EA033425B1 - Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах - Google Patents

Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах

Info

Publication number
EA033425B1
EA033425B1 EA201700528A EA201700528A EA033425B1 EA 033425 B1 EA033425 B1 EA 033425B1 EA 201700528 A EA201700528 A EA 201700528A EA 201700528 A EA201700528 A EA 201700528A EA 033425 B1 EA033425 B1 EA 033425B1
Authority
EA
Eurasian Patent Office
Prior art keywords
nanophases
phase analysis
ray
ray phase
present
Prior art date
Application number
EA201700528A
Other languages
English (en)
Other versions
EA201700528A2 (ru
EA201700528A3 (ru
Inventor
Vil Dayanovich Sitdikov
Maxim Yurievich Murashkin
Ruslan Zufarovich Valiev
Original Assignee
Federal State Budget Educational Institution Of Higher Education Saint Petersburg State Univ Spbu
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Federal State Budget Educational Institution Of Higher Education Saint Petersburg State Univ Spbu filed Critical Federal State Budget Educational Institution Of Higher Education Saint Petersburg State Univ Spbu
Publication of EA201700528A2 publication Critical patent/EA201700528A2/ru
Publication of EA201700528A3 publication Critical patent/EA201700528A3/ru
Publication of EA033425B1 publication Critical patent/EA033425B1/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области рентгенофазового анализа (РФА) для качественного и количественного определения нанофаз (выделений) в различных металлических сплавах при термомеханической обработке и применяется в материаловедении, металлургической, авиационной, химической промышленности. Техническим результатом изобретения является повышение информативности за счет увеличения количественных описаний нанофазы объемной долей менее 1%, присутствующих в исследуемом образце алюминиевого сплава, а также сокращение времени регистрации рентгенограммы. Новый способ рентгенофазового анализа позволяет идентифицировать и количественно определять нанофазы объемной долей менее 1%, присутствующих в исследуемом образце алюминиевого сплава, в режиме на просвет с использованием параллельного пучка.
EA201700528A 2016-12-16 2017-11-23 Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах EA033425B1 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016149726A RU2649031C1 (ru) 2016-12-16 2016-12-16 Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах

Publications (3)

Publication Number Publication Date
EA201700528A2 EA201700528A2 (ru) 2018-06-29
EA201700528A3 EA201700528A3 (ru) 2018-09-28
EA033425B1 true EA033425B1 (ru) 2019-10-31

Family

ID=61867176

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA201700528A EA033425B1 (ru) 2016-12-16 2017-11-23 Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах

Country Status (2)

Country Link
EA (1) EA033425B1 (ru)
RU (1) RU2649031C1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2388688C1 (ru) * 2008-10-06 2010-05-10 Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН Способ контроля содержания магнитных примесей в наноалмазах детонационного синтеза
RU2426103C1 (ru) * 2010-02-24 2011-08-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Способ когерентной рентгеновской фазовой микроскопии
RU2498277C1 (ru) * 2012-05-14 2013-11-10 Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Пульсар"" (ОАО "НПП "Пульсар") Способ диагностики полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур
CN103487452A (zh) * 2013-10-14 2014-01-01 山东大学 以x射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
CN105784500A (zh) * 2014-12-26 2016-07-20 北京有色金属研究总院 一种可时效强化铝合金中纳米析出相的原位测试方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2388688C1 (ru) * 2008-10-06 2010-05-10 Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН Способ контроля содержания магнитных примесей в наноалмазах детонационного синтеза
RU2426103C1 (ru) * 2010-02-24 2011-08-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Способ когерентной рентгеновской фазовой микроскопии
RU2498277C1 (ru) * 2012-05-14 2013-11-10 Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Пульсар"" (ОАО "НПП "Пульсар") Способ диагностики полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур
CN103487452A (zh) * 2013-10-14 2014-01-01 山东大学 以x射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法
CN105784500A (zh) * 2014-12-26 2016-07-20 北京有色金属研究总院 一种可时效强化铝合金中纳米析出相的原位测试方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DAVID M.D. et al., Validation of high strength cast Al-Zn-Mg-Cu aluminum for use in manufacturing process design. 2nd World Congress on Integrated Computational Materials Engineering, 2013, с. 117, реферат *

Also Published As

Publication number Publication date
RU2649031C1 (ru) 2018-03-29
EA201700528A2 (ru) 2018-06-29
EA201700528A3 (ru) 2018-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Pitarch et al. Energy dispersive X-ray fluorescence analysis of ancient coins: The case of Greek silver drachmae from the Emporion site in Spain
Figueiredo et al. Micro-EDXRF surface analyses of a bronze spear head: Lead content in metal and corrosion layers
CA2422103A1 (en) Method and apparatus for continuously fractionating and analyzing metal mercury and water-soluble mercury in gas
Hrnjić et al. Non-destructive identification of surface enrichment and trace element fractionation in ancient silver coins
Rodrigues et al. Further metallurgical analyses on silver coins of Trajan (AD 98–117)
CN104101593A (zh) 一种用icp-aes法测定高强度镁合金中钕、钆、钇、锆、铁、硅元素的方法
CN104406957A (zh) 用icp法同时测定铝青铜中多元素含量的方法
RU2584064C1 (ru) Способ рентгенофлуоресцентного определения содержания примесей конструкционных материалов
Pearce The Curse of the pXRF: The negative consequences of the popularity of handheld XRF analysis of copper-based metal artefacts
EA033425B1 (ru) Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах
Uemoto et al. Determination of minor and trace metals in aluminum and aluminum alloys by ICP-AES; evaluation of the uncertainty and limit of quantitation from interlaboratory testing
Kantarelou et al. In situ scanning micro-XRF analyses of gilded bronze figurines at the National Museum of Damascus
Scheffler et al. Solid sampling analysis of a Mg alloy using electrothermal vaporization inductively coupled plasma optical emission spectrometry
Vlachou-Mogire et al. The application of LA-ICP-MS in the examination of the thin plating layers found in late Roman coins
Ganeev et al. Lumas-30 time-of-flight mass spectrometer with pulsed glow discharge for direct determination of nitrogen in steel
Kaszkur et al. The real background and peak asymmetry in diffraction on nanocrystalline metals
Gao et al. ICP-OES determination of palladium in palladium jewellery alloys using Yttrium internal standard
Rodrigues et al. The hoard of Beçin—non-destructive analysis of the silver coins
Huang et al. Forensic analysis of lead–tin solder by inductively coupled plasma mass spectrometry
JP2015225000A5 (ru)
Van Meel et al. Application of high-energy polarised beam energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry to cadmium determination in saline solutions
JP2016075604A (ja) 金属材料の表面近傍におけるＡｌ酸化物の定量方法
Aljabri et al. Improvement in Smelter Process Analysis Through EGA Lab Modernization
Krawczyk et al. Surface studies of praseodymium by electron spectroscopies
Beaunier et al. Relation between electrochemical reactivity and structure of grain boundaries correlated to intergranular sulfur segregation in ultra pure nickel

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s)

Designated state(s): AM AZ BY KZ KG TJ TM RU