ES2259564A1 - Cintas superconductoras multicapa preparadas mediante deposicion de disoluciones quimicas. - Google Patents

Cintas superconductoras multicapa preparadas mediante deposicion de disoluciones quimicas.

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Abstract

Cintas superconductoras multicapa preparadas mediante deposición de disoluciones químicas. La presente invención se refiere a un nuevo procedimiento de obtención de material superconductor multicapa mediante procesos que involucran únicamente técnicas de deposición de soluciones químicas y que preservan su calidad estructural y sus propiedades. El uso de procesos de fabricación basados en su integridad en el uso de soluciones químicas permite reducir el coste de fabricación de dichos materiales. El procedimiento reivindicado se basa en el crecimiento epitaxial del material superconductor YBCO sobre una estructura multicapa que contiene un sustrato metálico con textura biaxial, que presenta un óxido plantilla epitaxial en su superficie, y una o más láminas tampón con una textura epitaxial.

Description

Cintas superconductoras multicapa preparadas mediante deposición de disoluciones químicas.
Sector de la técnica
La presente invención se refiere a un nuevo procedimiento de obtención de material superconductor multicapa, en particular de cintas superconductoras multicapa, mediante procesos que involucran únicamente técnicas de deposición de soluciones químicas y que preservan su calidad estructural y sus propiedades.
Los objetos de la presente invención son de especial relevancia en los siguientes sectores:
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Sector Cerámico-metalúrgico: Deposición y crecimiento de recubrimientos cerámicos sobre substratos metálicos.
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Sector Químico: Precursores metalorgánicos.
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Sector Energético: Mejora de la eficiencia del aparataje eléctrico existente y desarrollo de nuevos equipos eléctricos de potencia.
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Sector Biomedicina y Farmacéutico: Nuevos equipos de diagnóstico y nuevos espectrómetros de RMN para diseño molecular.
Estado de la técnica
La obtención de cintas superconductoras denominadas de segunda generación tiene un enorme interés para sus aplicaciones en el sector Energético y en Biomedicina. Dichas cintas superconductoras consisten, típicamente, de un substrato metálico, una o varias láminas delgadas epitaxiales tampón que protegen químicamente al sustrato, y una lámina delgada epitaxial superconductora de YBa_{2}Cu_{3}O_{7} (YBCO). El substrato metálico confiere estabilidad mecánica a este artículo multicapa.
Previamente se han propuesto diversas estrategias para la obtención de cintas superconductoras multicapa que difieren en el substrato metálico utilizado, en las láminas delgadas tampón o en los procesos de preparación de ambos. La presente invención se refiere a una nueva combinación substrato metálico -lámina tampón- superconductor que puede fabricarse mediante las técnicas denominadas "Deposición de soluciones químicas". El interés de dicha técnica radica en que pueden prepararse cintas superconductoras multicapa con elevadas prestaciones, en particular elevadas densidades de corriente crítica, en grandes longitudes a bajo coste. Dichas cintas superconductoras pueden producirse en forma flexible en longitudes kilométricas a la vez que las láminas delgadas depositadas conservan su estructura epitaxial.
Hasta la fecha han sido propuestas dos metodologías diferentes para la obtención de substratos metálicos que pueden ser utilizadas con éxito para la posterior deposición de láminas delgadas epitaxiales. En el primer caso se utiliza un sustrato policristalino (p. ej. acero inoxidable, SS) sobre el cual se deposita una lámina delgada de un óxido como Zr_{2-x}YxO_{2-p} (YSZ) mediante la técnica denominada IBAD (Ion bean assisted deposition), descrita previamente (S.R. Foltyn, P. Tiwari, R.C. Dye, M.Q. Le, and S.D. Wu, "Pulsed laser deposition of thick YBa_{2}Cu_{3}O_{7}-delta films with Jc>1 MA/cm^{2}", Applied Phys. Lett. 63, 1993, 1848-1850) y que permite obtener un crecimiento epitaxial. En el segundo caso el substrato metálico es sometido a un proceso de laminación y recristalización que le confiere una textura cúbica del tipo (100)[001]. Dicho proceso se denomina RABiT (Rolling Assisted Biaxial Texturing) (A. Goyal, J.D. Budai, D.M. Kroeger, D.P. Norton, E.D. Specht, D.K. Christen, U.S. Pat. No. 5,741,377, (1998), "Structures Having Enhanced Biaxial Texture and Method of Fabricating Same"). Sobre ambos substratos pueden depositarse láminas delgadas tampón y láminas superconductoras de YBCO mediante técnicas diversas que requieren vacío, como por ejemplo ablación láser, sputtering, o evaporación térmica o por cañón de electrones. Las arquitecturas típicas que se han descrito en estos casos son YBCO/CeO_{2}/YSZ/SS (IBAD) o YBCO/CeO_{2}/YSZ/CeO_{2}/Ni (RABiT) en los cuales la lámina de CeO_{2}, con estructura fluorita, posee un buen encaje estructural con YBCO y la lámina YSZ permite mantener una protección efectiva del substrato metálico contra la oxidación (P.N. Arendt, X.D. Wu, S.R. Foltyn, U.S. Pat. No. 5,872,080, (1999), "High temperature superconducting thick films", Goyal et al., referida anteriormente, M. Paranthaman, D.F. Lee, D.M. Kroeger, A. Goyal, U.S. Pat. No. 6,159,610, (2000), "Buffer Layers On Metal Surfaces Having Biaxial Texture As Superconductor Substrates", y U.D. Schoop, S. Annavarapu, M.W. Rupich, X. Li, W. Zhang, E.J. Siegal, Q. Li, U.S. Pat.
No. 6,537,689 B2, (2003), "Multi-Layer Superconductor Having Buffer Layer With Oriented Termination Plane").
Una alternativa interesante para proteger el substrato metálico de una oxidación desordenada en la superficie consiste en un proceso de crecimiento epitaxial de una capa de óxido del propio metal del que se compone el substrato. Dicho mecanismo ha sido descrito recientemente para Ni-RABiT en el que crecen unas micras de NiO con textura (001){100}. Dicha lámina de NiO puede actuar posteriormente como plantilla para crecer epitaxialmente una lámina superconductora de YBCO.
Más recientemente se han propuesto algunas metodologías de deposición de las láminas delgadas utilizando soluciones químicas que deberían permitir reducir el coste de producción de las cintas superconductoras. R.K. Williams et al. (R.K. Williams, M. Paranthaman, T.G. Chirayil, D.F. Lee, A. Goyal, R. Feenstra, U.S. Pat. No. 6,270,908 B1, (2001), "Rare Earth Zirconium Oxide Buffer Layers On Metal Substrates") han propuesto depositar láminas tampón de TR_{2}Zr_{2}O_{7} (TR=Tierra Rara), con estructura pirocloro, sobre substratos RABiT de Ni, mientras que Clem et al. (P.G. Clem, M.A. Rodriguez, J.A. Voigt, C.S. Ashley, U.S. Pat. No. 6,231,666 B1, (2001), "Process For Forming Epitaxial Perovskite Thin Film Layers Using Halide Precursors") depositan BaTiO_{3} o SrTiO_{3}, con estructura perovskita, sobre substratos RABiT de Ni. Sobre dichas láminas tampón se depositaron láminas superconductoras de YBCO, en el primer caso mediante técnicas de vacío y en el segundo caso mediante deposición de soluciones químicas de sales de ácido Trifluoroacético (TFA). Así mismo, la metodología de deposición de láminas delgadas de YBCO utilizando las sales de TFA en forma de solución química ha sido utilizada por otros autores en substratos 1 monocristalinos (J. Smith, M.J. Cima, International Patent Classification H01L 39/24, International Publication Number WO 98/58415, "Controlled Conversion Of Metal Oxyfluorides Into Superconducting Oxides") o en substratos metálicos con láminas tampón depositadas mediante técnicas de vacío.
Para conseguir una reducción del coste de fabricación de las cintas superconductoras es deseable desarrollar procesos de fabricación basados en su integridad en el uso de soluciones químicas, los cuales deben adaptarse adecuadamente al substrato metálico utilizado (IBAD o RABiT). La combinación de láminas delgadas tampón compatibles con la estructura cristalográfica del substrato y el superconductor YBCO, a la vez que mantienen una compatibilidad química, no se ha descrito aún de forma satisfactoria.
Descriptiva de la invención Descripción breve
La presente invención se refiere a un nuevo procedimiento de obtención de material superconductor multicapa, en particular de cintas superconductoras multicapa, mediante procesos que involucran únicamente técnicas de deposición de soluciones químicas y que preservan su calidad estructural y sus propiedades.
El desarrollo de procesos de fabricación basados en su integridad en el uso de soluciones químicas permite conseguir una reducción del coste de fabricación.
El procedimiento se basa en el crecimiento epitaxial del material superconductor YBCO sobre una estructura multicapa que contiene (véase la Figura 1) un sustrato metálico con textura biaxial (1), que presenta un óxido plantilla epitaxial en su superficie (2), y una o más láminas tampón (3a y 3b) con una textura epitaxial. Estas láminas tampón presentan dos funcionalidades diferenciadas. La primera, proporcionar una superficie de débil o nula reactividad química con YBCO para evitar la formación de impurezas en la interfase que perturben la calidad de la estructura cristalográfica de YBCO durante las etapas iniciales de su deposición y crecimiento. La segunda, proporcionar parámetros de red intermedios entre los del óxido del sustrato y el YBCO, que una vez más preserve la calidad de la estructura cristalográfica del YBCO y, en consecuencia, de su densidad de corriente crítica J_{c}.
Descripción detallada
Un objeto de la invención se refiere a un procedimiento de obtención del material superconductor basado en el crecimiento de una o más láminas delgadas tampón epitaxiales de óxidos con estructura perovskita o fluorita depositadas sobre substratos metálicos los cuales ya tienen en su superficie una lámina epitaxial de un óxido que actúa como plantilla para inducir la epitaxia a las nuevas láminas depositadas. Este procedimiento conlleva asimismo el posterior crecimiento de la lámina superconductora sobre las láminas tampón depositadas previamente. El procedimiento para la deposición y posterior crecimiento de las distintas láminas se basa en su integridad en el empleo de soluciones químicas. El procedimiento proporciona una arquitectura de diferentes láminas epitaxiales crecidas sobre substratos metálicos en la cual cada lámina tiene una funcionalidad diferenciada.
Cualquier substrato metálico que pueda tener un óxido plantilla epitaxial puede ser aceptable para el método propuesto. No obstante, las metodologías descritas anteriormente en el Estado de la Técnica, sea para substratos de acero con una capa de YSZ depositada por IBAD, sea para substratos de Ni texturados con una capa de óxido de Níquel (NiO) epitaxial de algunas micras de espesor, son las que se utilizan para ilustrar la invención realizada. Asimismo, puede emplearse como óxido plantilla cualquier óxido del mismo elemento que constituye el substrato metálico.
Para llevar a cabo la deposición y posterior crecimiento de las diferentes láminas se emplean soluciones químicas que contienen los precursores químicos del óxido componente de las láminas tampón y de la lámina superconductora.
La metodología de deposición y crecimiento de la lámina superconductora es la de soluciones químicas metal-orgánicas. La particularidad de dicha técnica es que la reacción química que conduce a la formación de la lámina de YBCO ocurre en la interfase con el substrato metálico, lo que puede provocar la formación de impurezas en la interfase que perturbarían la calidad de la estructura cristalográfica de la estructura del YBCO y, en consecuencia, reduciría su densidad de corriente crítica J_{c}. Por ello es esencial encontrar una lámina tampón que tenga una débil o nula reactividad química con YBCO para evitar este problema.
Un segundo parámetro que debe considerarse para la elección de la composición de la(s) lámina(s) delgada(s) que debe(n) actuar como tampón es su estructura cristalográfica, en particular la dimensión de su parámetro de red a_{t}, el cual debe ser lo más próximo posible al que posee la lámina de óxido plantilla existente en la superficie del substrato metálico a_{p}. No obstante, dado que posteriormente deberá crecerse en la superficie de la lámina epitaxial del óxido tampón la lámina superconductora de YBCO, para así generar la estructura multicapa que constituye la cinta superconductora, debe considerarse asimismo que el parámetro de red de la estructura de la lámina tampón at sea lo más próximo posible al de la estructura de YBCO a_{s}.
Con el fin de cumplir estos requerimientos, en la presente invención se reivindican tres arquitecturas distintas, tal como se representa en la Figura 1. En todas ellas se parte de un sustrato de metálico policristalino con textura biaxial (1) que presenta un óxido plantilla epitaxial (2) en su superficie para inducir la epitaxia de las capas posteriores. En la primera de las arquitecturas (Figura 1(a)) al sustrato le sigue una única lámina delgada tampón de textura epitaxial consistente en un óxido de estructura perovskita. En la segunda (Figura 1(b)), se incluyen dos láminas delgadas tampón con textura epitaxial consistentes ambas en un óxido de estructura perovskita (3a y 3b) con composiciones diferentes. Finalmente, en la tercera (Figura 1(c)), se incluye una única lámina delgada tampón con textura epitaxial consistente en este caso en un óxido de estructura fluorita.
Estas arquitecturas se han realizado de forma particular en los casos que se ilustran en la Figura 2. En las Figuras 2(a) y 2(d) se deposita encima de los óxidos plantilla una lámina de BaZrO_{3}, con estructura perovskita, aunque óxidos similares con composición SrZrO_{3} o CaZrO_{3} podrían asimismo ser adecuados. El uso de las láminas tipo perovskita como primera lámina tampón en substratos con plantillas de YSZ no ha sido descrito previamente en ningún caso y constituye por tanto una novedad de la presente invención. En el caso de los substratos con plantillas NiO, se han consignado previamente por Kursumovic et al. (A. Kursumovic, R. Tomov, R. Hühne, B.A. Glowacki, J.E. Everts, A. Tuissi, E. Villa, B. Holzapfel, "High temperature growth kinetics and texture of surface-oxidised NiO for coated superconductor applications", Physica C 385, 2003, 307-345) aunque no mediante la metodología de preparación mediante soluciones químicas, como aquí se propone, sino mediante deposición con técnicas de vacío como PLD o sputtering. La metodología de obtención de dicha lámina tampón constituye pues asimismo una novedad.
En una segunda configuración, representada en las Figuras 2(b) y 2(e), se deposita encima de la anterior lámina tampón de BaZrO_{3} una segunda lámina de óxido epitaxial con composición SrTiO_{3}, aunque óxidos similares con composición CaTiO_{3} o La_{1-x}M_{X}MnO_{3} (M = Ba, Sr, Ca) podrían asimismo ser adecuados. La elección de los óxidos MZrO_{3} (M = Ba, Sr, Ca) como primera lámina tampón se debe a que, tal como podrá apreciarse, estos óxidos crecen con la orientación correcta, la textura cúbica (001){100}, en los óxidos plantilla YSZ y NiO. No obstante, tal como puede apreciarse en la Figura 3 en la que se comparan los parámetros de red de las láminas tampón a_{t}, las láminas plantilla a_{p} y el superconductor YBCO a_{s}, existe un desacuerdo estructural importante que puede corregirse si se depositan dos láminas tampón, una que tenga un buen acuerdo estructural con la lámina plantilla, y una segunda que tenga un mejor acuerdo estructural con YBCO, a la vez que no esté demasiado lejano de la primera lámina tampón. Dicha estrategia de depositar dos láminas tampón permite por lo tanto satisfacer al mismo tiempo los requerimientos del substrato y de la lámina superconductora.
Una tercera configuración de conductor multicapa que puede utilizarse es la que se muestra en la Figura 2(c) en la que la capa tampón corresponde a una estructura fluorita como la de CeO_{2} la cual tiene un buen acuerdo estructural con YBCO y con YSZ. La novedad que presenta esta configuración respecto a los procesos descritos anteriormente por otros autores radica en la utilización de nuevos procesos térmicos que confieren una mejor calidad superficial al óxido y por lo tanto una mejor epitaxia a la capa superconductora que crece encima de ella.
El proceso de preparación de dichas estructuras multicapa pasa a describirse en detalle a continuación.
En las Figuras 4(a) y 4(b) se muestran diagramas de flujo de los procesos que deben seguirse para el crecimiento de una o dos láminas tampón, respectivamente. En ambos casos en primer lugar debe llevarse a cabo un proceso de preparación y limpieza de la superficie del substrato metálico que ya posee una lámina plantilla epitaxial. Típicamente se lleva a cabo un proceso de limpieza en el que debe eliminarse cualquier residuo o impureza orgánica. Cualquier método que resulte eficaz para dicho proceso podrá ser válido, no obstante someter el substrato a un baño de ultrasonidos dentro de una solución limpiadora (isopropanol) resulta suficiente. El tiempo necesario para dicho proceso puede extenderse hasta unos 60 minutos.
Paralelamente debe prepararse una solución química que contenga los elementos metálicos del óxido que quiere crecerse, en proporciones estequiométricas.
Existen distintos precursores químicos que pueden usarse para la preparación de soluciones químicas que puedan depositarse en el substrato para el posterior crecimiento de una fase cristalina. Dichos precursores son los que usualmente se utilizan en las metodologías denominadas sol-gel o Descomposición metal-orgánica. En el primer caso los precursores son normalmente alcóxidos los cuales tienen buena solubilidad en alcoholes, aunque son sensibles a la humedad ambiental y por lo tanto deben manejarse durante todo el proceso en atmósfera inerte. En el segundo caso se utilizan carboxilatos (p. ej. acetatos, propionatos, hexanoatos) o pentadionatos (acetilacetonas) en solventes orgánicos, los cuales son menos sensibles a la humedad ambiental. También pueden utilizarse soluciones híbridas con precursores de ambos grupos.
En los casos que se consignan en la presente invención se han utilizado preferentemente mezclas de ambos tipos de precursores. Así se han utilizado carboxilatos, como los acetatos para la formación de los iones alcalino-térreos (Ba, Sr, Ca), pentadionatos como precursores de Zirconio y alcóxidos como los isopropóxidos como precursores de Titanio. Los solventes utilizados son ácido acético, metanol o ácido propiónico. De esta manera, para la preparación de solución precursora para el depósito de capas tampón de MZrO_{3} sobre substratos metálicos se emplea una mezcla de un acetato del elemento alcalino-térreo M respectivo disuelto en ácido acético glacial con un pentodiato de zirconio (IV). Para la preparación de solución precursora para el depósito de capas tampón de MTiO_{3} se emplea una mezcla de un acetato del elemento alcalino-térreo M respectivo disuelto en ácido acético glacial con un alcóxido de Ti(IV) en metanol. Para la preparación de solución precursora para el depósito de capas tampón de La_{1-x}M_{X}MnO_{3} (M=Ba, Sr, Ca) se emplea una mezcla estequiométrica de propionatos de La, Mn y M (M=Ba, Sr, Ca). Se obtienen en todos los casos soluciones incoloras y translúcidas listas para depositar. La concentración final de la solución fue ajustada entre 0.05 M y 0.8 M con el fin de modificar el espesor de la lámina delgada que quiere obtenerse. La deposición de la solución en el substrato metálico puede efectuarse por cualquier método que permita controlar el grosor de la lámina obtenida a la vez que permite obtener un grosor homogéneo. Los métodos preferidos, por su sencillez, son "spin coating" y "dip coating" en los cuales deben controlarse parámetros como la velocidad de rotación y la celeración (sping coating) y la velocidad de desplazamiento (dip coating). El primer método se adapta mejor a los ensayos en substratos de pequeñas dimensiones mientras que el segundo caso se adapta mejor a la fabricación de cintas en continuo.
Los ejemplos que se consignarán en la presente invención corresponden a una deposición con un sistema "spin coater" aunque la invención no se reduce a este tipo de metodología de deposición.
La deposición de la solución con un sistema "spin coater" se realiza depositando un pequeño volumen de solución en un substrato que se somete a una rotación, inicialmente con una aceleración constante de 3000 rpm/s, y finalmente a una velocidad de rotación constante entre de 6000 rpm (revoluciones por minuto) durante unos 60 s-120 s.
Una vez depositada la solución en el substrato se lleva a cabo un proceso de secado a temperaturas comprendidas entre 20ºC y 150ºC al aire o en atmósfera inerte (N_{2}, Ar). Dicho proceso tiene una duración de entre 5 y 20 minutos. Finalmente las láminas preparadas están en disposición de someterse a un tratamiento térmico para la cristalización del óxido.
Este tratamiento térmico debe efectuarse en un horno que permita controlar la temperatura, así como las rampas para sus cambios, mientras el substrato se mantiene en una atmósfera controlada durante todo el proceso. Normalmente se usará un flujo de gases de carácter reductor que impida la oxidación del sustrato metálico aunque las atmósferas oxidantes (1 atm O_{2}) podrán también usarse cuando los substratos metálicos estén protegidos de la oxidación (acero inoxidable recubierto con YSZ o Ni recubierto con NiO). La atmósfera reductora se conseguirá mediante una mezcla en la que se combina un 5% en volumen de Hidrógeno con un gas inerte como Argón o como Nitrógeno. El tratamiento térmico consta de dos fases. La primera consiste en un calentamiento hasta 300ºC-400ºC con una rampa de 60ºC/h. En la segunda etapa debe alcanzarse una temperatura máxima que puede variarse en un amplio rango que oscila entre 500ºC y 1000ºC con rampas de subida con valores comprendidos entre 60ºC/h y 1.500ºC/h. La elección de la temperatura máxima a la que se efectúa el tratamiento térmico determinará básicamente dos características morfológicas de las láminas delgadas: el tamaño de grano del óxido y su rugosidad. El tiempo total que permanecerá la muestra a la temperatura máxima será normalmente de 4 horas, aunque puede variarse en un margen más amplio (1 h a 24 h). La segunda fase consiste en un enfriamiento rápido hasta la temperatura ambiente a una velocidad de aproximadamente -200ºC/h.
Una vez ha cristalizado el óxido se procederá, en el caso de querer obtener una arquitectura constituida por una segunda lámina tampón, a depositar la solución química que contiene los precursores del óxido constituyente de esta segunda lámina tampón sobre la primera lámina tampón y a partir de entonces se seguirá el mismo procedimiento que se ha descrito anteriormente para el crecimiento de la primera lámina tampón en cuanto al proceso de secado y posterior tratamiento térmico.
Una vez ha cristalizado el óxido constituyente de la primera, o en su caso la segunda lámina tampón, se procederá a la deposición de la solución que contiene los precursores del óxido constituyente de la lámina superconductora (YBCO) sobre la lámina tampón correspondiente. Los precursores que se utilizan para el crecimiento de YBCO son Trifluoroacetatos de Cu, Y y Ba los cuales se depositan con un grosor controlado mediante la técnica de spin coating o dip coating. Posteriormente se lleva a cabo un proceso de pirólisis de los precursores metalorgánicos utilizando un tratamiento térmico en atmósfera controlada, normalmente de O_{2} a 1 bar con un 5% a 10% de presión de vapor de agua. El tratamiento consiste en un calentamiento lento hasta una temperatura de 300ºC, generalmente con rampas comprendidas entre 3ºC y 300ºC/h. A continuación se lleva a cabo un segundo tratamiento térmico a temperaturas más elevadas, entre 750ºC y 830ºC, también en atmósfera controlada, principalmente de Nitrógeno con una presión parcial de oxígeno de 200 ppm y una presión de vapor de agua comprendida entre 0.5% y 12%, para proceder a la cristalización del óxido superconductor de YBCO. Dicha etapa tiene normalmente una duración de unos 150 minutos aunque puede cambiar ligeramente. El último estadio de la preparación consiste en la oxigenación de la fase YBCO la cual se lleva a cabo normalmente a una temperatura de 450ºC en una atmósfera de oxígeno durante unos 90 minutos.
Una vez realizado el proceso térmico al que se someten las muestras debe consignarse cuál es la estructura y las características morfológicas que generan las láminas delgadas epitaxiales. Dichas determinaciones fueron realizadas a partir de diagramas de difracción de rayos X, de Microscopía electrónica de Barrido y de Microscopía de Fuerzas Atómicas. La descripción de dichos análisis a los depósitos efectuados con una o dos láminas tampón sobre los sustratos metálicos YSZ/SS y NiO/Ni se describen en los ejemplos que se detallan a continuación.
Un último objeto de la presente invención lo constituye el material multicapa superconductor caracterizado porque para su fabricación se siguió el procedimiento descrito anteriormente y sus particularizaciones.
Descripción de las figuras
Figura 1.- Estructura genérica de capas de los tres tipos de material multicapa superconductor considerados en la presente invención. La Figura 1(a) muestra la estructura con una sóla lámina delgada tampón con textura epitaxial consistente en un óxido de estructura perovskita. La Figura 1(b) muestra la estructura con dos láminas delgada tampón con textura epitaxial consistentes en óxidos de estructura perovskita de distinta composición. La Figura 1(c) muestra la estructura con una sóla lámina delgada tampón con textura epitaxial consistente en un óxido de estructura
fluorita.
Figura 2(a).- Arquitectura de lámina delgada tampón epitaxial sobre substrato metálico policristalino de acero u otra aleación con un óxido plantilla texturado de YSZ mediante IBAD.
Figura 2(b).- Arquitectura de dos láminas delgadas tampón epitaxial sobre substrato metálico policristalino de acero u otra aleación con un óxido plantilla texturado de YSZ mediante IBAD.
Figura 2(c).- Arquitectura de una lámina delgada tampón epitaxial sobre substrato metálico policristalino de acero u otra aleación con un óxido plantilla texturado de YSZ mediante IBAD.
Figura 2(d).- Arquitectura de lámina delgada tampón epitaxial sobre substrato metálico texturado recubierto de una lámina de óxido texturado que actúa como plantilla.
Figura 2(e).- Arquitectura de dos láminas delgadas tampón epitaxial sobre substrato metálico texturado recubierto de una lámina de óxido texturado que actúa como plantilla.
Figura 3.- Comparación de los parámetros de red y distancias de acoplo estructural de las distintas estructuras que forma la estructura multicapa.
Figura 4(a).- Diagrama de flujo que ilustra las distintas etapas del proceso de preparación de las cintas con una sola capa tampón.
Figura 4(b).- Diagrama de flujo que ilustra las distintas etapas del proceso de preparación de las cintas con dos capas tampón.
Figura 5.- Diagrama de difracción de rayos X theta-dos theta de una lámina tampón de BaZrO_{3} sobre un substrato metálico de YSZ/SS.
Figura 6.- Barrido Omega de la reflexión (200) de una lámina de 30 nm de grosor de BaZrO_{3} sobre YSZ/SS.
Figura 7.- Barrido Phi de la reflexión (101) de una lámina de 30 nm de grosor de BaZrO_{3} sobre YSZ/SS y de la reflexión (111) de la plantilla texturada de YSZ.
Figura 8.- Diagrama de polos (101) de una lámina de BaZrO_{3} depositada sobre un substrato metálico de YSZ/SS.
Figura 9.- Imagen obtenida mediante MFA de la superficie de una lámina delgada de BaZrO_{3} crecida sobre un substrato de YSZ/SS.
Figura 10.- Diagrama de difracción de rayos x theta-dos theta de dos láminas tampón de BaZrO_{3} y SrTiO_{3} sobre un substrato metálico de YSZ/SS.
Figura 11.- Barrido Omega de la reflexión (200) de la lámina de SrTiO_{3} depositada sobre una lámina de BaZrO_{3}, depositada a su vez sobre un substrato metálico de YSZ/SS.
Figura 12.- Barrido Phi de la reflexión (220) de la lámina delgada de SrTiO_{3} depositada a la vez sobre una lámina de BaZrO_{3} y sobre el substrato YSZ/SS.
Figura 13.- Imagen obtenida mediante MFA de la superficie de una lámina delgada de SrTiO_{3} crecida sobre una lámina de BaZrO_{3} crecida sobre un substrato de YSZ/SS.
Figura 14.- Diagrama theta-dos theta de una lámina tampón de BaZrO_{3} depositada sobre una cinta metálica de NiO/Ni.
Figura 15.- Barrido omega de la reflexión (200) de las láminas delgadas de NiO y BaZrO_{3}.
Figura 16.- Barrido Phi de la reflexión (101) de la lámina delgada de BaZrO_{3} depositada sobre NiO/Ni.
Figura 17.- Diagrama theta-dos theta de dos láminas tampón de BaZrO_{3} y SrTiO_{3} depositadas sobre una cinta metálica de NiO/Ni.
Figura 18.- Barrido omega de la reflexión (200) de la lámina delgada de SrTiO_{3} depositada a la vez sobre una lámina de BaZrO_{3} y sobre cinta de NiO/Ni.
Figura 19.- Barrido Phi de la reflexión (101) de la lámina delgada de SrTiO_{3} depositada sobre BaZrO_{3} a su vez depositada sobre NiO/Ni.
Figura 20.- Diagrama theta-dos theta de una lámina tampón de CeO_{2} depositada sobre una cinta metálica de YSZ/SS.
Figura 21.- Barrido Omega de la reflexión (200) de la lámina de CeO_{2} depositada sobre un substrato metálico de YSZ/SS.
Figura 22.- Barrido Phi de la reflexión (111) de la lámina delgada de CeO_{2} depositada a la vez sobre el substrato YSZ/SS.
Figura 23.- Imagen obtenida mediante MFA de la superficie de una lámina delgada de CeO_{2} crecida sobre un substrato de YSZ/SS.
Figura 24.- Barrido Phi de la reflexión (103) de una lámina de YBCO depositada sobre un artículo SrTiO_{3}/BaZrO_{3}/
YSZ/SS.
Figura 25.- Dependencia con la temperatura de la resistividad de una lámina superconductora de YBCO de 400 nm de grosor crecida sobre un substrato tipo SrTiO_{3} (30 nm) BaZrO_{3} (30 nm)/YSZ(800 nm)/SS.
Figura 26.- Dependencia con la temperatura de la densidad de corriente crítica J_{c} para una lámina de YBCO (400 nm) crecida mediante precursores TFA sobre láminas delgadas SrTiO_{3} (30 nm) BaZrO_{3} (30 nm) crecidas a su vez sobre un monocristal de LaAlO_{3}. (J_{c} = 4 10^{6} A/cm^{2} a 5 K) y J_{c}\sim4 10^{5} A/cm^{2} a 77 K).
Figura 27.- Barrido Phi de la reflexión (102) de una lámina de YBCO depositada sobre un artículo CeO_{2}/YSZ/SS.
Figura 28.- Dependencia con la temperatura de la densidad de corriente crítica Jc para una lámina de YBCO (250 nm) crecida mediante precursores TFA sobre láminas delgadas CeO_{2} (30 nm)/YSZ/SS.
Ejemplos de realización de la invención
Ejemplo I
Se preparó una capa tampón de BaZrO_{3} de unos 30 nm sobre un sustrato de YSZ/SS de la manera siguiente.
Se preparó una solución precursora de BaZrO_{3} de la manera siguiente. A una temperatura de aproximadamente 40ºC se disuelven en ácido acético cantidades estequiométricas de acetato de Bario y pentadionato de Zirconio. La molaridad final de la solución precursora es 0.3 M. La solución precursora se depositó sobre un sustrato de YSZ/SS preparado como se describe en et al. (J. Dzick, S. Sievers, J. Hoffmann, K. Thiele, F. García-Moreno, A. Usoskin, C. Jooss and H.C. Freyhardt, 2000 Biaxially textured buffer layers on large-area polycrystalline substrates Fundamental Mechanisms of Low-Energy-Beam-Modified Surface Growth and Processing (MRS Proceedings, vol 585) pp 55-66) por el método de "spin coating" a una velocidad de 5000 revoluciones por minuto (rpm) durante 2 minutos y con una aceleración inicial de 3000 rpm/s. El sustrato se calentó a 60ºC/h hasta 250ºC y se mantuvo a esa temperatura durante 30 minutos. Se calentó a 200ºC/h hasta 800ºC y se mantuvo a esta temperatura durante 240 minutos. Se dejó enfriar hasta temperatura ambiente a -200ºC/h. Durante este proceso térmico el sustrato se mantuvo en una atmósfera formada por gas de composición 95%Ar/5%H_{2} a una presión de aproximadamente 1 atm. La figura 5 es un difractograma de rayos-x en la configuración theta-2theta de la capa de BaZrO_{3} depositada sobre substratos metálico YSZ/SS donde solo se aprecian picos correspondientes a reflexiones (001). La figura 6 es un barrido omega de la reflexion (200) de la capa de BaZrO_{3} que muestra la calidad de la textura fuera del plano. La figura 7 es un barrido en phi de la reflexión (101) de la lámina de BaZrO_{3} y de la reflexión (111) de la plantilla texturaza de YSZ que muestra la calidad de la textura en el plano. La Figura 8 es un diagrama de polos (101) de la capa de BaZrO_{3}. La figura 9 es una imagen de microscopio de fuerzas atómicas (MFA) de la superficie de la capa de BaZrO_{3} depositada a partir de la cual podemos concluir que ésta posee una baja rugosidad y un tamaño de grano nanométrico.
Ejemplo II
Se preparó una multicapa tampón SrTiO_{3}/BaZrO_{3} sobre un sustrato de YSZ/SS de la manera siguiente.
Se preparó una solución precursora de SrTiO_{3} de la manera siguiente. A la temperatura de 40ºC se disuelven en ácido acético una cantidad estequiométrica de acetato de Estroncio y en metanol una cantidad estequiométrica de isopropóxido de titanio. Se mezclan las dos soluciones. La molaridad final de la solución precursora de SrTiO_{3} es 0.25 M. Esta solución precursora se depositó sobre un artículo preparado como en el Ejemplo I y se sometió a un tratamiento térmico análogo al descrito en el Ejemplo I. La figura 10 es un difractograma de rayos-x en la configuración theta-2theta de las dos capas tampón SrTiO_{3}/BaZrO_{3} sobre substrato metálico YSZ/SS donde solo se aprecian picos correspondientes a reflexiones (001). La figura 11 es un barrido omega de la reflexión (200) de la capa de SrTiO_{3} que muestra la calidad de la textura fuera del plano. La figura 12 es un barrido en phi de la reflexión (101) de la lámina de SrTiO_{3}. La figura 13 es una imagen de microscopio de fuerzas atómicas (MFA) de la superficie de la capa de SrTiO_{3} depositada en la cual se aprecia que tanto la rugosidad como el tamaño de grano tienen características similares a la primera capa de BaZrO_{3} depositada.
Ejemplo III
Se preparó una capa tampón de BaZrO_{3} sobre un sustrato de NiO/Ni de la manera siguiente.
Sobre un sustrato de NiO/Ni preparado como se describe en Kursumovic et al. se depositó una solución precursora de BaZrO_{3} siguiendo el procedimiento descrito en el Ejemplo I. La figura 14 es un difractograma de rayos-x en la configuración theta-2theta de la capa de BaZrO_{3} depositada sobre una cinta metálica de NiO/Ni donde solo se aprecian picos correspondientes a reflexiones (001). La figura 15 es un barrido omega de la reflexion (200) de las láminas delgadas de BaZrO_{3} y NiO que muestra la calidad de la textura fuera del plano. La figura 16 es un barrido en phi de la reflexión (101) de la lámina de BaZrO_{3} depositada sobre NiO/Ni.
Ejemplo IV
Se preparó una multicapa tampón SrTiO_{3}/ BaZrO_{3} sobre un sustrato de NiO/Ni de la manera siguiente.
Sobre un artículo preparado como en el Ejemplo III se depositó la solución precursora de SrTiO_{3} del Ejemplo II y se sometió al tratamiento térmico descrito en el Ejemplo I. La figura 17 es un difractograma de rayos-x en la configuración theta-2theta de dos capas tampón SrTiO_{3}/BaZrO_{3} depositadas sobre una cinta metálica de NiO/Ni. La figura 18 es un barrido omega de la reflexión (200) de la capa de SrTiO_{3}. La figura 19 es un barrido en phi de la reflexión (101) de la lámina de SrTiO_{3} depositada sobre NiO/Ni. Todos los análisis muestran que la textura de la multicapa se mantiene elevada.
Ejemplo V
Se preparó una capa tampón de CeO_{2} de unos 30 nm sobre un sustrato de YSZ/SS de la manera siguiente.
Se preparó una solución precursora de CeO_{2} de la manera siguiente. A una temperatura de aproximadamente 40ºC se disuelve en ácido acético pentadionato de Cerio. La molaridad final de la solución precursora es 0.3 M. La solución precursora se depositó sobre un sustrato de YSZ/SS preparado como se describe en Dzick et al. por el método de spin coating a una velocidad de 5000 revoluciones por minuto (rpm) durante 2 minutos y con una aceleración inicial de 3000 rpm/s. El sustrato se calentó a 60ºC/h hasta 250ºC y se mantuvo a esa temperatura durante 30 minutos. Se calentó a 200ºC/h hasta 900ºC y se mantuvo a esta temperatura durante 240 minutos. Se dejó enfriar hasta temperatura ambiente a -200ºC/h. Durante este proceso térmico el sustrato se mantuvo en una atmósfera formada por oxígeno a una presión de aproximadamente 1 atm. La figura 20 es un difractograma de rayos-x en la configuración theta-2theta de la capa de CeO_{2} depositada sobre un substrato metálico YSZ/SS donde solo se aprecian picos correspondientes a reflexiones (001). La figura 21 es un barrido omega de la reflexion (200) de la capa de CeO_{2} que muestra la calidad de la textura fuera del plano. La figura 22 es un barrido en phi de la reflexión (111) de la lámina de CeO_{2} y de la reflexión (111) de la plantilla texturada de YSZ que muestra la calidad de la textura en el plano. La figura 23 es una imagen de microscopio de fuerzas atómicas (MFA) de la superficie de la capa de CeO_{2} depositada a partir de la cual podemos concluir que ésta posee una baja rugosidad y un tamaño de grano nanométrico.
Ejemplo VI
Una capa superconductora con una arquitectura basada en dos láminas tampón fue preparada de la manera siguiente.
Se prepararon dos capas tampón de SrTiO_{3} y BaZrO_{3} como en el Ejemplo II. Sobre esta capa se depositó una capa de YBa_{2}Cu_{3}O_{7} de la manera siguiente. Se preparó una solución precursora de Trifluoroacetatos de Y, Ba y Cu en proporción estequiométrica de la siguiente manera. Se disuelven acetatos de Y, Ba y Cu en una solución acuosa de ácido trifluoroactético la cual se mantiene en un reflujo a 75ºC durante unas 4 horas. Una vez secada dicha solución se disuelve en metanol hasta una concentración 1.5 M. Posteriormente la solución fue depositada por spin coating en el sustrato a una velocidad de 4000 rpm durante dos minutos con una aceleración inicial de 2000 rpm/s. La muestra se calentó desde temperatura ambiente hasta 100ºC a 600ºC/h. Se calentó hasta 190ºC a 300ºC/h, luego hasta 200ºC a 120ºC/h. La temperatura se incrementó hasta 250ºC a 3ºC/h, luego a 300ºC a 30ºC/h y finalmente hasta 410ºC a 300ºC/h. La muestra se dejó enfriar hasta alcanzar temperatura ambiente. Durante este proceso térmico la muestra se mantuvo en una atmósfera compuesta por un gas a una presión de aproximadamente 1 atm compuesto principalmente por oxígeno y con una presión de vapor de agua del 7.3%. La muestra a continuación fue calentada hasta 795ºC a 1500ºC/h y se mantuvo hasta esta temperatura durante 150 minutos en una atmósfera formada principalmente por nitrógeno (con una presión vapor de agua del 0.6% y una presión de oxígeno de 200 ppm). A continuación se mantuvo 30 minutos a 795ºC en una atmósfera formada principalmente por nitrógeno (con una presión de oxígeno de 200 ppm). La muestra se enfrió hasta 450ºC en el mismo gas. Se mantuvo durante 90 minutos a 450ºC en una atmósfera de oxígeno y finalmente se dejó enfriar a temperatura ambiente.
El resultado final de este proceso es una capa superconductora de unos centenares de nm de YBa_{2}Cu_{3}O_{7}.
La figura 24 es un barrido en phi de la reflexión (103) de la lámina de YBCO crecida sobre SrTiO_{3}/BaZrO_{3}/YSZ/SS. La Figura 25 es la dependencia con la temperatura de la resistividad de la capa superconductora de YBCO crecida sobre SrTiO_{3}/BaZrO_{3}/YSZ/SS. La Figura 26 presenta la dependencia con la temperatura de la densidad de corriente crítica de una capa superconductora YBCO crecida sobre una estructura de láminas tampón SrTiO_{3}/BaZrO_{3} crecidas a su vez sobre un monocristal de LaAlO_{3}.
Ejemplo VII
Una capa superconductora con una arquitectura basada en una lámina tampón fue preparada de la manera siguiente.
Se preparó una capa tampón de CeO_{2} como en el Ejemplo V. Sobre esta capa se depositó una capa de YBa_{2}Cu_{3}O_{7} de la manera siguiente. Se preparó una solución precursora de Trifluoroacetatos de Y, Ba y Cu en proporción estequiométrica de la siguiente manera. Se disuelven acetatos de Y, Ba y Cu en una solución acuosa de ácido trifluoroactético la cual se mantiene en un reflujo a 75ºC durante unas 4 horas. Una vez secada dicha solución se disuelve en metanol hasta una concentración 1.5 M. Posteriormente la solución fue depositada por "spin coating" en el sustrato a una velocidad de 4000 rpm durante dos minutos con una aceleración inicial de 2000 rpm/s. La muestra se calentó desde temperatura ambiente hasta 100ºC a 600ºC/h. Se calentó hasta 190ºC a 300ºC/h, luego hasta 200ºC a 120ºC/h. La temperatura se incrementó hasta 250ºC a 3ºC/h, luego a 300ºC a 30ºC/h y finalmente hasta 410ºC a 300ºC/h. La muestra se dejó enfriar hasta alcanzar temperatura ambiente. Durante este proceso térmico la muestra se mantuvo en una atmósfera compuesta por un gas a una presión de aproximadamente 1 atm compuesto principalmente por oxígeno y con una presión de vapor de agua del 7.3%. La muestra a continuación fue calentada hasta 750ºC a 1500ºC/h y se mantuvo hasta esta temperatura durante 150 minutos en una atmósfera formada principalmente por nitrógeno (con una presión vapor de agua del 0.6% y una presión de oxígeno de 200 ppm). A continuación se mantuvo 30 minutos a 750ºC en una atmósfera formada principalmente por nitrógeno (con una presión de oxígeno de 200 ppm). La muestra se enfrió hasta 450ºC en el mismo gas. Se mantuvo durante 90 minutos a 450ºC en una atmósfera de oxígeno y finalmente se dejó enfriar a temperatura ambiente.
El resultado final de este proceso es una capa superconductora de unos centenares de nm de YBa_{2}Cu_{3}O_{7}.
La figura 27 es un barrido en phi de la reflexión (102) de la lámina de YBCO crecida sobre CeO_{2}/YSZ/SS. La Figura 28 presenta la dependencia con la temperatura de la densidad de corriente crítica de una capa superconductora YBCO crecida sobre un sustrato metálico de CeO_{2}/YSZ/SS.

Claims (31)

1. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa basado en el crecimiento epitaxial sobre un substrato, consistente en un metal policristalino con textura biaxial (1) que presenta un óxido plantilla epitaxial en su superficie (2), de una lámina delgada tampón con textura epitaxial (3a), sobre la que se deposita una lámina delgada superconductora (4) de estructura TRBa_{2}Cu_{3}O_{7}, siendo TR cualquier elemento de las tierras raras (ver Figuras 1a y 1c), y caracterizado por las siguientes etapas:
a)
limpieza de la superficie del substrato,
b)
deposición de la solución química que contiene los elementos metálicos del óxido componente de la lámina tampón (3a) sobre el substrato,
c)
secado de la solución química de b),
d)
tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de la lámina tampón (3a),
e)
deposición de la solución química que contiene los elementos metálicos del óxido componente de la lámina superconductora (4) sobre la lámina tampón (3a),
f)
secado de la solución química de e), y
g)
tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de la lámina superconductora (4).
2. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 1 caracterizado porque el sustrato metálico policristalino (1) es acero.
3. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 1 caracterizado porque el sustrato metálico policristalino (1) es acero inoxidable.
4. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 1 caracterizado porque el sustrato metálico policristalino (1) es una aleación.
5. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 4 caracteriza- do porque el óxido plantilla (2) epitaxial en la superficie del sustrato metálico policristalino (1) es Zr_{2-x}Y_{x}O_{2-p} (YSZ).
6. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 6 caracterizado porque el Zr_{2-x}Y_{x}O_{2-p} (YSZ) ha sido depositado mediante las técnicas de IBAD.
7. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 6 caracterizado porque el Zr_{2-x}Y_{x}O_{2-p} (YSZ) ha sido depositado mediante las técnicas de RABiT.
8. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 1 caracterizado porque el sustrato metálico policristalino (1) es níquel y el óxido plantilla (2) epitaxial en su superficie es un óxido del propio material del que se compone el sustrato caracterizado porque es NiO.
9. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 8 caracterizado porque el NiO ha sido obtenido mediante las técnicas de RABiT.
10. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 9 caracterizado porque la lámina delgada tampón con textura epitaxial (3a) consiste en un óxido de estructura perovskita (ver Figura 1a).
11. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 10 caracterizado porque la lámina tampón (3a) depositada sobre el sustrato es de un material con la fórmula genérica MZrO_{3}, siendo M un elemento alcalino-térreo como Ba, Sr o Ca.
12. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 10 caracterizado porque sobre la lámina delgada tampón con textura epitaxial consistente en un óxido de estructura perovskita, (3a), y antes de depositar la lámina delgada superconductora de textura epitaxial (4), se deposita otra lámina delgada tampón con textura epitaxial consistente en un óxido de estructura perovskita (3b) de composición diferente a la de (3b) (ver figura 1b), y porque se siguen las siguientes etapas:
a)
limpieza de la superficie del substrato,
b)
deposición de la solución química que contiene los elementos metálicos del óxido componente de la lámina tampón (3a) sobre el substrato,
c)
secado de la solución química de b),
d)
tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de la lámina tampón (3a),
e)
deposición de la solución química que contiene los elementos metálicos del óxido componente de la lámina tampón (3b) sobre el la lámina tampón (3a),
f)
secado de la solución química de e),
g)
tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de la lámina tampón (3b),
h)
deposición de la solución química que contiene los elementos metálicos del óxido componente de la lámina superconductora (4) sobre la lámina tampón (3a),
i)
secado de la solución química de h), y
j)
tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de la lámina superconductora (4).
13. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 12 caracterizado porque la lámina tampón (3b) depositada sobre la primera lámina tampón (3a) es de un material con la fórmula molecular M'M''O_{3} o LaM''O_{3}, siendo M'Ba, Sr, Ca, y siendo M''Ti o Mn.
14. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 9 caracterizado porque la lámina delgada tampón con textura epitaxial (3a) consiste en un óxido de estructura fluorita (ver Figura 1c).
15. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 14 caracterizado porque óxido de estructura fluorita es CeO_{2}.
16. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 15 caracterizado porque la limpieza del sustrato de la etapa a) se lleva a cabo sumergiéndolo dentro de una solución limpiadora de isopropanol y sometiéndolo a un baño de ultrasonidos durante un tiempo que puede extenderse hasta 60 minutos.
17. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 1 a 16 caracterizado porque las soluciones químicas se preparan mediante las metodologías sol-gel o descomposición metal-orgánica, siendo los precursores para la preparación de estas soluciones:
a)
Carboxilatos, para la introducción de los iones alcalino-térreos M, M', M'' y Lantano,
b)
pentadionatos, para la formación de Zr (IV) y Ce (IV), y
c)
alcóxidos, para la formación de Ti (IV), y
d)
propionatos, entre los que se incluyen los de Mn, La, Sr, Ba y Ca,
y siendo los disolventes ácido acético, metanol o ácido propiónico.
18. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según la reivindicación 17 caracterizado porque los carboxilatos de a) son acetatos.
19. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 17 caracterizado porque los carboxilatos de a) son hexanoatos.
20. Procedimiento de obtención de material superconductor multicapa según las reivindicaciones 17 a 19 caracterizado porque los pentadionatos de b) son acetilacetonas.
21. Procedimiento de obtención de material multicapa según las reivindicaciones 29 a 32 caracterizado porque los alcóxidos de c) son isopropóxidos.
22. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 21 caracterizado porque:
a)
la solución que proporciona la lámina tampón de estructura MZrO_{3} se obtiene a partir de la mezcla de los precursores 17a) y 17b) en ácido acético glacial,
b)
la solución que proporciona la lámina tampón de estructura M''TiO_{3} se obtiene a partir de la mezcla de los precursores 17a) y 17c) en ácido acético o metanol,
c)
la solución que proporciona la lámina tampón de estructura La_{1-x}M'_{x}MnO_{3} (M'=Ba, Sr, o Ca) se obtiene a partir de los precursores 17d) en metanol o ácido propiónico, y
d)
la solución que proporciona la de la lámina tampón CeO_{2} se obtiene a partir de los precursores 17b) en ácido acético
23. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 22 caracterizado porque las soluciones químicas tienen una concentración comprendida entre 0.05 M y 0.8 M, dependiendo del espesor de lámina deseado.
24. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 23 caracterizado porque la deposición de las soluciones químicas se realiza mediante las técnicas de "spin coating" ó "dip coating".
25. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 24 caracterizado porque el proceso de secado de las soluciones químicas se lleva a cabo a temperaturas comprendidas entre 20ºC y 150ºC, en aire o atmósfera inerte y durante 5 a 20 minutos.
26. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 25 caracterizado porque el tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de las láminas tampón se lleva a cabo en un horno y bajo una atmósfera controlada de carácter reductor, y porque comprende las siguientes fases:
a)
un calentamiento en varias etapas hasta alcanzar una temperatura máxima que puede variarse en un amplio rango que oscila entre 500 y 1000ºC con rampas de subida con valores comprendidos entre 60ºC/h y 200ºC/h y permaneciendo a esa temperatura máxima un tiempo aproximado de 4 horas, y
b)
un enfriamiento rápido hasta temperatura ambiente a una velocidad de aproximadamente -200ºC/h.
27. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según la reivindicación 26 caracterizado porque la atmósfera controlada de carácter reductor es una mezcla generada al combinar un 5% en volumen de hidrógeno con un gas inerte como argón o nitrógeno.
28. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 17 a 25 caracterizado porque el tratamiento térmico para la cristalización del óxido componente de las láminas tampón se lleva a cabo en un horno y bajo una atmósfera controlada de carácter oxidante al utilizar oxígeno, y porque comprende las siguientes fases:
a)
un calentamiento en varias etapas hasta alcanzar una temperatura máxima que puede variarse en un amplio rango que oscila entre 500 y 1000ºC con rampas de subida con valores comprendidos entre 60ºC/h y 200ºC/h y permaneciendo a esa temperatura máxima un tiempo aproximado de 4 horas, y
b)
un enfriamiento rápido hasta temperatura ambiente a una velocidad de aproximadamente -200ºC/h.
29. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según la reivindicación 28 caracterizado porque la atmósfera controlada de carácter oxidante es de oxígeno.
30. Procedimiento de obtención de material multicapa superconductor según las reivindicaciones 1 a 29 caracterizado por el uso de soluciones químicas tipo Trifluoroacetato de Cu, Y y Ba para el depósito de la lámina superconductora y un tratamiento térmico para la cristalización que se lleva a cabo en un horno en atmósfera controlada y que comprende las siguientes fases:
a)
una primera etapa de calentamiento bajo una atmósfera húmeda de oxígeno (presión de vapor de agua entre 5% y 10%) hasta una temperatura próxima a los 400ºC siguiendo unas rampas comprendidas entre 3ºC/h y 30ºC/h,
b)
una segunda etapa de calentamiento bajo una atmósfera formada principalmente por nitrógeno (con una presión vapor de agua entre 0.6% y 10% y una presión de oxígeno entre 100 ppm y 1000 ppm) hasta una temperatura comprendida entre 750ºC y 820ºC y permaneciendo en esta temperatura aproximadamente unos 90 minutos, y
c)
una tercera etapa de calentamiento a una temperatura comprendida entre 500ºC y 300ºC en una atmósfera de oxígeno durante un tiempo inferior a unas 6 horas seguida finalmente por un proceso de enfriamiento hasta temperatura ambiente.
31. Material multicapa superconductor caracterizado porque para su fabricación se siguió el procedimiento descrito en las reivindicaciones 1 a 30.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2627130C1 (ru) * 2016-10-11 2017-08-03 Акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности АО "Гиредмет" Способ получения многослойного высокотемпературного сверхпроводящего материала

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6077344A (en) * 1997-09-02 2000-06-20 Lockheed Martin Energy Research Corporation Sol-gel deposition of buffer layers on biaxially textured metal substances
US6399154B1 (en) * 1997-09-02 2002-06-04 Ut-Battelle, Llc Laminate article
US20020076567A1 (en) * 2000-10-31 2002-06-20 Tetsuji Honjo Tape-formed oxide superconductor
US20030143438A1 (en) * 1999-09-27 2003-07-31 David P. Norton Buffer architecture for biaxially textured structures and method of fabricating same
US6663976B2 (en) * 1997-09-02 2003-12-16 Ut-Battelle, Llc Laminate articles on biaxially textured metal substrates

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6077344A (en) * 1997-09-02 2000-06-20 Lockheed Martin Energy Research Corporation Sol-gel deposition of buffer layers on biaxially textured metal substances
US6399154B1 (en) * 1997-09-02 2002-06-04 Ut-Battelle, Llc Laminate article
US6663976B2 (en) * 1997-09-02 2003-12-16 Ut-Battelle, Llc Laminate articles on biaxially textured metal substrates
US20030143438A1 (en) * 1999-09-27 2003-07-31 David P. Norton Buffer architecture for biaxially textured structures and method of fabricating same
US20020076567A1 (en) * 2000-10-31 2002-06-20 Tetsuji Honjo Tape-formed oxide superconductor

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