DE9301901U1 - Vorrichtung zur Topographiemessung mittels projizierter Muster - Google Patents

Vorrichtung zur Topographiemessung mittels projizierter Muster

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4338307C1 (de) * 1993-11-10 1995-05-18 Mierswa Klaus Dipl Ing Verfahren zur optischen Detektion von Objekten oder Objektströmen, deren Oberflächen Licht zu reflektieren oder zu streuen imstande sind, die selbstaffine oder selbstähnliche oder fraktale Muster oder Strukturen aufweisen
DE102005054337A1 (de) * 2005-11-11 2007-05-16 Opto Control Elektronik Pruefs Dreidimensionales Objektvermessungssystem
WO2016012590A3 (de) * 2014-07-25 2016-03-24 E. Zoller Gmbh & Co. Kg Lichtprojektor mit einer optischen korrektur

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