FI113088B - Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi - Google Patents
Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI113088B FI113088B FI20000283A FI20000283A FI113088B FI 113088 B FI113088 B FI 113088B FI 20000283 A FI20000283 A FI 20000283A FI 20000283 A FI20000283 A FI 20000283A FI 113088 B FI113088 B FI 113088B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- paper web
- radiation
- temperature
- arrangement
- measured
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 124
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 46
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 46
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 41
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 39
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 13
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 11
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 78
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 description 3
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N [Ga].[As].[In] Chemical compound [Ga].[As].[In] KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 235000014121 butter Nutrition 0.000 description 1
- MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;mercury;tellurium Chemical compound [Cd]=[Te]=[Hg] MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010440 gypsum Substances 0.000 description 1
- 229910052602 gypsum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 1
- 239000004816 latex Substances 0.000 description 1
- 229920000126 latex Polymers 0.000 description 1
- 108091085564 miR-25 stem-loop Proteins 0.000 description 1
- 108091080167 miR-25-1 stem-loop Proteins 0.000 description 1
- 108091083056 miR-25-2 stem-loop Proteins 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0803—Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
- G01J5/0805—Means for chopping radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
- G01J5/602—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using selective, monochromatic or bandpass filtering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Paper (AREA)
Description
113088
Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi Keksinnön ala
Keksintö liittyy paperin ja kartongin valmistusprosessissa syntyneen paperi- tai kartonkirainan mittaukseen. Keksintö kohdistuu erityisesti lämpöti-5 lan mittaukseen IR-säteilyn avulla.
Keksinnön tausta
Paperirainan lämpötilan mittaus on tärkeää, koska väärä lämpötila jossain prosessin vaiheessa johtaa valmistettavan paperin tai kartongin laadun huononemiseen ja tekee prosessin hallinnan vaikeaksi. Lämpötilan mittausta 10 tarvitaan optimoitaessa monia paperirainan valmistusprosessin osaprosesseja kuten rainan kuivatus ja kuivatuksen tehonkäyttö, päällystyksessä päällyste-pastan jähmettyminen ja rainan lämpöprofiilin mittaus. Paperirainaa mitataan tunnetun tekniikan mukaisesti erillisellä lämpötilan mittausjärjestelyllä, joka käsittää lämpötilan mittausta varten yhden tai useamman oman anturin ja anturi-15 signaalin käsittelylohkon. Anturi on herkkä tyypillisesti IR-säteilylle (InfraRed), mistä syystä anturin sähköinen vaste muuttuu tunnetulla tavalla lämpötilan muutoksen mukaan. Tunnetun tekniikan mukaisessa mittausjärjestelmässä lämpötila-anturi omana mittalaiteosanaan on kiinnitetty paperirainan läheisyyteen paikalleen pysyvästi tai lämpötila-anturi voi liikkua edestakaisin sen yli, : * *: 20 jolloin paperirainaa voidaan mitata koko pinta-alaltaan. Anturi mittaa lämpöti- • t . laa tyypillisesti koko ajan. Mittaustieto käsitellään ja hyödynnetään paperin- .* : valmistusprosessissa.
• > · .* Yhtä tunnetun tekniikan mukaista paperirainan lämpötilan mittausta I · on kuvattu US-patentissa 5124552, joka otetaan tähän viitteeksi. Mittauksessa » » 25 lähetetään IR-säteilyä paperirainan läpi. Lämpötilan mittaus perustuu siihen, että IR-säteilyn absorption aallonpituusriippuvuus muuttuu paperirainan lämpötilan muuttuessa.
Tunnetun tekniikan mukaisissa laitteistoissa mittauslaitteiden ja : -komponenttien määrä on suuri, mikä nostaa laitteistojen sekä monimutkai- : 30 suutta että hintaa, vaatii paljon tilaa ja lisää vikaantumistodennäköisyyttä. Suu- ! ri laitemäärä aiheuttaa myös sen, että lämpötilaa mittaavan laitteiston sijoitta minen muiden mittauslaitteiden väliin on vaikeaa. Lisäksi ongelmana on erillisten mittauslaitteistojen suojaaminen paperikoneympäristön vaativissa olo-: suhteissa (korkea lämpötila, pölyisyys, likaisuus, kosteus etc.). Myös tiedon- 35 siirtoon eri mittauslaitteiden välillä tarvitaan yhä lisää elektronisia laitteita.
2 113088
Keksinnön lyhyt selostus
Keksinnön tavoitteena on siten toteuttaa parannettu menetelmä ja menetelmän toteuttava laitteisto tunnettuun tekniikkaan liittyvien ongelmien vähentämiseksi tai poistamiseksi. Tämän saavuttaa menetelmä paperirainan 5 lämpötilan mittaamiseksi, jolle menetelmälle on tunnusomaista, että mitattaessa paperirainan jotain ominaisuutta optisesti siten, että paperirainan pintaa valaistaan passitetulla optisella säteilyllä, mitataan mainitun mittauksen yhteydessä paperirainan itse säteilemän IR-säteilyn voimakkuutta optisen säteilyn pulssien välisenä ainakin yhtenä ajanhetkenä, jolloin optisen säteilyn kohdis-10 tuminen paperirainalle on katkaistu, ja määritetään paperirainan lämpötila mitatun IR-säteilyn voimakkuuden avulla.
Keksinnön kohteena on myös järjestely paperirainan lämpötilan mittaamiseksi. Keksinnön mukaiselle järjestelylle on tunnusomaista, että mitattaessa paperirainan jotain ominaisuutta optisesti siten, että paperirainan 15 pintaa valaistaan passitetulla optisella säteilyllä, järjestely on sovitettu mittaamaan mainitun optisen mittauksen yhteydessä paperirainan itse säteilemän IR-säteilyn voimakkuus optisen säteilyn pulssien välisenä ainakin yhtenä ajanhetkenä, jolloin optisen säteilyn kohdistuminen paperirainalle on katkaistu, ja määrittämään paperirainan lämpötila mitatun IR-säteilyn voimakkuuden avulla. 20 Keksinnön edulliset suoritusmuodot ovat epäitsenäisten patentti vaatimusten kohteena.
·' ·* Keksinnön mukaisella menetelmällä ja järjestelmällä saavutetaan useita etuja. Keksinnön mukaisella paperirainan lämpötilan mittausjärjestelyllä
• I
voidaan huolehtia siitä, että samalla kun paperia tai kartonkia mitataan pulssi-25 tetun optisen säteilyn avulla, paperirainan lämpötilaa voidaan tarkkailla. Yhtei-: nen mittarirakenne vähentää tarvittavan laitteiston määrää, mikä pienentää laitteistojen sekä monimutkaisuutta että hintaa, vaatii vähemmän tilaa ja vä- * t hentää vikaantumistodennäköisyyttä. Lisäksi mittauslaitteiston suojaaminen * . , ympäristön vaikutuksilta helpottuu, koska ei tarvita erillisiä suojaamista. Myös- . : 30 kin tiedonsiirto mittauslaitteiden välillä helpottuu. Mittauksen avulla voidaan myös paperirainaa ohjata siten, että paperin kutistuma pysyy tasaisena, mikä , vähentää laskostumista ja mahdollistaa suuren tuotantonopeuden.
Kuvioiden lyhyt selostus
Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten suoritusmuotojen ‘ 35 yhteydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa 3 113088 kuvio 1A esittää laitteen lohkokaaviota käytettäessä yhtä detektoria, kuvio 1B esittää laitteen lohkokaaviota käytettäessä kahta detektoria, kuvio 2 esittää katkojakiekkoa, 5 kuvio 3A - 3E esittää katkojalla katkottujen optisten säteiden ajoi tusta, kuvio 4A esittää paperikoneen kuivausosassa käytettyä päälle puhallusta, kuvio 4B esittää paperikoneen kuivausosassa käytettyä läpipuhal- 10 lusta, kuvio 5 esittää lämpöprofiilin mittausta ja kuivauksen ohjausta.
Keksinnön yksityiskohtainen selostus
Keksinnön mukainen ratkaisu soveltuu erityisesti paperirainan lämpötilan mittaukseen.
15 Tässä hakemuksessa IR-säteilyn (InfraRed) NIR-alueella (Near IR) tarkoitetaan sähkömagneettisen spektrin kaistaa 700 nm - 2500 nm. MIR-alueella (Middle IR) tarkoitetaan puolestaan sähkömagneettisen spektrin kaistaa 2500 nm - 20 000 nm. Nämä määrittelyt vastaavat alan ammattimiehen käsitystä NIR- ja MIR-säteilystä.
20 Tarkastellaan nyt lähemmin päällystemittausta, jonka yhteyteen keksinnön mukainen ratkaisu on erityisen sopiva, siihen kuitenkaan rajoittumatta. Päällystemittauksessa MIR-säteilyllä mitataan yhtä tai useampaa pääl-: lysteen komponenttia, joita ovat mm. kalsiumkarbonaatti, kaoliini, silikoni ja vesi, ja NIR-säteilyllä mitataan yhtä tai useampaa komponenttia, joita ovat 25 mm. kaoliini, talkki, kipsi, silikoni, vesi, selluloosa sekä sideaineet kuten latek- » si. Päällysteen mittaus voidaan suorittaa yhdellä tai kahdella detektorilla yhdessä tai useammassa anturissa.
Suoritettaessa päällysteen mittaus yhdellä detektorilla mittauksessa käytetään sekä MIR- että NIR-säteilyä, joita mitataan eri aikaan. Detektorina 30 on tällöin MCT-detektori (Mercury Cadmium Telluride) tai vastaava. Detektorin : tyyppi ei kuitenkaan ole oleellinen keksinnön kannalta, vaan oleellista on se, että detektori kykenee detektoimaan mitattavaa säteilyä. Paperin tai kartongin f · . päällysteestä MIR-säteilyllä mitataan ainakin yksi komponentti samoin kuin myös NIR-säteilyllä mitataan päällysteestä ainakin yksi komponentti. Mittauk-35 sen suorittamiseksi menetelmässä kohdistetaan optisesta tehonlähteestä päällystettä päin IR-säteilyä, jota katkotaan katkojalla valopulsseiksi. Detek- 4 113088 tointia varten katkotaan synkronisesti päällystettä valaisevan IR-säteilyn kanssa päällysteestä lähtevää IR-säteilyä, joka käsittää sekä optisesta teholähteestä peräisin olevaa pulssitettua optista säteilyä että päällysteen itsensä säteilemää optista säteilyä. Detektointi suoritetaan mittaussuunnassa, joka on 5 muu kuin peiliheijastussuunta.
Tarkastellaan nyt MIR-säteilyllä tapahtuvaa mittausta. Kaistanpääs-tösuodatetaan katkotusta optisesta säteilystä ainakin yhden komponentin ainakin yksi aallonpituuskaista, joka on herkkä mainitun ainakin yhden komponentin absorptiolle MIR-alueella, ja mitataan absorptiolle herkän MIR-säteilyn 10 voimakkuus. Säteilyn voimakkuus mitataan tehona tai intensiteettinä kuten ammatti-ihmiselle on ilmeistä. Absorptiolle herkkä MIR-säteilyn kohta on kyseisen komponentin absorptiomaksimin kohta. Kalsiumkarbonaatilla tämä absorptio tapahtuu optisella kaistalla, jonka keskiaallonpituus on noin 3950 nm. Kaoliinilla absorption keskiaallonpituus on noin 2700 nm. Kaistanpäästösuo-15 dattimena käytetään interferenssisuodatinta. Seuraavaksi mitataan absorptio-maksimin läheisyydessä oleva ainakin yksi absorption voimakkuus, jotta saadaan tietoon, kuinka voimakas absorptiomaksimi on verrattuna ympäristöönsä. Tämä tapahtuu seuraavasti. Kaistanpäästösuodatetaan katkotusta IR-säteilystä mainitun ainakin yhden komponentin aallonpituuskaista, joka on 20 epäherkkä mainitun komponentin absorptiolle MIR-alueella ja mitataan absorptiolle epäherkän MIR-säteilyn voimakkuus. Tämän jälkeen mittauksessa *» « : määritetään yhden tai useamman komponentin absorption voimakkuus ver- taamalla komponenttikohtaisesti absorptiolle herkän MIR-säteilyn voimak-: .: kuutta ja absorptiolle epäherkän MIR-säteilyn voimakkuutta toisiinsa. MIR- : 25 mittauksen lopuksi määritetään MIR-absorption voimakkuudesta päällysteen . . ainakin yhden komponentin määrä.
.· ·. Tarkastellaan nyt lähemmin NIR-alueella tapahtuvaa mittausta, joka on samanlainen kuin MIR-alueella tapahtuva mittaus. Kaistanpäästösuodate-. taan katkotusta IR-säteilystä ainakin yhden muun komponentin aallonpituus- 30 kaista, joka on herkkä mainitun ainakin yhden muun komponentin absorptiolle I · '·;·* NIR-alueella ja mitataan absorptiolle herkän NIR-säteilyn voimakkuus. Ab- : sorption voimakkuuden mittaamiseksi mitataan absorptiota myös referenssi- ·;· : aallonpituudella, joka on muu kuin absorption maksimin aiheuttava aallonpi tuuskaista. Tällöin kaistanpäästösuodatetaan katkotusta IR-säteilystä mainitun 35 ainakin yhden muun komponentin aallonpituuskaista, joka on epäherkkä mai-nitun ainakin yhden muun komponentin absorptiolle NIR-alueella ja mitataan 5 113088 absorptiolle epäherkän NIR-säteilyn voimakkuus. Tämän jälkeen mitataan mainitun yhden tai useamman muun komponentin absorption voimakkuus vertaamalla komponenttikohtaisesti absorptiolle herkän NIR-säteilyn voimakkuutta ja absorptiolle epäherkän NIR-säteilyn voimakkuutta toisiinsa. Määrite-5 tään lopuksi NIR-absorption voimakkuuden avulla päällysteen mainitun ainakin yhden muun komponentin määrä.
Käytettäessä kahta detektoria, joista toinen mittaa MIR-säteilyä ja toinen NIR-säteilyä, mittaus on muuten samanlainen, mutta sekä MIR- että NIR-mittaus suoritetaan yhtä aikaa. NIR-säteilyä voidaan detektoida esimer-10 kiksi InGaAs-detektorilla (Indium Gallium Arsenide). Detektorin tyyppi ei kuitenkaan ole keksinnön kannalta oleellinen, vaan tärkeintä on se, että detektori kykenee detektoimaan mitattavaa säteilyä.
Tarkastellaan nyt päällysteen ja lämpötilan mittausta kuvion 1A avulla. Ainakin IR-alueella toimiva optisen säteilyn lähde 100 lähettää optista 15 säteilyä katkojan 102 kautta mitattavalle kohteelle 105. Mittauskohde 105 on paperirahalla olevaa paperia tai kartonkia, jonka käsittämää päällystettä 104 halutaan mitata. Lämpötilan mittauksen kannalta paperirainan 103 muodostavat mittauskohteena 105 oleva paperi tai kartonki ja mahdollinen päällyste 104. Päällysteitä mitattaessa keksinnöllinen ratkaisu mittaa päällysteen kom-20 ponenttien määrää. Katkoja 102 päästää hetkellisesti optista säteilyä lävitseen ja osan aikaa katkoja 102 estää optisen säteilyn pääsemisen lävitseen. Oleel- • · : lista katkojan 102 toiminnassa päällysteen mittaamiseksi on siis se, että valai- suaikana mittauskohde 105 valaistaan optisen tehon lähteestä 100 emittoitu- :.: valla IR-säteilyllä ja valaisun estoaikana mittauskohdetta ei valaista optisen : 25 tehon lähteestä 100 emittoituvalla IR-säteilyllä. Näin katkoja 102 katkoo opti- sen säteilyn valopulsseiksi, jotka osuvat mitattavan kohteeseen 104. Mitatta- . ·. vasta kohteesta 104 optinen säteily heijastuu ja siroaa eri suuntiin. Osa opti- * · sesta säteilystä suuntautuu kohti lohkoa 106, jossa optinen säteily suodate-.. . taan ja katkotaan detektointia varten. Mittauskohteesta 104 heijastuvaa optista 30 säteilyä ei kuitenkaan mitata peiliheijastuksen suunnasta. Lohkossa 106 suo-·;* dattaminen suoritetaan erikseen MIR- ja NIR-suodattimilla, jotka ovat edulli- I sesti interferenssisuodattimia. Mitattaessa MIR-säteilyn voimakkuutta mitatta- : · vasta kohteesta 104 lähtevää säteilyä suodatetaan MIR-suodattimella. Mitat- taessa NIR-säteilyn voimakkuutta mitattavasta kohteesta 104 lähtevää säteilyä 35 suodatetaan NIR-suodattimella. Päällysteen mittauksen detektointiaika on se '·**' aika, jolloin MIR- tai NIR-säteilyä päästetään detektorille 108 mittausta varten.
6 113088 Päällysteen mittausta varten detektointi suoritetaan synkronisesti samaan aikaan kuin mitattavaa kohdetta valaistaan optisella säteilyllä. Silloin kun mit-tauskohteena olevaa paperirainaa ei valaista IR-säteilyllä, keksinnöllisessä ratkaisussa mitataan paperirainan lämpötilaa paperirainasta itsestään lähtevän 5 IR-säteilyn avulla. Valaisun ja detektoinnin ajoitusta on tarkemmin selitetty kuvion 3 yhteydessä. Paperirainan lämpötilan detektoinnissa käytetään samaa detektoria kuin päällysteen mittauksessa. Detektori siis detektoi sekä päällysteen mittauksessa että lämpötilan mittauksessa IR-säteilyä ja muuntaa detek-toimansa IR-säteilyn voimakkuuden vastaavan voimakkuiseksi sähköiseksi 10 signaaliksi. Tämä sähköinen signaali vahvistetaan esivahvistimessa 109, muunnetaan digitaaliseksi A/D-muuntimessa 111. Digitaalisesta signaalista digitaalinen signaalinkäsittelylohko 120 mittaa detektoidun IR-säteilyn voimakkuuden, laskee päällysteen määrän ja määrittää paperirainan lämpötilan. Lämpötilan määrittämisessä käytetään hyväksi periaatetta, että detektorille 15 tulevan säteilyn voimakkuus eli teho on suhteessa lämpötilaan. Mitä enemmän IR-tehoa detektorille tulee, sitä korkeampi on paperirainan lämpötila. Mittaus on kalibroitu näyttämään oikeaa lämpötilaa mittaamalla lämpötilaltaan tunnettuja kohteita.
Päällysteen ja lämpötilan mittauksessa voidaan MIR- ja NIR-20 mittaukset siis suorittaa eri ajanhetkillä yhdellä detektorilla 108, josta sähköiseen muotoon muuttunut mittasignaali etenee esivahvistimelle 109, A/D-: muuntimelle 111 ja lopulta digitaaliseen signaalikäsittelyyn lohkossa 120.
•\v Tarkastellaan nyt päällysteen ja lämpötilan mittausta kuvion 1B
avulla. Ratkaisu on monin osin samanlainen kuin kuvion 1A ratkaisukin, mutta 25 tässä ratkaisussa käytetään kahta detektoria 108 ja 110. Detektorille 108 tule-vaa optista säteilyä suodatetaan lohkossa 106 siten, että detektorille 108 .···. päästetään vain NIR-säteilyä samaan aikaan, kun detektorille 110 päästetään * · vain MIR-säteilyä. Kummankin detektorin mittasignaalia vahvistetaan esivah-vistimissa 112 ja 116 ja sähköiset mittasignaalit muutetaan digitaalisiksi A/D-, 30 muuntimissa 114 ja 118. Digitaaliset signaalit käsitellään samalla tavalla kuin kuvion 1A yhteydessäkin digitaalisessa signaalikäsittelylohkossa 120. Pääl-; ’ i lystettäessä paperia tai kartonkia useita kertoja paperirainan lämpötilan mitta- : * j us voidaan suorittaa sekä ennen että jälkeen päällystyksen.
Tarkastellaan nyt keksinnöllisessä ratkaisussa käytettävää katkojaa ;;; 35 kuvion 2 avulla. Sekä paperirainan valaisun katkonta katkojalla 102 että de- ’··· tektoitavan säteilyn katkonta katkojalla 106 suoritetaan yhdellä katkojakiekolla 7 113088 200. Kiekkomaisen katkojan sijasta voidaan optisen säteilyn katkontaan kuitenkin käyttää myös muita sinänsä tunnettuja optisia kytkimiä, jollaisia ovat mekaaniset kytkimet, elektro-optiset kytkimet, magneto-optiset kytkimet, akusto-optiset kytkimet etc. Kytkimien toiminta ajoitetaan kuten kuvioissa 3A -5 3E on esitetty. Katkoja 200 on siis edullisesti kiekkomainen optisen säteilyn katkoja, joka käsittää hampaita 202 estää IR-säteilyä pääsemästä optisen tehon lähteeltä mitattavalle pinnalle ja hampaiden välejä 204 päästää IR-säteilyä optisen tehon lähteeltä mitattavalle pinnalle. Kiekkomainen katkoja 200 käsittää myös ainakin kaksi MIR-suodatinta 206, 212, jotka päästävät vastaavasti 10 ainakin kahdella eri kaistalla MIR-säteilyä detektorille. MIR-suodattimet 206, 212 sijaitsevat kehämäisesti kiekkomaisessa katkojassa 200. Yhdellä MIR-suodattimen päästämällä kaistalla mitataan absorption maksimikohtaa ja muilla yhdellä tai useammalla kaistalla mitataan absorptiomaksimin ulkopuolella olevaa kohtaa. Katkoja 200 käsittää samoin ainakin kaksi NIR-suodatinta 15 208, 214, jotka päästävät kahdella eri kaistalla NIR-säteilyä detektorille. NIR- suodattimet 208, 214 sijaitsevat kehämäisesti kiekkomaisessa katkojassa 200. Myös tässä tapauksessa yhden suodattimen optinen kaista päästää mitattavan päällysteen komponentin absorption maksimikohdasta NIR-säteilyä detektorille. Yksi tai useampi muu NIR-suodatin päästää NIR-säteilyä muilla kuin 20 absorption maksimikohdan kaistalla detektorille. Lisäksi kiekkomainen katkoja 200 käsittää suodattimien välejä 210, jotka estävät IR-säteilyä etenemästä *« · • .·* detektoreille. Suodattimet 206 ja 208 sijaitsevat siten, että kun optinen säteily : V: 230 pääsee katkojan 200 ulkoreunan hampaiden 202 välistä 204 kohti mitatta- vaa kohdetta, suodattimet 206 ja 208 päästävät samaan aikaan suodatettua • · 25 IR-säteilyä 232 ja 234 detektoreille.
Keksinnöllisessä ratkaisussa paperirainan lämpötilan mittaamiseksi ,··*. detektorille päästetään paperirainan säteilemää IR-säteilyä suodattimen koh-
t I
dassa 240. Mittaus voidaan suorittaa myös siten, että yksi tai useampi suodatin on korvattu katkojassa 200 olevalla aukolla 242, joka päästää detektorille * · ' 30 säteilyä silloin, kun päällysteen mittauksessa tarvittavasta optisen säteilyn • : lähteestä IR-säteilyä 230 ei kohdistu paperirahalle. Näin detektori voi ottaa : · vastaan paperirainasta itsestään lähtevää IR-säteilyä koko vastekaistallaan.
j Lämpötilan mittaukseen on edullista käyttää MIR-säteilyä detektoivaa detekto ria. On myös mahdollista, että lämpötilan mittaus suoritetaan silloin, kun yksi 35 hampaiden 204 väli on peitetty, jolloin optisen säteilyn lähteestä ei pääse IR-; ·..: säteilyä paperirahalle.
8 113088
Katkojakiekkoa 200 pyörittää edullisesti sähkömoottori, jolloin kiekon pyöriessä hampaat ja suodattimien välit katkovat mitattavalla pinnalle tulevaa säteilyä ja detektor(e)ille tulevaa säteilyä. Kun käytössä on vain yksi detektori kuten kuvion 2A tapauksessa, aukot 242 ja MIR- ja NIR-suodattimet 5 sijaitsevat kiekkomaisen katkojan 200 samalla kehällä peräkkäin ja vuorotellen päästävät IR-säteilyä tai suodattavat MIR- ja NIR-säteilyä mittausta varten yhdelle detektorille (tätä ei ole esitetty kuviossa, koska se on alan ammattimiehelle ilmeistä).
Tarkastellaan nyt kuvioiden 3A - 3E avulla mitattavan kohteen valo laisemisen ja detektoimisen ajoittamista. Läpäisy on y-akselilla vapaasti valitulla asteikolla, x-akseli esittää aikaa T, ja molemmat käyrät ovat samalla aika-akselilla. Kuviossa 3A käyrä 300 esittää optisen tehonlähteen ja mitattavan kohteen välissä olevan katkojan läpäisyä ajan funktiona. Katkojahan käsittää optisia suodattimia ja mahdollisesti myös aukkoja optisen säteilyn päästämi-15 seksi mitattavalle pinnalle ja detektoitavaksi. Kuviossa 3B käyrä 303 esittää mitattavan kohteen ja detektorin välissä olevan katkojan läpäisyä ajan funktiona ensimmäisellä mitattavalla aallonpituudella. Alkutilanne on se, että katkoja päästää optista säteilyä mitattavalle sekä pinnalle että detektorille (käyrät 330 kuviossa 3C ja 301 kuviossa 3A). Käyrä 330 tarkoittaa mittausta toisella mi-20 tattavalla aallonpituudella. Eri aallonpituuksilla mittaus suoritetaan samalla tavalla.
Kuvioissa 3A ja 3B esitetään päällysteen mittaus ensimmäisellä ν' ,: aallonpituudella. Tässä tilanteessa aluksi katkoja estää mittauksessa käytetyn ·.: ensimmäisen säteilyn pääsyn sekä mitattavalle pinnalle että detektorille ,·25 (käyrien kohdat 302 ja 308). Kun optisen tehonlähteen ja mitattavan kohteen ." välinen katkoja alkaa päästää optista säteilyä mitattavaan kohteeseen (käyrän ,’··. kohta 304), voidaan suorittaa päällysteen mittaus ensimmäisellä aallonpituu- • · della ajanhetkellä 316. Katkoja ei päästä ensimmäistä mitattavaa säteilyä . , enää detektorille käyrän kohdassa 312.
I > 30 Mittaus kolmannella aallonpituudella voidaan aloittaa, kun katkoja alkaa päästää detektorille säteilyä kuvion 3D käyrän 332 mukaisesti. Kohdas-: sa 334 katkoja päästää myös mitattavalle pinnalle säteilyä. Tällä tavalla voi- ; daan mitata edullisesti hyvin monella aallonpituudella päällysteen useita kom ponentteja.
35 Kuviossa 3E on esitetty keksinnön mukainen paperirainan lämpöti- <.: lan mittaus. Mittaus suoritetaan silloin, kun paperirainaa ei valaista passitetulla 9 113088 optisella säteilyllä hetkellä 340 ja 342. Mittaushetket voivat siten olla missä tahansa valopulssien välissä. Detektorille päästetään paperirainasta lähtevää säteilyä aikaväleissä 344 ja 346. Mittaus on mahdollinen myös silloin, kun pa-perirainalle optista säteilyä emittoiva lähde on sammutettu. Tällöin paperirai-5 nan lämpötilamittaus on mahdollinen aina, kun detektorille päästetään paperirainasta säteilevää IR-säteilyä.
Keksinnöllisessä ratkaisussa on siis oleellista se, että paperirainan lämpötila mitataan samassa yhteydessä kuin jokin muu optinen paperirainan mittaus, jossa käytetään katkottua optista säteilyä.
10 Mitatun lämpötilan avulla voidaan säätää paperirainan lämpötilaa ja optimoida paperirainan kuivatusprosessia ja erityisesti päällystetyn paperin kuivatusprosessia. IR-kuivatuksessa paperirainaan kohdistetaan IR-säteilyn lähteestä IR-säteilyä, joka nostaa paperirainan lämpötilaa. IR-säteilyn lähteenä voi olla esimerkiksi sähköllä tai kaasulla kuumennettavat säteilijät eli IR-15 kuivaimet.
Kuvioissa 4A ja 4B on esitetty paperikoneen kuivausosassa valmistuvan paperin kuivausvälineitä. Päällepuhalluksessa, jota on esitetty kuviossa 4A, sylinterin tai telan, edullisimmin imutelan 472 päällä olevaan paperirainaan 476 kohdistetaan huuvasta 470 kuuma ilmavirta. Ilma imetään takaisin 20 huuvaan 470 ja kierrätetään polttimen 378 kautta useampaan kertaan.
Kuviossa 4B on esitetty läpipuhallusjärjestely, joka muistuttaa pääl-i lepuhallusjärjestelyä. Tässä tapauksessa sylinterin 482 pinnassa on reikiä, joi- :Y: den kautta ilma pääsee virtaamaan sylinterin 482 sisään ja poistumaan sylin- . ' , : teristä. Kun huuvasta 480 puhalletaan kuumaa ilmaa paperirainaan 486, ilma . · \ 25 menee rainan 486 läpi sylinteriin. Puhalluksen ohjauksesta huolehtii lämpötilan mittauksen avulla ohjauslohko, joka on edullisesti osa paperikoneen tietoko-nepohjaista ohjausjärjestelmää. Lämpötilaa voidaan säätää sekä kuvion 4A ' ‘ että 4B tapauksessa muuttamalla ilmavirtauksen nopeutta ja/tai lämpötilaa.
Keksinnöllisessä ratkaisussa paperirainan lämpötila mitataan edulli- 30 sesti useasta kohdasta rainan poikkisuunnassa paperirainan lämpöprofiilin muodostamiseksi. Profiilin mittaus voidaan suorittaa yhdellä tai useammalla : anturilla siten, että anturit ovat staattisesti paikallaan, tai siten, että anturit ovat j traversoivia eli liikkuvat edestakaisin paperirainan poikkisuunnassa. Kuviossa » 5 on esitetty tällaista ratkaisua. Mittausjärjestely käsittää K kappaletta paperi-35 rainaa 506 mittaavia antureita 500, jotka on toiminnallisesti kytketty mittaus- ja ,,· ohjauslohkoon 502, missä K on positiivinen kokonaisluku. Mittauslohko 502 113088 10 ohjaa edullisesti kuivaimia 504. Kuivaimet 504 voivat olla kuviossa 4A ja 4B esitetyn kaltaisia puhalluskuivaimia, höyrypaineella toimivia sylinterikuivaimia tai IR-kuivaimia. Keksinnön mukaisella ratkaisulla voidaan ohjata, optimoida ja valvoa kuivaimien kuntoa. Päällystysprosessissa voidaan estää päällystepas-5 tan lämpötilan nousu niin korkeaksi, että pinta jähmettyy. Jos päällystepastan pintalämpötila nousee liian korkeaksi ja pinta jähmettyy, pastan sisällä oleva vesi kiehuu ja räjäyttää pinnan rikki. Lisäksi paperirainan lämpötila voidaan mitata useasta kohdasta rainan konesuunnassa paperirainan lämpöprofiilin muodostamiseksi konesuunnassa. Optimoimalla kuivatusprosessi voidaan 10 säästää myös energiaa. Keksinnön mukaisella paperirainan lämpötilan mittausjärjestelyllä voidaan huolehtia, että paperirainan lämpötila on tasainen sekä poikkisuunnassa että konesuunnassa. Tämä puolestaan saa aikaan sen, että paperin kutistuma pysyy tasaisena, mikä vähentää laskostumista ja mahdollistaa suuren tuotantonopeuden.
15 Mitattaessa paperirainan lämpötilaa ennen kuivainta ja kuivaimen jälkeen voidaan mitatun lämpötilan avulla tarkkailla kuivaimen kuntoa ja ilmoittaa paperikoneen käyttäjälle mahdollisesta viasta.
Vaikka keksintöä on edellä selostettu viitaten oheisten piirustusten mukaiseen esimerkkiin, on selvää, ettei keksintö ole rajoittunut siihen, vaan 20 sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisten patenttivaatimusten esittämän keksinnöllisen ajatuksen puitteissa.
I * * I • » · * * » • » · f * * • · • · • · • t I i k >
Claims (22)
113088
1. Menetelmä paperirainan lämpötilan mittaamiseksi, tunnettu siitä, että mitattaessa paperirainan (103, 506) jotain ominaisuutta optisesti siten, että paperirainan (103, 506) pintaa valaistaan passitetulla optisella sätei-5 lyllä, mitataan mainitun mittauksen yhteydessä paperirainan (103, 506) itse säteilemän IR-säteilyn voimakkuutta optisen säteilyn pulssien (301, 304, 310, 330, 332, 334) välisenä ainakin yhtenä ajanhetkenä (344, 346), jolloin optisen säteilyn kohdistuminen paperirainalle on katkaistu, ja määritetään paperirainan (103, 506) lämpötila mitatun IR-säteilyn voimakkuuden avulla.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että paperirainan (103, 506) lämpötila mitataan paperirainan (103, 506) poikki-suunnassa paperirainan (103, 506) lämpöprofiilin muodostamiseksi.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että paperirainan (103, 506) lämpötilan mittaus suoritetaan käyttäen yhtä tai 15 useampaa edestakaisin paperirainan poikkisuunnassa liikkuvaa mittausanturia (500).
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että paperirainan (103, 506) lämpötila mitataan paperirainan (103, 506) kone-suunnassa paperirainan (103, 506) lämpöprofiilin muodostamiseksi kone- 20 suunnassa.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, ‘ että mitatun lämpötilan avulla säädetään paperirainan (103, 506) lämpötilaa. » l • »
6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitatun lämpötilan avulla optimoidaan paperirainan (103, 506) kuivatus- v. 25 prosessia.
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitatun lämpötilan avulla tarkkaillaan paperirainan (103, 506) kuivaimien kuntoa.
8. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 30 että pulssitetun optisen säteilyn avulla mitataan päällysteen (104) käsittämiä komponentteja. 113088
9. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että lämpötilan mittauksessa käytetään MIR-säteilyä.
10. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että katkotaan ja kaistanpäästösuodatetaan päällysteestä (204, 310) lähtevää
5 IR-säteilyä kiekkomaisella katkojalla (200), joka käsittää ainakin yhden aukon päästää laajakaistaista IR-säteilyä detektorille (242), MIR- ja NIR-suodattimet (206, 208) päästää IR-säteilyä ja suodattimien (206, 208) ja aukkojen (242) välejä (210) estää IR-säteilyä.
11. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 10 että päällystettäessä paperia tai kartonkia useita kertoja menetelmän mukainen mittaus suoritetaan ennen ja/tai jälkeen päällystyksen.
12. Järjestely paperirainan lämpötilan mittaamiseksi, tunnettu siitä, että mitattaessa paperirainan jotain ominaisuutta optisesti siten, että paperirainan (103, 506) pintaa valaistaan passitetulla optisella säteilyllä, järjes- 15 tely on sovitettu mittaamaan mainitun optisen mittauksen yhteydessä paperirainan (103, 506) itse säteilemän IR-säteilyn voimakkuus optisen säteilyn pulssien (301, 304, 310, 330, 332, 334) välisenä ainakin yhtenä ajanhetkenä (344, 346), jolloin optisen säteilyn kohdistuminen paperirainalle on katkaistu, ja määrittämään paperirainan lämpötila mitatun IR-säteilyn voimakkuuden avulla. * ·
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, * · *; '*! että järjestely on sovitettu mittaamaan paperirainan (103, 506) lämpötilaa rai- : nan poikkisuunnassa paperirainan (103, 506) lämpöprofiilin muodostamiseksi. i % • · • · t · .· ·. 14. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, .· ·. että järjestely on sovitettu mittaamaan paperirainan (103, 506) lämpötilaa rai- * * 25 nan konesuunnassa paperirainan (103, 506) lämpöprofiilin muodostamiseksi . konesuunnassa. i t * · :[: 15. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, . että järjestely käsittää ainakin yhden edestakaisin paperirainan poikkisuun- »· ’ ; nassa liikkuvan mittausanturin (500). ' : * J t
16. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, ··. että järjestely on sovitettu säätämään mitatun lämpötilan avulla paperirainan (103, 506) lämpötilaa. 113088
17. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että järjestely on sovitettu optimoimaan mitatun lämpötilan avulla paperirainan (103, 506) kuivatusprosessia.
18. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, 5 että järjestely on sovitettu tarkkailemaan mitatun lämpötilan avulla kuivaimien kuntoa.
19. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että pulssitettu optinen säteily on sovitettu käytettäväksi päällysteen komponenttien mittauksessa.
20. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että järjestely on sovitettu käyttämään MIR-säteilyä.
21. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että katkotaan ja kaistanpäästösuodatetaan päällysteestä (104) lähtevää IR-säteilyä kiekkomaisella katkojalla (200), joka käsittää ainakin yhden aukon 15 (242) päästää laajakaistaista IR-säteilyä detektorille, MIR- ja NIR-suodattimet (206, 208) päästää IR-säteilyä ja suodattimien (206, 208) välejä (210) estää IR-säteilyä.
22. Patenttivaatimuksen 12 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että päällystettäessä paperia tai kartonkia useita kertoja järjestely on sovitettu ' 20 suorittamaan mittauksen ennen ja/tai jälkeen päällystyksen. » » I - • t » · » t * * t I > f » » 113088
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20000283A FI113088B (fi) | 2000-02-10 | 2000-02-10 | Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi |
| PCT/FI2001/000122 WO2001059438A1 (en) | 2000-02-10 | 2001-02-09 | Method and apparatus for measuring temperature of paper web |
| AU2001235519A AU2001235519A1 (en) | 2000-02-10 | 2001-02-09 | Method and apparatus for measuring temperature of paper web |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20000283A FI113088B (fi) | 2000-02-10 | 2000-02-10 | Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi |
| FI20000283 | 2000-02-10 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20000283A0 FI20000283A0 (fi) | 2000-02-10 |
| FI20000283A FI20000283A (fi) | 2001-08-11 |
| FI113088B true FI113088B (fi) | 2004-02-27 |
Family
ID=8557432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20000283A FI113088B (fi) | 2000-02-10 | 2000-02-10 | Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| AU (1) | AU2001235519A1 (fi) |
| FI (1) | FI113088B (fi) |
| WO (1) | WO2001059438A1 (fi) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6960769B2 (en) | 2002-10-03 | 2005-11-01 | Abb Inc. | Infrared measuring apparatus and method for on-line application in manufacturing processes |
| SE543393C2 (en) * | 2019-06-18 | 2020-12-29 | Ircon Drying Systems Ab | Arrangement and method for measuring the temperature of a web, including computer program, computer readable medium and control unit |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI63115C (fi) * | 1980-06-10 | 1983-04-11 | Valmet Oy | Foerfarande foer undersoekning av ytkvaliteten av material i fasttillstaond och anordning foer genomfoerande av foerfarandet |
| US4769544A (en) * | 1984-06-01 | 1988-09-06 | Measurex Corporation | System and process for measuring fiberglass |
| JPS6153549A (ja) * | 1984-08-23 | 1986-03-17 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
-
2000
- 2000-02-10 FI FI20000283A patent/FI113088B/fi active
-
2001
- 2001-02-09 WO PCT/FI2001/000122 patent/WO2001059438A1/en active Application Filing
- 2001-02-09 AU AU2001235519A patent/AU2001235519A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI20000283A (fi) | 2001-08-11 |
| FI20000283A0 (fi) | 2000-02-10 |
| AU2001235519A1 (en) | 2001-08-20 |
| WO2001059438A1 (en) | 2001-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1313774C (en) | System and method for measurement of traveling webs | |
| FI95841C (fi) | Paperirainan kosteusanturi sekä menetelmä paperirainan kosteuden säätämiseksi | |
| US6526369B1 (en) | Apparatus and process for a cross-direction profile of a material web | |
| JP4481825B2 (ja) | 赤外線測定装置、及び、製造工程への赤外線測定装置のオンライン適用方法 | |
| EP1741829B1 (en) | Measuring arrangement in a shortened dry end of a tissue machine | |
| CA2633236A1 (en) | Combined paper sheet temperature and moisture sensor | |
| FI115856B (fi) | Menetelmä ja laite päällysteen mittaamiseksi | |
| FI115163B (fi) | Spektrierottelevaan mittaukseen perustuva laadun- ja kunnonvalvonta | |
| EP2480877B1 (en) | Method and apparatus for on-line web property measurement | |
| US20230408455A1 (en) | Photoacoustic detection system | |
| FI113088B (fi) | Menetelmä ja laite paperirainan lämpötilan mittaamiseksi | |
| JP2018526624A (ja) | 近赤外線水分センサのための較正基準としての酸化ホルミウムガラス | |
| US20050195411A1 (en) | System and method for measuring the permeability of a material | |
| JP2007519932A (ja) | 光ファイバー式測定装置 | |
| CA2300095A1 (en) | Method and apparatus for measuring properties of paper | |
| FI125725B (fi) | Menetelmä ja sovitelma kuiturainan seuraamiseksi | |
| US7986410B2 (en) | Method for detecting a fibrous web tear in a drying section of a machine for producing the fibrous web and apparatus for performing said method | |
| WO2000031521A1 (en) | Non-scanning, on-line multiple wavelength sheet monitoring system | |
| EP3729025A1 (en) | Method and system for real-time web manufacturing supervision | |
| ITBO950110U1 (it) | Dispositivo di misurazione della concentrazione di gas in aria | |
| JPH0654292B2 (ja) | 赤外線式ｎｏ分析計 |