EP4038397B1 - Appareil de mesure et procédé de correction des mesures en provenant - Google Patents

Appareil de mesure et procédé de correction des mesures en provenant

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EP4038397B1
EP4038397B1 EP19947873.6A EP19947873A EP4038397B1 EP 4038397 B1 EP4038397 B1 EP 4038397B1 EP 19947873 A EP19947873 A EP 19947873A EP 4038397 B1 EP4038397 B1 EP 4038397B1
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EP
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calibration
measurement
function
tabulation
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Samir KAJI
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Selec Controls Private Ltd
Original Assignee
Selec Controls Private Ltd
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass

Definitions

  • the present invention relates to measurement, particularly the measurement of analog parameters, and more particularly to a measurement apparatus and method therefor.
  • Measurement of parameters is a known important step in any activity sensitive to quality of output. Use of an effectbased transducer is known for safe and effective measurement.
  • Example - We measure temperature by measuring expansion of mercury or any other suitable liquid.
  • a conventional current transformer which senses primary current by its magnetic effect and then reproduces a secondary current has some error introduced at each stage including but not limited to wire manufacture, winding of wire, placement of wire on a core, generation of magnetic field and then secondary current, and so on.

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Claims (12)

  1. Appareil de mesure 400 comprenant un capteur de mesure 100 et un dispositif de calcul 300, chacun ayant des moyens d'alimentation électrique respectifs proportionnés 250 et 350, l'appareil de mesure 400 ayant une connexion électrique pour l'alimentation et la commande ainsi que la communication de données avec le dispositif de calcul 300, caractérisé en ce que ;
    le capteur de mesure 100 comprend un moyen de mesure 110, une mémoire protégée en lecture-écriture-effacement 130 ayant une pluralité de tabulations d'étalonnage comportant une pluralité de tabulations d'étalonnage primaires 150 et une pluralité de tabulations d'étalonnage secondaires 170 et une pluralité de tabulations d'étalonnage dégénératives 210, ainsi qu'une adresse d'application 230 ; et
    le dispositif de calcul 300 comprend un - récepteur de données 310, un calculateur de correction 370, une unité d'entrée-sortie 390 comportant un configurateur 305 ;
    dans lequel,
    la tabulation d'étalonnage 150, 170 et 210 est pré-générée dans une condition commandée et indépendante du dispositif de calcul 300 avec lequel le moyen de mesure 110 doit ensuite être apparié ;
    le moyen de mesure 110 comporte un ou plusieurs moyens de mesure primaires et un ou plusieurs moyens de mesure secondaires ;
    la tabulation d'étalonnage primaire 150 est un ensemble de données discrètes donnant une valeur réelle 410 d'une fonction primaire et en conséquence une valeur mesurée de la fonction primaire du capteur ;
    la tabulation d'étalonnage secondaire 170 est un ensemble de données discrètes donnant une valeur réelle d'une fonction de support et en conséquence une valeur mesurée de la fonction secondaire du capteur ;
    la tabulation d'étalonnage dégénérative 210 est un ensemble de données discrètes donnant une valeur d'une fonction dégénérative et en conséquence une valeur prédite de la fonction primaire du capteur, la fonction dégénérative est une mesure du temps et/ou de l'utilisation du capteur de mesure de courant qui nécessite un réétalonnage du capteur de mesure de courant, la valeur prédictive de la fonction primaire est basée sur un algorithme, des statistiques ou des connaissances ;
    le récepteur de données 310 reçoit une adresse d'application 230 qui est un détail permanent du capteur de mesure 100, une valeur de mesure 330 et des données d'étalonnage sélectionnées 340 du capteur de mesure 100 ;
    le configurateur 305 est configurable pour configurer les noms et les unités de mesure de fonctions primaires, les noms et les unités de mesure de fonctions secondaires, les noms et les unités de mesure de fonctions dégénératives, et pour l'expression algébrique et l'expression booléenne de données relatives à chaque fonction.
  2. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel le capteur de mesure 100 est un capteur de mesure de courant électrique.
  3. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel la tabulation d'étalonnage primaire 150 est un ensemble de valeurs de courant réel discrètes 155, une valeur de courant mesuré correspondante 157 et une valeur d'erreur d'angle de phase mesurée correspondante 159.
  4. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel la tabulation d'étalonnage primaire 170 est un ensemble de valeurs de fréquence discrètes 175, une valeur d'écart de courant mesuré correspondante 177 et une valeur d'écart d'erreur d'angle de phase de mesure correspondante 179.
  5. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel la tabulation d'étalonnage secondaire 170 est un ensemble de valeurs de température opérationnelle discrètes 195, une valeur d'écart de courant mesuré correspondante 197 et une valeur d'écart d'erreur d'angle de phase de mesure correspondante 199.
  6. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel le moyen de mesure primaire est un enroulement primaire et un enroulement secondaire enroulés sur un noyau ferromagnétique, tandis que le moyen secondaire est l'un ou l'ensemble d'une mesure de fréquence, d'une mesure de température, d'une mesure d'humidité, d'une mesure de vibration.
  7. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel la tabulation d'étalonnage dégénérative 210 est un ensemble de périodes de temps 215 en mois ou en années conformément aux directives de l'industrie, et une valeur d'écart de courant prédite correspondante 217 et une valeur d'écart d'erreur d'angle de phase prédite correspondante 219.
  8. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel l'adresse d'application 230 du capteur de mesure 100 est un ensemble de détails permanents de niveau un et de niveau deux du capteur de mesure 100.
  9. Appareil de mesure 400 selon la revendication 1, dans lequel la connexion électrique est une connexion câblée ou une connexion radio ou une combinaison de celles-ci.
  10. Procédé de mesure d'une valeur corrigée d'une ou de plusieurs fonctions primaires par un appareil de mesure 400 comprenant un capteur de mesure 100 et un dispositif de calcul 300, le procédé comprenant les étapes suivantes :
    i. Appariement du dispositif de calcul 300 avec le capteur de mesure 100 en configurant une adresse d'application 230 et une ou plusieurs fonctions primaires, et une ou plusieurs fonctions secondaires et une ou plusieurs fonctions dégénératives ;
    ii. Recherche et réception par le dispositif de calcul 300 d'une valeur mesurée YMP502 de la fonction primaire ;
    iii. Recherche et réception par le dispositif de calcul 300 d'une valeur réelle inférieure suivante et d'une valeur virtuelle correspondante (XLP, YLS) 510, et d'une valeur réelle supérieure suivante et d'une valeur virtuelle supérieure correspondante (XHp, YHP) 520 à partir de la tabulation d'étalonnage primaire 150 ;
    iv. Calcul par le dispositif de calcul 300 d'un contour linéaire ou non linéaire d'un segment d'étalonnage 550 ;
    v. Calcul par le dispositif de calcul 300 d'une valeur réelle XMp 501 ;
    vi. Recherche et réception par le dispositif de calcul 300 d'une valeur mesurée YMS 504 d'une fonction secondaire ;
    vii. Recherche et réception par le dispositif de calcul 300 d'une valeur réelle inférieure suivante et d'une valeur virtuelle correspondante (XLs, YLS) 511, et d'une valeur réelle supérieure suivante et d'une valeur virtuelle supérieure correspondante (XHS, YHS) 521 à partir de la tabulation d'étalonnage secondaire 170 ;
    viii. Calcul par le dispositif de calcul 300 d'un contour linéaire ou non linéaire d'un segment d'étalonnage 551 ;
    ix. Calcul par le dispositif de calcul 300 d'une valeur réelle XMS 503 ;
    x. Détermination par le dispositif de calcul 300 d'une fonction dégénérative en référence à un vieillissement en temps réel ;
    xi. Sélection par le dispositif informatique 300 d'une valeur d'écart prédite de la fonction primaire ;
    xii. Calcul par le dispositif de calcul 300 d'une valeur corrigée de la fonction primaire en prenant en calcul toutes les valeurs réelles de la fonction primaire, de la fonction secondaire et de la fonction dégénérative.
  11. Procédé selon la revendication 10, dans lequel le dispositif de calcul 300 considère une valeur par défaut lors de la recherche et de la non-réception d'une valeur virtuelle 420.
  12. Procédé selon la revendication 10, dans lequel le capteur de mesure 100 est n'importe quel capteur de mesure 100 avec une adresse d'application compatible 230.
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