DK2811258T3 - Ultrafølsomt fotonisk hældningsmåler udnyttende det orbitale impulsmoment af lyset, og relevant vinkelmålingsfremgangsmåde - Google Patents

Ultrafølsomt fotonisk hældningsmåler udnyttende det orbitale impulsmoment af lyset, og relevant vinkelmålingsfremgangsmåde Download PDF

Info

Publication number
DK2811258T3
DK2811258T3 DK14425066.9T DK14425066T DK2811258T3 DK 2811258 T3 DK2811258 T3 DK 2811258T3 DK 14425066 T DK14425066 T DK 14425066T DK 2811258 T3 DK2811258 T3 DK 2811258T3
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
polarization
state
light beam
light
measuring
Prior art date
Application number
DK14425066.9T
Other languages
English (en)
Inventor
Ambrosio Vincenzo D
Lorenzo Marrucci
Sergei Slussarenko
Mario Leando Aolita
Leong Chuan Kwek
Ying Li
Fabio Sciarrino
Re Lorenzo Del
Stephen Patrick Walbron
Nicolò Spagnolo
Original Assignee
Univ Roma
Univ Napoli Federico Ii
Icfo Inst De Ciencies Fotoniques
Univ Rio De Janeiro
Univ Singapore
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Roma, Univ Napoli Federico Ii, Icfo Inst De Ciencies Fotoniques, Univ Rio De Janeiro, Univ Singapore filed Critical Univ Roma
Application granted granted Critical
Publication of DK2811258T3 publication Critical patent/DK2811258T3/da

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/344Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using polarisation
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/70Photonic quantum communication

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (14)

1. System (100, 100') til måling af den relative vinkelrotation Θ af to planer A og B, omfattende: - en lyskilde producerende en lysstråle, - første optisk undersystem integreret med plan A for at forberede en passende tilstand for lysstrålen; - andet optisk undersystem integreret med plan B for at måle tilstanden af lysstrålen forladende det første optiske system; hvor Θ er vinklen omkring en akse parallel med lysstrålen, kendetegnet ved at: - det første optiske undersystem omfatter i sekvens langs retningen af lysstrålen: ° organ (QWP, HWP) til at producere en lineært polariseret tilstand for lysstrålen; o en første q-plade (q-plade), som er en dobbeltbrydningsplade med en passende mønstret tværgående optisk akse og en topologisk singularitet ved sin midte med en associeret topologisk ladning q, og er anbragt til at forvandle en polariseringstilstand til en polariserings-/orbital impulsmomentstilstand; - det andet optiske undersystem omfatter i yderligere sekvens langs retningen af lysstrålen: o en anden q-plade (q-plade) med den samme topologiske ladning q som den første q-plade, hvor den anden q-plade er anbragt til at forvandle en polariserings-/orbital impulsmomentstilstand til en polariseringstilstand; o organ (PBS, APD) til at måle polariseringen af lysstrålen.
2. System ifølge krav 1, kendetegnet ved at organerne (QWP, HWP) til at producere en lineær polariseret tilstand for lysstrålen omfatter en kvartbølgeplade (QWP) og en halvbølgeplade (HWP), eller en polariseringsoptik som er ækvivalent i sin effekt på polariseringen af lysstrålen.
3. System ifølge krav 1 eller 2, kendetegnet ved at organerne (PBS, APD) til måling af polariseringen af lysstrålen omfatter en polariseringsstråledeler (PBS) og en fotodetektor (APD), eller polariseringsoptik som er ækvivalent i sin effekt på polariseringen af lysstrålen og detektorer som er ækvivalente i deres effekt på måling af lysstrålen.
4. System ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 3, kendetegnet ved at efter q-pladen i det første undersystem og før q-pladen i det andet undersystem respektive første og anden halvbølgeplader (HWP) er placeret, til yderligere at øge systemvinkelfølsom heden.
5. System ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, kendetegnet ved at - lyskilden er en lyskilde med periodisk moduleret polarisering, for eksempel en Zeeman-laser; - før organerne (QWP, HWP) til at producere en lineær polariseret tilstand for lysstrålen, er en stråledeler placeret, som skaber en referencestråle og en målestråle; - referencestrålen, efter polariseringsdetektion, giver anledning til et periodisk signal som anvendes til frekvens- og/eller fasestabilisering af lyskilden og som reference for en fasedetektor af målestrålen; - målestrålen anvendes af det første og andet undersystem til at opnå et forbedret fasevariation, hvor det periodiske signal genereret med organerne (PBS, APD) til måling af polariseringen af lysstrålen sendes til fasedetektoren som måler dets oscillationsfase i forhold til referencen; hvor oscillationsfasen er direkte relateret til vinkelrotationen som skal måles.
6. System (1000) til måling af den relative vinkelrotation cp af to planer B og B' uden direkte optisk forbindelse, kendetegnet ved at det omfatter: ° et første system (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, med to planer A og B; ° et andet system (1001) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, med to planer A' og B' ; hvor lyskilden (200) er af det første system (100) er den samme fælles lyskilde (200) som lyskilden af det andet system (100') og er egnet til at producere en korreleret to-stråletilstand, hvor den første stråle sendes til det første system og hvor den anden stråle sendes til det andet system, systemet yderligere omfattende et elektroniksystem til målingen af den samtidige detektering af de to stråler.
7. System ifølge krav 6, kendetegnet ved at den korrelerede to-stråletilstand er en to-foton sammenfiltret tilstand.
8. System (2000) til måling af den relative vinkelrotation Θ af to planer A og B, kendetegnet ved at det omfatter: o et første system (100) ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, med to planer A og B; o et andet system (100') ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 4, med planerne A' og B' respektivt parallelle med A og B; hvor lyskilden (200) er af det første system (100) er den samme fælles lyskilde (200) som lyskilden af det andet system (100') og er egnet til at producere en korreleret to-stråletilstand, hvor lige efter lyskilden placeres en halvbølgeplade (HWP) på banen af kun et af de to systemer, for at øge følsomheden af målingen, hvor den første stråle sendes til det første system og den anden stråle sendes til det andet system, systemet yderligere omfattende et elektroniksystem til målingen af den samtidige detektering af de to stråler.
9. Fremgangsmåde til måling af den relative vinkelrotation Θ af to planer A og B med anvendelse af systemet ifølge et hvilket som helst af kravene 1 til 5, kendetegnet ved at de følgende trin udføres: - at sende lysstrålen til det første undersystem; - at sende lysstrålen forladende det første undersystem til det andet undersystem; - at måle polariseringen af lyset i det andet undersystem.
10. Fremgangsmåde til måling af den relative vinkelrotation φ af to planer B og B' med anvendelse af systemet (1000) ifølge et hvilket som helst af kravene 6 eller 7 , kendetegnet ved at de følgende trin udføres: - at forberede en korreleret forbundet to-stråletilstand af en lysstråle; - at udføre fremgangsmåden ifølge krav 9 med anvendelse af en stråle af to-stråletilstanden som lysstrålen sendt til det første undersystem af det første system (100); - at udføre fremgangsmåden ifølge krav 9 med anvendelse af den anden stråle af to-stråletilstanden som lysstrålen sendt til det andet undersystem af det andet system (100'), og - at sammenligne polariseringerne målt i de andre undersystemer af det første og andet system ved at tælle den samtidige detektering af de to stråler.
11. Fremgangsmåde ifølge krav 10, kendetegnet ved at den korrelerede to-stråletilstand er en to-foton sammenfiltret tilstand.
12. Fremgangsmåde til måling af den relative vinkelrotation Θ af to planer A og B med anvendelse af systemet (2000) ifølge et hvilket som helst af kravene 10 til 11 , kendetegnet ved at de følgende trin udføres: - at forberede en korreleret to-stråletilstand afen lysstråle; - at udføre fremgangsmåden ifølge krav 9 med anvendelse af en stråle af to-stråletilstanden som lysstrålen sendt til det første undersystem af det første system (100); - at udføre fremgangsmåden ifølge krav 9 med anvendelse af den anden stråle af to-stråletilstanden som lysstrålen sendt til det andet undersystem af det andet system (100'), og - at sammenligne polariseringerne målt i de andre undersystemer af det første og andet system ved at tælle den samtidige detektering af de to stråler; hvor planerne A' og B' af det andet system er respektivt parallelle med plan A og B af det første system, og lige efter lyskilden placeres en halvbølgeplade (HWP) på banen af kun et af de to systemer, for at øge følsomheden af målingen.
13. Fremgangsmåde ifølge et hvilket som helst af kravene 9 til 12, hvor en flerhed af målinger udføres, som grupperes i målingssæt MSi, MS2, ... MSk, med K positivt heltal større end 1, sættet MSi indeholdende et heltals antal Mi af målinger, og kendetegnet ved at: - MSi er et målesæt udført uden at bruge den første og anden q-plade; - MSk er et målesæt udført med en K-l'ende værdi af den topologiske ladning q af q-pladen, hvor K-l'ende værdien af den topologiske ladning q er større end eller lig med K-2'ende værdien af den topologiske ladning q; Og ved at de følgende trin udføres: - på baggrund af MSi sæt, at estimere en første værdi af Θ eller φ med en tilsvarende første fejl; - at se bort fra målingsværdierne uden for den første fejl; - på baggrund af MSk sættet, at estimere en K'ende værdi af Θ eller φ med en tilsvarende K'ende fejl; at tage K'ende værdien af Θ eller φ som værdien af Θ eller φ målt med systemet ifølge et hvilket som helst af kravene 1-5, 7-8, 11.
14. Fremgangsmåde ifølge krav 13, kendetegnet ved at K er større end 2.
DK14425066.9T 2013-06-03 2014-05-30 Ultrafølsomt fotonisk hældningsmåler udnyttende det orbitale impulsmoment af lyset, og relevant vinkelmålingsfremgangsmåde DK2811258T3 (da)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT000318A ITRM20130318A1 (it) 2013-06-03 2013-06-03 Tiltmetro fotonico ultra-sensibile utilizzante il momento angolare orbitale della luce, e relative metodo di misura angolare.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DK2811258T3 true DK2811258T3 (da) 2016-05-23

Family

ID=48917640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK14425066.9T DK2811258T3 (da) 2013-06-03 2014-05-30 Ultrafølsomt fotonisk hældningsmåler udnyttende det orbitale impulsmoment af lyset, og relevant vinkelmålingsfremgangsmåde

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP2811258B1 (da)
DK (1) DK2811258T3 (da)
ES (1) ES2572102T3 (da)
IT (1) ITRM20130318A1 (da)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9733108B2 (en) * 2015-01-08 2017-08-15 Nec Corporation Method and apparatus for remote sensing using optical orbital angular momentum (OAM)-based spectroscopy for detecting lateral motion of a remote object
CN108168465B (zh) * 2017-12-23 2019-07-23 西安交通大学 一种共光路激光外差干涉法滚转角高精度测量装置及方法
CN112326024B (zh) * 2020-09-25 2022-07-22 山东师范大学 一种同时测量涡旋光束拓扑荷大小和正负的装置及方法
CN113446984B (zh) * 2021-05-22 2022-04-19 西安电子科技大学 轨道角动量探测概率优化选择方法、系统、介质、终端
CN114234856B (zh) * 2021-12-16 2024-05-03 广东鼎泰高科技术股份有限公司 一种刀具角度测量系统及钻针的主刀面角和次刀面角测量方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001503133A (ja) * 1996-08-16 2001-03-06 カム シー ラウ 5−軸/6−軸レーザ測定システム
ITTO20060303A1 (it) 2006-04-26 2007-10-27 Consiglio Nazionale Ricerche Lettera di incarico segue

Also Published As

Publication number Publication date
EP2811258A1 (en) 2014-12-10
EP2811258B1 (en) 2016-02-17
ITRM20130318A1 (it) 2014-12-04
ES2572102T3 (es) 2016-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK2811258T3 (da) Ultrafølsomt fotonisk hældningsmåler udnyttende det orbitale impulsmoment af lyset, og relevant vinkelmålingsfremgangsmåde
Yu et al. Compositing orbital angular momentum beams in Bi4Ge3O12 crystal for magnetic field sensing
D'ambrosio et al. Photonic polarization gears for ultra-sensitive angular measurements
Bhandari Polarization of light and topological phases
Beck Quantum mechanics: theory and experiment
Alodjants et al. Quantum phase measurements and non-classical polarization states of light
Arteaga et al. Stern-Gerlach experiment with light: separating photons by spin with the method of A. Fresnel
Nichols Coherence in polarimetry
Yun et al. Generation of positively-momentum-correlated biphotons from spontaneous parametric down-conversion
Yang et al. Quantum theory of photonic vortices and quantum statistics of twisted photons
Wolfgramm Atomic quantum metrology with narrowband entangled and squeezed states of light
Wolinski Polarization phenomena in optical systems
Barberena et al. All-optical polarimetric generation of mixed-state single-photon geometric phases
Shi et al. Vortex-phase-dependent momentum and position entanglement generated from cold atoms
Samlan et al. Quantifying classical entanglement using polarimetry: Spatially-inhomogeneously polarized beams
Suchat et al. Measurement of the Verdet constant in different mediums by using ellipsometry technique
Cattaneo et al. Application of second-harmonic generation to retardation measurements
Milione Vector beams for fundamental physics and applications
Silvestri et al. Experimental Observation of Earth's Rotation with Quantum Entanglement
TJUEN Experimental implementation of higher dimensional entanglement
RU2560148C1 (ru) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТООПТИЧЕСКИХ ЭФФЕКТОВ in situ
Andreev Polarimetry on the Advanced Cold Molecule Electron Electric Dipole Moment Experiment
Dahoo et al. Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Debnath et al. Orbital Angular Momenta and Geometric Phase Characteristics of Spin-polarized Components of a General Paraxial Beam-field
Cui et al. On-chip Mach-Zehnder-like interferometer for atomic spin precession detection