FI110819B - Analysaattorin mittausikkuna ja menetelmä sen asentamiseksi paikoilleen - Google Patents

Description

ANALYSAATTORIN MITTAUSIKKUNA JA MENETELMÄ SEN ASENTAMI

SEKSI PAIKOILLEEN

1 110319 Tämä keksintö kohdistuu analysaattorin mittausikkunaan ja menetelmään 5 mittausikkunan asentamiseksi paikoilleen, jota mittausikkunaa käytetään olennaisesti automaattisessa jatkuvatoimisessa mittauksessa, erityisesti analysoitaessa alkuainepitoisuuksia kiinteistä, nestemäisistä tai lietemäisistä materiaaleista.

10 Jatkuvatoimisessa alkuainepitoisuusmittauksissa käytetään analysointimenetelmänä tavallisesti röntgenfluoresenssimenetelmää, jossa analysoitavat näytteet saavat aikaan röntgenlähteestä tulleiden säteilykvanttien avulla eri alkuaineille ominaista säteilyä. Tämän ominaissäteilyn intensiteetti on riippuvainen alkuaineen pitoisuudesta näytteessä ja sen vuoksi säteilyintensiteettiä mitataan ilmai-15 simella, joka yhdessä röntgenlähteen kanssa on asennettu analysaattorin mittapäähän. Online-analyysissa mittapää on tiivistetty suojaan ympäristöpölyn ja mahdollisten nesteen lämpötilan vaihteluiden eliminoimiseksi. Erityisesti nestemäisiä tai lietemäisiä materiaaleja analysoitaessa analysoitava näyte on omassa tilassaan ja mittapää sijoitetaan erityiseen mittauskammioon. Jotta 20 yhteys näytetilan ja mittauskammion välillä voidaan säilyttää, näytetilan seinä-.'; mään on muodostettu näyteaukko ja mittauskammion seinämään mittausaukko, jotka on asennettu sellaiseen keskinäiseen asemaan, että mittauskammio ja . näytetila muodostavat olennaisesti suljetun tilan. Jotta näytteen tunkeutuminen mittauskammioon voidaan estää ja toisaalta näytteen vuotaminen ulos tilastaan 25 voidaan estää, mittauskammiossa oleva mittapää on yhteydessä näytetilassa olevaan näytemateriaaliin röntgensäteilyä läpäisevällä mittausikkunalla, joka on asennettu mittausaukon ja näyteaukon väliseen tilaan.

Röntgensäteilyä läpäisevä mittausikkuna on tavallisesti valmistettu ohuesta 30 muovimateriaalista, joka kiristetään osaksi analysaattorin seinämää. Mittausikkunan tulee olla tiivis ja kestää mahdollinen mittauskammiossa vallitseva paine.

2 110819

Mittausikkunan geometrinen asema mittapäähän nähden on oltava jatkuvasti olennaisesti sama, jotta säteilyintensiteettien mittaaminen saadaan suoritettua riittävän tarkasti. Näin mittausikkuna ei saa olennaisesti pullistua esimerkiksi mittauskammiossa vallitsevan paineen vuoksi.

5

Jatkuvatoimisessa mittauksessa mittausikkuna kuluu esimerkiksi näytteen virratessa mittausikkunan ohi tai mittausikkunaan saostuu kiintoainetta, jolloin analy-sointituloksiin sisältyy mittaikkunasta aiheutuvaa virhettä. Tämän vuoksi mittausikkuna on aika ajoin vaihdettava. Jos mittausikkunaa ei vaihdeta, mittau-10 sikkuna kuluu puhki, tai analyysivirhe heikentää olennaisesti mittaustarkkuutta. Mittausikkunat ovat tavallisesti kertakäyttöisiä ja ne vaihdetaan tarvittaessa manuaalisesti. Mittausikkunan vaihto on käytännössä analysaattoreiden merkittävin ja useimmin toistuva huoltotoimenpide, mikä osaltaan nostaa analysaattorin käyttö-ja ylläpitokustannuksia.

15

Edelläkuvattua mittausikkunan vaihtoa on yksinkertaistettu US-patentissa 5050201, jossa röntgenfluoresenssia käyttävän laitteen mittapää on suojattu näytteeseen nähden liikuteltavissa olevalla kalvolla. Kalvo on asennettu kahden rullan varaan siten, että kalvoa voidaan tarvittaessa siirtää eteenpäin niin, että : 20 mittapään eteen saadaan uusi, puhdas kalvopinta. US-patentin 5050201 mukaisesti kalvo pidetään paikoillaan toimintavalmiusasemassa vain kalvon ·:·: kannatusrulliin liittyvän kitkan avulla. Näin kalvo on helposti liikuteltavissa tarvit- :V: taessa eteenpäin, mutta tällaisella tavalla asennettu kalvo ei mitenkään tiiviisti v : erota näytettä mittapäästä eikä estä näytteen virtaamista näytetilastaan eikä 25 myöskään tiivistä mittapäätä. US-patentin 5050201 mukainen kalvo ei • · · myöskään kestä mittapäähän kohdistuvaa tai sitä ympäröivää painetta. Tällöin ’·’ laitteen mittaustarkkuus kärsii, koska kalvon asema mittapäähän nähden : pääsee muuttumaan.

: 30 Esilläolevan keksinnön tarkoituksena on poistaa tekniikan tason mukaisia haittapuolia ja aikaansaada entistä parempi ja toimintavarmempi kiinteille, 3 110819 nestemäisille tai lietemäisille materiaaleille soveltuva analysaattorin mittausik-kuna ja menetelmä mittausikkunan asentamiseksi paikoilleen, joka mittausik-kuna voidaan vaihtaa ainakin kahden mittausjakson välillä ilman manuaalista toimintaa ja jonka asema mittapäähän nähden voidaan ylläpitää olennaisesti 5 koko mittausjakson ajan. Keksinnön olennaiset tunnusmerkit selviävät oheisista patenttivaatimuksista.

Keksinnön mukainen analysaattorin mittausikkuna kohdistuu edullisesti röntgenfluoresenssia hyödyntävään online-tyyppiseen alkuainepitoisuuksien 10 määrittämiseen, jossa analysoitava näyte on edullisesti omassa tilassaan ja mittapää on sijoitettu erityiseen mittauskammioon. Jotta yhteys näytetilan ja mittauskammion välillä voidaan säilyttää, näytetilan seinämään on muodostettu näyteaukko ja mittauskammion seinämään mittausaukko, jotka on asennettu sellaiseen keskinäiseen asemaan, että mittauskammio ja näytetila muodostavat 15 olennaisesti suljetun tilan. Jotta näytteen tunkeutuminen mittauskammioon erityisesti käsiteltäessä nestemäistä tai Hetemäistä materiaalia voidaan estää ja toisaalta näytteen vuotaminen ulos tilastaan voidaan estää, mittauskammiossa oleva mittapää on yhteydessä näytetilassa olevaan näytemateriaaliin röntgen-. säteilyä läpäisevällä mittausikkunalla, joka on asennettu mittausaukon ja näyte- : 20 aukon väliseen tilaan.

·:·: Keksinnön mukaisesti analysaattorin mittausikkuna on muodostettu elastista v.: mittausikkunamateriaalia olevasta nauhasta, joka on liikuteltavissa analysaatto- v ·' rin mittapäähän nähden ja joka voidaan asentaa olennaisen tiiviisti analysaatto- 25 rin mittapään sisältävään mittauskammion seinämään ja analysoitavan • · näytteen sisältävän näytetilan seinämään nähden. Analysaattorin mittausikku-nan muodostavaa nauhaa liikutetaan kahden mittausjakson välisen mittausik-v : kunan vaihtojakson aikana olennaisesti samanpituinen matka. Edelleen koska *·;·’ analysaattorin mittausikkunan muodostava nauha voidaan asentaa olennaisen v : 30 tiiviisti mittauskammion ja näytetilan seinämiin nähden, pysyy mittausikkuna '··* edullisesti koko mittausajan olennaisesti paikoillaan mittapäähän nähden. Näin 110819 myös analysaattorin mittaustarkkuus pysyy olennaisesti samana koko mittaus-jakson ajan. Lisäksi mittausikkuna on venytetty kireäksi mittauskammion ja näytetilan seinämiin nähden niin, että mittausikkuna saadaan kestämään mittauskammion mittausikkunaan kohdistamaa painetta, jolloin mittausikkunan 5 avulla vältytään ikkunan pullistumiselta mittausjakson aikana.

Keksinnön mukaisen analysaattorin mittausikkunan asentamiseksi paikoilleen olennaisen tiiviisti mittauskammion ja näytetilan seinämiin nähden ja samalla haluttuun asemaan mittapäähän nähden näytetilassa mahdollisesti oleva näyte 10 poistetaan ja mittausjakson ajan lukittuna ollut mittausikkunan muodostava nauha vapautetaan lukitusasemasta ja nauhaa liikutetaan haluttu matka niin, että mittausikkunan kohdalle saadaan olennaisen puhdas nauhaosa. Mittausikkunan muodostavan nauhan lukitsemiseksi mittausjaksoa varten mittausikku-naksi tarkoitetun nauhaosan reunat ensin puristetaan vastinkappaletta vasten. 15 Sen jälkeen nauhaosaa kiristetään painamalla ja venyttämällä. Näin kiristetty mittausikkunan muodostava nauhaosa ja sitä vastaava näytetilan aukko painetaan toisiaan vastaan, jolloin mittausikkunan muodostava nauhaosa saadaan lukitusasemaan olennaisen tiiviisti näytetilan seinämään nähden. Samalla lukitusasemaan asennetun nauhaosan asema mittapäähän nähden saadaan \ : 20 ylläpidettyä olennaisesti samana koko mittausjakson ajan.

·:··: Keksinnön mukaisen mittausikkunan asentaminen paikoilleen suoritetaan :V: edullisesti niin, että nauhanosan reunojen kiinnitys paikoilleen ja nauhaosan v ; kiristys suoritetaan ainakin yhdellä kiristyselimellä, joka on asennettu mittaus- 25 kammioon nähden siten, että kiristyselin on mittauskammion seinämässä • ♦ ·.'·* olevan mittausaukon ympärillä. Näin mittausikkunan muodostava nauhaosa on ‘ kiinnitettävissä paikoilleen mittauskammion seinämässä olevan mittausaukon v : ympärille. Kiristyselin sinänsä koostuu edullisesti kahdesta toisiinsa nähden :·:·* vastakkaisesta kiristyskappaleesta, jotka on asennettu toisiinsa nähden siten, v : 30 että mittausikkunan muodostava nauhaosa on asennettavissa kiristyskappalei- den väliin. Kiristyselimen toisessa kiristyskappaleessa on edullisesti ainakin 5 110819 kaksi harjannetta ja toisessa kiristyskappaleessa vastaava määrä uria, johon harjanteet voidaan edullisesti asettaa. Kiristyskappaieen urista sen sijaan kiris-tyskappaleen mittausaukkoon nähden ulompi ura on edullisesti olennaisen kapea, kun taas kiristyskappaieen mittausaukkoon nähden sisempi ura on 5 ulompaa uraa leveämpi. Kun kiristyselimen vastakkaisia kiristyskappaleita mittausaukon ympärillä aletaan olennaisen samanaikaisesti liikuttamaan toisiaan kohti, kiristyskappaieen ulompi ura kiinnittää ensin edullisesti mittausikku-namateriaalina toimivan nauhan mittausikkuna-alueen reunan olennaisen tiiviiksi ja liikkumattomaksi. Kiristyskappaieen sisempi ura kiristää sen jälkeen 10 kiristyskappaleiden keskinäistä liikettä jatkettaessa mittausikkuna-alueen keskiosan. Näin uusi mittausikkuna saatetaan kiristettynä paikoilleen lukitusasemaan. Sen jälkeen mittauskammiota ja näytetilaa liikutetaan toisiaan vastaan niin, että myös näytetila tiivistyy mittausikkunaan nähden.

15 Keksinnön mukaisen analysaattorin mittausikkunan liikuttamiseksi kahden mittausjakson välillä mittausikkunamateriaalina käytettävä nauha on asennettu kahden kelamaisen elimen varaan siten, että nauhaa liikutettaessa kelamai-selta elimeltä toiselle nauha kulkee mittapään sisältävän mittauskammion seinämässä olevan mittausaukon ohi. Kun mittausikkunamateriaalina käytettä-: 20 vää nauhaa aletaan liikuttaa uuden mittausikkunan vaihtamiseksi mittauskam- mion mittausaukkoon, nauhaa puretaan nauhan kulkusuunnassa ·:··· ensimmäiseltä kelamaiselta elimeltä niin, että nauha on kelattavissa nauhan :V: kulkusuuntaan nähden toiseen kelamaiseen elimeen. Nauhan kulkusuuntaan v ·' nähden edullisesti toiseen kelamaiseen elimeen on liitetty pyöritysmekanismi, 25 jonka avulla mittausikkunamateriaalina käytettävää nauhaa on siirrettävissä • · *·’·* nauhan kulkusuuntaan nähden ensimmäiseltä kelamaiselta elimeltä toiselle • I * • · · ’ kelamaiselle elimelle määrä, joka vastaa haluttua nauhan pituutta mittausikku- : nan aikaansaamiseksi mittauskammion mittausaukkoon. Nauhan pyöritysmeka- nismi on edullisesti siten asennettu, että pyöritysmekanismin avulla on ; 30 mitattavissa nauhan kulkema matka riippumatta siitä, kuinka paljon mittausikku- namateriaalina käytettävää nauhaa on esimerkiksi jäljellä nauhan 6 110319 kulkusuuntaan nähden ensimmäisellä kelamaisella elimellä. Lisäksi nauhan kulkusuuntaan nähden ensimmäinen kelamainen elin sekä se nauhan osa, joka jää nauhan kulkusuuntaan nähden ensimmäisen kelamaisen elimen ja nauhan kulkusuuntaan nähden ensimmäisen nauhan kiristyselimen väliin, on asennettu 5 olennaisesti suljettuun kotelomaiseen elimeen, jolloin estetään esimerkiksi mahdollisten mitattavista materiaaleista aiheutuvien roiskeiden aiheuttama nauhan likaantuminen ennen nauhan käyttöönottoa mittausikkunana.

Keksinnön mukainen analysaattorin mittausikkuna vaihdetaan joko määrävälein 10 tai mittausikkunan kautta mitattujen röntgenintensiteettien perusteella. Kun mittausikkunaa halutaan vaihtaa, näytetila tyhjennetään mahdollisesti siinä olevasta analysoitavasta näytteestä ja mittausikkunan lukitusasema avataan. Mittausikkunamateriaalina toimivaa nauhaa liikutetaan sitten kelamaiseen elimeen liitetyn pyöritysmekanismin avulla haluttu matka niin, että mittauskam-15 mion mittausaukon kohdalla on käyttämätöntä nauhaa. Haluttu matka mitataan edullisesti anturilla, joka mittaa pyöritysmekanismiin liitetyn kelamaisen elimen pyörimiskulmaa. Pyörimiskulmaa mittavaa anturia käytetään myös edullisesti antamaan tietoa nauhan mahdollisesta loppumisesta ja mekanismin toiminta-häiriöistä. Kun mittausikkunamateriaalina käytettyä nauhaa on liikutettu haluttu 20 matka ja mittauskammion mittausaukon kohdalla on käyttämätöntä nauhaa, mittausikkuna kiristetään ja tiivistetään uudelleen ja mittaustoiminto ·:··: käynnistetään.

v ; Keksintöä selostetaan lähemmin seuraavassa viitaten oheisiin piirustuksiin, 25 joissa kuvio 1 esittää erästä keksinnön edullista sovellutusmuotoa kaavamaisena \ ’ periaatekuviona, v : kuvio 2 esittää erästä keksinnön toista edullista sovellutusmuotoa kaavamai- sena periaatekuviona, : 30 kuvio 3 esittää erästä keksinnön kolmatta edullista sovellutusmuotoa kaavamai- •. · * sena sivuleikkausperiaatekuviona.

7 110819

Kuvion 1 mukaisesti mittausikkunamateriaalina toimiva nauha 1 on asennettu kahden rullan 2 ja 3 varaan siten, että nauhan liikkumissuuntaan 4 nähden ensimmäiseltä rullalta 2 tuleva nauha 1 kulkee olennaisen lähellä mittauskam-5 mion 5 mittausaukkoa 6. Nauhan liikkumissuuntaan 4 nähden toiseen rullaan 3 on asennettu liikuttamiselin 7, joka kiertää rullaa 3 nauhan 1 liikuttamiseksi. Liikuttamiselimeen 7 on kytketty mittausanturi 8, joka on asennettu nauhan 1 välittömään läheisyyteen siten, että mittausanturi 8 mittaa nauhan 1 kulkemaa matkaa. Lisäksi kuviossa 1 on suojaelin 12, joka suojaa rullalla 2 ja sen välittö-10 mässä läheisyydessä olevaa, vielä käyttämätöntä nauhaa 1 likaantumiselta ennen käyttöä mittausikkunana 9.

Kun nauha 1 halutaan kiristää ja tiivistää mittausaukkoon 6 mittausikkunaksi 9, rullaan 3 kytketty liikuttamiselin 7 siirtää nauhaa 1 mittausanturin 8 mittaaman 15 matkan. Nauhan 1 pysähdyttyä mittausikkunaksi 9 tarkoitetun nauhaosan 1 reuna kiinnitetään kiristyselimillä 10 mittausaukon 6 ympärillä. Mittausikkunaksi 9 tarkoitettu nauhaosa 1 kiristetään ja tiivistetään sen jälkeen mittausaukon 6 seinämään poikkeuttamalla nauha 1 kiinnityselimien 10 määrittämästä tasosta painamalla työntöelimillä 11 mittausikkunaksi 9 tarkoitettua nauhaosan 1 keski-20 osaa kohti mittausaukon 6 seinämää. Näin mittausikkuna 9 saadaan tiiviiksi mittausaukon 6 seinämään ja työntöelimet 11 lukitaan lukitusasentoon ja varsi-·;··· nainen mittaustoiminto aloitetaan.

’· [> : Kuvion 2 mukainen sovellutusmuoto eroaa kuvion 1 mukaisesta sovellutusmuo- 25 dosta siinä, että erillisiä työntöelimiä ei tarvita, vaan mittauskammiota 5 ja :-v näytetilaa 13 liikutetaan toisiaan vastaan ja näin nauha 1 kiristyy ja aikaansaa ’ tiiviin liitoksen mittausaukon 6 seinämän kanssa. Tämän jälkeen mittauskam- v : mio 5 lukitaan paikoilleen ja varsinainen mittaustoiminto aloitetaan.

: 30 Kuvion 3 mukaisessa sovellutusmuodossa mittausikkunamateriaalina toimiva nauha 31 on asennettu kahden rullan 32 ja 33 varaan siten, että nauhan 8 110819 kulkusuunnassa 34 ensimmäiseltä rullalta 32 tuleva nauha 31 kulkee mittaus-kammion 35 mittausaukon 36 ohi niin, että mittausikkunana toimiva nauhaosa 46 on kiristettävissä mittausaukon 36 seinämään tiiviisti. Kiristyksen suorittamiseksi mittausaukon 36 läheisyyteen mittausaukkoa 36 ympäröivästi on 5 asennettu kiristyselimet 37 ja 38 siten, että toinen kiristyselimistä 37 on nauhan kulkusuunnassa 34 ennen mittausaukkoa 36 ja toinen kiristyselin 38 mittausaukon 36 jälkeen. Kiristyselimissä 37 ja 38 on kaksi nauhan 31 eri puolille asennettua kiristyskappaletta 39 ja 40, jotka kiristyskappaleet 39 ja 40 on asennettu mittausaukkoon 36 nähden symmetrisesti. Kiristyskappaleisiin 39, 10 jotka kuvion 3 mukaisesti on asennettu sille puolelle nauhaa 31, joka on lähinnä mittausaukkoa 36, on muodostettu kaksi uraa 41 ja 42, joista urista 41 mittausaukkoon 36 nähden ulompi on leveydeltään mittausaukkoon 36 nähden sisempää uraa 42 kapeampi. Kiristyskappaleissa 40, jotka kuvion 3 mukaisesti on asennettu sille puolelle nauhaa 31, joka on kauimpana mittausaukosta 36, 15 on kaksi toisiinsa nähden poikkileikkaukseltaan olennaisesti samanlaista uloketta 43, jotka on tarkoitettu toimimaan kiristyskappaleissa 39 olevien urien 41 ja 42 vastinkappaleina.

Mittausaukkoon 36 mittausikkunaa vaihdettaessa mittausikkunan kiristyselimien : 20 37 ja 38 muodostama lukitusasento avataan, ja nauhaa 31 liikutetaan rullaan 33 liitetyllä liikuttamiselimellä 44 haluttu matka, joka mitataan liikuttamiselimeen 44 liitetyllä anturilla 45, niin, että ainakin kiristyselinten 37 ja 38 välissä on ;V: puhdasta nauhaa 31. Tämän jälkeen mittausikkunaksi tarkoitetun nauhaosan v : 31 reuna kiristetään kiristyskappaleissa 39 olevien ulompien urien 40 ja kiristys- 25 kappaleessa 40 olevan ulokkeen 43 avulla, kun kiristyskappaletta 40 työnne-*·'·’ tään kohti kiristyskappaletta 39. Samalla mittausikkunaksi tarkoitettu nauhaosa

I » I

’*’ * 31 kiinnitetään paikoilleen kiristyskappaleissa 39 olevien sisempien urien 42 ja t « · v · kiristyskappaleessa 40 olevan ulokkeen 43 avulla. Kun kiristyskappaleet 39 ja *·;·* 40 on työnnetty toisiinsa nähden, kiristyselimet 37 ja 38 lukitaan ja mittauskam- v : 30 miota 35 työnnetään kohti nauhaosaa 31, jolloin mittausaukon 36 seinämä tulee yhteyteen mittausikkunaksi tarkoitetun nauhaosan 46 kanssa. Näin nauhaosasta 31 muodostettu mittausikkuna 46 saadaan tiiviiksi mittauskam- mion 35 seinämän suhteen. Kun nauhaosasta 31 muodostettu mittausikkuna näin on saatu paikoilleen, varsinainen mittaustoiminto voidaan aloittaa.

9 noo i y 5 Vaikka edellä on kuvattu pääasiassa keksinnön mukaisen analysaattorin mittausikkunan kiinnittämistä ja lukitsemista analysaattorin mittapään mitta-usaukkoon, voidaan keksinnön mukaisen analysaattorin mittausikkunan kiinnitys ja lukitus suorittaa myös siten, että mittausikkuna kiinnitetään ja lukitaan näytetilassa olevan näyteaukon seinämiin ja näin kiinnitetty ja lukittu mittausik-10 kuna näytetilaa liikuttamalla siirretään edulliseen asemaan analysaattorin mittapään sisältävään mittauskammion mittausaukkoon nähden.

I ) * tl»

Claims (10)

10 11 uö i y

1. Analysaattorin mittausikkuna, jota mittausikkunaa käytetään olennaisesti automaattisessa jatkuvatoimisessa mittauksessa, erityisesti analysoitaessa 5 alkuainepitoisuuksia kiinteistä, nestemäisistä tai lietemäisistä materiaaleista, ja joka mittausikkuna on liikuteltavissa analysaattorin mittauspään sisältävän mittauskammion seinämässä olevaan mittausaukkoon ja näytetilassa olevaan näyteaukkoon nähden, tunnettu siitä, että mittausikkuna on muodostettu nauhamaisesta materiaalista (1,31), joka on liikuteltavissa mittausaukkoon ίο (6,36) ja näytetilaan (13) nähden mittausikkunan (9,46) vaihtamiseksi ainakin kahden mittausjakson välillä, ja että mittausaukon (6,36) välittömään läheisyyteen on asennettu ainakin yksi kiristyselin (10;37,38) nauhamaisen materiaalin tiivistämiseksi ainakin mittausaukon (6,36) seinämään.

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen analysaattorin mittausikkuna, tunnettu siitä, että nauhamainen materiaali (1,31) on asennettu liikuteltavasti (7,44) kahden mittausaukkoon (6,36) ja näytetilaan (13) nähden nauhamaisen i materiaalin liikkumissuunnassa eri puolille asennettujen kelamaisten elimien : : (2,3;32,33) varaan. : 20

3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen analysaattorin mittausikkuna, tunnettu ' siitä, että nauhamaisen materiaalin liikuttamiselimeen (7,44) on kytketty nauhamaisen materiaalin kulkeman matkan mittaava anturi (8,45).

4. Patenttivaatimuksen 1, 2 tai 3 mukainen analysaattorin mittausikkuna, tunnettu siitä, että kiristyselin (37;38) on kaksiosainen, jonka kiristyselimen ’[ · kiristyskappaleiden (39,40) väliin nauhamainen materiaali (1,31) on asennettu kulkemaan. : ’.· 30 5. Menetelmä patenttivaatimuksen 1 mukaisen analysaattorin mittausikkunan asentamiseksi paikoilleen, tunnettu siitä, että mittausikkunan vaihtamiseksi mittausikkunana käytettävää nauhamaista materiaalia (1,31) liikutetaan H i'1!"' 'iu I iuu 17 liikuttamiselimellä (7,44) niin, että ainakin mittausikkunan (9,46) asentamiseen paikoilleen käytettävän ainakin yhden kiristyselimen (10;37,38) määrittämällä alueella mittausaukon (6,36) ympärillä on olennaisen puhdas nauhaosa, joka kiristyselimellä (10;37,38) kiristetään ja tiivistetään ainakin mittauskammion 5 (5,35) seinämään.

6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausikkunana käytettävän nauhamaisen materiaalin liikuttamiselimeen (7,44) kytketään nauhamaisen materiaalin liikkuman matkan mittaava anturi (8,45). 10

7. Patenttivaatimuksen 5 tai 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausikkunana käytettävä nauhaosa (1,31) ensin kiinnitetään reunaosastaan ja sen jälkeen kiristetään keskiosastaan sekä tiivistetään ainakin mittauskammion (5,35) seinämään. 15

8. Patenttivaatimuksen 5, 6 tai 7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausikkunana käytettävän nauhaosan (1,31) tiivistämiseksi ainakin mittauskammion seinämään mittauskammiota (5,35) liikutetaan kohti mittausikkunana käytettävää nauhaosaa. 20

9. Patenttivaatimuksen 5, 6 tai 7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausikkunana käytettävän nauhaosan (1,31) tiivistämiseksi ainakin mittauskammion seinämään mittausikkunana käytettävää nauhaosaa liikutetaan kohti mittauskammiota (5,35). . . 25

10. Jonkin edellä olevan patenttivaatimuksen 5-9 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausikkuna käytettävän nauhaosan (1,31) tiivistämiseksi , mittauskammiota (5,35) ja näytetilaa (5) liikutetaan toisiinsa nähden. 12 110819