; 10 mätä objektet pä nytt dä ätminstone en LED är fränkopplad med användning av samma mätparametrar; och subtrahera den andra hiiden frän den första bilden för att minimera effekten av ljuset frän omgivningen.
9. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e -15 tecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: omvandla den uppmätta och bandpassfiltrerade bilden tili en binär bild.
10. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n -20 netecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: använda radiala linjer, parallella linjer, galler-mönster eller en förbestämd punktkombination som monster som skall projiceras. 25
11. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n - netecknat av att förfarandet vidare innefattar skeden för att: byta bilden som skall projiceras under användnin-gen; och 30 mätä mönstret pä objektets yta pä nytt.
12. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n -netecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: använda klarlagda data för fotogrammetrisk analys 35 av objektet.
13. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n -netecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: tillämpa datainsamlingsförfarandet pä en skogsar-5 betsmaskinsanläggning.
14. Förfarande enligt patentkrav 13, k ä n -netecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: fästa projektorn och sensorerna vid harvesterhuvu- 10 det.
15. Förfarande enligt patentkrav 13, k ä n -netecknat av att förfarandet vidare innefattar ett skede för att: mätä mönstret pä ytan av ett träd, dä harvesterhu-15 vudet närmar sig trädet.
16. System för att insamla data om ett objekt med användning av maskinsyn, kännetecknat av att systemet innefattar: en projektor (12, 22), som är anordnad att pro- 20 jicera ett mönster av väsentligt monokromatisk elek-tromagnetisk straining pä objektets yta, varvid projektorn (12, 22) är anordnad att generera ett mönster pulsformigt med hjälp av ätminstone en LED; ätminstone tvä optiska sensorer (13, 21a, 21b), 25 som är anordnade att mätä mönstret pä objektets yta; och ett filter, som är anordnat att filtrera spektralt det uppmätta mönstret, sä att data angäende objektet klarläggs.
17. System enligt patentkrav 16, kän netecknat av att systemet vidare innefattar: en projektor (12, 22), som är anordnad att använda strälningen inom närä infrarödomrädet i mönstret som skall projiceras.
18. System enligt patentkrav 16, kännetecknat av att projektorn (12, 22) är en re- flekterande projektor.
19. System enligt patentkrav 18, k ä n -netecknat av att systemet vidare innefattar: en projektor (12, 22), som är anordnad att pro- jicera ett mönster med användning av digital mik-5 rospegelteknologi (DMD).
20. System enligt patentkrav 16, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: ätminstone tvä kameror (13, 21a, 21b), som är an-ordnade att mätä ett mönster samtidigt, vilka kameror 10 (13, 21a, 21b) har fasta relativa positioner i förhäl- lande tili projektorn (12, 22).
21. System enligt patentkrav 16, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: en kontroller, som är anordnad att styra projek-15 torn (12, 22) och sensorerna (13, 21a, 21b), sä att de är riktade väsentligt i samma vinkel.
22. System enligt patentkrav 16, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: en kontroller, som är anordnad att utlösa ätmin-20 stone en LED tillsammans med de optiska sensorerna (13, 21a, 21b).
23. System enligt patentkrav 16, k ä n -netecknat av att systemet vidare innefattar: sensorer (13, 21a, 21b), som är anordnade att mätä 25 objektet dä ätminstone en LED är tillkopplad; sensorer (13, 21a, 21b), som är anordnade att mätä objektet pä nytt dä ätminstone en LED är fränkopplad med användning av samma mätparametrar; och en kontroller, som är anordnad att subtrahera den 30 andra bilden frän den första bilden för att minimera effekten av ljuset frän omgivningen.
24. System enligt patentkrav 16, k ä n -netecknat av att systemet vidare innefattar: en kontroller, som är anordnad att omvandla den 35 uppmätta och bandpassfiltrerade bilden tili en binär bild.
25. System enligt patentkrav 16, k ä n -netecknat av att systemet vidare innefattar: en projektor (12, 22), som är anordnad att använda radiala linjer, parallella linjer, gallermönster eller 5 en förbestämd punktkombination som mönster som skall proj iceras.
26. System enligt patentkrav 16, k ä n -netecknat av att systemet vidare innefattar: en kontroller, som är anordnad att byta mönstret 10 som skall projiceras under användningen; och sensorer (13, 21a, 21b), som är anordnade att mätä mönstret pä objektets yta pä nytt.
27. System enligt patentkrav 16, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: 15 en kontroller, som är anordnad att använda klar- lagda data för fotogrammetrisk analys av objektet.
28. System enligt patentkrav 16, k ä n - netecknat av att systemet för datainsamling ut-förts i en skogsarbetsmaskinsanläggning (10, 11, 20, 20 23).
29. System enligt patentkrav 28, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: ett harvesterhuvud (11, 23), vid vilket projektorn (12, 22) och sensorerna (13, 21a, 21b) är fastspända.
30. System enligt patentkrav 28, k ä n - netecknat av att systemet vidare innefattar: sensorer (13, 21a, 21b), som är anordnade att mätä ett mönster pä ytan av ett träd, dä harvesterhuvudet (11, 23) närmar sig trädet.
31. Dataprogram för att insamla data om ett objekt med användning av maskinsyn, varvid datapro-grammet innefattar en programkod, kännetecknat av att programkoden är anordnad att utföra följande skeden dä det körs i en databehandlingsapparat: 35 projiceringen av mönstret av väsentligt monokro- matisk elektromagnetisk strälning styrs tili objektets yta, där mönstret genereras pulsformigt med hjälp av ätminstone en LED; mätningen av mönstret pä objektets yta styrs med användning av ätminstone tvä optiska sensorer; och 5 den spektrala filtreringen av det uppmätta mön stret styrs, sä att data angäende objektet klarläggs.
32. Dataprogram enligt patentkrav 31, varvid dataprogrammet utförts i ett datorläsbart organ.
FI20085710A 2008-07-07 2008-07-07 Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus FI121400B (sv)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20085710A FI121400B (sv) 2008-07-07 2008-07-07 Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20085710 2008-07-07
FI20085710A FI121400B (sv) 2008-07-07 2008-07-07 Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20085710A0 FI20085710A0 (sv) 2008-07-07
FI20085710A FI20085710A (sv) 2010-01-08
FI121400B true FI121400B (sv) 2010-10-29

Family

ID=39677591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20085710A FI121400B (sv) 2008-07-07 2008-07-07 Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus

Country Status (1)

Country Link
FI (1) FI121400B (sv)

Also Published As

Publication number Publication date
FI20085710A (sv) 2010-01-08
FI20085710A0 (sv) 2008-07-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20090185173A1 (en) Apparatus and method for determining characteristics of a light source
CN1332221C (zh) 电磁背景辐射抑制方法、装置及其用途和测量仪器
US10690480B2 (en) Film thickness measuring method and film thickness measuring device
EP3811112A2 (en) System and method of imaging using multiple illumination pulses
CN111465829A (zh) 光谱仪设备及系统
CN111465827A (zh) 光谱仪设备及系统
JP5632060B1 (ja) ハイパースペクトルカメラおよびハイパースペクトルカメラ用プログラム
CN104024827A (zh) 图像处理装置、图像捕捉方法和车辆
CN102721469A (zh) 双相机的多光谱成像系统和方法
EP3870955B1 (fr) Dispositif optique pour la mesure des propriétés optiques des matériaux
JP2008139062A (ja) 分光測定装置よび分光測定方法
Sassoon et al. Flare in interference-based hyperspectral cameras
CN109596215A (zh) 一种基于智能手机测量光谱的便携装置及其光谱检测方法
FI121400B (sv) Närfotogrammetri som användar strukturerad ljus
Liang et al. PRISMS: A portable multispectral imaging system for remote in situ examination of wall paintings
JP5180736B2 (ja) 肌のくすみの評価方法及び評価装置
Kauhanen Close range photogrammetry-structured light approach for machine vision aided harvesting
KR102525320B1 (ko) 대상물을 광학적으로 검사하기 위한 장치 및 방법
CN106645097A (zh) 一种用于激光探针成分分析仪的光路系统
US20210123806A1 (en) Spectral imaging device and method
JP3803699B2 (ja) 分光画像取得装置
CN111596505A (zh) 一种反射成像便携式指纹照相装置
RU2356016C1 (ru) Способ измерения цвета объектов и устройство для его осуществления
CN212808887U (zh) 透射成像便携式指纹照相装置
CN212569393U (zh) 反射成像便携式指纹照相装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 121400

Country of ref document: FI

PC Transfer of assignment of patent

Owner name: AALTO-KORKEAKOULUSAEAETIOE

Free format text: AALTO-KORKEAKOULUSAEAETIOE

MM Patent lapsed