FI119260B - Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning - Google Patents

Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning Download PDF

Info

Publication number
FI119260B
FI119260B FI20065160A FI20065160A FI119260B FI 119260 B FI119260 B FI 119260B FI 20065160 A FI20065160 A FI 20065160A FI 20065160 A FI20065160 A FI 20065160A FI 119260 B FI119260 B FI 119260B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
sensor
reference piece
measuring
web
measuring apparatus
Prior art date
Application number
FI20065160A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20065160A (sv
FI20065160A0 (sv
Inventor
Jussi Graeffe
Markku Maentylae
Tomi Tynkkynen
Original Assignee
Metso Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metso Automation Oy filed Critical Metso Automation Oy
Priority to FI20065160A priority Critical patent/FI119260B/sv
Publication of FI20065160A0 publication Critical patent/FI20065160A0/sv
Priority to US12/282,316 priority patent/US8117891B2/en
Priority to PCT/FI2007/050124 priority patent/WO2007104833A1/en
Priority to EP07730625.6A priority patent/EP2002202B1/en
Publication of FI20065160A publication Critical patent/FI20065160A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI119260B publication Critical patent/FI119260B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21G—CALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
    • D21G9/00—Other accessories for paper-making machines
    • D21G9/0009—Paper-making control systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
    • G01B7/087—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means for measuring of objects while moving

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (27)

1. Förfarande för kalibrering av en mätapparatur (1) som mäter en rörlig banas (2) tjocklek, vilken mätapparatur (1) omfattar ätminstone en första sensor (10), ätminstone en andra sensor (11) och ätminstone ett referens- 5 stycke(12), kännetecknat avatt den rörliga banan (2) stöds mot nämnda referensstycke (12), referensstycket (12) och den däremot stödda rörliga banan (2) för-flyttas tili olika avständ frän den första sensom (10) och den andra sensom 10 (11), med den första sensom (10) mäts avständet (D1) mellan den rörliga banan (2) och den första sensorn (10) pä ätminstone tvä olika avständ (D1), med den andra sensorn (11) mäts avständet (D2) mellan referensstycket (12) och den andra sensorn (11) pä ätminstone tvä olika avständ (D2) 15 och den första sensorn (10) och den andra sensom (11) kalibreras en-hetligt i förhällande tili referensstyckets (12) förskjutning.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att ett un-dertryck bildas mellan den rörliga banan (2) och referensstycket (12) för att 20 stöda den rörliga banan (2) mot referensstycket (12).
3. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att : ;*: referensstycket (12) uppvisar en mätpunkt (14), varvid den första sensom (10) • · är anordnad att mätä avständet (D1) mellan den rörliga banan (2) och den för- : .·. sta sensom (10) innanför ett av mätpunkten (14) indikerat omräde och att refe- • ♦ · |’V 25 rensstycket (12) är anordnat i mätapparaturen (1) sä att det finns ett väsentli- • ♦ · IV. m gen öppet luftutrymme (20) nedanför referensstycket (12) och att mätapparatu- *·*·* ren ytterligare uppvisar medel för att bilda ett undertryck i luftutrymmet (20) nedanför referensstycket (12) och att referensstycket (20) uppvisar igenom :.v densamma bildade häl (19) pä olika avständ frän mätpunkten (14) och att ett ··· 30 undertryck bildas i nämnda luftutrymme (20), vilket verkar genom de i refe- . .*. rensstycket bildade hälen (19) mellan referensstycket (12) och den rörliga ba- .·*·. nan (2) sä att den rörliga banan (2) stöds mot referensstycket väsentligen ät- • · ' V minstone pä hela omrädet för mätpunkten (14). v
: 4. Förfarande enligt patentkrav 3, kännetecknat av att mätap- 35 paraturen (1) i den rörliga banans (2) tjockleksriktning omfattar ett första mät- 119260 huvud (3) och ett andra mäthuvud (4) som placeras pä motsatta sidor av ba-nan (2), och att den första sensom (10) och den andra sensorn (11) är anord-nade i det första mäthuvudet (3) och referensstycket (12) är anordnat i det andra mäthuvudet (4), och att det andra mäthuvudet (4) uppvisar atminstone 5 en kanal (21) som star i förbindelse med luftutrymmet (20) nedanför referensstycket (12) och att ett gasformigt medium mätäs mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2) sä att matningen av det gasformiga mediet föror-sakar ett undertryck i luftutrymmet (20) och vidare via referensstyckets (12) hai (19) mellan referensstycket (12) och den rörliga banan (2). 10
5. Förfarande enligt patentkrav 4, kännetecknat av att kanalen (21) för matning av det gasformiga mediet mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2) omfattar referensstycket (12) och en stomkonstruk-tion (26) för det andra mäthuvudet (4) eller en däri anordnad, mellan ett form-element (27) befintlig dysspalt (22) och att det gasformiga mediet mätäs frän 15 dysspalten (22) mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2) längs kanterna av det andra mäthuvudets (4) stomkonstruktion (26) eller det däri anordnade formelementet (27).
6. Förfarande enligt patentkrav 5, kännetecknat av att tili det andra mäthuvudets (4) stomkonstruktion (26) eller tili det däri anordnade form- 20 elementet (27) hör en böjd styryta (25) för att vänga det gasformiga mediets strömning att strömma mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan • · · !...; (2).
7. Förfarande enligt nägot av patentkraven 4-6, kännetecknat ·:·1: av att det gasformiga mediet är luft. • :1· 25
8. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, k ä n n e - ·1· · . t e c k n a t av att mätapparaturen (1) vidare omfattar ätminstone en tredje sen- sor och att den rörliga banans (2) och den tredje sensoms avstand mäts i ba- • · nans (2) tjockleksriktning frän dess motsatta sida i förhällande tili den första . . sensorn (10), och att den första sensorn (10), den andra sensom (11) och den • · · *;[f 30 tredje sensorn kalibreras enhetligt i förhällande tili referensstyckets (12) för- *·”’ skjutning.
: 9. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, k ä n n e - tecknat av att avstandet mellan den första sensorn (10) och den rörliga ba-nan (2) mäts optiskt. * · · *·' | 35
10. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, kä n- : n e tecknat av att avständet (D2) mellan den andra sensorn (11) och refe- 119260 rensstycket (12) mats induktivt, kapacitivt eller medelst nägot annat förfarande som mäter genom en rörlig bana (2).
11. Förfarande enligt nägot avpatentkraven 8-10, kännetecknat av att avständet mellan den tredje sensom och den rörliga banan (2) mäts op- 5 tiskt.
12. Förfarande enligt nagot av de föregaende patentkraven, kännetecknat av att mätapparaturen (1) vidare omfattar ett manövreringsorgan (16) och en mellan manövreringsorganet (16) och referensstycket (12) anord-nad axel (17) och att referensstycket (12) förflyttas i förhallande tili sensorema 10 (10,11) medelst axeln (17) genom användning av manövreringsorganet (16).
13. Förfarande enligt nagot av de föregäende patentkraven, kännetecknat av att den rörliga banan är en pappersbana (2), kartongbana, mjukpappersbana eller cellulosabana.
14. Mätapparatur (1) för mätning av en rörlig banas (2) tjocklek, vil-15 ken mätapparatur (1) omfattar ätminstone en första sensor (10), ätminstone en andra sensor (11) och ätminstone ett referensstycke (12), kännetecknad av att den rörliga banan (2) är anordnad att stödas mot nämnda referensstycke (12), 20 referensstycket (12) är anordnat att förflyttas tili olika avständ frän den första sensom (10) och den andra sensom (11), den första sensom (10) är anordnad att mätä avständet (D1) mellan den rörliga banan (2) och den första sensom (10) pä ätminstone tvä olika av-·:**: ständ(D1), : 25 den andra sensom (11) är anordnad att mätä avständet (D2) mellan : referensstycket (12) och den andra sensom (11) pä ätminstone tvä olika av- ständ (D2) och att • t mätapparaturen (1) vidare omfattar en databehandlingsenhet (18) . . som är anordnad att kalibrera den första sensom (10) och den andra sensom 30 (11) enhetligt i förhällande tili referensstyckets (12) förskjutning.
* · *·;·* 15. Mätapparatur enligt patentkrav 14, kännetecknad av att : mätapparaturen (1) vidare omfattar ett manövreringsorgan (16) och en mellan manövreringsorganet (16) och referensstycket (12) anordnad axel • · · 1 för att förflytta referensstycket (12) medelst axeln (17) genom användning • · · *·* [ 35 av manövreringsorganet (16).
* * 16. Mätapparatur enligt patentkrav 15, kännetecknad av att 119260 manövreringsorganet är en stegmotor (16).
17. Mätapparatur enligt nagot av patentkraven 14-16, känne-t e c k n a d av att mätapparaturen (1) omfattar medel för att bilda ett undertryck mellan den rörliga banan (2) och referensstycket (1) för att bringa den rörliga 5 banan (2) i anslutning tili referensstycket (12).
18. Mätapparatur enligt nägot av patentkraven 14-17, känne-tecknad av att referensstycket (12) uppvisar en mätpunkt (14), varvid den första sensorn (10) är anordnad att mätä avständet (D1) mellan den rörliga banan (2) och den första sensom (10) innanför ett av mätpunkten (14) indike- 10 rat omräde och att referensstycket (12) är anordnat i mätapparaturen (1) sä att det finns ett väsentligen öppet luftutrymme (20) nedanför referensstycket (12) och att mätapparaturen ytterligare uppvisar medel för att bilda ett undertryck i luftutrymmet (20) nedanför referensstycket (12) och att referensstycket (20) uppvisar igenom densamma bildade häl (19) pä olika avständ frän mätpunkten 15 (14) sä att undertrycket som bildas i luftutrymmet (20) är anordnat att verka genom de i referensstycket bildade hälen (19) mellan referensstycket (12) och den rörliga banan (2) sä att den rörliga banan (2) stöds mot referensstycket (12) väsentligen ätminstone pä hela omrädet för mätpunkten (14).
19. Mätapparatur enligt patentkrav 18, kännetecknad av att 20 mätapparaturen (1) i den rörliga banans (2) tjockleksriktning omfattar ett första mäthuvud (3) och ett andra mäthuvud (4) som placeras pä motsatta sidor av banan (2), och att den första sensom (10) och den andra sensom (11) är an- ordnade i det första mäthuvudet (3) och referensstycket (12) är anordnat i det *:**: andra mäthuvudet (4), och att det andra mäthuvudet (4) uppvisar ätminstone : 25 en kanal (21) som stär i förbindelse med luftutrymmet (20) nedanför referens- : stycket (12) och vilken kanal (21) är anordnad att mata ett gasformigt medium • « .···. mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2) sä att matningen av det gasformiga mediet förorsakar ett undertryck i luftutrymmet (20) och vidare via referensstyckets (12) häl (19) mellan referensstycket (12) och den rörliga 30 banan (2).
• · *·;·* 20. Mätapparatur enligt patentkrav 19, kännetecknad av att ka- :j[: nalen (21) för matning av det gasformiga mediet mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2) omfattar referensstycket (12) och en stomkon- • · · struktion (26) för det andra mäthuvudet (4) eller en däri anordnad, mellan ett *** | 35 formelement (27) befintlig dysspalt (22) sä att det gasformiga mediet är anord nat att mätäs frän dysspalten (22) mellan det andra mäthuvudet (4) och den 119260 rörliga banan (2) längs kanterna av det andra mäthuvudets (4) stomkonstruk-tion (26) eller det däri anordnade formelementet (27).
21. Mätapparatur enligt patentkrav 20, kä n n ete c k n a d av att tili det andra mäthuvudets (4) stomkonstruktion (26) eller tili det däri anordnade 5 formelementet (27) hör en böjd styryta (25) för att vända det gasformiga medi-ets strömning att strömma mellan det andra mäthuvudet (4) och den rörliga banan (2).
22. Mätapparatur enligt nägot av patentkraven 19-21, känne-t e c k n a t av att det gasformiga mediet är luft. 10
23. Mätapparatur enligt nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknat av att mätapparaturen (1) vidare omfattar ätminstone en tredje sensor som är anordnad att mätä den rörliga banans (2) och den tredje sensorns avständ i banans (2) tjockleksriktning frän dess motsatta sida i förhäl-lande tili den första sensom (10) och att databehandlingsenheten (18) är anis ordnad att kalibrera den första sensom, den andra sensom och den tredje sensorn enhetligt i förhallande tili referensstyckets (12) förskjutning.
24. Mätapparatur enligt nägot av patentkraven 14-23, kännetecknat av att den första sensorn (10) omfattar en laser som är anordnad att mätä avständet (D1) mellan den första sensorn (10) och den rörliga banan (2) 20 optiskt.
25. Mätapparatur enligt nägot av patentkraven 14-24, känne- ··· tecknat av att den andra sensorn (11) omfattar en spole som är anordnad att mätä avständet (D2) mellan den andra sensom (11) och referensstycket ·!··: (12) induktivt. • :1· 25
26. Mätapparatur enligt nägot av patentkraven 23-25, känne- ··1 1 . tecknat av att den tredje sensorn omfattar en laser som är anordnad att .·1··. mätä avständet mellan den tredje sensorn och den rörliga banan optiskt. • 1
27. Mätapparatur enligt nägot av de föregäende patentkraven, .. kännetecknat av att den rörliga banan (2) är en pappersbana (2), kar- • · · *;[·’ 30 tongbana, mjukpappersbana eller celluiosabana. * · • · ··· • · · • · » ··· ··· • · • · ··· • · ti • · · • · · *
FI20065160A 2006-03-10 2006-03-10 Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning FI119260B (sv)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065160A FI119260B (sv) 2006-03-10 2006-03-10 Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning
US12/282,316 US8117891B2 (en) 2006-03-10 2007-03-07 Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment
PCT/FI2007/050124 WO2007104833A1 (en) 2006-03-10 2007-03-07 Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment
EP07730625.6A EP2002202B1 (en) 2006-03-10 2007-03-07 Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20065160A FI119260B (sv) 2006-03-10 2006-03-10 Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning
FI20065160 2006-03-10

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20065160A0 FI20065160A0 (sv) 2006-03-10
FI20065160A FI20065160A (sv) 2007-09-11
FI119260B true FI119260B (sv) 2008-09-15

Family

ID=36192005

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20065160A FI119260B (sv) 2006-03-10 2006-03-10 Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8117891B2 (sv)
EP (1) EP2002202B1 (sv)
FI (1) FI119260B (sv)
WO (1) WO2007104833A1 (sv)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2884632C (en) * 2007-08-31 2016-10-25 Abb Ltd. Web thickness measurement device
US9045306B2 (en) * 2007-11-27 2015-06-02 Abb Ltd. Sheet stabilizer with suction nozzle having center protrusion
FI20075975L (sv) * 2007-12-31 2009-07-01 Metso Automation Oy Mätning av en bana
GB2479572A (en) * 2010-04-15 2011-10-19 Paul Roderick Hayes Griffin Thickness guage for measurement of hot metal plate on the procss line
DE102011107771B4 (de) * 2011-04-15 2013-10-17 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Dickenmessung eines Messobjekts
DE102011106523A1 (de) * 2011-07-04 2013-01-10 Giesecke & Devrient Gmbh Prüfgerät und Verfahren zur Kalibrierung eines Prüfgeräts
WO2013007864A1 (en) * 2011-07-08 2013-01-17 Metso Automation Oy Method and measuring device for measuring caliper of moving fibre web
WO2013026791A1 (de) * 2011-08-22 2013-02-28 Windmöller & Hölscher Kg Maschine und verfahren zum bedrucken von materialbahnen
FI125811B (sv) * 2013-05-29 2016-02-29 Valmet Automation Oy Mätning av bana
JP6337538B2 (ja) * 2014-03-18 2018-06-06 セイコーエプソン株式会社 画像記録装置、キャリブレーション方法および画像記録方法
US9753114B2 (en) * 2014-11-03 2017-09-05 Honeywell Limited Gap and displacement magnetic sensor system for scanner heads in paper machines or other systems
US10184784B2 (en) * 2015-05-05 2019-01-22 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Device and method for measuring the width and thickness of a flat object
US10641758B2 (en) 2015-09-01 2020-05-05 Exxonmobil Upstream Research Company Apparatus, systems, and methods for enhancing hydrocarbon extraction and techniques related thereto
JP2018090344A (ja) * 2016-11-30 2018-06-14 コニカミノルタ株式会社 用紙搬送装置、画像形成装置、用紙の坪量の推定方法、および用紙の坪量の推定プログラム
IT201700042506A1 (it) * 2017-04-18 2018-10-18 Btsr Int Spa Metodo, sistema e sensore per rilevare una caratteristica di un filo tessile o metallico alimentato ad una macchina operatrice
CN109238092A (zh) * 2018-09-14 2019-01-18 佛山市恒力泰机械有限公司 陶瓷砖坯厚度在线自动检测方法及装置
TWI755842B (zh) * 2020-09-04 2022-02-21 奈米趨勢科技有限公司 非接觸式塑膠吹袋機薄膜厚度量測裝置
CN117906509B (zh) * 2024-01-16 2024-07-26 山东力强钢板有限公司 一种钢板厚度差激光测量装置及测量方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60114709A (ja) 1983-11-28 1985-06-21 Yokohama Rubber Co Ltd:The 絶縁物の厚み測定装置
JPH01155204A (ja) 1987-12-14 1989-06-19 Yokogawa Electric Corp 厚さ測定装置の校正方法
JPH01156615A (ja) 1987-12-15 1989-06-20 Yokogawa Electric Corp 厚さ測定装置の校正方法
US5355083A (en) * 1988-11-16 1994-10-11 Measurex Corporation Non-contact sensor and method using inductance and laser distance measurements for measuring the thickness of a layer of material overlaying a substrate
US5062298A (en) * 1989-12-05 1991-11-05 E. I. Du Pont De Nemours And Company Non-contact wet or dry film thickness measuring device using eddy current and ultrasonic sensors
US5485082A (en) * 1990-04-11 1996-01-16 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Method of calibrating a thickness measuring device and device for measuring or monitoring the thickness of layers, tapes, foils, and the like
US6281679B1 (en) * 1998-12-21 2001-08-28 Honeywell - Measurex Web thickness measurement system
FI114337B (sv) * 2001-07-03 2004-09-30 Metso Automation Oy Förfarande och mätdon för mätning av åtminstone en egenskap hos en rörlig bana
US6967726B2 (en) 2003-10-03 2005-11-22 Honeywell International Inc. Means for in-place automated calibration of optically-based thickness sensor

Also Published As

Publication number Publication date
FI20065160A (sv) 2007-09-11
EP2002202B1 (en) 2017-05-31
WO2007104833A1 (en) 2007-09-20
FI20065160A0 (sv) 2006-03-10
US8117891B2 (en) 2012-02-21
EP2002202A1 (en) 2008-12-17
US20090056412A1 (en) 2009-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI119260B (sv) Förfarande för kalibrering av en mätanläggning och mätanläggning
FI114337B (sv) Förfarande och mätdon för mätning av åtminstone en egenskap hos en rörlig bana
US8760669B2 (en) Method of measuring the thickness of a moving web
FI125343B (sv) Mätningsanordning för bantjocklek
US7369255B2 (en) Apparatus and method for capacitive measurement of materials
US3528002A (en) Caliper with air bearings for continuously moving sheet material
US7797985B2 (en) Method and system for operating an air gauge at programmable or constant standoff
US9335145B2 (en) Apparatus and method for measuring the thickness of a measurement object
FI68185C (fi) Foerfarande och anordning foer laegesobservering
CN101918787B (zh) 片材的松弛度评价方法以及评价装置
EP2302319B1 (en) Radiation inspection apparatus
JP4629026B2 (ja) 圧力センサ
US7319521B2 (en) Measuring device
CA2705991C (en) Sheet stabilizers with suction nozzle having center protrusion
US10184784B2 (en) Device and method for measuring the width and thickness of a flat object
WO2013007864A1 (en) Method and measuring device for measuring caliper of moving fibre web
JP2002257506A (ja) 非接触膜厚測定装置
US7799172B2 (en) Apparatus for measuring tension in paper web
US6769297B2 (en) Method and equipment for measuring tension of moving web
FI108885B (sv) Förfarande för mätning av egenskaper hos papper och ett arrangemang som hänför sig till mätanordningen för papper
FI109940B (sv) Förfarande för att bestämma positionen av kanten hos en rörlig bana
JP2006047059A (ja) 厚さ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 119260

Country of ref document: FI