DK1738136T3 - Måleapparat og -fremgangsmåde i et fordelingssystem - Google Patents

Måleapparat og -fremgangsmåde i et fordelingssystem Download PDF

Info

Publication number
DK1738136T3
DK1738136T3 DK05722213.5T DK05722213T DK1738136T3 DK 1738136 T3 DK1738136 T3 DK 1738136T3 DK 05722213 T DK05722213 T DK 05722213T DK 1738136 T3 DK1738136 T3 DK 1738136T3
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
carrier
light
sensor
light source
image
Prior art date
Application number
DK05722213.5T
Other languages
English (en)
Inventor
Mattias Johannesson
Fredrik Nilsson
Karl-Gunnar Gunnarsson
Original Assignee
Sick Ivp Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sick Ivp Ab filed Critical Sick Ivp Ab
Application granted granted Critical
Publication of DK1738136T3 publication Critical patent/DK1738136T3/da

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (41)

1. Fremgangsmåde til at måle tilstedeværelsen og/eller positionen afen genstand (12) placeret på en bærer (13), som bevæger sig i en forudbestemt bevægelsesretning (1) i et fordelingssystem, omfattende trinnene: - belysning af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) med indfaldslys med mindst en lyskilde (14); - gentagende måling af tværsnit af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) ved at detektere reflekteret lys fra nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) når nævnte bærer (13) bevæges i nævnte bevægelsesretning (1) under anvendelse af mindst en sensor (11), der er placeret med en forudbestemt afstand fra nævnte mindst ene lyskilde (14); - konvertering af det detekterede lys til elektriske signaler; - opnåelse af et tredimensionelt underbillede (R) for hvert målte tværsnit af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) fra hver måling af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) under anvendelse af nævnte elektriske signaler; - opnåelse af et tredimensionelt billede af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) fra en eller flere af nævnte opnåede underbilleder ved sammensætning af nævnte opnåede underbilleder; og - bestemmelse af tilstedeværelsen og/eller positionen af nævnte genstand (12) på nævnte bærer (13) fra nævnte tredimensionelle billede, hvor bestemmelsen omfatter at sammenligne nævnte tredimensionelle billede med et referencebillede af formen af nævnte bærer (13).
2. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til bestemmelse af intensitetsfordelingen af det reflekterede lys fra nævnte genstand (12).
3. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til bestemmelse af den tredimensionelle form af nævnte genstand (12) fra nævnte tredimensionelle billede, hvilken bestemmelse omfatter at sammenligne nævnte tredimensionelle billede med referencebilledet af formen af nævnte bærer (13).
4. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor nævnte referencebillede manuelt lagres i en beregningsenhed.
5. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor nævnte referencebillede automatisk lagres i en beregningsenhed, hvilken enhed automatisk læres formen af nævnte bærer (13).
6. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til måling af lys spredt i nævnte genstand.
7. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor bæreren (13) yderligere er bevægelig i en anden retning forskellig fra den forudbestemte bevægelsesretning (1), hvorved positionen af nævnte genstand (12) på bæreren (13) justeres, når den bestemte position af nævnte genstand (12) er uden for et forudbestemt positionsområde på nævnte bærer.
8. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til reducering af okklusion ved at anvende mindst to lyskilder (74a, 74b; 84a, 84b), der belyser nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) i det samme lysplan.
9. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til reducering af okklusion ved at anvende mindst to sensorer (81a, 81b; 91a, 91b), der ser nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) fra forskellige positioner.
10. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor positionen af nævnte genstand (12) beregnes ved at anvende manglende data opnået, hvis intet reflekteret lys er detekteret af nævnte mindst ene sensor (11).
11. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til optimering af målingen af tilstedeværelsen og positionen af nævnte genstand (102) ved at anvende mindst en detektor (105a-c), som måler uden for et synsfelt af nævnte mindst ene sensor (101).
12. Fremgangsmåde ifølge krav 1, yderligere omfattende trinnet til synkronisering af målingen af nævnte genstand (12) med bærebevægelsen ved at anvende mindst en detektor (115a-c).
13. Fremgangsmåde ifølge krav 12, hvor synkroniseringen opnås ved at anvende en bevægelsesdetektor, som føder impulser, når nævnte bærer (13) bevæger sig i bevægelsesretningen.
14. Fremgangsmåde ifølge krav 12, hvor synkroniseringen opnås ved at anvende mindst to detektorer (115a-c), der tilvejebringer et udløsersignal, når bæreren (13) er i en målingsposition.
15. Fremgangsmåde ifølge krav 1, hvor formmålingen udføres ved at anvende triangulering.
16. Apparat til måling af tilstedeværelsen og/eller positionen afen genstand (12) placeret på en bærer (13), som bevæger sig i en forudbestemt bevægelsesretning (1) i et fordelingssystem, hvilket apparat omfatter: - mindst en lyskilde (14) indrettet til at belyse nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) med indfaldslys; - mindst en sensor (11) placeret på en forudbestemt afstand fra nævnte mindst ene lyskilde (14) og indrettet til gentagende at måle tværsnit af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) ved at detektere reflekteret lys fra nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13), når nævnte bærer (!3) bevæges i nævnte bevægelsesretning (1) og til at konvertere det detekterede lys til elektriske signaler; - en billedbehandlingsenhed indrettet til at anvende de elektriske signaler og at opnå et tredimensionelt underbillede (R) af hvert af de målte tværsnit af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) og til at opnå et tredimensionelt billede af nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) fra en eller flere af nævnte opnåede underbilleder ved sammensætning af nævnte opnåede underbilleder; og - en beregningsenhed indrettet til at bestemme tilstedeværelsen og/eller positionen af nævnte genstand (12) på nævnte bærer (13) fra nævnte tredimensionelle billede, hvor beregningsenheden er yderligere indrettet til at sammenligne nævnte tredimensionelle billede med et referencebillede af formen af nævnte bærer (13).
17. Apparat ifølge krav 16, hvor beregningsenheden yderligere er indrettet til at bestemme intensitetsfordelingen af det reflekterede lys fra nævnte genstand (12).
18. Apparat ifølge krav 16, hvor beregningsenheden yderligere er indrettet til at bestemme den tredimensionelle form af nævnte genstand (12) fra nævnte tredimensionelle billede.
19. Apparat ifølge krav 16, hvor nævnte referencebillede manuelt lagres i nævnte beregningsenhed.
20. Apparat ifølge krav 16, hvor nævnte beregningsenhed er indrettet til automatisk at lære formen af nævnte bærer (13).
21. Apparat ifølge krav 16, hvor nævnte sensor yderligere er indrettet til at måle lys spredt i nævnte genstand (12).
22. Apparat ifølge krav 16, hvor lyskilden (14) er et laserlys.
23. Apparat ifølge krav 16, hvor lyskilden (14) er indrettet til at generere et af de følgende lys: lineært lys, punktlys eller lys bestående af flere i alt væsentligt punkt- eller lineære segmenter.
24. Apparat ifølge krav 16, omfattende to lyskilder (74a, 74b) og en sensor (71) hvor de to lyskilder (74a, 74b) er indrettet på hver side af nævnte sensor (71) og på en forudbestemt afstand fra nævnte sensor (71), hvor de to lyskilder (74a, 74b) er indrettet til at belyse nævnte genstand (12) og nævnte bærer (13) i det samme lysplan og til at reducere okklusion.
25. Apparat ifølge krav 16 omfattende en første og en anden sensor (81a, 81b) og en første og en anden lyskilde (84a, 84b), hvor nævnte første og nævnte anden sensor (81a, 81b) er forbundet til hinanden og hvor nævnte beregningsenhed er indrettet i en af de to sensorer (81a, 81b).
26. Apparat ifølge krav 16, omfattende en første og en anden sensor og en første og en anden lyskilde (84a, 84b), hvor nævnte første og nævnte anden sensor (81a, 81b) er forbundet til hinanden og hvor nævnte beregningsenhed er indrettet som en separat enhed forbundet til nævnte to sensorer (81a, 81b).
27. Apparat ifølge krav 16, hvor apparatet omfatter en første og en anden sensor (91a, 91b) og en lyskilde (94), hvor lyskilden (94) er anbragt over genstanden mellem de to sensorer (91a, 91b) og hvor nævnte første og nævnte anden sensor (91a, 91b) er anbragt på hver side af lyskilden (94) i nævnte bevægelsesretning af nævnte bærer (13) på en forudbestemt afstand fra nævnte lyskilde (94) og indrettet til at reducere okklusion.
28. Apparat ifølge krav 27, hvor nævnte første og nævnte anden sensor (91a, 91b) er forbundet til hinanden og hvor nævnte beregningsenhed er anbragt i en af de to sensorer (91a, 91b).
29. Apparat ifølge krav 27, hvor nævnte første og nævnte anden sensor (91a, 91b) er forbundet til hinanden og hvor nævnte beregningsenhed er indrettet som en separat enhed forbundet til nævnte to sensorer (91a, 91b).
30. Apparat ifølge krav 16, hvor nævnte lyskilde (14) og nævnte sensor (11) er anbragt i et hus.
31. Apparat ifølge krav 30, hvor nævnte beregningsenhed også er anbragt i nævnte hus.
32. Apparat ifølge krav 16, yderligere omfattende mindst en detektor (105a-c) indrettet til at måle uden for et synsfelt af nævnte mindst ene sensor (101) og indrettet til optimere målingen af tilstedeværelsen og positionen af nævnte genstand (102).
33. Apparat ifølge krav 32, hvor nævnte mindst en detektor (105a-c) er en af de følgende: en punktdetektor, en fotoskifter eller en fotosensor.
34. Apparat ifølge krav 16, yderligere omfattende mindst en detektor (115a, 115b) indrettet til at synkronisere målingen af nævnte genstand (12) med bærebevægelsen.
35. Apparat ifølge krav 34, hvor en bevægelsesdetektor er anvendt til at synkronisere målingen af positionen af nævnte genstand (12) med bærebevægelsen og indrettet til at føde impulser mod nævnte genstand (12) når nævnte bærer (13) bevæger sig i bevægelsesretningen.
36. Apparat ifølge krav 34, omfattende mindst to detektorer (115a, 115b) indrettet til at opnå nævnte synkronisering ved at tilvejebringe et udløsersignal når nævnte bærer (13) er i en målingsposition.
37. Apparat ifølge krav 36, hvor nævnte mindst to detektorer (115a, 115b) er en af de følgende: punktdetektorer, fotoskiftere eller fotosensorer.
38. System til fordeling og/eller sortering af genstande, hvilket system omfatter mindst en bærer (13), som bevæger sig i en forudbestemt bevægelsesretning (1) og apparatet ifølge krav 16.
39. System ifølge krav 38, hvor bæreren yderligere er indrettet til at bevæge i en anden retning forskellig fra den forudbestemte bevægelsesretning (1) og til at justere positionen af nævnte genstand (12) på bæreren (13) når den bestemte position af nævnte genstand (12) er uden for et forudbestemt positionsområde på nævnte bærer (13).
40. System ifølge krav 38, hvor bæreren (13) er en af de følgende: en flipbakke, en båndsorterer, en krydsbæltebakke eller et transportbånd.
41. System ifølge krav 38, hvor nævnte bærer (13) har en af de følgende former: skålform, fladform eller fladform med kanter.
DK05722213.5T 2004-04-19 2005-03-15 Måleapparat og -fremgangsmåde i et fordelingssystem DK1738136T3 (da)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/827,896 US7084989B2 (en) 2004-04-19 2004-04-19 Measuring apparatus and method in a distribution system
PCT/SE2005/000367 WO2005100909A1 (en) 2004-04-19 2005-03-15 Measuring apparatus and method in a distribution system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DK1738136T3 true DK1738136T3 (da) 2018-08-06

Family

ID=35095937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK05722213.5T DK1738136T3 (da) 2004-04-19 2005-03-15 Måleapparat og -fremgangsmåde i et fordelingssystem

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7084989B2 (da)
EP (1) EP1738136B1 (da)
JP (1) JP5183197B2 (da)
CN (1) CN100408971C (da)
CA (1) CA2561923C (da)
DK (1) DK1738136T3 (da)
WO (1) WO2005100909A1 (da)

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3930482B2 (ja) * 2004-01-19 2007-06-13 ファナック株式会社 3次元視覚センサ
DE102005038019A1 (de) * 2005-08-09 2007-02-15 Cedes Ag Sensorvorrichtung zur Detektion eines Überhangs an der Beladung einer Trägereinrichtung
EP1830176A1 (en) * 2006-03-02 2007-09-05 FOSS Analytical AB Device and method for optical measurement of small particles such as grains from cereals and like crops
DE102006034205B4 (de) * 2006-07-25 2012-03-01 Carl Mahr Holding Gmbh Dynamische Bildaufnahme mit bildgebenden Sensoren
DE102006042907A1 (de) 2006-09-13 2008-03-27 Phoenix Conveyor Belt Systems Gmbh Einrichtung zur Überwachung einer Förderanlage
US20080156619A1 (en) 2006-12-01 2008-07-03 Mehul Patel Range finder
JP5151136B2 (ja) * 2006-12-15 2013-02-27 東芝三菱電機産業システム株式会社 形状測定装置
JP5151137B2 (ja) * 2006-12-15 2013-02-27 東芝三菱電機産業システム株式会社 形状測定装置
DK1985969T3 (da) * 2007-04-26 2017-12-04 Sick Ivp Ab Fremgangsmåde og apparat til at bestemme mængden af spredt lys i et maskinvisionssystem
DE202007007160U1 (de) * 2007-05-19 2007-08-02 Leica Microsystems Nussloch Gmbh Vorrichtung zur Erzeugung von Dünnschnitten
WO2009097687A1 (en) * 2008-02-05 2009-08-13 CENTRE DE RECHERCHE INDUSTRIELLE DU QUéBEC Method and apparatus for measuring size distribution of granular matter
FR2929481B1 (fr) * 2008-03-26 2010-12-24 Ballina Freres De Procede et installation d'examen visiometrique de produits en defilement
DE102008048963B4 (de) * 2008-09-25 2011-08-25 Technische Universität Braunschweig Carolo-Wilhelmina, 38106 3D-Geometrie-Erfassungsverfahren und -vorrichtung
US8294971B2 (en) * 2008-12-18 2012-10-23 Bausch • Lomb Incorporated Apparatus comprising an optical path delay scanner
US8243289B2 (en) * 2009-05-29 2012-08-14 Perceptron, Inc. System and method for dynamic windowing
US7995218B2 (en) 2009-05-29 2011-08-09 Perceptron, Inc. Sensor system and reverse clamping mechanism
US8031345B2 (en) 2009-05-29 2011-10-04 Perceptron, Inc. Hybrid sensor
KR20120068014A (ko) * 2009-09-03 2012-06-26 씨씨에스 가부시키가이샤 표면 검사용 조명·촬상 시스템 및 데이터 구조
CN102240884A (zh) * 2010-05-13 2011-11-16 苏州国光机电工业有限公司 一种链板通孔处理系统及其处理方法
US8381976B2 (en) * 2010-08-10 2013-02-26 Honeywell International Inc. System and method for object metrology
US8421844B2 (en) 2010-08-13 2013-04-16 Alcatel Lucent Apparatus for correcting gaze, a method of videoconferencing and a system therefor
CN103443802B (zh) 2011-01-24 2016-12-14 数据逻辑Adc公司 用于读取光学代码的系统和方法
CN103918252B (zh) * 2011-11-04 2017-06-06 英派尔科技开发有限公司 用于图像的ir信号捕获
US9651363B2 (en) 2012-07-24 2017-05-16 Datalogic Usa, Inc. Systems and methods of object measurement in an automated data reader
DE102012015324A1 (de) * 2012-08-02 2014-02-06 Kuka Roboter Gmbh Verfahren zum Ermitteln der Position eines Objekts
JP5435091B2 (ja) * 2012-08-24 2014-03-05 東芝三菱電機産業システム株式会社 形状測定装置
DE102012215183B4 (de) * 2012-08-27 2025-07-03 Dürr Systems Ag Kontrollvorrichtung für eine Fördervorrichtung und Verfahren zum Kontrollieren einer Fördervorrichtung
US9488469B1 (en) * 2013-04-22 2016-11-08 Cognex Corporation System and method for high-accuracy measurement of object surface displacement using a laser displacement sensor
US9684010B2 (en) * 2013-05-24 2017-06-20 Pavel Romashkin Screen-less ballistic chronograph
US9267784B2 (en) 2013-07-15 2016-02-23 Faro Technologies, Inc. Laser line probe having improved high dynamic range
US9835642B2 (en) * 2013-11-08 2017-12-05 The Johns Hopkins University High speed image processing device
US9531967B2 (en) * 2013-12-31 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Dynamic range of a line scanner having a photosensitive array that provides variable exposure
US9658061B2 (en) 2013-12-31 2017-05-23 Faro Technologies, Inc. Line scanner that uses a color image sensor to improve dynamic range
JP6234253B2 (ja) * 2014-01-31 2017-11-22 株式会社キーエンス 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体
KR102202232B1 (ko) * 2014-02-05 2021-01-13 한국전자통신연구원 소포 구분 시스템 및 그 방법
CN104215178B (zh) * 2014-09-28 2016-08-31 福建师范大学 基于反射镜二次成像的物体体积非接触测量方法及装置
KR101641938B1 (ko) * 2014-12-24 2016-07-22 주식회사 포스코 방향성 전기 강판의 자구 미세화 방법 및 그 장치
KR101650401B1 (ko) * 2014-12-24 2016-08-23 주식회사 포스코 방향성 전기 강판의 자구 미세화 방법 및 그 장치
KR101639920B1 (ko) * 2014-12-26 2016-07-15 주식회사 포스코 방향성 전기강판의 자구미세화 장치 및 그 방법
US10349491B2 (en) 2015-01-19 2019-07-09 Tetra Tech, Inc. Light emission power control apparatus and method
US10362293B2 (en) 2015-02-20 2019-07-23 Tetra Tech, Inc. 3D track assessment system and method
FR3041424B1 (fr) * 2015-09-22 2020-06-19 Solystic Procede pour mesurer un profil 3d d'un objet
EP3203264B1 (en) * 2016-02-04 2024-08-28 Mettler-Toledo GmbH Method of imaging an object for tracking and documentation during transportation and storage
EP3433573B1 (de) 2016-03-22 2020-06-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung zur 3-dimensionalen vermessung eines objekts, verfahren und computerprogramm
WO2017210355A1 (en) * 2016-05-31 2017-12-07 Industrial Dynamics Company, Ltd. Method and system for testing and inspecting containers using one or more light reflections and positional data
US10527557B2 (en) * 2017-12-29 2020-01-07 Radiant Vision Systems, LLC Adaptive diffuse illumination systems and methods
US10730538B2 (en) 2018-06-01 2020-08-04 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating plate cut and rail seat abrasion based on measurements only of rail head elevation and crosstie surface elevation
US11377130B2 (en) 2018-06-01 2022-07-05 Tetra Tech, Inc. Autonomous track assessment system
US10807623B2 (en) 2018-06-01 2020-10-20 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for gathering data from sensors oriented at an oblique angle relative to a railway track
US10625760B2 (en) 2018-06-01 2020-04-21 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating wooden crosstie plate cut measurements and rail seat abrasion measurements based on rail head height
CN111351441A (zh) * 2018-12-20 2020-06-30 大连因特视智能传感科技有限公司 基于视觉的厚度测量设备及方法
EP3969939A4 (en) 2019-05-16 2023-06-07 Tetra Tech, Inc. SYSTEM AND METHOD FOR GENERATION AND INTERPRETATION OF POINT CLOUDS OF A RAILWAY CORRIDOR ALONG A SURVEY LINE
DE102019117849B4 (de) * 2019-07-02 2023-06-15 Sick Ag Erfassung eines Objekts in einem Überwachungsbereich
KR102443188B1 (ko) * 2020-09-28 2022-09-15 현대무벡스 주식회사 화물 분류 시스템 및 그 제어방법

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4498778A (en) 1981-03-30 1985-02-12 Technical Arts Corporation High speed scanning method and apparatus
JPS59112211A (ja) * 1982-09-29 1984-06-28 テクニカル、ア−ツ、コ−ポレ−シヨン 加工物の空間座標決定方法および装置
DE3528047A1 (de) 1985-08-05 1987-02-05 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zum orten von unbekannten gegenstaenden
US4741621A (en) 1986-08-18 1988-05-03 Westinghouse Electric Corp. Geometric surface inspection system with dual overlap light stripe generator
US4929843A (en) 1989-06-28 1990-05-29 General Electric Company Apparatus and method for determining a dimension of an object
JPH04127006A (ja) * 1990-06-20 1992-04-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 三次元画像入力装置
JP2767340B2 (ja) 1991-12-26 1998-06-18 ファナック株式会社 物体の3次元位置・姿勢計測方式
SE9400849L (sv) 1994-03-08 1995-04-03 Soliton Elektronik Ab Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke
JP3543442B2 (ja) * 1995-09-26 2004-07-14 松下電工株式会社 物品の干渉検出方法
DE69629482T2 (de) * 1996-12-31 2004-06-17 Datalogic S.P.A., Lippo Di Calderara Di Reno Verfahren und Apparat zur Volumenmessung eines Gegenstandes mittels eines Laserabtasters
US5900611A (en) 1997-06-30 1999-05-04 Accu-Sort Systems, Inc. Laser scanner with integral distance measurement system
EP0903681B1 (en) * 1997-09-17 2001-07-04 DATALOGIC S.p.A. Apparatus and process for detecting the presence and the aerial dimension of an object
JP3732643B2 (ja) * 1998-02-02 2006-01-05 松下電器産業株式会社 レンジファインダ装置及び画像伝送装置
DE19852653A1 (de) * 1998-11-16 2000-05-18 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Erfassen der Belegung eines Fahrzeugsitzes
CA2278108C (en) * 1999-07-20 2008-01-29 The University Of Western Ontario Three-dimensional measurement method and apparatus
DE19940403A1 (de) * 1999-08-25 2001-03-01 Sick Ag Verfahren und Vorrichtung zum Identifizieren und zur Positionsbestimmung von Objekten
US6369401B1 (en) 1999-09-10 2002-04-09 Agri-Tech, Inc. Three-dimensional optical volume measurement for objects to be categorized
JP2001116534A (ja) * 1999-10-15 2001-04-27 Kubota Corp 真円度判定方法、真円度演算装置及び記録媒体
US6603563B1 (en) 2000-04-05 2003-08-05 Accu-Sort Systems, Inc. Apparatus for determining measurements of an object utilizing negative imaging
JP4040825B2 (ja) * 2000-06-12 2008-01-30 富士フイルム株式会社 画像撮像装置及び距離測定方法
JP2002277222A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Kajima Corp シールド掘進時の排土量計測方法及びシステム
JP2002286422A (ja) * 2001-03-25 2002-10-03 Omron Corp 変位センサ
GB2366561B (en) 2001-06-07 2002-07-24 Cleco Systems Ltd Warehouse sorting machine
JP2003156438A (ja) * 2001-11-20 2003-05-30 Yanmar Agricult Equip Co Ltd 農産物非破壊品質判定装置
JP2004005357A (ja) * 2002-04-16 2004-01-08 Y-Tec:Kk 画像処理装置と画像処理方法
CN1297796C (zh) * 2003-07-02 2007-01-31 西安交通大学 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
CN1194207C (zh) * 2003-07-02 2005-03-23 西安邮电学院 一种多截面合成三维形面测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1738136B1 (en) 2018-06-20
CA2561923A1 (en) 2005-10-27
CN100408971C (zh) 2008-08-06
US7084989B2 (en) 2006-08-01
US20050231734A1 (en) 2005-10-20
CA2561923C (en) 2009-10-06
JP2007532929A (ja) 2007-11-15
EP1738136A1 (en) 2007-01-03
JP5183197B2 (ja) 2013-04-17
WO2005100909A1 (en) 2005-10-27
CN1942735A (zh) 2007-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK1738136T3 (da) Måleapparat og -fremgangsmåde i et fordelingssystem
US8781159B2 (en) System and method for dimensioning objects using stereoscopic imaging
US8284988B2 (en) System and method for dimensioning objects using stereoscopic imaging
KR102291429B1 (ko) 표면 검사 시스템 및 표면 검사 방법
US20250166269A1 (en) Systems and Methods for Stitching Sequential Images of an Object
EP1269114B1 (en) Apparatus and method for determining the dimensions of an object utilizing negative imaging
US8520220B2 (en) Apparatus for measuring the dimensions of an object
US20110310244A1 (en) System and method for detecting a defect of a substrate
WO2009158363A1 (en) Package dimensioner and reader
JP6639181B2 (ja) 撮像装置、生産システム、撮像方法、プログラム及び記録媒体
CN107855287A (zh) 一种快递货物体积自动检测系统
WO1999049277A1 (en) An optical sensor system for incorporation in a conveyor system and a method for determining the geometry and/or angular position of a moving object
US10151583B2 (en) Method of measuring a 3D profile of an article
KR20150037545A (ko) 3차원 측정 장치, 3차원 측정 방법 및 기판의 제조 방법
CN1844899A (zh) 检测宽物品的方法
JP2006258582A (ja) 画像入力装置および画像入力方法
JP2024002525A (ja) バーコード検出システム、バーコード検出方法、及びバーコード検出プログラム
JPH0749930B2 (ja) 実装基板検査装置
JP4720742B2 (ja) 物流量測定方法及び物流量測定装置
Becker et al. Sensor system for subpixel geometry and surface inspection of cuboid and ring-shaped objects
Becker et al. Multi-sensor system for surface inspection and 3D-geometry assessment
JP2000258358A (ja) ストリーク検紙装置
JPH0875425A (ja) 三次元計測装置