EP1722610B1

EP1722610B1 - Beurteilung des Zustands einer Heizwendel

Info

Publication number: EP1722610B1
Application number: EP06006571A
Authority: EP
Inventors: Carsten Strietzel
Original assignee: Tridonicatco GmbH and Co KG
Current assignee: Tridonicatco GmbH and Co KG
Priority date: 2005-05-09
Filing date: 2006-03-29
Publication date: 2007-12-05
Anticipated expiration: 2026-03-29
Also published as: ATE380452T1; DE102005021297A1; EP1722610A1; DE502006000207D1

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Gebiet von Lampen mit Heizwendeln, wie beispielsweise Gasentladungslampen. Genauer gesagt bezieht sich die Erfindung auf Techniken zur Beurteilung des Zustands, insbesondere des Alterungszustands einer Heizwendel einer derartigen Lampe.
Beispielsweise Gasentladungslampen weisen Heizwendeln auf, die mit einem Emittermaterial, wie beispielsweise BaO beschichtet sind. Bekanntlich werden derartige Heizwendeln vor dem Zünden der Lampe und ggf. auch während des Lampenbetriebs geheizt. Das Emittermaterial garantiert die Emissionsfähigkeit der Heizwendel im Lampenbetrieb. Dieses Emittermaterial wird indessen während der Lampenbetriebszeit vom Wendel abgesputtert. Mit zunehmender Alterung der Heizwendel nimmt also somit die Masse der Heizwendel ab. Da andererseits die Heizwendel ein Hauptkriterium für die Lebensdauer der Lampe insgesamt ist, kann durch die Bestimmung der Wendelmasse auf das noch verbleibende Emittermaterial und somit indirekt auf die noch zu erwartende Lebensdauer der Lampe geschlossen werden.
Der Zusammenhang zwischen verbleibender Emittermasse und zu erwartender Lebensdauer einer Lampe kann beispielsweise experimentell in Versuchsreihen vorab gemessen werden.
Aus US 6,243,017 B1 ist es bekannt, die Menge des verbleibenden aktiven Materials einer Kathode einer Fluoreszenzlampe durch Messen des Kathodenspannungsverlustes zu bestimmen. Gegebenenfalls kann dann in Abhängigkeit von der erfassten Menge des zu verbleibenden aktiven Materials der Kathode ein Alarmsignal ausgegeben werden.
Aus der US 6,538,448 B1 ist es bekannt, die verbleibende Betriebszeit einer Fluoreszenzlampe abhängig von einer Phasendifferenz einer Spannung an der Kathode bezüglich der Strom- oder Spannungsphase an einer anderen Stelle der Fluoreszenzlampe zu ermitteln.
Bereits aus der US 2,664,543 ist es bekannt, dass die Masse einer Heizwendel indirekt über deren Wärmekapazität bestimmt werden kann.
Der Artikel von Wharmby ' Cathode heating rate and life prediction in fluorescent lamps', Light Sources 2004, Proceedings of the Tenth International Symposium on the Science and Technology of Light Sources Toulouse, France, 18-22 Juli 2004 schlägt nunmehr vor, zur Bestimmung der Wärmekapazität einer Heizwendel (und somit der Masse der Heizwendeln) mit einem eingeprägten Heizstrom durch Wendel aufzuheizen und dabei genau die sich ergebende Temperaturveränderung zu messen. Als Parameter für die Wärmekapazität der Kathode und somit für das verbleibende Emittermaterial schlägt Wharmby vor, die maximale zeitliche Veränderung, d.h. den steilsten Anstieg der Temperaturveränderung in der Heizphase zu verwenden. Auch wenn dieses Verfahren gemäß Wharmby unter Laborbedingungen ausgeführt werden kann, so hat es dennoch die folgenden Nachteile:

Die Messung des steilsten Anstiegs der Temperaturveränderung in der Heizphase setzt eine Präzision voraus, wie sie eben nur unter Laborbedingungen ausgeführt werden kann. Somit lässt sich das Verfahren von Wharmby kaum auf eine Durchführung in installierten Leuchten anwenden.
Grund dafür ist, dass zur genauen Bestimmung des steilsten Anstiegs der Temperaturveränderung beispielsweise Parameter wie die Umgebungstemperatur bekannt sein müssen, was wiederum im eingebauten Zustand einer Lampe vor Ort nur schwer mit der notwendigen Präzision durchführbar ist.

Die Erfindung hat sich nunmehr zur Aufgabe gesetzt, ein derartiges Verfahren zur indirekten Erfassung des Wendelzustands über die Wärmekapazität der Heizwendel dahingehend zu verbessern, dass es effizienter und auch außerhalb von Laborbedingungen, insbesondere im eingebauten Zustand der Lampe ausgeführt werden kann.
Während also das Verfahren von Wharmby beispielsweise zur Fehlerdetektion erst nachträglich im Labor auf die Heizwendel angewendet werden kann, schlägt die Erfindung eine Lösung vor, die beispielsweise selbsttätig durch ein elektronisches Vorschaltgerät (EVG) als ein Beispiel für ein Betriebsgerät für Lampen mit Heizwendeln im eingebauten Zustand durchgeführt werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Die abhängigen Ansprüche bilden den zentralen Gedanken der Erfindung in besonders vorteilhafter Weise weiter.
Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Beurteilung des Zustands einer Heizwendel einer Lampe vorgeschlagen, wobei zuerst die Heizwendel mit einem ersten definierten Heizstrom bei gleichzeitiger Messung eines Parameters geheizt wird, wobei der Parameter direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt.
In einem darauf folgenden Schritt wird die Heizwendel dann, ggf. nach Abkühlung, mit einem zweiten definierten, von dem ersten Heizstrom unterschiedlichen Heizstrom aufgeheizt und wiederum der Parameter gemessen, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt. Als Parameter für den Zustand der Heizwendel, d.h. als Parameter für das noch verbleibende Emittermaterial auf der Heizwendel wird erfindungsgemäß die Differenz der Temperaturänderungs-Geschwindigkeiten bei dem Heizen mit dem ersten bzw. mit dem zweiten Heizstrom verwendet.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird in einem ersten Schritt mit einem Heizstrom geheizt und dabei der Parameter gemessen, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt. Daraufhin wird derselbe Parameter in einer Abkühlphase gemessen. Als Parameter für den Zustand der Heizwendel wird die Differenz der Temperaturänderungs-Geschwindigkeiten während der Heizphase bzw. während der Abkühlphase verwendet.
Das Heizen kann insbesondere mit einem eingeprägten Konstantstrom erfolgen.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung kann die Anzahl verfügbarer Daten pro Heizzyklus dadurch erhöht werden, dass ggf. zusätzlich zu einer Heizphase auch die Temperaturveränderung einer Abkühlphase gemessen wird und diese Temperaturveränderung in der Abkühlphase als Parameter für den Zustand der Heizwendel ausgewertet wird.
Die Temperatur der Heizwendel kann insbesondere indirekt über den elektrischen Widerstand der Heizwendel erfasst werden. Dazu kann ggf. auch in der Abkühlphase mit einem minimalen Heizstrom 'geheizt' werden, um mittels dieses bekannten minimalen Stroms und der an der Heizwendel abfallenden Spannung elektrischen Widerstand laufend zu messen.
Die Erfindung bezieht sich auch auf ein Computersoftware-Programmprodukt, das ein derartiges Verfahren ausführt, wenn es auf einer Recheneinrichtung läuft oder in Form von Hartverdrahtung implementiert ist.
Gemäß einem noch weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Betriebsgerät für Lampen mit Heizwendeln vorgesehen, wobei als Beispiel ein elektronisches Vorschaltgerät (EVG) für Gasentladungslampen genannt sei. Dieses Betriebsgerät ist zur Ausführung eines Verfahrens der oben genannten Art ausgelegt.
Das Betriebsgerät kann den erfassten Wendelzustand anzeigen, eine entsprechende Meldung absenden und/oder den Wendelzustand in einem Speicher zur späteren Analyse ablegen.
Die Meldung kann beispielsweise durch einen angeschlossenen Bus abgesendet werden.
Die Ansteuerung einer angeschlossenen Lampe kann abhängig von dem erfassten Wendelzustand erfolgen, wobei also bei der Erfassung einer Alterung der Heizwendel ggf. der Heizstrom erhöht ('überfahren') wird.
Das Betriebsgerät kann die Erfassung des Wendelzustands beispielsweise in periodischen Abständen selbsttätig oder auf einen zugeführten Befehl hin durchführen.
Weitere Merkmale, Vorteile und Eigenschaften der vorliegenden Erfindung werden aus der nunmehr folgenden detaillierten Beschreibung eines Ausführungsbeispiels Bezug nehmend auf die Figuren der begleitenden Zeichnungen ersichtlich.

Fig. 1: zeigt eine schematische Ansicht eines erfindungsgemäßen Systems,
Fig. 2: zeigt eine Darstellung zur Erläuterung der Wärmeflüsse einer Heizwendel,
Fig. 3: zeigt Temperaturverläufe (Heizen und Abkühlen) für Heizwendeln mit unterschiedlicher Wärmekapazität, und
Fig. 4: zeigt ein mittels einer Messung gemäss Figur 3 erstelltes Diagramm, aus dem sich erfindungsgemäss die Massen zweier unterschiedlicher Heizwendeln ermitteln lässt.

Bezug nehmend auf Fig. 1 soll ein Betriebsgerät für Leuchtmittel mit Heizwendeln 3, 3' erläutert werden, das die vorliegende Erfindung anwenden kann.
Gezeigt ist ein Betriebsgerät 1, wie beispielsweise ein elektronisches Vorschaltgerät (EVG) für Gasentladungslampen 4, an das Leuchtmittel 4 mit wenigstens einer Heizwendel 3, 3' angeschlossen sind. Grundsätzlich läßt sich die Erfindung auf sämtliche Leuchtmittel mit Heizwendeln anwenden. Ein typisches Beispiel sind Gasentladungslampen. Die Leuchtmittel 4 mit der wenigstens einen Heizwendel 3, 3' sind mit einem Leistungs-Ausgangskreis 2 mit dem Betriebsgerät 1 verbunden.
Das Betriebsgerät 1 kann eine Steuereinheit 5 aufweisen, die für den Betrieb der Leuchtmittel 4 notwendige Ansteuersignale ausgibt. Diese Ansteuersignale und ggf. auch eingehende Meßsignale können unterschiedliche Betriebsphasen der Leuchtmittel (Vorheizen, Starten, Betrieb, Löschen) betreffen. Im Vorliegenden sollen indessen nur diejenigen Funktionen erläutert werden, die das Steuergerät 5 zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, d.h. zur Ermittlung des Alterungszustands der wenigstens einen Heizwendel ausführen kann.
Wie schematisch dargestellt, kann die Steuereinheit 5 dazu einen konstanten Heizstrom I_HSOLL als Sollwert wenigstens einer angeschlossenen Heizwendel 3 einprägen. Weiterhin kann die Steuereinrichtung 5 dazu ausgelegt sein, die an der Heizwendel anfallende Spannung U_H zusammen mit dem tatsächlichen Strom durch die Heizwendel I_H zu erfassen, um somit den aktuellen elektrischen Widerstandswert der Heizwendel 3 zu berechnen. Beispielsweise anhand einer Tabelle (oder auch anhand einer analytischen Funktion) kann dann wiederum der elektrische Widerstandswert, berechnet über die genannten Parameter, in die aktuelle Temperatur der betreffenden Heizwendel 3, 3' umgerechnet werden.
Die Steuereinrichtung 5 ist funktionell mit einem Speicher 7 verbunden, der wie in Fig. 1 exemplarisch dargestellt, beispielsweise innerhalb des Betriebsgeräts 1 aufgenommen sein kann. In dem Speicher 7 können verschiedenartige Sollwerte sowie gemessene Istwerte abgelegt werden. Hinsichtlich der vorliegenden Erfindung ist insbesondere relevant, dass das Betriebsgerät 1 in dem Speicher 7 Parameter hinterlegen kann, die einen oder mehrere unterschiedliche Alterungszustände einer angeschlossenen Wendel 3, 3' wiedergeben. Dieser Speicher 7 kann beispielsweise zur nachträglichen Fehleranalyse verwendet werden. Weiterhin kann die Steuereinrichtung 5 abhängig von einem erfassten Zustand der Heizwendeln 3, 3' deren Ansteuerung verändern. Insbesondere kann der Heizstrom erhöht werden, wenn eine Alterung der Wendel, d.h. ein Absputtern von Emittermaterial auf der Wendel erfasst wurde.
Der erfasste Wendelzustand kann weiterhin optisch 6 angezeigt werden. Dies kann beispielsweise in Form eines Displays oder einer Art Ampelschaltung dargestellt werden, wobei die Anzeige jeweils wiedergibt, welchen aktuellen Alterungszustand die Heizwendel 3, 3' gerade aufweist.
Alternativ oder zusätzlich kann ein erfasster Alterungszustand der Wendel und insbesondere ein unzulässiger Alterungszustand einer Wendel über eine Schnittstelle 8 und einen angeschlossenen Bus 9 drahtgebunden oder drahtlos beispielsweise zu einer Zentrale hin übermittelt werden. Somit kann beispielsweise zentral rechtzeitig ein sich anbahnender Ausfall der Lampe wegen unzulässiger Alterung der Heizwendel erfasst werden.
Festzuhalten ist, dass das im folgenden dann näher beschriebene Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung zur Ermittlung des Zustands einer Heizwendel in einem Leuchtmittel im eingebauten Zustand der Leuchte ausgeführt werden kann. Insbesondere kann ein Betriebsgerät 1 periodisch den Heizwendelzustand gemäß diesem Verfahren selbsttätig erfassen, um ihn dann in einer der folgenden Weise auszuwerten:

Veränderung der Ansteuerung der Leuchtmittel, insbesondere der Heizwendeln, abhängig von dem erfassten Alterungszustand,
Anzeige, beispielsweise optisch oder akustisch des Alterungszustands am Betriebsgerät selbst,
Ablegen eines gemessenen Alterungszustands in einem Speicher, insbesondere zur nachträglichen Fehleranalyse, und/oder
Aussendung einer Meldung betreffend den Alterungszustand der gemessenen Heizwendel.

Alternativ oder zusätzlich zu der periodischen selbsttätigen Messung des Alterungszustands der Heizwendel durch das Betriebsgerät 1 kann eine derartige Messung beispielsweise auch durch einen entsprechenden Befehl von außen, beispielsweise über eine angeschlossene Busleitung ausgelöst werden. Beispielsweise bei Anwendung des gut bekannten DALI-Standards, der eine bidirektionale Kommunikation zwischen einer Zentrale und angeschlossenen Betriebsgeräten ermöglicht, können somit die Alterungszustände von Heizwendeln abgefragt werden, die in an den Bus angeschlossenen Leuchten vorliegen.
Vor der Beschreibung eines erfindungsgemässen Testverfahrens für eine Heizwendel sollen kurz die physikalischen Grundlagen der Temperaturverhältnisse einer geheizten Wendel erläutert werden.
In Figur 2 ist eine Wendel mit den relevanten physikalischen Größen schematisch dargestellt. Bei der Heizung einer Wendel mit der elektrischen Leistung $P_{in} = U_{h} \cdot I_{h}$

wird die Wendel aufgeheizt. Dabei wird von der Wendel Energie in Form von Strahlung und Wärmeleitung an das Gas sowie in Form von Wärmeleitung über die Wendelanschlüsse abgegeben. Betrachtet man die Temperaturzunahme der Wendel über die Zeit, ergibt sich folgende Bilanzgleichung: $\frac{ⅆ T_{w}}{ⅆ t} = \frac{P_{in} (T_{w}) - Φ_{rad} (T_{w}^{4}) - Φ_{cond, G} (T_{w}) - Φ_{cond, F} (T_{w})}{m_{Wo} C_{Wo} - m_{BaO} C_{BaO}}$
Dabei bezeichnet der Term $Φ_{rad} (T_{w}) = εσ A_{rad} (T_{w}^{4} - T_{G}^{4})$

den über Strahlung abgegebenen Wärmefluss. Weiteres tritt Wärmeleitung in Form von Wärmeleitung an das Lampengas mit $Φ_{cond, G} (T_{w}) = \frac{T_{w} - T_{G}}{R_{th, G}}$

und Wärmeleitung an die Wendelanschlüsse auf, was durch den folgenden Term ausgedrückt werden kann: $Φ_{cond, F} (T_{w}) = \frac{T_{w} - T_{F}}{R_{th, F}}$
Für die Durchführung der Messung des Temperaturverlaufs beim Heizen sind prinzipiell verschiedene Ansätze denkbar. Bevorzugt wird die Heizung der Wendel mit Konstantstrom (die Erfindung umfasst indessen auch sich zeitlich verändernde Heizströme). Bei Heizen mit Konstantstrom ergibt sich für die eingeprägte elektrische Leistung mit der Temperaturabhängigkeit des spezifischen elektrischen Widerstandes $P_{in} (T_{w}) = I_{h}^{2} R (T_{w}) = I_{h}^{2} R_{w, 0} ⌊ 1 + α (T_{w} - T_{G}) + β {(T_{w} - T_{G})}^{2} ⌋$
Der physikalische Zusammenhang zwischen Emittermasse und Geschwindigkeit der Temperaturerhöhung ist in der Beziehung 1.1 oben angegeben. ( Gemäss der bekannten Technik von D. Wharmby wird als Parameter für die Emittermasse die maximale Geschwindigkeit verwendet, was der ersten Ableitung der Beziehung 1.1 entspricht.)
Gemäss einem Aspekt der Erfindung wird vorgeschlagen, als Parameter für die Emittermasse die Differenz der Geschwindigkeiten der Temperaturerhöhung aus zwei Messungen mit unterschiedlich eingeprägten Leistungen zu verwenden. Dann ergibt sich: $\frac{ⅆ T_{w} (P_{1})}{ⅆ t} \frac{ⅆ T_{w} (P_{2})}{ⅆ t} = \frac{P_{in}^{1} - Φ_{rad}^{1} - Φ_{cond, G}^{1} - Φ_{cond, F}^{1} - (P_{in}^{2} - Φ_{rad}^{2} - Φ_{cond, G}^{2} - Φ_{cond, F}^{2})}{m_{Wo} C_{Wo} - m_{BaO} C_{BaO}}$
Geht man nun davon aus, dass die Messungen mit vernachlässigbarer Erhöhung der Umgebungstemperaturen durchführbar ist (dies darf angenommen werden, wenn die Messungen hinreichend schnell durchgeführt werden können), dann sind die Wärmeflüsse vom Wendel für unterschiedliche eingeprägte Leistungen bei einer gegebenen Wendeltemperatur gleich.
Dies bedeutet, das sich diese Unbekannten bei der Bestimmung der Emittermasse sich aufheben. Dies führt auf die Beziehung $\frac{ⅆ T_{w} (P_{in, 1} T_{w})}{ⅆ t} \frac{ⅆ T_{w} (P_{in, 2} T_{w})}{ⅆ t} = \frac{P_{in, 2} - P_{in, 2}}{m_{Wo} C_{Wo} - m_{BaO} C_{BaO}}$
Der Parameter $Δ (\frac{ⅆ T_{w}}{ⅆ t}) = \frac{ⅆ T_{w} (P_{in, 1} T_{w})}{ⅆ t} - \frac{ⅆ T_{w} (P_{in, 2} T_{w})}{ⅆ t}$

der die Differenz der Geschwindigkeiten der Temperaturveränderungen aus zwei Messungen mit unterschiedlich eingeprägten Leistungen wiedergibt, ist dann die Messgröße, die der Emittermasse proportional ist.
Dann ergibt sich aus (1.7) bei Differenzbildung bei gleichem Widerstand respektive gleicher Wendeltemperatur: $Δ (\frac{ⅆ T_{w}}{ⅆ t}) = \frac{(I_{h, hoch}^{2} - I_{h, niedrig}^{2}) \cdot R_{w, 0} ⌊ 1 + α (T_{w} - T_{G}) + β {(T_{w} - T_{G})}^{2} ⌋}{m_{Wo} C_{Wo} - m_{BaO} C_{BaO}}$
Dies bedeutet, dass für jeden Widerstandswert die Differenz der Widerstandsänderungen bestimmt werden kann. Dies kann in ein Diagram wie Figur 4 übertragen werden, das diesen Gradienten für eine Emittermasse von 100% ( = neue Wendel) bzw. 10% (= gealterte Wendel) darstellt. Der Gradient (Steigung) dieser Kurve ist proportional zur Massenbelegung der Wendel mit Emitter. Figur 4 dient nur zur Illustration; die Steuereinheit berechnet bspw. die mittlere Steigung und nimmt diesen Wert als Parameter, der den Wendelzustand wiedergibt.
Vorteile der Erfindung:

1. Da durch die Wahl des "richtigen" Parameters die kritischen Unbekannten (bpsw. Umgebungstemperatur) herausfallen, ist die Genauigkeit der Messung der Emittermasse (verglichen mit der Methode von Wharmby) potentiell höher.
2. Es können mehr Messpunkte aus der Einzelmessung zur Bestimmung des Parameters herangezogen werden. Dies führt zu genaueren und kürzeren Messzyklen. Eventuell genügt eine einzige Messung, d.h. ein einziger Heiz-/Abkühlzyklus.
3. Die Messungen können daher von einem Betriebsgerät im eingebauten Zustand der Leuchte, bspw. selbsttätig oder auf einen empfangenen Befehl hin, ausgeführt werden.

Claims

Verfahren zur Beurteilung des Zustand einer Heizwendel einer Lampe,
wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:
- Heizen der Heizwendel mit einem ersten definierten Heizstrom bei gleichzeitiger Messung eines Parameters, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt,

- in einem darauf folgenden Schritt, Heizen der Heizwendel mit einem zweiten definierten, von dem ersten Heizstrom unterschiedlichen Heizstrom, wiederum mit gleichzeitiger Messung eines Parameters, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt, und

- Berechnung der Differenz der Temperaturänderungs-Geschwindigkeiten bei dem Heizen mit dem ersten bzw. dem zweiten Heizstrom als Parameter für den Zustand der Heizwendel.
Verfahren zur Beurteilung des Zustand einer Heizwendel einer Lampe,
wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:
- Heizen der Heizwendel mit einem ersten definierten Heizstrom bei gleichzeitiger Messung eines Parameters, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt,

- in einem darauf folgenden Schritt, Messung des Parameters, der direkt oder indirekt die Temperatur der Heizwendel wiedergibt, in einer Abkühlphase, und

- Berechnung der Differenz der Temperaturänderungs-Geschwindigkeiten bei dem Heizen mit dem ersten Heizstrom bzw. während der Abkühlphase.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Heizen mit einem eingeprägten Konstantstrom erfolgt.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Temperatur der Heizwendel indirekt über den elektrischen Widerstand der Heizwendel erfasst wird.
Computersoftware-Programmprodukt,
das eine Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche ausführt, wenn es auf einer Recheneinrichtung läuft.
Betriebsgerät für Lampen mit Heizwendeln, insbesondere Elektronisches Vorschaltgerät (EVG) für Gasentladungslampen,
dass dazu programmiert ist, ein Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4 auszuführen.
Betriebsgerät nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
dass es dazu programmiert ist, den erfassten Wendelzustand anzuzeigen, eine entsprechende Meldung abzusenden und/oder in einem Speicher abzulegen.
Betriebsgerät nach einem der Ansprüche 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet,
dass es dazu programmiert ist, die Meldung über einen angeschlossenen Bus absendet.
Betriebsgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass es dazu programmiert ist, die Ansteuerung einer angeschlossenen Lampe abhängig von dem erfassten Wendelzustand auszuführen.
Betriebsgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
dass es die Erfassung des Wendelzustands selbsttätig oder auf einen Befehl hin durchführt.
Betriebsgerät für Lampen mit Heizwendeln nach einem der Ansprüche 6 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
dass es eine Steuereinheit aufweist, die selbsttätig oder auf einen empfangenen Befehl hin einen Test des Zustand einer Heizwendel einer angeschlossenen Lampe ausführt.
Betriebsgerät nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Steuereinheit einen Parameter, der den Wendelzustand wiedergibt, wie folgt auswertet:
- Ablegen in eine Speicher,

- Ansteuerung der Lampe abhängig von dem erfassten Wendelzustand, und/oder

- Anzeige oder Meldung des Wendelzustands, insbesondere eines kritischen Wendelzustands, der einen baldigen Ausfall befürchten lässt.
Betriebsgerät nach Anspruch 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet,
dass es die Meldung über einen angeschlossenen Bus absendet.