EA026752B1 - Способ изготовления диода шоттки - Google Patents
Способ изготовления диода шоттки Download PDFInfo
- Publication number
- EA026752B1 EA026752B1 EA201400948A EA201400948A EA026752B1 EA 026752 B1 EA026752 B1 EA 026752B1 EA 201400948 A EA201400948 A EA 201400948A EA 201400948 A EA201400948 A EA 201400948A EA 026752 B1 EA026752 B1 EA 026752B1
- Authority
- EA
- Eurasian Patent Office
- Prior art keywords
- formation
- schottky diode
- window
- contact electrode
- barrier layer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, а более конкретно к способу изготовления кристаллов мощных диодов Шоттки, и может быть использовано, например, для изготовления выпрямителей переменного тока для изделий силовой электроники. В основу настоящего изобретения положена задача снижения обратного тока диода Шоттки и уменьшения удельного расхода рения. Сущность изобретения заключается в том, что в способе изготовления диода Шоттки, включающем формирование в сильнолегированной кремниевой подложке n-типа проводимости со слаболегированным эпитаксиальным слоем того же типа проводимости охранного кольца р-типа проводимости, образующего р-n переход, формирование окисла кремния, вскрытие в окисле кремния окна, формирование в окне углубления величиной 0,05-0,5 мкм, формирование барьерного слоя электрода Шоттки, контактного электрода; барьерный слой электрода Шоттки формируют из рения толщиной от 5,0 до 15,0 нм, а перед формированием контактного электрода формируют слой молибдена толщиной от 100 до 300 нм.
Description
Н0П 29/47 (2006.01) (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДИОДА ШОТТКИ
(43) 2016.02.29 | (56) ВУ-С1-16184 |
(96) 2014/ЕА/0059 (ΒΥ) 2014.07.30 | ВУ-С1-8449 ΙΡ-Α-2010056313 |
(71 )(73) Заявитель и патентовладелец: | §и-А1-1037809 |
ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ | ВУ-С1-10252 |
ОБЩЕСТВО ИНТЕГРАЛУПРАВЛЯ ЮЩАЯ КОМПАНИЯ ХОЛДИНГА ИНТЕГРАЛ (В¥) (72) Изобретатель: Турцевич Аркадий Степанович, Соловьев Ярослав Александрович, Сарычев Олег Эрнстович, Лиходиевская Валентина Егоровна (ВУ) | ТГ8-А1-20120043551 |
026752 В1
026752 Β1
Claims (1)
- ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯСпособ изготовления диода Шоттки, включающий окисление сильнолегированной кремниевой подложки η-типа проводимости со слаболегированным эпитаксиальным слоем того же типа проводимости, формирование в эпитаксиальном слое охранного кольца р-типа проводимости, образующего р-η пе- 2 026752 реход, вскрытие в окисле кремния окна, формирование в окне углубления величиной 0,05-0,5 мкм, формирование барьерного слоя электрода Шоттки и контактного электрода, отличающийся тем, что барьерный слой электрода Шоттки формируют из рения толщиной от 5,0 до 15,0 нм, а перед формированием контактного электрода формируют слой молибдена толщиной от 100 до 300 нм.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201400948A EA026752B1 (ru) | 2014-07-30 | 2014-07-30 | Способ изготовления диода шоттки |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201400948A EA026752B1 (ru) | 2014-07-30 | 2014-07-30 | Способ изготовления диода шоттки |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EA201400948A1 EA201400948A1 (ru) | 2016-02-29 |
EA026752B1 true EA026752B1 (ru) | 2017-05-31 |
Family
ID=55404346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EA201400948A EA026752B1 (ru) | 2014-07-30 | 2014-07-30 | Способ изготовления диода шоттки |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
EA (1) | EA026752B1 (ru) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010056313A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US20120043551A1 (en) * | 2005-11-15 | 2012-02-23 | Power Integrations, Inc. | Second contact schottky metal layer to improve GaN schottky diode performance |
-
2014
- 2014-07-30 EA EA201400948A patent/EA026752B1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120043551A1 (en) * | 2005-11-15 | 2012-02-23 | Power Integrations, Inc. | Second contact schottky metal layer to improve GaN schottky diode performance |
JP2010056313A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EA201400948A1 (ru) | 2016-02-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2014041917A5 (ru) | ||
JP2015122525A5 (ru) | ||
JP2014093526A5 (ru) | ||
WO2014172164A3 (en) | Method of fabricating a merged p-n junction and schottky diode with regrown gallium nitride layer | |
US10510800B2 (en) | Device comprising a light-emitting diode and a Schottky barrier diode rectifier, and method of fabrication | |
GB2499176A (en) | A schottky barrier diode, a method of forming the diode and a design structure for the diode | |
GB2514711A (en) | Power semiconductor device and method for manufacturing thereof | |
MY187483A (en) | Alignment free solar cell metallization | |
EP1906454A3 (en) | Semiconductor device | |
MY180755A (en) | Solar cell and manufacturing method of solar cell | |
CN105321994B (zh) | 一种氮化镓二极管及其制备方法 | |
WO2011126209A3 (ko) | Pn접합 및 쇼트키 접합을 갖는 다중 태양 전지 및 이의 제조 방법 | |
EA026752B1 (ru) | Способ изготовления диода шоттки | |
CN208157435U (zh) | 电子书触控板传感器用光电二极管 | |
EA201400949A1 (ru) | Диод шоттки | |
JP2012256670A (ja) | ショットキーダイオードおよびpnダイオード | |
CN206340552U (zh) | 一种低温升高气密性肖特基二极管 | |
RU2015139136A (ru) | Высокочастотный силовой диод и способ его изготовления | |
CN111106182A (zh) | 一种肖特基器件沟槽结构及其制备方法 | |
JP2019016720A5 (ru) | ||
CN107046065B (zh) | 一种内建肖特基界面的垂直场效应二极管的制造方法 | |
US8728834B2 (en) | Semiconductor device and a method of manufacturing the same | |
CN209515678U (zh) | 一种肖特基二极管半导体的电荷补偿结构 | |
WO2016089254A3 (en) | Method of ionizing radiation sensor manufacturing | |
CN204538049U (zh) | 微型硅光电二极管 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): AM AZ BY KZ KG TJ TM |
|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): RU |