FI112975B - Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella - Google Patents
Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella Download PDFInfo
- Publication number
- FI112975B FI112975B FI973693A FI973693A FI112975B FI 112975 B FI112975 B FI 112975B FI 973693 A FI973693 A FI 973693A FI 973693 A FI973693 A FI 973693A FI 112975 B FI112975 B FI 112975B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- paper
- wavelength components
- spectrograph
- infrared
- detectors
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 5
- 230000008685 targeting Effects 0.000 claims description 2
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 3
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000012497 inhomogeneous sample Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XCAUINMIESBTBL-UHFFFAOYSA-N lead(ii) sulfide Chemical compound [Pb]=S XCAUINMIESBTBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
- G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
112975
MENETELMÄ JA LAITTEISTO PAPERIN LAATUOMINAISUUKSIEN MITTAAMISEKSI LIIKKUVASTA PAPERIRADASTA PAPERIKONEELLA
Keksinnön kohteena on menetelmä paperin laatuominaisuuksien 5 mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella, missä menetelmässä paperirataan kohdistetaan infrapunasäde ja paperiradan läpäissyt tai siitä heijastunut infrapunasäde jaetaan osiin ja infrapunasäteen eri osat ilmaistaan samanaikaisesti.
Edelleen keksinnön kohteena on laitteisto paperin laatuominaisuuk-10 sien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella, johon laitteistoon kuuluu säteilylähde infrapunasäteen tuottamiseksi, välineet paperiradasta heijastuneen tai paperiradan läpäisseen infrapunasäteen jakamiseksi sekä välineet paperin laatuominaisuuksien määrittämiseksi jaetun infrapunasäteen perusteella.
15 US-patentissa 4 733 078 on esitetty laitteisto, missä valonsäde joh detaan kohteeseen moottorin pyörittämän suodinkiekon läpi, jossa suodinkie-kossa olevat suodattimet päästävät kohteeseen kerrallaan vain tietyn valon aallonpituuden. Paperin läpäissyt valo ilmaistaan eri aallonpituuksilla ja näin saatavien signaalien perusteella kohteesta määritetään haluttu ainepitoisuus. 20 Liikkuvan kohteen mittauksen kannalta ongelmaksi muodostuu eri aallonpi-tuuskanavien mittauksien peräkkäisyys, sillä kukin suodatin valaisee kohteen eri pistettä. Ennen kuin seuraava suodatin on ehtinyt pyörähtää valonlähteen eteen on mittauskohde liikkunut vähän eri kohtaan ja läpäisypiste ei siten ole . .·. aivan sama. Tällöin ei referenssiaallonpituuteen perustuva suhdemittaus pois- : v, 25 ta sironnasta aiheutuvaa harmaatekijävaihtelua, jolloin syntyy merkittävä virhe, L/ mikäli mitataan epähomogeenista, liikkuvaa materiaalia, kuten paperia.
US-patentissa 3 641 349 on esitetty laitteisto, missä paperin läpäis-' * ’ syt valonsäde jaetaan useampaan eri osaan. Kukin säteen eri osa ilmaistaan erillisellä ilmaisimella, joiden edessä on kapeakaistaiset suodattimet, jolloin ; V 30 signaalit ilmaistaan rinnakkaisesti. Rinnakkaisella ilmaisulla päästää eroon | » epähomogeenisen liikkuvan kohteen aiheuttamasta mittauskohinasta, mutta . : tällä ratkaisulla kanavien lukumäärä on rajoitettu. Ratkaisu käy kömpelöksi yli neljä kanavaa vaativissa sovelluksissa ja sen optinen hyötysuhde heikkenee kanavamäärän kasvaessa. Edelleen suodattimien vuoksi resoluutio ja keski-35 aallonpituuksien toleranssit ovat varsin huonot, mikä vaikeuttaa kalibroinnin ' i siirtoa laitteesta toiseen. Lisäksi käytetyillä suotimilla on vaikea saavuttaa kyllin 112975 2 kapeaa kaistaa oikealle aallonpituudelle, esim. kaoliinin mittaukseen. Edelleen käytetyt lyijysulfididetektorit ovat erittäin lämpötilariippuvia, jolloin lämpötilan ollessa eri kohdissa sijaitsevilla detektoreilla erilainen aiheutuu mittaukseen varsin huomattavia virheitä.
5 Tämän keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä ja lait teisto, joissa edellä mainittuja epäkohtia pystytään välttämään.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että paperirataan kohdistetaan katkojalla moduloitu infrapunasäde, jaetaan paperiradan läpäissyt tai siitä heijastunut infrapunasäde spektrografilla eri aallonpi-10 tuuskomponentteihin, mitataan eri aallonpituuksia vastaavat signaalit rinnak-kaisesti, ilmaistaan signaalit käyttäen rinnakkaista ilmaisua ja käsitellään signaalit rinnakkaisesti ja määritellään paperin laatuominaisuudet spektrografilla määriteltyjen aallonpituuskomponenttien perusteella.
Edelleen keksinnön mukaiselle laitteistolle on tunnusomaista se, et-s 15 tä laitteistoon kuuluu katkoja infrapunasäteen moduloimiseksi, spektrografi pa periradasta heijastuneen tai paperiradan läpäisseen infrapunasäteen jakamiseksi eri aallonpituuskomponentteihin, välineet aallonpituuskomponenttien rinnakkaiseksi ilmaisemiseksi ja käsittelemiseksi ja välineet paperin laatuominaisuuksien määrittämiseksi spektrografilla jaettujen eri aallonpituuskomponent-20 tien perusteella.
Keksinnön olennainen ajatus on, että liikkuvan paperiradan laatu- ominaisuuksia mitataan kohdistamalla paperiin valonsäde ja paperin läpäissyt : ’ *'; tai paperista heijastunut säde jaetaan eri aallonpituuksiin spektrografin avulla : ;·. ja mitataan eri aallonpituuksia vastaavat signaalit. Erään edullisen sovellutus- : v. 25 muodon ajatuksena on, että valonsäde jaetaan spektrografilla eri aallonpituuk- ··/ siin optisesti ja eri aallonpituuksien signaalit mitataan spektrografista erillisillä •» ... detektoreilla. Erään toisen edullisen soveilutusmuodon ajatuksena on, että de tektoreina käytetään rividetektoria.
Keksinnön etuna on, että koska kaikki mittauskanavat ja myös refe- 30 renssikanavat mitataan täysin samanaikaisesti, saavutetaan nopeasti haluttu tilastollinen tarkkuus mitattaessa nopeasti liikkuvaa epähomogeenista näytet- ,, : tä. Edelleen ilmaisemalla valo rinnakkaisesti ja jatkuvasti voidaan ilmaisinelekt- , roniikan sähköinen päästökaista rajoittaa kapeaksi, mikä parantaa ilmaisun signaalikohinasuhdetta sekä tekee ilmaisun immuunimmaksi ympäristön va- ,, 35 lonhäiriöille. Lisäksi mittausaika voidaan käyttää sataprosenttisesti kunkin ka- > » :/*j navan hyväksi, mikä myös parantaa ilmaisun signaalikohinasuhdetta. Spektro- 112975 3 grafin avulla saavutetaan suuri kanavien lukumäärä, hyvä resoluutio, pienet keskiaallonpituuksien toleranssit ja aallonpituusasteikon toistuvuus laitteesta toiseen. Edelleen ratkaisu on sovellettavissa erilaisille aallonpituusmäärille ja myös jatkuvan spektrin mittaamiseen. Suuri aallonpituuksien määrä antaa 5 mahdollisuuden kompensoida näytteen lämpötilan muutoksen vaikutusta mittaukseen, mitata sideainetta tarkasti, mitata erilaisia sideaineita, saa aikaan paremman immuniteetin häiritseville komponenteille sekä mitattavan paperin neliömassa-aluetta voidaan laajentaa käyttämällä eri sovelluksissa eri aallonpituuksia. Paremman aallonpituusresoluution laitteessa voidaan viedä referens-10 sikanavat lähemmäs mittauskanavaa, jolloin esimerkiksi saavutetaan parempi immuniteetti baselinen taipumalle. Rividetektorissa on detektorielementit samassa hermeettisessä kotelossa ja samaa valmistuserää, jolloin on saavutettavissa parempi immuniteetti ympäristön lämpötilan vaihteluille kuin useampien erillisten ilmaisimien yhteydessä.
15 Tämän hakemuksen yhteydessä termi valonsäde käsittää näkyvän valon lisäksi kaikki muutkin mittaukseen soveltuvat aallonpituusalueet ja termillä paperi tarkoitetaan paperin lisäksi myös kartonkia.
Keksintöä selitetään tarkemmin oheisessa kuviossa, joka esittää kaavamaisesti erästä keksinnön mukaista laitteistoa.
20 Kuviossa on esitetty säteilylähde 1, joka tuottaa valonsäteen 2. Sä teilylähteenä 1 voidaan käyttää esimerkiksi mustan kappaleen säteilijää. Va-lonsädettä 2 katkotaan katkojalla 3 esimerkiksi taustavalon vaikutuksen poisti’: tamiseksi sinänsä tunnetulla tavalla. Katkoja 3 voi olla esimerkiksi pyörivä : :'; kiekko tai jokin muu sinänsä täysin tunnettu katkojaratkaisu. Katkojan 3 raken- , ·. 25 ne on alan ammattimiehelle sinänsä täysin tunnettu, joten sitä ei tässä yhtey dessä ole selitetty sen tarkemmin. Katkojan 3 jälkeen valonsäde 2 kohdistetaan paperikoneella kulkevaan liikkuvaan paperirataan 4. Paperirata liikkuu nuolen A suuntaan.
Paperiradan 4 läpäissyt valonsäde 2 johdetaan spektrografiin 5. ** 30 Oheisessa kuviossa on esitetty eräs spektrografirakenne ns. hilaspektrografi, .: missä peilin 6 ja hilan 7 avulla valonsäde 2 jaetaan optisesti eri aallonpituus- j komponentteihin. Vastaavalla tavalla voidaan käyttää myös hilaspektrografia, . ,.: jossa ei ole peiliä. Eri aallonpituuskomponentit ilmaistaan spektrografista erilli sillä detektoreilla. Edullisesti detektoreina käytetään rividetektoria 8, missä de-35 tektorielementit sijaitsevat samassa hermeettisessä kotelossa ja ovat samaa :. ‘ ·: valmistuserää, jolloin erilaiset lämpötilat eivät pääse haittaavasti vaikuttamaan 112975 4 eri kohdissa sijaitseviin detektorielementteihin. Rividetektorilta 8 eri aallonpituuksien ilmaistut signaalit johdetaan esivahvistimien 9 kautta tietokoneelle 10 mitatun tiedon käsittelemiseksi sinänsä tunnetulla tavalla. Oheisessa kuviossa ei selvyyden vuoksi ole esitetty valonsäteen 2 kohdistamiseen ja suuntaami-5 seen spektrografin 5 lisäksi mahdollisesti tarvittavaa optiikkaa. Valon johtami-seen/ohjaamiseen käytetty rakenne voi olla esimerkiksi kuvantava optiikka, valokuitu tai valokuitukimppu.
Spektrografilla 5 pystytään helposti pääsemään esimerkiksi 24-kanavaiseen rakenteeseen, eli pystytään jakamaan valonsäde 2 24:ään eri 10 aallonpituuskomponenttiin. Jopa useampikanavaiset rakenteet ovat kyseisellä tekniikalla täysin mahdollisia. Optisesti jakava spektrografi 5 ja rividetektori 8 ovat kohtuullisen yksinkertaisia ja hinnaltaan edullisia komponentteja, jolloin niitä käyttämällä keksinnön mukainen laitteisto on erittäin käyttökelpoinen.
Tietokoneen 10 avulla mitataan paperin tai kartongin laatuominai-15 suuksista esimerkiksi kosteutta, neliöpainoa, päällysteen kuivapainoa ja/tai muita tämän tyyppisiä suureita.
Kuvio ja siihen liittyvä selitys on tarkoitettu vain havainnollistamaan keksinnön ajatusta. Yksityiskohdiltaan keksintö voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa. Niinpä spektrografi voi olla myös sovitettu käsittelemään jaka-20 mansa valonsäteen eri aallonpituussignaaleja siten, että spektrografi jakaa tulevan valonsäteen sähköisessä muodossa eri aallonpituussignaaleiksi, jotka • sähköiset signaalit voidaan johtaa suoraan erikseen käsiteltäväksi eikä erillisiä :T: detektoreita tarvita. Edelleen spektrografi voidaan sijoittaa säteilylähteeseen : nähden joko paperiradan samalle tai eri puolille eli voidaan mitata joko paperi- . *. 25 radasta heijastuvaa tai sen läpäissyttä valonsädettä.
4
Claims (8)
112975 5
1. Menetelmä paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella, missä menetelmässä paperirataan (4) 5 kohdistetaan infrapunasäde ja paperiradan (4) läpäissyt tai siitä heijastunut infrapunasäde jaetaan osiin ja infrapunasäteen eri osat ilmaistaan samanaikaisesti, tunnettu siitä, että paperirataan (4) kohdistetaan katkojalla (3) moduloitu infrapunasäde, jaetaan paperiradan (4) läpäissyt tai siitä heijastunut infrapunasäde spektrografilla (5) eri aallonpituuskomponentteihin, mitataan eri 10 aallonpituuksia vastaavat signaalit rinnakkaisesti, ilmaistaan signaalit käyttäen rinnakkaista ilmaisua ja käsitellään signaalit rinnakkaisesti ja määritellään paperin laatuominaisuudet spektrografilla (5) määriteltyjen aallonpituuskompo-nenttien perusteella.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 15 että infrapunasäde jaetaan eri aallonpituuskomponentteihin spektrografilla (5) optisesti ja eri aallonpituuskomponenttien signaalit ilmaistaan detektoreilla.
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että detektoreina käytetään rividetektoria (8).
4. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu 20 siitä, että spektrografi on hilaspektrografi.
5. Laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta I i paperiradasta paperikoneella, johon laitteistoon kuuluu säteilylähde (1) infra- : punasäteen tuottamiseksi, välineet paperiradasta (4) heijastuneen tai paperi- : radan (4) läpäisseen infrapunasäteen jakamiseksi sekä välineet paperin laa- • 25 tuominaisuuksien määrittämiseksi jaetun infrapunasäteen perusteella, tun- ;· nettu siitä, että laitteistoon kuuluu katkoja (3) infrapunasäteen moduloimi- ’ ·, seksi, spektrografi (5) paperiradasta (4) heijastuneen tai paperiradan (4) lä-
4 I päisseen infrapunasäteen jakamiseksi eri aallonpituuskomponentteihin, väli- .. , neet aallonpituuskomponenttien rinnakkaiseksi ilmaisemiseksi ja käsittelemi- * · \ ;* 30 seksi ja välineet paperin laatuominaisuuksien määrittämiseksi spektrografilla ’· : (5) jaettujen eri aallonpituuskomponenttien perusteella. : 6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että - : spektrografissa (5) on ainakin hila (7) infrapunasäteen aallonpituuskompo nenttien jakamiseksi optisesti ja että laitteistoon kuuluu edelleen detektorit op-·; t 35 tisesti jaettujen aallonpituuskomponenttien ilmaisemiseksi. 112975 6
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että detektoreina on rividetektori (8). » 1. t » ‘ » 7 112975
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI973693A FI112975B (fi) | 1997-09-15 | 1997-09-15 | Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella |
| PCT/FI1998/000723 WO1999014579A1 (fi) | 1997-09-15 | 1998-09-15 | Method and apparatus for measuring properties of paper |
| CA002300095A CA2300095A1 (en) | 1997-09-15 | 1998-09-15 | Method and apparatus for measuring properties of paper |
| AU91654/98A AU9165498A (en) | 1997-09-15 | 1998-09-15 | Method and apparatus for measuring properties of paper |
| EP98943931A EP1017995A1 (en) | 1997-09-15 | 1998-09-15 | Method and apparatus for measuring properties of paper |
| US09/525,073 US6495831B1 (en) | 1997-09-15 | 2000-03-14 | Method and apparatus for measuring properties of paper |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI973693 | 1997-09-15 | ||
| FI973693A FI112975B (fi) | 1997-09-15 | 1997-09-15 | Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI973693A0 FI973693A0 (fi) | 1997-09-15 |
| FI973693A FI973693A (fi) | 1999-03-16 |
| FI112975B true FI112975B (fi) | 2004-02-13 |
Family
ID=8549533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI973693A FI112975B (fi) | 1997-09-15 | 1997-09-15 | Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6495831B1 (fi) |
| EP (1) | EP1017995A1 (fi) |
| AU (1) | AU9165498A (fi) |
| CA (1) | CA2300095A1 (fi) |
| FI (1) | FI112975B (fi) |
| WO (1) | WO1999014579A1 (fi) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI120053B (fi) | 2000-12-22 | 2009-06-15 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja laitteisto liikkuvan paperirainan kosteusprofiilin säätämiseksi |
| DE10142636B4 (de) * | 2001-08-31 | 2006-04-20 | Maschinenfabrik Wifag | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion einer Position einer bewegten Bedruckstoffbahn |
| FI115163B (fi) | 2001-11-29 | 2005-03-15 | Metso Automation Oy | Spektrierottelevaan mittaukseen perustuva laadun- ja kunnonvalvonta |
| US6961126B2 (en) * | 2003-10-23 | 2005-11-01 | Honeywell International Inc. | Optical wavelength splitter |
| DE102004003042A1 (de) * | 2004-01-20 | 2005-08-18 | Voith Paper Patent Gmbh | Flächengewicht der Decklage einer Faserstoffbahn |
| US7301164B2 (en) * | 2004-01-30 | 2007-11-27 | Abb Inc. | Measuring apparatus |
| FI20075975L (fi) * | 2007-12-31 | 2009-07-01 | Metso Automation Oy | Rainan mittaus |
| US9029776B2 (en) * | 2008-09-05 | 2015-05-12 | Metso Automation Oy | Determining the amount of starch |
| FI125721B (fi) | 2012-05-25 | 2016-01-29 | Valmet Automation Oy | Laite ja menetelmä selluloosamateriaalia ja ainakin yhtä väriainetta, joka sisältää painomusteen, käsittävän kohteen mittaamiseksi |
| FI125514B (fi) | 2012-05-25 | 2015-11-13 | Valmet Automation Oy | Laite ja menetelmä selluloosaa ja mahdollisesti ligniiniä sisältävän rainan mittaamiseksi |
| DE102015225962A1 (de) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | Voith Patent Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Flächengewichts einer Faserstoffbahn |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3641349A (en) | 1969-09-29 | 1972-02-08 | Measurex Corp | Method for measuring the amount of substance associated with a base material |
| US4319847A (en) | 1979-12-05 | 1982-03-16 | Measurex Corporation | Apparatus to measure select properties of a moving sheet with improved standardization means |
| FI831543A0 (fi) | 1983-05-05 | 1983-05-05 | Lehtikoski Dev Oy | Metod och anordning foer automatisk bestaemning av papprets optiska egenskaper |
| US4733078A (en) | 1986-08-25 | 1988-03-22 | Accuray Corporation | Measurement of moisture-stratified sheet material |
| US4801809A (en) * | 1987-07-13 | 1989-01-31 | Process Automation Business, Inc. | Sheet inspection apparatus and methods providing simultaneous resolution of measurement zones and wavelength bands |
| US5250811A (en) * | 1991-12-20 | 1993-10-05 | Eastman Kodak Company | Method for determining compositional information of a multilayer web |
| US5343296A (en) * | 1993-02-04 | 1994-08-30 | Abb Process Automation Inc. | Optical scanner with self contained standardization means |
| US5642189A (en) * | 1995-06-12 | 1997-06-24 | Measurex Corporation | Color sensor simulating standard source illuminant |
-
1997
- 1997-09-15 FI FI973693A patent/FI112975B/fi not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-09-15 WO PCT/FI1998/000723 patent/WO1999014579A1/fi not_active Application Discontinuation
- 1998-09-15 CA CA002300095A patent/CA2300095A1/en not_active Abandoned
- 1998-09-15 EP EP98943931A patent/EP1017995A1/en not_active Withdrawn
- 1998-09-15 AU AU91654/98A patent/AU9165498A/en not_active Abandoned
-
2000
- 2000-03-14 US US09/525,073 patent/US6495831B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6495831B1 (en) | 2002-12-17 |
| EP1017995A1 (en) | 2000-07-12 |
| FI973693A (fi) | 1999-03-16 |
| CA2300095A1 (en) | 1999-03-25 |
| FI973693A0 (fi) | 1997-09-15 |
| AU9165498A (en) | 1999-04-05 |
| WO1999014579A1 (fi) | 1999-03-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI112975B (fi) | Menetelmä ja laitteisto paperin laatuominaisuuksien mittaamiseksi liikkuvasta paperiradasta paperikoneella | |
| US9024259B2 (en) | Method and apparatus for electromagnetic detection for use in the manufacture of fibrous web | |
| US4371785A (en) | Method and apparatus for detection and analysis of fluids | |
| EP0083650A4 (en) | MULTI-CHANNEL SPECTROPHOTOMETER. | |
| US20170082421A1 (en) | Integrated spectrometers with single pixel detector | |
| JP2000131030A (ja) | 材料路の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置 | |
| US2648249A (en) | Frequency modulated photometer | |
| JPH0439004B2 (fi) | ||
| US5739535A (en) | Optical gas analyzer | |
| FI72603C (fi) | Maethuvud foer infraroed fuktmaetare. | |
| KR20070110140A (ko) | 코팅 처리의 광학 모니터링을 위한 측정 시스템 | |
| SE439544B (sv) | Forfarande och anordning for bestemning av en bestandsdel i ett medium | |
| US6355931B1 (en) | System and method for 100% moisture and basis weight measurement of moving paper | |
| US5977546A (en) | Self normalizing radiant energy monitor and apparatus for gain independent material quantity measurements | |
| EP0176826A2 (en) | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements | |
| JPS58156837A (ja) | 光学式ガス分析用測定装置 | |
| GB2117112A (en) | Optical multi-ray gas-detecting apparatus | |
| US6627043B1 (en) | Measuring amount of silicone coating on paper web | |
| JPS59208445A (ja) | 試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置 | |
| CN207730654U (zh) | 一种便携式光谱光路装置 | |
| Boulton et al. | Optical noise in photometric scanning of thin media chromatograms: I. General theory and its application to single-beam transmission measurements | |
| GB2062219A (en) | Contactless measurement for substance concentration | |
| JPS59218936A (ja) | 遠隔分光分析装置 | |
| JPS62278436A (ja) | 蛍光測定法及び装置 | |
| WO2022215454A1 (ja) | 光測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MA | Patent expired |