DE8534299U1 - Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse - Google Patents
Reflektor für eine Meßanordnung zur RöntgenfluoreszenzanalyseInfo
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Description
Die Neuerung betrifft einen Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse, mit dem die von einer Strahlenquelle
emittierende Röntgenstrahlung streifend auf eine Probe ausgerichtet wird, wobei die Röntgenstrahlung diese
Probe anregt und die aus der Probe austretende Fluoreszenzstrahlung mit einem Detektor untersucht wird (wie es in der
DE-AS 27 36 960 beschrieben ist).
Die bekannte Meßanordnung verwendet jedoch Reflektoren mit planen Oberflächen, die plan-parallel zur Probenoberfläche
einzustellen sind. Die Divergenz der anregenden Strahlung wird durch Spiegelung an der Reflektoroberfläche nicht verändert,
so daß die am Probenort zur Verfugung stehende Strahlungsintensität mit dem Quadrat der Entfernung von
Anode zur Probenoberfläche abnimmt. Der Einsatz gebogener
Reflektoren als Monochromatoren für die Röntgenfluareszenzanalyse
ist zwar schon bekannt, diese Reflektoren beruhen jedoch auf dem Prinzip der sog. Bragg-Reflektion und nicht
auf dem physikalisch grundsätzlich verschiedenen Effekt der
Totalreflexion von Röntgenstrahlen. So ist z. B. bei der
Bragg-Reflexion wegen ihrer Energieselektivität mit erheblichen
Intensitätsverlusten zu rechnen, während die Totalreflexion im Prinzip verlustlos ist. Darüber hinaus drbeiten
Bragg-Reflektoren in einem Bereich größerer Winkel und in geometrischen Anordnungen, die für die Röntgenfluoreszenzanalyse
rr.it totalreflektierendein Probenträger oder an totalreflektierenden
Probenoberflächen völlig ungeeignet sind, da hier die maximal vorkommenden Wickel der Anregungsstrahlen
auf wenige Bogenminuten begrenzt werden müssen.
Die der Neuerung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, den
Reflektor in der e. g. Meßanordnung so zu verbessern, daß die Divergenz der anregenden Strahlung auf dem Proberfleck
vermindert wird,
* ι
• I
I I I I · ·
< t ···
III · · · · <
Die Lösung ist neuerungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche des Reflektors totalreflektierend gekrümmt
ausgebildet ist.
Eine Weiterbildung der Neuerung sieht vors daß mit Reflektoren
von unterschiedlichem Krümmungsradius der Abstand zwischen Reflektor und Oberfläche der Probe variierbar ist.
Mit dem neuerungsgemäßen Vorschlag ist es möglich, bei streifendem Einfall der Strahlung auf die Oberfläche der
Probe mit maximalen Winkeln von wenigen Bogenminuten, den
nahezu 100 56-igen Wirkungsgrad der Totalreflektion am
Reflektor auszunutzen. Außerdem ist der Abstand zwischen Reflektor und Probe ohne wesentliche Nachweisverluste zu
vergrößern, so daß ζ. B. die Abtastung größerer Probenteile ermöglicht wird.
Die Neuerung wird im folgenden anhand eines Äusführungsbeispiels
mittels der Figuren 1 und 2 näher erläutert.
Auf genauere Angaben bezüglich der verwendeten Meßanordnung wurde verzichtet, da eine solche verwendbar ist, wie sie in
der DE-AS 27 36 960 beschrieben ist. In Fig. 1 ist daher lediglich der Strahlenveriauf der anregenden Röntgenstrahlung
1, 11 zwischen der Röntgenquellenanode 2, dem Reflektor
3 und der Oberfläche 4 der Probe 5 aufgezeigt. Der Strahlenverlauf 1, 1" wird mittels der schematisch dargestellten
Blenden 6 und 7 begrenzt. Die Oberfläche 8 des Reflektors ist gekrümmt ausgebildet (Zylinderoberfläche), so daß sie
totalreflektierend wird. Hierdurch entsteht praktisch ein Fokussierungseffekt für die Röntgenstrahlung 1 zu 1' und
eine Bündelung zur Probenoberfläche 4 hin.
Der Zusammenhang zwischen der zur Verfügung gestellten
Strahlungsintensität I (in relativen !Einheiten) bzw* dem
Intensitätsverlauf der anregenden Strahlung am Probenort ist als Funktion des Krijmmungsradius r (in Metern) des Reflektors
3 für zwei Breiten (15 um und 40 um) der Anode 2 in Fig* 2 dargestellt.
Claims (2)
1. \Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenz-
analyse^ mit dem die von einer Stranlenquelle emittierende
Röntgenstrahlung streifend auf eine Probe ausgerichtet wird, wobei die Röntgenstrahlung diese Probe
anregt und die aus der Probe austretende Fluoreszenzstrahlung mit einem Detektor untersucht wird, dadurch
gekennzeichnet, daß die Oberfläche (4) des Reflektors (3) totalreflektierend gekrümmt ausgebildet ist.
2. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Krümmungsradius (r) unterschiedlich ausführbar ist.
- 2 -
*
* t t t t
4 t I
*
* III
I HII · *
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19858534299 DE8534299U1 (de) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19858534299 DE8534299U1 (de) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE8534299U1 true DE8534299U1 (de) | 1986-03-27 |
Family
ID=6787959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19858534299 Expired DE8534299U1 (de) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE8534299U1 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0372278A2 (de) * | 1988-12-02 | 1990-06-13 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Verfahren und Anordung zur Untersuchung von Proben nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
| WO1995022758A1 (de) * | 1994-03-04 | 1995-08-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgen-analysegerät |
| WO2002025258A1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-03-28 | X-Ray Optical Systems, Inc. | Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic |
-
1985
- 1985-12-06 DE DE19858534299 patent/DE8534299U1/de not_active Expired
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0372278A2 (de) * | 1988-12-02 | 1990-06-13 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Verfahren und Anordung zur Untersuchung von Proben nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
| EP0372278A3 (de) * | 1988-12-02 | 1991-08-21 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Verfahren und Anordung zur Untersuchung von Proben nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
| WO1995022758A1 (de) * | 1994-03-04 | 1995-08-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgen-analysegerät |
| WO2002025258A1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-03-28 | X-Ray Optical Systems, Inc. | Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic |
| US6829327B1 (en) | 2000-09-22 | 2004-12-07 | X-Ray Optical Systems, Inc. | Total-reflection x-ray fluorescence apparatus and method using a doubly-curved optic |
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