Bezeichnung der Erfindung
Sensorvorrichtung zur Überwachung eines Schmierstoffzustands sowie
Verfahren zur Fertigung der Sensorvorrichtung
Beschreibung
Gebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Sensorvorrichtung zur Überwachung eines Schmierstoffzustands in einem Schmierstoffraum mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1 . Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Fertigung der Sensorvorrichtung.
Wälzlager umfassen eine Mehrzahl von Wälzkörpern, welche im Betrieb auf Laufbahnen abwälzen. Um die Reibung beim Abwälzen zu verkleinern ist es üblich, Wälzlager mit einem Schmierstoff zu versorgen. Allerdings kann der Schmierstoff im Betrieb durch Dauerbelastung, Alterung oder thermische Einflüsse in der Qualität schlechter werden oder durch Spalten etc. verloren gehen. Eine Folge des verschlechterten Schmierstoffs oder der verringerten Schmierstoffmenge ist, dass sich die Reibung in dem Wälzlager erhöht und dadurch u.a. die Lebensdauer des Wälzlagers erniedrigt wird. In der Druckschrift WO 2009/030202 A1 wird eine Messvorrichtung und ein Verfahren zur Analyse des Schmiermittels eines Wälzlagers vorgestellt. Die Messvorrichtung umfasst eine Mehrzahl von Sendedioden, welche ein Licht im nahen infraroten Bereich auf eine Messstelle hinter einem Messfenster
senden, welches in Kontakt mit dem Schmierstoff ist. Ferner umfasst die Messvorrichtung eine Empfangseinrichtung, welche das zurückgeworfene Licht der Senderdioden aufnimmt. Da bestimmte Wellenlängenbereiche aussagekräftig für Qualitätszustände des Schmierstoffs sind, kann durch Auswertung eines Spektrums des von der Messstelle zurückgeworfenen Lichts eine Aussage über die Qualität und/oder Menge des Schmierstoffs in dem Wälzlager getroffen werden.
Die Druckschrift DE 10 2010 015 084 A1 , die wohl den nächstkommenden Stand der Technik bildet, betrifft ein Sensorteil für einen Infrarotsensor sowie ein Verfahren zu dessen Herstellung. Das Sensorteil dient z.B. für den Einsatz in der Messvorrichtung der vorgenannten Druckschrift. Das Sensorteil umfasst eine konturierte Platine, wobei die Senderdioden auf einem runden Platinenabschnitt angeordnet sind. Die Senderdioden sind als so genannte DIEs ausgebildet. Das Sensorteil wird in einer Hülle aufgenommen, die mit einem für IR-Strahlung und somit für die Messstrahlung, durchlässigen Gel auf Silikonbasis gefüllt ist, sodass sich zum einen die gegenseitige Lage der Senderdioden und der Empfangseinrichtung nicht mehr ändert, zum zweiten Sauerstoff und Wasserdampf verdrängt werden und zum Dritten der optische Übergang zwischen den als DIEs ausgebildeten Senderdioden zur Umgebung verbessert wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Sensorvorrichtung vorzuschlagen, welche bei vorteilhafter Fertigung funktionssicher betrieben werden kann. Der Erfindung liegt auch die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Fertigung der Sensorvorrichtung zu offenbaren. Diese und weitere Aufgaben werden durch eine Sensorvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 13 gelöst. Bevorzugte oder vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen, der nachfolgenden Beschreibung sowie den beigefügten Figuren.
Im Rahmen der Erfindung wird eine Sensorvorrichtung vorgeschlagen, welche zur Überwachung eines Schmierstoffzustands in einem Schmierstoffraum geeignet und/oder ausgebildet ist. Insbesondere ist die Sensorvorrichtung ausgebildet, Zustandsänderungen des Schmierstoffs, insbesondere des Schmierfetts zu erkennen. Durch die Sensorvorrichtung können insbesondere Wassergehalt, Trübung, thermischer und/oder mechanischer Verschleiß und/oder Temperatur des Schmierstoffs überwacht werden. Insbesondere wird das Spektrum im NIR (nahen infraroten Bereich) und/oder des MIR (mittlerer infraroter Bereich) als Messstrahlung zur Überwachung herangezogen. Ein mögliches Messverfahren ist in der eingangs genannten Druckschrift WO 2009/030202 A1 beschrieben, deren Offenbarung hinsichtlich des Messverfahrens via Referenzierung in die vorliegende Schrift einbezogen wird.
Die Sensorvorrichtung umfasst eine Senderplattform, wobei auf der Senderplattform eine Mehrzahl von Diodeneinrichtungen als Sendeeinrichtungen für eine Messstrahlung angeordnet ist. Die Senderplattform ist insbesondere als ein Abschnitt einer Leiterplatte ausgebildet. Die Diodeneinrichtungen sind ausgebildet, Messstrahlung in dem NIR- und/oder MIR-Bereich auszusenden. Besonders bevorzugt sind mindestens zwei unterschiedliche Diodeneinrichtungen als Sendeeinrichtungen vorgesehen, wobei sich die unterschiedlichen Diodeneinrichtungen durch das Spektrum der ausgestrahlten Messstrahlung unterscheiden. Die Senderplattform ist in einem Messraum der Sensorvorrichtung angeordnet.
Die Sensorvorrichtung umfasst ferner eine Messfenstereinrichtung, welche einen Übergang von dem Messraum in den Schmierstoffraum bildet. Die Messfenstereinrichtung kann beispielsweise als eine Glasscheibe, insbesondere als eine Saphirglasscheibe ausgebildet sein. Im Betrieb ist es besonders bevorzugt, dass die Messfenstereinrichtung unmittelbaren
und/oder körperlichen Kontakt mit dem Schmierstoff in dem Schmierstoffraum hat.
Ferner weist die Sensorvorrichtung mindestens eine Empfängereinrichtung, z.B. eine Empfangsdiode, auf, welche ebenfalls in dem Messraum angeordnet und zum Empfang von Messstrahlung ausgebildet ist, die von der Messfenstereinrichtung zurückgeworfen wurde. Im Betrieb werden von den Sendeeinrichtungen die Messstrahlung in Richtung der Messfenstereinrichtung ausgestrahlt. Dort wird die Messstrahlung gestreut und/oder reflektiert, wobei das Spektrum und/oder die Intensität der Messstrahlung durch den Einfluss des an der Messfenstereinrichtung angrenzenden Schmierstoffs in Abhängigkeit des Zustands des Schmierstoffs geändert wird. Durch Überwachung der Änderung des Spektrums und/oder der Intensität der Messstrahlung kann auf den Zustand des Schmierstoffs zurückgeschlossen werden. Beispielsweise kann durch ein Verhältnis der zurückgeworfenen Messstrahlung der Sendeeinrichtungen mit dem ersten Spektrum und der zurückgeworfenen Messstrahlung der Sendeeinrichtungen mit dem zweiten Spektrum auf den Zustand des Schmierstoffs zurückgeschlossen werden.
Mindestens eine der Diodeneinrichtungen, vorzugsweise einige und insbesondere alle Diodeneinrichtungen, welche als Sendeeinrichtungen ausgebildet sind, umfassen - gegebenenfalls jeweils - ein so genanntes DIE. Der DIE ist in der Halbleitertechnik die Bezeichnung eines einzelnen, ungehäusten Halbleiterchips. Er kann auch als "Nacktchip" bezeichnet werden. Er wird üblicherweise durch Sägen oder Brechen des fertig bearbeiteten Wafers in rechteckige Teile gewonnen (dicing), auf denen sich je ein vollständiges, funktionsfähiges Bauteil befindet. Dice bedeutet im englischen Sprachgebrauch "Würfel", da die Wafer jedoch sehr dünn sind, sehen die DIEs allerdings nicht würfelförmig aus sondern entsprechen in ihrer Form bevorzugt flachen Quadern. Insbesondere sind die Diodeneinrichtungen als "Bare Chip" oder "Bare die" ausgebildet. Im
Speziellen ist die mindestens eine Diodeneinrichtung gehäusefrei realisiert.
Im Rahmen der Erfindung wird vorgeschlagen, dass die Sensorvorrichtung mindestens einen Dom aufweist, wobei der Dom auf der mindestens einen Diodeneinrichtung aufgesetzt ist und wobei der Dom und der DIE über eine Kontaktfläche verbunden sind. Die Kontaktfläche ist auf einer Oberseite des DIEs angeordnet, wobei auf der gleichen Oberseite ein lichtemittierender Diodenbereich der Diodeneinrichtung angeordnet ist. Insbesondere ist der Dom ausschließlich über die Kontaktfläche auf der Oberfläche des DIEs mit dem DIE verbunden.
Der Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, dass durch den in Breitenerstreckung sehr schmal bauenden Dom eine sehr hohe Packungsdichte bzw. eine sehr große Beabstandung der Diodeneinrichtungen untereinander erreicht werden kann. Dieser Zwischenraum zwischen den Diodeneinrichtungen ist notwendig, da dieser von Werkzeugen zur Drahtbondkontaktierung und somit für die Drahtbondwerkzeuge benötigt wird Ferner hat die Anbindung des Doms den Vorteil, dass ein Wärmeabtransport von der Diodeneinrichtung in seitlicher Richtung zu der Diodeneinrichtung durch den Dom nicht behindert wird. Der Dom übernimmt die Funktion der Anpassung der Brechzahlindizes von der Diodeneinrichtung zu der Umgebung. Somit kann auf die Fluidfüllung der Sensorvorrichtung für diese Funktion verzichtet werden. Insbesondere ist die Sensorvorrichtung im Messraum mit einer Luftatmosphäre versehen. Auf diese Weise ist die Sensorvorrichtung - im Vergleich zum Stand der Technik - altersbeständiger und dadurch zuverlässiger. Außerdem werden thermische Probleme bei der Erwärmung des Fluids ausgeschlossen, sodass die Funktionsfähigkeit der Sensorvorrichtung verbessert wird. Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung ist der Dom als ein liegender Tropfen und/oder in einer Halbkugelform mit einer abgeflachten Bodenfläche ausgebildet, wobei die Bodenfläche des Doms die
Kontaktfläche zu dem DIE bildet. Durch diese Gestaltung kann zum einen der Dom in Urform, insbesondere flüssig, aufgetragen werden, wobei sich die Form des Doms durch die Oberflächenspannung selbst ausbildet, sodass keine weiteren formgebenden Maßnahmen für den Dom notwendig sind. Zum anderen bildet der Dom in dieser Ausgestaltung eine Sammellinse, sodass die Messstrahlung in Richtung der Messfenstereinrichtung fokussiert und/oder gebündelt wird.
Bei einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist der DIE ein Substrat mit Seitenflächen auf oder ist als dieses ausgebildet, wobei zwischen den Seitenflächen und der Oberseite Außenkanten ausgebildet sind und wobei die Kontaktfläche auf die Oberseite des DI Es und damit des Substrats begrenzt und von den Seitenflächen abgegrenzt ist. Insbesondere bilden die Außenkanten zwischen der Oberseite und den Seitenflächen bei der Fertigung des Doms durch Aufbringen in flüssiger Form als Verguss Fließsperren für den Verguss. Durch die Begrenzung des Doms durch die Außenkanten der Oberseite wird die Kontaktfläche als ebene Grundfläche des Doms verkleinert oder begrenzt und durch die Oberflächenspannung der Vergussmasse ein Dom mit kleinem Krümmungsradius und somit mit großer optischer Brechzahl gebildet. In dieser Ausgestaltung wird neben dem geringen Bauraumbedarf der Diodeneinrichtung die optische Dämpfung der Messstrahlung beim Durchgang durch den Dom gering gehalten.
In einer bevorzugten konstruktiven Ausgestaltung ist die Senderplattform als eine Leiterplatte (Platine) ausgebildet, wobei der DIE auf der Leiterplatte z.B. über Kleben fixiert ist und über Drahtbonden mit Drähten mit der Leiterplatte elektrisch verbunden ist. Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung sind die Anschlussbereiche von mindestens einem Draht für das Drahtbonden auf der Kontaktfläche angeordnet, sodass der Dom neben der optischen Wirkung eine Fixierung des Drahts umsetzt, sodass die Funktionssicherheit erhöht ist. Diese konstruktive Ausgestaltung reflektiert auch eine bevorzugte Ausgestaltung das Verfahren zur Fertigung der
Sensorvorrichtung, wobei zunächst der DIE auf der Leiterplatte befestigt wird, dann über Drahtbonden mit der Leiterplatte verbunden wird und nach dem Drahtbonden der Dom aufgesetzt wird. In einer bevorzugten konstruktiven Ausgestaltung weist die Sensorvorrichtung einen insbesondere zylinderförmigen Gehäuseabschnitt auf, wobei der Messraum mit den Sendereinrichtungen und der mindestens einen Empfängereinrichtung in dem Messraum angeordnet ist. Der Messraum ist als ein Innenraum des Gehäuseabschnitts ausgebildet. Die Messfenstereinrichtung schließt den Gehäuseabschnitt an einem freien Ende ab.
Bei einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist die Sensorvorrichtung ein Einsteckgehäuse, insbesondere ein stiftartiges Einsteckgehäuse auf, wobei das Einsteckgehäuse den Gehäuseabschnitt umfasst. Insbesondere bildet der Gehäuseabschnitt einen Teil des Einsteckgehäuses. Optional ergänzend kann die Senderplattform mit den Sendereinrichtungen und/oder der mindestens einen Empfängereinrichtung in einer Kapsel oder in einem Stativaufbau in dem Gehäuseabschnitt untergebracht sein, um die mechanische Positionierung der Sende- und Empfangseinrichtungen zueinander fixieren zu können. Das Einsteckgehäuse hat vorzugsweise einen maximalen Durchmesser von weniger als 10 mm und insbesondere weniger als 6 mm. Konsequenterweise ist auch die Senderplattform im maximalen Durchmesser kleiner als 10 mm, insbesondere kleiner als 6 mm ausgebildet. Diese Weiterbildung unterstreicht nochmals den Bedarf, dass die Sendeeinrichtungen sehr klein ausgeführt sein müssen, damit diese in die Sensorvorrichtung integriert werden können. Es ist bevorzugt, dass auf der Senderplattform mindestens zwei, vorzugsweise mindestens oder genau vier oder sechs Diodeneinrichtungen angeordnet sind. Vorzugsweise sind die Diodeneinrichtungen in zwei
Gruppen von Diodeneinrichtungen einzuteilen, welche sich hinsichtlich des Spektrums der emittierten Messstrahlung unterscheiden. Im Betrieb ist es möglich, dass die beiden Gruppen der Diodeneinrichtungen abwechselnd voneinander betrieben werden, sodass die mindestens eine Empfängereinrichtung das modifizierte Spektrum der ersten Messstrahlung und nachfolgend das modifizierte Spektrum der zweiten Messstrahlung als zurückgeworfene Messstrahlung von der Messfenstereinrichtung erhält. Vorzugsweise weist jede der Gruppen drei Diodeneinrichtungen auf, sodass die Messfenstereinrichtung gleichmäßig oder homogen ausgeleuchtet werden kann.
Bei einer bevorzugten konstruktiven Realisierung der Erfindung ist auf der Senderplattform die oder eine weitere Empfängereinrichtung angeordnet. Die weitere Empfängereinrichtung kann als eine Referenzempfängereinrichtung ausgebildet sein, um Effekte, die auf Alterung oder Verschmutzung der Diodeneinrichtung beruhen, bei der Messauswertung herausrechnen zu können. Durch die Integration der oder der weiteren Empfängereinrichtung auf der Senderplattform wird der Platz auf der Senderplattform weiter verringert, sodass sich der Bedarf an Miniaturdiodeneinrichtungen verstärkt.
Besonders bevorzugt bildet die Senderplattform einen Teilbereich einer flexiblen Leiterplatte (Flexplatine), wobei die flexible Leiterplatte zudem eine Empfängerplattform aufweist, welche im montierten Zustand in Richtung der optischen Achse der Sensorvorrichtung parallel versetzt zur Senderplattform angeordnet ist. Die Verbindung zwischen Senderplattform und Empfängerplattform ist durch weitere Teilbereiche der flexiblen Leiterplatte gegeben. Auf diese Weise kann aus einer flexiblen Leiterplatte ein Sensorteil für die Sensorvorrichtung hergestellt werden, welches sowohl die Sendeeinrichtungen als auch die Empfängereinrichtungen trägt.
Ein weiterer Gegenstand der Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fertigung
der Sensoreinrichtung, wie diese zuvor beschrieben wurde bzw. nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei in einem ersten Schritt der DIE oder die DIEs der mindestens einen Diodeneinrichtung auf die Senderplattform aufgesetzt und mit der Senderplattform verbunden wird und wobei in einem nachfolgenden Schritt der Dom auf das DIE aufgesetzt wird. Insbesondere wird der Dom als Vergussmasse auf den DIE aufgebracht. Bei der Vergussmasse und somit bei dem Material des Doms handelt es sich beispielsweise um einen Kunststoff, insbesondere einen UV-härtenden Kunststoff. Alternativ hierzu kann auch ein Harz zum Einsatz kommen.
Durch das nachträgliche Aufbringen des Doms in Form eines flüssigen Materials wird erreicht, dass der Platzbedarf für die Diodeneinrichtungen bei der Montage minimiert ist, da der Dom erst zu einem späteren Zeitpunkt aufgesetzt wird. Vorzugsweise wird zwischen dem Aufsetzen, insbesondere Fixieren der Diodeneinrichtung auf die Senderplattform und dem Aufbringen des Doms die Diodeneinrichtung mittels Drahtbonden mit der als Leiterplatte ausgebildeten Senderplattform elektrisch kontaktiert. Bei dem Drahtbonden handelt es sich insbesondere um ein Thermokompressionsbonden (TC- Bonden), ein Thermosonic-Ball-Wedge-Bonden (TS-Bonden) oder Ultraschall-Wedge-Wedge-Bonden (US-Bonden). Bei dem Drahtbonden wird mindestens ein Draht einerseits an eine Diodenkontaktstelle der Diodeneinrichtung und andererseits an eine Senderkontaktstelle der Senderplattform, insbesondere der Leiterplatte gebondet. Die Diodenkontaktstelle ist besonders bevorzugt durch den Dom abgedeckt bzw. durch die Vergussmasse vergossen. Vorzugsweise weist der Draht zum Bonden einen Durchmesser kleiner als 50 μιτι auf.
Weitere Merkmale, Vorteile und Wirkungen der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung sowie der beigefügten Figuren. Dabei zeigen:
Figur 1 eine schematische dreidimensionale Darstellung einer
Sensorvorrichtung als ein Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Figur 2 eine schematische Darstellung des Messprinzips der Sensorvorrichtung in der Figur 1 ;
Figur 3 eine schematische dreidimensionale Darstellung eines Sensorteils der Sensorvorrichtung in den vorhergehenden Figuren;
Figur 4 eine schematische seitliche Draufsicht einer Diodeneinrichtung der Sensorvorrichtung der vorhergehenden Figuren.
Die Figur 1 zeigt in einer schematischen dreidimensionalen Darstellung eine Sensorvorrichtung 1 zur Überwachung eines Schmierstoffzustands in einem Schmierstoffraum als ein Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Die Sensorvorrichtung 1 umfasst ein Einsteckgehäuse 2, welches an einem Ende zur Übertragung von Signalen und zur Spannungsversorgung mit einem Kabel 3 versehen ist. Das Einsteckgehäuse 2 weist beispielsweise einen Außendurchmesser von 5 mm und eine Länge von 40 mm auf, so dass die Sensorvorrichtung als ein Miniatursensor realisiert ist. Das Einsteckgehäuse 2 wird mit seinem freien Ende in einen Schmierstoffraum eingeführt, sodass das freie Ende körperlichen Kontakt mit dem Schmierstoff in dem Schmierstoffraum hat. Beispielsweise kann das Einsteckgehäuse 2 zur Überwachung von Schmierfett in einem Wälzlager, z.B. einem Großwälzlager, eingesetzt werden, wobei das Einsteckgehäuse 2 durch eine Öffnung in dem Wälzlager mit seinem freien Ende in oder an dem Wälzkörperraum mit dem Schmierfett positioniert wird.
Die Ausführung als Miniatursensor hat den Vorteil, dass die Sensorvorrichtung 1 ohne großen konstruktiven Aufwand nahezu an beliebigen Positionen einer Schmierstoff enthaltenden Vorrichtung angeordnet werden kann.
Das freie Ende der Sensorvorrichtung 1 bildet einen Gehäuseabschnitt 4, welcher stirnseitig mit einer Messfenstereinrichtung 5 abgeschlossen ist. In dem Gehäuseabschnitt 4 ist eine Messkapsel aufgebaut aus Einzelringen 6 a, b, c , die Distanz- und Stabilisierungsringe bilden, benachbart zu der Messfenstereinrichtung 5 angeordnet. In dem Einsteckgehäuse 2 schließt sich dann eine Auswerteeinrichtung 7 an, welche die lokale Spannungsversorgung und die Verarbeitung oder Vorverarbeitung von Signalen in der Sensorvorrichtung 1 übernimmt.
In der Figur 2 ist eine schematische Darstellung der Sensorvorrichtung 1 im Bereich des Gehäuseabschnitts 4 gezeigt, um das Messverfahren zu beschreiben. In dem Gehäuseabschnitt 4 ist eine Leiterplatte 8 angeordnet, welche eine Senderplattform 9 sowie eine Empfängerplattform 10 umfasst. Die Senderplattform 9 und die Empfängerplattform 10 sind senkrecht zur Längserstreckung des Einsteckgehäuses 2 ausgerichtet. Wie sich aus der nachfolgenden Figur ergibt, ist die Empfängerplattform 10 nicht vollflächig ausgebildet, so dass die Messfenstereinrichtung 5 durch die Empfängerplattform 10 nur abschnittsweise verdeckt ist. Der Gehäuseabschnitt 4 ist durch Messfenstereinrichtung 5, welche aus Saphirglas ausgebildet ist, abgeschlossen. Im Betrieb kontaktiert die Messfenstereinrichtung 5 mit einem Schmierstoff 1 1 in einem Schmierstoffraum 12. Die Leiterplatte 8 mit der Senderplattform 9 und der Empfängerplattform 10 ist dagegen in einem Messraum 13 angeordnet, wobei Schmierstoffraum 12 und Messraum 13 durch die Messfenstereinrichtung 5 voneinander getrennt sind.
Auf der Senderplattform 9 ist eine Mehrzahl von Diodeneinrichtungen 14 angeordnet, welche eine Messstrahlung 15 emittieren können. Die Diodeneinrichtungen 14 sind so orientiert, dass diese die Messstrahlung 15 in Richtung der Messfenstereinrichtung 5 und damit in Richtung des Schmierstoffs 1 1 senden. Auf der Empfängerplattform 10 ist eine
Empfängereinrichtung 16 als ein Messdetektor angeordnet, welcher so orientiert ist, dass dieser von der Messfenstereinrichtung 5 zurückgeworfene Messstrahlung 15 aufnehmen kann. Das Zurückwerfen der Messstrahlung 15 resultiert zum einen aufgrund einer Reflektion der Messstrahlung 15 durch den Schmierstoff 1 1 bzw. durch die Messfenstereinrichtung 5. Zum anderen handelt es sich bei der zurückgeworfenen Messstrahlung 15 um diffus gestreute Messstrahlung 15. Ein Teil der von den Diodeneinrichtungen 14 kommenden Messstrahlung 15 wird unmittelbar an der Unterseite der Empfängerplattform 10 gestreut bzw. reflektiert und in eine weitere Empfängereinrichtung 17 zurückgeworfen, die auf der Senderplattform 9 zwischen den Diodeneinrichtungen 14 angeordnet ist und als Referenzdetektor arbeitet. Der Innendurchmesser d in dem gezeigten Gehäuseabschnitt 4 beträgt 4,0 mm. Die Diodeneinrichtungen 14 emittieren die Messstrahlung 15 in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen und werden beispielsweise abwechselnd zueinander aktiviert. Durch einen Vergleich der Intensität der von dem Schmierstoff 1 1 zurückgeworfenen Messstrahlung 15 kann auf die Absorption von bestimmten Spektralbereichen in der Messstrahlung 15 und damit auf den Zustand des Schmierstoffs 1 1 geschlossen werden.
Die Figur 3 zeigt die Leiterplatte 8 als ein Sensorteil in einer schematischen dreidimensionalen Darstellung. Es ist zu erkennen, dass die Leiterplatte 8 einstückig ausgebildet ist. Die Senderplattform 9 ist nahezu kreisrund ausgebildet, die Empfängerplattform 10 ist dagegen dreiachsig realisiert, wobei sich die Achsen jeweils v-förmig aufspannen. Senderplattform 9 und Empfängerplattform 10 weisen jeweils Durchgangsöffnungen 20 auf, welche deckungsgleich ausgerichtet sind und welche jeweils Bolzen 18 tragen, sodass deren Relativlage zueinander festgelegt ist. auf den Bolzen 18 werden zudem die Einzelrings 6 a, b, c aufgereiht.
Auf der Senderplattform 9 sind insgesamt sechs Diodeneinrichtungen 14
angeordnet, welche jedoch so positioniert sind, dass diese nicht durch die Empfängerplattform 10 in Richtung der Messfenstereinrichtung 5 verdeckt sind. Wie sich aus der Figur 3 ergibt, sind die elektronischen Bauteile, nämlich die Diodeneinrichtungen 14 und die weitere Empfängereinrichtung 17, sehr eng zueinander positioniert. Um trotzdem ausreichend Platz für die Vielzahl von Diodeneinrichtungen 14 zu haben, sind die Diodeneinrichtungen 14, wie in Figur 4 schematisch dargestellt, aufgebaut.
Die Figur 4 zeigt einen Detailausschnitt in Seitenansicht der Senderplattform 9 mit einer Diodeneinrichtung 14. Die Diodeneinrichtung 14 umfasst ein so genannten DIE 22, also ein z.B. quaderförmiges Stück eines Wafers. Der DIE 22 umfasst ein Substrat 23, in dem der lichtemittierende Diodenbereich 24 angeordnet ist. Der Diodenbereich 24 ist beispielsweise als p-Bereich ausgebildet.
Der Übergang von dem DIE 22 zu der Umgebungsluft in dem Messraum 13 ist aufgrund des hohen Brechungsindexunterschiedes zwischen dem DIE 22 und der Umgebungsluft kritisch. Aus diesem Grund ist auf dem DIE 22 ein Dom 25 aufgesetzt, wobei der Dom 25 mit seiner vollständigen Kontaktfläche 26 auf einer lichtemittierenden Oberseite des DI Es 22 angeordnet ist. Der Dom 25 wird durch Aufbringen von flüssigem Kunststoff, welcher z.B. UV-aushärtbar ist, auf den DIE 22 gefertigt. Bei dem Aufbringen ergibt sich selbstständig eine halbkugelartige Form des Doms 25, sodass der Dom 25 zugleich als eine Sammel- oder Fokussierlinse für die Messstrahlung 15, welche von dem DIE 22 bzw. von dem Diodenbereich 24 emittiert wird, ausgebildet ist. Bei der Fertigung der Sensorvorrichtung 1 wird zunächst die Leiterplatte 8 z.B. in einem ebenen Zustand in einem ersten Schritt mit den DIEs 22 bestückt und über Drähte 27 mit der Leiterplatte 8 gebondet. Die Drähte 27
weisen einen Durchmesser kleiner als 50 μιτι auf, so dass die Kontaktierung sehr bauraumsparend durchgeführt werden kann. In einem nachfolgenden Schritt wird Vergussmasse auf die Oberseite des DI Es 22 aufgebracht und ausgehärtet, sodass der Dom 25 gebildet wird. Die Vergussmasse hüllt insbesondere auch mindestens eine Diodenkontaktstelle 21 des Diodenbereichs 24 ein, so dass diese mechanisch gesichert ist. Nachfolgend wird die Leiterplatte 8 aus der zweidimensionalen oder abgewickelten Form durch Umformen in die in der Figur 3 gezeigte dreidimensionale Form gebracht und weiter verbaut.
Bezugszeichenliste
1 Sensorvorrichtung
2 Einsteckgehäuse
3 Kabel
4 Gehäuseabschnitt
5 Messfenstereinrichtung
6 a, b, c Kunststoffringe
7 Auswerteeinrichtung
8 Leiterplatte
9 Senderplattform
10 Empfängerplattform
1 1 Schmierstoff
12 Schmierstoffraum
13 Messraum
14 Diodeneinrichtung
15 Messstrahlung
16 Empfängereinrichtung
17 weitere Empfängereinrichtung
18 Bolzen
19 fehlt
20 Durchgangsöffnung
Diodenkontaktstelle DIE
Substrat
Diodenbereich
Dom
vollständige Kontaktfläche Draht