EA018123B1 - Способ атомно-абсорбционного анализа - Google Patents
Способ атомно-абсорбционного анализа Download PDFInfo
- Publication number
- EA018123B1 EA018123B1 EA201001300A EA201001300A EA018123B1 EA 018123 B1 EA018123 B1 EA 018123B1 EA 201001300 A EA201001300 A EA 201001300A EA 201001300 A EA201001300 A EA 201001300A EA 018123 B1 EA018123 B1 EA 018123B1
- Authority
- EA
- Eurasian Patent Office
- Prior art keywords
- lamp
- radiation
- atomic
- absorption
- duration
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использовании в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении. Задачей настоящего изобретения является повышение точности измерений при нелинейном изменении неселективного поглощения. Поставленная задача решается тем, что в способе атомно-абсорбционного анализа с учетом коррекции неселективного поглощения, включающего попеременное возбуждение излучения лампы с полым катодом и лампы сплошного спектра импульсами тока, пропускание излучения ламп через атомный пар, определение меры коррекции неселективного поглощения и нахождение оптической плотности атомного пара, длительность импульсов тока устанавливают не меньшей длительности стабилизации излучения ламп, а меру коррекции определяют для моментов возбуждения лампы с полым катодом.
Description
Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использовании в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении.
Известен способ атомно-абсорбционных измерений, характеризующийся тем, что излучение источника сплошного и линейчатого спектра [1] и источника линейчатого спектра попеременно пропускают через атомный пар, образующийся в атомизаторе, и через опорный оптический канал. Затем берут логарифм отношения их интенсивностей и получают искомый результат, в котором скомпенсировано действие неселективного поглощения. В качестве меры коррекции неселективного поглощения используют интенсивность излучения лампы сплошного спектра после прохождения атомного пара.
Недостатком данного способа является сложность его реализации. Известен способ атомноабсорбционных измерений, характеризующийся тем, что излучение источника линейчатого и источника сплошного спектра попеременно пропускают через атомный пар, образующийся в атомизаторе [2]. Далее определяют оптическую плотность атомного пара через логарифм отношения их интенсивностей. В качестве меры коррекции используют интенсивность излучения лампы сплошного спектра, прошедшего атомный пар.
Недостатком способа является снижение точности измерений при импульсах тока, длительность которых меньше длительности стабилизации излучения в лампе. В этом случае амплитуда импульса излучения снижается (фиг. 1а), что приводит к ухудшению отношения сигнал/шум и ухудшению точности измерений.
Компенсация неселективного поглощения в данных способах основана на том, что мера коррекции не меняется или линейно меняется либо во время измерений, либо в течение измерения двух соседних сигналов - интенсивности лампы с полым катодом и интенсивности лампы сплошного спектра. При нелинейном изменении неселективного поглощения, что весьма характерно при непламенном анализе, это условие нарушается и, следовательно, точность измерений будет снижена.
Задачей настоящего изобретения является повышение точности измерений при нелинейном изменении неселективного поглощения. Поставленная задача решается тем, что в способе атомноабсорбционного анализа с учетом коррекции неселективного поглощения, включающего попеременное возбуждение излучения лампы с полым катодом и лампы сплошного спектра импульсами тока, пропускание излучения ламп через атомный пар, определение меры коррекции неселективного поглощения и нахождение оптической плотности атомного пара, длительность импульсов тока устанавливают не меньше длительности стабилизации излучения ламп, а меру коррекции определяют для моментов возбуждения лампы с полым катодом.
Таким образом, заявленный способ позволяет повысить точность измерений.
На фиг. 1 приведены эпюры токов и импульсов света; на фиг. 2 - схема устройства, реализующего данный способ.
Заявляемый способ поясняется эпюрами токов и световых сигналов на фиг. 1.
На фиг. 1а приведена эпюра токов возбуждения лампы с полым катодом в течение времени 11 и лампы сплошного спектра 12.
На фиг. 1б приведена эпюра импульсов света лампы с полым катодом в течение времени 11 и лампы сплошного спектра 12. В течение времени 11 наблюдается рост интенсивности лампы с полым катодом, интенсивность ее стабилизируется в течение времени 111. Однако это требует увеличение длительности импульса, приведенного на фиг. 1а. Для разных элементов эти времена могут значительно отличаться. Например, для лампы с полым катодом на Ζη стабилизация интенсивности наступает после 350 мкс, а для лампы на Си для этого требуется не менее 450 мкс.
Для лампы сплошного спектра с несамостоятельным разрядом время стабилизации разряда снижается до десятка микросекунд, что дает возможность питать лампы импульсами токов, различной длительности (фиг. 1в). Длительность задержки Ь между ними может быть равна длительности 12 Последнее позволяет эффективно подавлять неселективное поглощение - помеху, время корреляции которого больше или равно 1.3.
После того как измерения выполнены, для этого требуется от нескольких десятков до сотен миллисекунд, типичная длительность импульса абсорбции для не пламенных атомизаторов с временем нагрева больше 2000°С составляет примерно 1 с, число измерений световых импульсов ламп составляет не менее 100, проводят аппроксимацию сигналов лампы сплошного спектра (для этого световое излучение посредством фотоэлектронного приемника преобразуют в электрические сигналы, которое далее и обрабатывается) и находят новую зависимость их амплитуд от времени. Длительность их должна быть равна длительности светового сигнала лампы с полым катодом в моменты времени 11, что и описывает одинаковый вклад неселективного поглощения в сигналы ламп.
Аппроксимацию проводят, например, по методу наименьших квадратов степени 1, 2 или 3. Используя полученные данные, находят новое значение амплитуд сигналов ламп сплошного спектра для моментов времени 11 (фиг. 1г). Аппроксимация данных по методу наименьших квадратов хорошо известна и не требует пояснений. Например, в результате аппроксимации методом наименьших квадратов для степени 1 получены значения коэффициентов В и А для уравнения Υ=Χ·Β+Α.
- 1 018123
Соответственно, можно определить новое значение амплитуд сигналов ламп сплошного спектра из данного уравнения, учитывая, что значением X является время.
На фиг. 2. приведена схема устройства, реализующего данный способ.
Устройство содержит лампу с полым катодом и блоком питания 1 и лампу сплошного спектра с блоком питания 2, которые оптически связаны посредством полупрозрачного зеркала 3. Осветительная система 4 формирует излучение ламп в атомизаторе 5 и на входе блока фотометрического преобразования 6, который содержит монохроматор и фотоумножитель. Сигналы обрабатываются блоком 7, построенным например, на основе персонального компьютера. Устройства работает в соответствии с описанным выше способом.
При нелинейной зависимости неселективного поглощения во времени, сигналы от лампы с полым катодом 1 и лампы сплошного спектра 2 характеризуются одинаковым вкладом этих помех, что и обеспечивает наличие положительного эффекта - повышение точности измерений за счет лучшей компенсации неселективных помех по сравнению с известным методом.
Таким образом, заявляемая совокупность признаков не является известной из существующего уровня техники, не следует очевидным образом для специалиста в этой области, дает новый положительный результат и технически осуществимо.
Источники информации
1. Атомно-абсорбционный спектрофотометр ηονΑΑ-400. Техническое руководство по эксплуатации. 2005г.
2. Курейчик К.П. Импульсная атомная спектрометрия. Методы измерений. Аппаратура. Мн.Университетское, 1989. с.77.
Claims (1)
- Способ атомно-абсорбционного анализа с учетом коррекции неселективного поглощения, включающий попеременное возбуждение излучения лампы с полым катодом и лампы сплошного спектра импульсами тока, пропускание излучения ламп через атомный пар, определение меры коррекции неселективного поглощения и нахождение оптической плотности атомного пара, отличающийся тем, что длительность импульсов тока устанавливают не меньше длительности стабилизации излучения ламп, а меру коррекции определяют для моментов возбуждения лампы с полым катодом.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| BY20091093 | 2009-07-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| EA201001300A1 EA201001300A1 (ru) | 2011-02-28 |
| EA018123B1 true EA018123B1 (ru) | 2013-05-30 |
Family
ID=43778139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| EA201001300A EA018123B1 (ru) | 2009-07-20 | 2010-06-29 | Способ атомно-абсорбционного анализа |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| EA (1) | EA018123B1 (ru) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU890084A1 (ru) * | 1979-12-27 | 1981-12-15 | Предприятие П/Я Р-6409 | Измерительное устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра |
| SU1068731A1 (ru) * | 1982-06-11 | 1984-01-23 | Тбилисское Научно-Производственное Объединение "Аналитприбор" | Способ и устройство дл атомноабсорбционного анализа вещества |
| JP2002071558A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-08 | Shimadzu Corp | ファーネス式原子吸光分光光度計及びその調整方法 |
| RU2284018C1 (ru) * | 2005-09-23 | 2006-09-20 | Иван Васильевич Истомин | Атомно-абсорбционный спектрофотометр, атомизатор и осветительное устройство |
-
2010
- 2010-06-29 EA EA201001300A patent/EA018123B1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU890084A1 (ru) * | 1979-12-27 | 1981-12-15 | Предприятие П/Я Р-6409 | Измерительное устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра |
| SU1068731A1 (ru) * | 1982-06-11 | 1984-01-23 | Тбилисское Научно-Производственное Объединение "Аналитприбор" | Способ и устройство дл атомноабсорбционного анализа вещества |
| JP2002071558A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-08 | Shimadzu Corp | ファーネス式原子吸光分光光度計及びその調整方法 |
| RU2284018C1 (ru) * | 2005-09-23 | 2006-09-20 | Иван Васильевич Истомин | Атомно-абсорбционный спектрофотометр, атомизатор и осветительное устройство |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EA201001300A1 (ru) | 2011-02-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2354958C2 (ru) | Способ флуорометрического определения параметров фотосинтеза фотоавтотрофных организмов, устройство для его осуществления и измерительная камера | |
| Castiglioni et al. | Revisiting with updated hardware an old spectroscopic technique: circularly polarized luminescence | |
| KR102299156B1 (ko) | 시간 계측 장치, 시간 계측 방법, 발광 수명 계측 장치, 및 발광 수명 계측 방법 | |
| Hou et al. | Femtosecond filament-laser ablation molecular isotopic spectrometry | |
| KR102099230B1 (ko) | 형광분석에 의한 체외 검출 및/또는 정량화를 위한 시스템 | |
| JP2008256380A (ja) | 光計測装置及び光計測装置の調整方法 | |
| Sowoidnich et al. | Lock‐in detection in Raman spectroscopy with charge‐shifting CCD for suppression of fast varying backgrounds | |
| Bano et al. | Microcontroller based spectrophotometer using compact disc as diffraction grid | |
| EA018123B1 (ru) | Способ атомно-абсорбционного анализа | |
| JP2006242615A (ja) | ポンプ−プローブ測光装置および測光方法 | |
| Blumthaler et al. | A guide to measuring solar UV spectra using array spectroradiometers | |
| Martinsons et al. | Optical lock-in spectrometry reveals useful spectral features of temporal light modulation in several light source technologies | |
| JPH08145889A (ja) | 蛍光測定装置 | |
| WO2022036582A1 (zh) | 基于电子学同步的时间分辨光谱仪 | |
| Vogel et al. | Operando time-gated Raman spectroscopy of solid catalysts | |
| Bowman et al. | A single photon timing instrument that covers a broad temporal range in the reversed timing configuration | |
| WO2011155368A1 (ja) | 分光光度計 | |
| Talala et al. | Timing skew compensation methods for CMOS SPAD line sensors used for Raman spectroscopy | |
| Watanabe et al. | Analysis of a fluorescence depletion process of Rhodamine 6G in a PMMA matrix induced by nano-and picosecond lasers | |
| DE602007004077D1 (de) | Verfahren zur unmittelbaren Evalutation einer Schweißqualität | |
| Cadondon et al. | Pulsed LED light source for fluorescence spectroscopy applications | |
| JP2007093427A (ja) | 分析装置 | |
| JP2970709B2 (ja) | バックグラウンド除去時間分解フーリエ分光測定法 | |
| Shi et al. | Measurement of algae PSII photosynthetic parameters using high-frequency excitation flashes | |
| JP2015520366A (ja) | 励起状態の寿命に関してサンプルを検査する方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): AM AZ KZ KG MD TJ TM |
|
| MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): BY RU |