ES2587367T3 - Técnicas para detectar y ajustar una tensión acordada en un dispositivo estimulador implantable - Google Patents

Técnicas para detectar y ajustar una tensión acordada en un dispositivo estimulador implantable Download PDF

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ES2587367T3 ES06839475.8T ES06839475T ES2587367T3 ES 2587367 T3 ES2587367 T3 ES 2587367T3 ES 06839475 T ES06839475 T ES 06839475T ES 2587367 T3 ES2587367 T3 ES 2587367T3
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Abstract

Un dispositivo estimulador, que comprende: al menos dos electrodos para estimular tejido, en el que los al menos dos electrodos son programables para estar activos en un tiempo dado, en el que al menos uno de los electrodos activos comprende un electrodo de fuente y en el que al menos uno de los electrodos activos comprende un electrodo de sumidero; al menos un circuito (500) de fuente acoplado a una tensión acordada (V+) y al menos un circuito (501) de sumidero acoplado a una tensión de referencia (GND), en el que cada circuito de fuente está acoplado a un electrodo de fuente asociado (EX) mediante un primer conmutador (513) asociado, y en el que cada circuito de sumidero está acoplado a un electrodo de sumidero asociado (EY) mediante un segundo conmutador (513') asociado; circuitería de sensor de tensión para recibir a lo largo de las líneas (175) tensiones indicativas de una tensión de salida a través de cada circuito de fuente (VPX) o sumidero (VNY) acoplado a cada electrodo de fuente o sumidero activo, y para medir las tensiones de salida mientras tanto el al menos un circuito de fuente como el al menos un circuito de sumidero están simultáneamente activos; circuitería de lógica, para recibir una salida de la circuitería de sensor de tensión, para determinar si las tensiones de salida están a niveles adecuados; y circuitería de regulador, para recibir una salida de la circuitería lógica, para ajustar la tensión acordada si las tensiones de salida determinadas no están en los niveles adecuados.

Description

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Por consiguiente, la presente invención mide la tensión a través de (al menos) la salida de las PDAC y los NDAC implicados en suministrar y drenar la corriente de estimulación. En una realización preferida, la tensión a través de los transistores de selección de PDAC y NDAC así como los transistores de salida de PDAC y NDAC se incluye también en esta medición, aunque tal tensión adicional debido a los transistores de selección, aunque insignificante, puede ser relativamente pequeña. Estas tensiones se miden (al menos) durante la estimulación real, y se comparan a un intervalo de tensiones de banda de guarda permisibles para tanto las salidas de PDAC como de NDAC (por ejemplo, de 1,2 a 1,8 V para las salidas de NDAC, y de 1,5 a 2,1 V para las salidas de PDAC). Estos intervalos de tensión de banda de guarda comprenden un intervalo en el que se considera que los transistores de salida están apropiadamente en saturación, pero no excesivamente.
Si las tensiones medidas a través de la salida de las PDAC o NDAC estuvieran fuera de las tensiones de banda de guarda, la tensión acordada, V+, se cambia para intentar proporcionar tales tensiones medidas dentro de límites aceptables de acuerdo con un algoritmo explicado en mayor detalle a continuación. Sin embargo, antes de analizar este algoritmo, se analizan los detalles específicos de la circuitería usada para medir las tensiones de salida, empezando con la Figura 10. Para la mayor parte, la Figura 10 ilustra detalles adicionales de la circuitería 174 de monitorización de la Figura 8, que comprende (además de otros componentes) un circuito 605 de control de detección de tensión acordada, una matriz 143 de conmutación, al menos un sensor 600 de tensión, y un regulador 610 de tensión acordada. Alimentando a esta circuitería, y específicamente a la matriz 143 de conmutación, están las líneas L 175 asociadas con cada electrodo. En una arquitectura dada, más de un circuito de fuente de corriente o circuito de sumidero de corriente (por ejemplo, espejo de corriente) puede contribuir a la corriente en un electrodo particular. Sin embargo, por facilidad de ilustración, únicamente se muestra un circuito 500 de fuente y circuito 501 de sumidero en la Figura 10 por simplicidad.
Dado el punto de derivación de las líneas L 175, la tensión presente en las líneas es indicativa de la tensión de salida de la circuitería de fuente y de sumidero. Como se muestra, esta tensión de salida comprende la caída de tensión a través de tanto los transistores de salida de la circuitería 502, 503 de fuente como de sumidero (que como se ha indicado anteriormente, puede comprender una pluralidad de transistores en paralelo para escalar ganancia de corriente), y a través de los transistores 513, 513’ de selección usados para seleccionar aquellos transistores de salida como que contribuyen a la corriente. En otras realizaciones, las líneas podrían colocarse entre los transistores 502 y 503 de salida y los transistores 513, 513’ de selección, aunque esto no se considera beneficioso puesto que excluiría de monitorizar caídas de tensión realistas que tienen lugar a través de los transistores 513, 513’ de selección. Las líneas 175 se usan en la detección de la tensión de salida. La tensión de salida a través del sumidero 501 de corriente (NDAC) en el electrodo EY comprende la tensión absoluta en la línea LNY, que requiere un cálculo de diferencia ya que el NDAC está referenciado a tierra. En contraste, la tensión de salida a través de la fuente 500 de corriente (PDAC) en el electrodo EX comprende la diferencia entre la tensión acordada, V+, y la tensión medida en la línea LPX.
Las tensiones para las líneas 175 se proporcionan a una matriz 143 de conmutación. Como se ha indicado anteriormente, aunque únicamente se muestran dos líneas 175 por facilidad de ilustración en la Figura 10, pueden estar presentes muchas más líneas, dependiendo del número de electrodos presentes. En una realización, la matriz 143 de conmutación se usa para seleccionar la tensión en una línea, y para presentar esa tensión (L) al sensor 600 de tensión. Como puede observarse, los transistores 513, 513’ de selección, la matriz 143 de conmutación, y el sensor 600 de tensión se controlan todos mediante una circuitería 605 de control de detección de tensión acordada mediante los buses 606, 607 y 608. Finalmente, el circuito 605 de detección de tensión acordada recibe señales desde el microcontrolador 160 (Figura 8), que informa a la circuitería 174 de control de cuándo y cómo las diversas mediciones se han de hacer coherentes con el algoritmo desvelado, como se explica en mayor detalle a continuación.
El sensor 600 de tensión, en una realización, emite una tensión analógica, “salida” al microcontrolador 160, que como se muestra contiene una interfaz 635 de analógico a digital (A/D). Esto permite al microcontrolador 160 entender y procesar digitalmente la tensión de salida, y de acuerdo con el algoritmo desvelado enviar señales de control a los reguladores 610 de tensión acordada, es decir, la circuitería que ajusta finalmente la tensión acordada, V+.
Como se ha indicado anteriormente, se prefiere en un circuito de fuente o de sumidero basado en espejo de corriente que los transistores 502, 503 de salida operan en saturación, pero no excesivamente, menos potencia se pierde innecesariamente. Por consiguiente, las realizaciones de la invención buscan ajustar la tensión acordada para mantener los transistores de salida en fuentes de corriente activas y sumideros en saturación. Esto no siempre es posible, reconociendo que la fuente de corriente y la circuitería de sumidero de corriente están conectadas en serie a través de la carga y por lo tanto actúan para “equilibrar” una a la otra, coherente con sus características de corrientetensión. Si no puede conseguirse rendimiento de saturación perfecto tanto en la fuente como el sumidero, la tensión acordada se establecerá como un valor tan lógico como sea posible para asegurar el rendimiento de circuito apropiado con pérdida de potencia mínima.
La Figura 12 muestra las características de corriente-tensión para los transistores 502, 503 de salida observados en aislamiento. (Más precisamente, se muestra la curva I-V para los transistores 503 de salida de canal N en los sumideros 501; un experto entenderá que los transistores 502 de salida de canal P en las fuentes tendrían polaridad
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tener lugar de muchas maneras diferentes, y como apreciará un experto en la materia. Por ejemplo, aunque en una realización preferida la detección tiene lugar con relación a una tensión de referencia, Vref, la detección podría tener lugar también con relación a la tensión acordada, V+, tierra, o cualquier otra tensión. En resumen, lo que es importante es que se detecten las tensiones de salida en las líneas L 175; la manera en la que esto tenga lugar específicamente no es importante.
Las Figuras 19 y 20 muestran respectivamente una realización de cómo pueden deducirse estas tensiones de salida para tanto los NDAC (Figura 19) como las PDAC (Figura 20). En ambas Figuras, los tres trazados superiores representan señales indicativas de la operación del IPG y de la circuitería de detección de tensión acordada. La primera señal indica cuándo está teniendo lugar la estimulación activa en el IPG 100. Como se muestra en este ejemplo, ese periodo es de 260 microsegundos, pero esta duración puede variar dependiendo de la frecuencia y duración de los pulsos de estimulación especificados para una terapia del paciente dada, como se explica adicionalmente a continuación. Después de la fase de estimulación activa, es decir, empezando en 260 microsegundos, el IPG entra en un periodo de “interfase” durante el cual no tiene lugar estimulación. (El periodo de interfase, y cómo puede usarse en monitorización de tensión y ajuste de tensión acordada, se explicará en mayor detalle a continuación).
El segundo trazado mostrado en las Figuras 19 y 20 comprende una señal de control que dicta cuándo se monitorizan las tensiones de salida durante la fase de estimulación activa. Esta segunda señal de trazado, denominada “muestra durante activado”, comprendería que se enviaran una o más señales de control mediante la circuitería 605 de control de detección de tensión acordada (véanse las Figuras 10 y 13). Como se muestra, la señal de muestra durante activado comprende una señal de configuración/muestra. Específicamente, en el límite ascendente, la tensión de salida se permite que pase al sensor 600 de tensión, por ejemplo, permitiendo que las tensiones en las líneas 175 pasen a través de la matriz 143 de conmutación (véanse las Figuras 10 y 13). El límite descendente de la señal de muestra durante activado, en contraste, muestreó realmente la tensión de salida en el sensor 600 de tensión. En la realización particular ilustrada, este tipo de esquema de configuración/muestra es beneficioso para permitir que las tensiones de salida se establezcan e incrementen a niveles apropiados. Esto es necesario cuando se considera el tiempo de establecimiento y la capacitancia del circuito de detección de tensión, como se analizará en mayor detalle a continuación. Tal establecimiento de tensión puede observarse en el cuarto y quinto trazados, que muestran respectivamente la tensión de salida a través del NDAC (Figura 19) y la PDAC (Figura 20), y estas tensiones como entrada al sensor 600 de tensión. Como puede observarse, permitiendo que se estabilicen las tensiones pasadas, pueden muestrearse a valores estables, fiables.
En la realización mostrada en las Figuras 19 y 20, la configuración y muestreo tiene lugar hacia el final del periodo de estimulación activo, es decir, en 240 y 259 microsegundos respectivamente. La configuración y muestreo es beneficiosa hacia el final del pulso de estimulación, de nuevo, para permitir el establecimiento y estabilización de la circuitería durante la estimulación. Por ejemplo, los condensadores de acoplamiento, Cx, se cargan durante el periodo de estimulación activo, de manera que la tensión a través de ellos es la mayor en el final del pulso de estimulación activo. Por lo tanto, es preferible que el muestreo tenga lugar hacia el final del periodo de estimulación activo, ya que esto permite que la detección de tensión acordada se tenga en cuenta para cualquier tensión de condensador de acoplamiento de este tipo. Además, puesto que la tensión acordada V+ puede caer durante la estimulación activa, el muestreo cerca del final de la estimulación activa es beneficioso además ya que este considerará una caída de este tipo cuando esté en su máximo. Adicionalmente, la detección cerca del final de la estimulación permite también que se cree la tensión de polarización en la interfaz de electrodo-tejido para tenerse en cuenta.
Por supuesto, la configuración y muestreo de las tensiones de salida a través de los NDAC y las PDAC puede tener lugar de muchas maneras diferentes, y serán específicos de la implementación. Por lo tanto, al igual que el sensor 600 de tensión puede implementarse en varias maneras diferentes, el muestreo de la tensión también dependerá de la implementación usada. En resumen, las señales de muestreo y de control como se muestran en la Figura 19 y 20 deberían entenderse como meramente ejemplares de una realización. De nuevo, el asunto importante es que la tensión de salida a través de los NDAC y PDAC puede monitorizarse a tiempos lógicos por lo que estos valores pueden pasarse y procesarse mediante el algoritmo de ajuste de la tensión acordada para analizarse brevemente.
Antes de analizar este algoritmo, se analiza una realización alternativa para medir la tensión de salida a través de los NDAC y PDAC. En esta variación, no se mide únicamente la tensión de salida durante la estimulación, sino que se mide la tensión de salida durante periodos de no estimulación también. Específicamente, en una realización preferida, la tensión de salida se mide durante el periodo interfase, es decir, durante un periodo entre pulsos de estimulación activos. Tales mediciones se muestran en las Figuras 15B, 16B, 17B, y 18B. Como se observa en estas Figuras, la tensión en la línea de interés para cada NDAC y PDAC activo en un canal de temporización dado se monitoriza mientras que todos los otros DAC están desconectados. Por ejemplo, en la Figura 15B, se mide la tensión a través del primer NDAC, que corresponde al electrodo E3, (VN3B), y por lo tanto su transistor de selección, 5133’, está encendido. En contraste, todos los otros DAC están apagados, es decir, los transistores 5131, 5134, y 5135’ de selección están apagados. Como resultado, fluirá corriente mínima o ninguna a través de la red 505 resistiva que comprende la carne del paciente, ya que la trayectoria entre la tensión acordada, V+, y tierra se interrumpe. Sin embargo, incluso aunque el NDAC en el electrodo E3 esté desconectado de la tensión acordada, V+, alguna tensión de salida residual puede estar presente en la línea L3 mediante ese NDAC que está encendido de
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otra manera.
Esta medición de tensión de salida de interfase puede usarse para mejorar la precisión de la tensión de salida según se procesa mediante el microcontrolador 160, y finalmente según se considera mediante la el algoritmo de ajuste de tensión acordada. Preferentemente, la medición de tensión de salida de interfase (de nuevo, generalmente despreciable pero potencialmente significativa en valor) se resta de la medición de estimulación activa en cualquier DAC particular. Por lo tanto, obsérvese que en las Figuras 15A y 15B esas mediciones activas (A) y de interfase (B) se realizan en el electrodo E3, que están designadas como VN3A y VN3B, y de manera análoga para los otros DAC en las Figuras 16, 17 y 18. El resultado en este ejemplo son ocho mediciones de tensión de salida: VN3A, VN5A, VP1A, VP4A para las mediciones activas, y VN3B, VN5B, VP1B, VP4B para las mediciones de interfase.
Para mejorar la precisión de las tensiones de salida para los DAC a procesarse mediante el algoritmo de ajuste de tensión acordada, estas mediciones activas y de interfase de salida se restan preferentemente para cada DAC. Por lo tanto, en una realización preferida, la tensión de salida a través del DAC en el electrodo E3 a enviarse al algoritmo de tensión de ajuste acordada comprendería VN3A-VN3B. Haciendo esto, puede mejorarse la evaluación de la región de operación (saturación) de los transistores de salida en el DAC, ya que las tensiones residuales debido al propio DAC activo, así como las caídas de tensión resultantes de los transistores 513, 513’ de selección pueden corregirse fuera de la medición de tensión de salida.
Tomando la medición de tensión de salida de interfase se muestra de nuevo con referencia una vez más a las Figuras 19 y 20. Específicamente, el tercer trazado, denominado “muestra durante interfase”, comprende una señal de control que dicta cuándo se monitorizan las tensiones de salida durante el periodo de interfase. Esta tercera señal de control es similar a la segunda señal de control (muestra durante activado) analizada anteriormente, y comprende una señal de configuración/muestra. Específicamente, después de configurar, el límite descendente realmente muestrea la entrada al sensor de tensión, que de nuevo requiere algún tiempo para estabilizarse desde su valor activo. En el ejemplo mostrado en las Figuras 19 y 20, tal muestreo tiene lugar a 279 microsegundos, es decir, 19 microsegundos en el periodo de interfase, pero de nuevo estos esquemas de tiempos y detección pueden variar y son dependientes de la implementación. El asunto importante, debiera usarse una medición de interfase para complementar la medición activa, es tomar la medición en un tiempo sensible coherente con la implementación elegida, y esto puede tener lugar en diferentes maneras y con diferentes temporizaciones.
Debería observarse que aunque la monitorización de las tensiones de salida de interfase puede ser beneficiosa por las razones recién explicadas, el uso de tales mediciones de interfase no se requiere en todas las realizaciones útiles. En su lugar, únicamente pueden usarse las mediciones de fase activa (es decir, aquellas ilustradas en las Figuras 15A, 16A, 17A, y 18A). Como se ha observado anteriormente, aquellas mediciones de tensión de salida activas pueden realizarse simultáneamente. En contraste, si se realizaran las mediciones de interfase t que miden la tensión de salida inactiva a través de cada DAC, tales mediciones necesitarían realizarse en serie, es decir, durante periodos de interfase secuenciales.
En una realización preferida, las mediciones de tensión de salida para cada electrodo activo especificado en un canal de temporización particular se toman secuencialmente, y en el orden especificado en las Figuras 15A-18B. Por lo tanto, los electrodos de drenaje se miden en primer lugar: por lo tanto la circuitería de NDAC asociada con el electrodo E3 se mide en primer lugar durante la estimulación durante activado (Figura 15A), seguido por la medición de interfase (inactiva) para E3 (Figura 15B), seguido más tarde por las mismas mediciones para E5 (Figura 16A y B), etc. La tensión acordada puede ajustarse entonces como se especifica con respecto a la Figura 21 a continuación. Entonces, los electrodos de suministro se miden de manera similar en serie (Figuras 17A-18B).
Puesto que las mediciones se realizan en el contexto de terapia prescrita real, la temporización de las señales de monitorización es preferentemente ajustable. En este sentido, es particularmente importante considerar la frecuencia y duración de los pulsos de estimulación prescritos de modo que las mediciones de configuración/de muestra se “adapten” apropiadamente a los pulsos de estimulación y a los periodos de interfase entre ellos. Por ejemplo, aunque la temporización de las señales para el ejemplo mostrado en las Figuras 19 y 20 sería apropiada para una frecuencia, una frecuencia superior requeriría temporización más estrecha.
Además, entre cada pulso de estimulación, y como es común en estimuladores implantables, puede seguir una fase de recuperación de carga. Como es conocido, un periodo de recuperación de este tipo podría comprender realizar pulsos para recuperar la carga pasada en la carga, es decir, el tejido 505. Normalmente, tal recuperación es bifásica, y se implementa mediante pulsos de recuperación de igual magnitud y duración para los pulsos activos pero de polaridad opuesta. La recuperación de carga puede conseguirse también de manera pasiva, como es conocido. Tal recuperación de carga no se muestra en las Figuras por simplicidad, pero sería una consideración en una realización de la invención. Además, debería observarse que las tensiones de salida de DAC pueden medirse durante recuperación de carga, pero de nuevo esto no se analiza adicionalmente por simplicidad.
Ahora que se han descrito los diversos medios para monitorizar la tensión de salida de los DAC, la atención vuelve a cómo se usan, algorítmicamente, estos valores para ajustar la tensión acordada a un valor eficaz. Como se muestra en la Figura 21, el algoritmo empieza obteniendo en primer lugar todas las tensiones de salida relevantes para los NDAC (VN1, VN2, ... VNX) para un canal de temporización dado tal como se ha descrito. Debería entenderse que estas
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tensiones de salida pueden comprender únicamente las mediciones tomadas durante estimulación activa (por ejemplo, VN3A a partir de la Figura 15A), o la tensión calculada como la diferencia entre las mediciones activa y de interfase (por ejemplo, VN3A -VN3B a partir de las Figuras 15A y 15B). Normalmente, el algoritmo empezaría con la tensión acordada, V+ a su máximo valor (por ejemplo, 16,8 V), pero podría empezar a un valor menor.
A continuación, se determina la tensión de salida mínima para los NDAC (Min(VNX)). Esta tensión de salida mínima sugeriría el NDAC más en riesgo para estar en sub-saturación, y por lo tanto en esta realización del algoritmo se considera el más eficaz de rastrear. Por consiguiente, el algoritmo a continuación pregunta cómo se compara ese valor mínimo con relación a las tensiones de intervalo de guarda para los NDAC. Esencialmente, si Min(VNX) es superior a la tensión de banda de guarda máxima para los NDAC (por ejemplo, 1,8 V), la tensión acordada V+ se reduce, puesto que puede inferirse que todos los NDAC están en este punto operando con tensiones de salida que son demasiado altas para ser óptimas desde un punto de vista de consumo de potencia. Como se muestra, para facilitar la naturaleza iterativa del algoritmo, el alcance al cual se reduce la tensión acordada V+ se escala con el alcance al cual Min(VNX) supera la tensión de banda de guarda superior para los NDAC. Por lo tanto, si Min(VNX) está muy por encima de la banda de guarda (por ejemplo, Min(VNX) > 4,8 V) la tensión acordada se reduce en una cantidad grande (por ejemplo, 3,0 V), pero si está escasamente por encima de la banda de guarda (1,8 V < Min(VNX) < 2,4 V) la tensión acordada se reduce en una cantidad pequeña (por ejemplo, 0,6 V).
Eventualmente, a medida que se reduce la tensión acordada V+, la caída de tensión mínima a través de los NDAC, Min(VNX), estarán dentro del alcance de banda de guarda (por ejemplo, entre 1,2 V y 1,8 V), y las PDAC pueden a continuación evaluarse. Sin embargo, si Min(VNX) cayera por debajo de la tensión de banda de guarda mínima (por ejemplo, 1,2 V), la tensión acordada puede aumentarse en un incremento (por ejemplo, 0,6 V antes de la evaluación de las PDAC. Por supuesto, si la tensión acordada es un máximo en este punto, aumentar adicionalmente la tensión acordada no será posible, y comenzará la evaluación de las PDAC.
Con la tensión acordada V+ ajustada en este punto con respecto a los NDAC, el algoritmo a continuación obtiene todas las tensiones de salida relevantes para las PDAC (VP1, VP2, ... VPY). De nuevo, se determina la caída de tensión mínima a través de las PDAC, Min(VPY), y el algoritmo a continuación continúa con los NDAC. Específicamente, si Min(VPY) está por encima de las tensiones de banda de guarda máximas para las PDAC (por ejemplo, 2,1 V), la tensión acordada se reduce, de nuevo en una cantidad proporcional con la desviación desde la tensión de banda de guarda máxima.
Obsérvese que es permisible reducir adicionalmente la tensión acordada en este punto en el algoritmo, incluso si alguna de las caídas de tensión a través del NDAC estuviera cerca de la tensión de banda de guarda mínima. Por lo tanto, V+ puede reducirse si Min(VPY) está por encima de 2,1 V por ejemplo, incluso cuando Min(VNX) está por debajo de 1,8 V y de otra manera es óptima. Aunque esto parecería correr el riesgo de ajustar los NDAC fuera de alineación, obsérvese que Min(VNX) está vinculada a (es decir, equilibrada con) Min(VPY) mediante las características de tensión-corriente de ambos DAC. Puesto que las corrientes deben coincidir para los NDAC y las PDAC, es difícil reducir Min(VNX) significativamente por debajo del umbral de banda de guarda de NDAC mínimo (por ejemplo, 1,2 V) sin llevar también Min(VPY) por debajo de la tensión de banda de guarda de PDAC mínima (por ejemplo, 1,5 V) y viceversa. Por lo tanto, debido a este equilibrio entre los NDAC y las PDAC, la tensión acordada puede reducirse sin riesgo significativo de impactar el rendimiento de circuito, es decir, de manera que la circuitería no pueda producir una corriente óptima.
Eventualmente, como la tensión acordada se reduce, si la tensión de salida mínima a través de una PDAC estuviera dentro de la banda de guarda para las PDAC (1,5 < Min(VPY) < 2,1, la tensión acordada se considera óptima. De otra manera, si estuviera una PDAC por debajo de la banda de guarda en este punto, la tensión acordada puede aumentarse en un incremento (0,6 V).
Por lo tanto, a través del uso de este algoritmo ejemplar, la tensión acordada puede ajustarse a un valor óptimo que es suficientemente alto para permitir el rendimiento de circuito apropiado (es decir, suficiente salida de corriente), pero suficientemente bajo que la potencia no se desperdicie innecesariamente mediante caídas de tensión excesivas a través de la circuitería de salida de corriente. Aunque lo anterior especifica una única realización de un algoritmo para tal optimización de fuente y sumidero de corriente dual, son posibles otros algoritmos, y se someten a una preferencia particular del programador, teniendo en cuenta la consideración y riesgo de drenaje de potencia. En resumen, el algoritmo de tensión acordada desvelado es simplemente representativo de una manera para optimizar simultáneamente los NDAC y las PDAC durante estimulación real.
Debería observarse que aunque las tensiones de salida medidas a través del circuito de fuente y el circuito de sumidero se usan para ajustar la tensión acordada en un intento de proporcionar ambas de las tensiones de salida a un nivel o niveles adecuados, la técnica puede usarse también para simplemente intentar proporcionar una de las tensiones de salida a un nivel adecuado (por ejemplo, dentro de un intervalo, a un punto particular, por encima o por debajo de un punto, etc.). Por lo tanto, pueden medirse ambas tensiones de salida, y en otra realización, se tienen beneficios mediante el ajuste de las tensiones de salida de NDAC o PDAC en solitario, aunque por supuesto se prefiere ajustar ambas tensiones.
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Claims (1)

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ES06839475.8T 2005-12-14 2006-10-19 Técnicas para detectar y ajustar una tensión acordada en un dispositivo estimulador implantable Active ES2587367T3 (es)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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