DE9301901U1 - Vorrichtung zur Topographiemessung mittels projizierter Muster - Google Patents
Vorrichtung zur Topographiemessung mittels projizierter MusterInfo
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4338307C1 (de) * | 1993-11-10 | 1995-05-18 | Mierswa Klaus Dipl Ing | Verfahren zur optischen Detektion von Objekten oder Objektströmen, deren Oberflächen Licht zu reflektieren oder zu streuen imstande sind, die selbstaffine oder selbstähnliche oder fraktale Muster oder Strukturen aufweisen |
DE102005054337A1 (de) * | 2005-11-11 | 2007-05-16 | Opto Control Elektronik Pruefs | Dreidimensionales Objektvermessungssystem |
WO2016012590A3 (de) * | 2014-07-25 | 2016-03-24 | E. Zoller Gmbh & Co. Kg | Lichtprojektor mit einer optischen korrektur |
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1993
- 1993-02-11 DE DE9301901U patent/DE9301901U1/de not_active Expired - Lifetime
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DE4338307C1 (de) * | 1993-11-10 | 1995-05-18 | Mierswa Klaus Dipl Ing | Verfahren zur optischen Detektion von Objekten oder Objektströmen, deren Oberflächen Licht zu reflektieren oder zu streuen imstande sind, die selbstaffine oder selbstähnliche oder fraktale Muster oder Strukturen aufweisen |
DE102005054337A1 (de) * | 2005-11-11 | 2007-05-16 | Opto Control Elektronik Pruefs | Dreidimensionales Objektvermessungssystem |
WO2016012590A3 (de) * | 2014-07-25 | 2016-03-24 | E. Zoller Gmbh & Co. Kg | Lichtprojektor mit einer optischen korrektur |
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