DE8534299U1 - Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse - Google Patents

Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse

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DE8534299U1 DE19858534299 DE8534299U DE8534299U1 DE 8534299 U1 DE8534299 U1 DE 8534299U1 DE 19858534299 DE19858534299 DE 19858534299 DE 8534299 U DE8534299 U DE 8534299U DE 8534299 U1 DE8534299 U1 DE 8534299U1
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Description

Beschreibung:
Die Neuerung betrifft einen Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse, mit dem die von einer Strahlenquelle emittierende Röntgenstrahlung streifend auf eine Probe ausgerichtet wird, wobei die Röntgenstrahlung diese Probe anregt und die aus der Probe austretende Fluoreszenzstrahlung mit einem Detektor untersucht wird (wie es in der DE-AS 27 36 960 beschrieben ist).
Die bekannte Meßanordnung verwendet jedoch Reflektoren mit planen Oberflächen, die plan-parallel zur Probenoberfläche einzustellen sind. Die Divergenz der anregenden Strahlung wird durch Spiegelung an der Reflektoroberfläche nicht verändert, so daß die am Probenort zur Verfugung stehende Strahlungsintensität mit dem Quadrat der Entfernung von Anode zur Probenoberfläche abnimmt. Der Einsatz gebogener Reflektoren als Monochromatoren für die Röntgenfluareszenzanalyse ist zwar schon bekannt, diese Reflektoren beruhen jedoch auf dem Prinzip der sog. Bragg-Reflektion und nicht auf dem physikalisch grundsätzlich verschiedenen Effekt der Totalreflexion von Röntgenstrahlen. So ist z. B. bei der Bragg-Reflexion wegen ihrer Energieselektivität mit erheblichen Intensitätsverlusten zu rechnen, während die Totalreflexion im Prinzip verlustlos ist. Darüber hinaus drbeiten Bragg-Reflektoren in einem Bereich größerer Winkel und in geometrischen Anordnungen, die für die Röntgenfluoreszenzanalyse rr.it totalreflektierendein Probenträger oder an totalreflektierenden Probenoberflächen völlig ungeeignet sind, da hier die maximal vorkommenden Wickel der Anregungsstrahlen auf wenige Bogenminuten begrenzt werden müssen.
Die der Neuerung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, den Reflektor in der e. g. Meßanordnung so zu verbessern, daß die Divergenz der anregenden Strahlung auf dem Proberfleck vermindert wird,
* ι
• I
I I I I · · < t ···
III · · · · <
Die Lösung ist neuerungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche des Reflektors totalreflektierend gekrümmt ausgebildet ist.
Eine Weiterbildung der Neuerung sieht vors daß mit Reflektoren von unterschiedlichem Krümmungsradius der Abstand zwischen Reflektor und Oberfläche der Probe variierbar ist.
Mit dem neuerungsgemäßen Vorschlag ist es möglich, bei streifendem Einfall der Strahlung auf die Oberfläche der Probe mit maximalen Winkeln von wenigen Bogenminuten, den nahezu 100 56-igen Wirkungsgrad der Totalreflektion am Reflektor auszunutzen. Außerdem ist der Abstand zwischen Reflektor und Probe ohne wesentliche Nachweisverluste zu vergrößern, so daß ζ. B. die Abtastung größerer Probenteile ermöglicht wird.
Die Neuerung wird im folgenden anhand eines Äusführungsbeispiels mittels der Figuren 1 und 2 näher erläutert.
Auf genauere Angaben bezüglich der verwendeten Meßanordnung wurde verzichtet, da eine solche verwendbar ist, wie sie in der DE-AS 27 36 960 beschrieben ist. In Fig. 1 ist daher lediglich der Strahlenveriauf der anregenden Röntgenstrahlung 1, 11 zwischen der Röntgenquellenanode 2, dem Reflektor 3 und der Oberfläche 4 der Probe 5 aufgezeigt. Der Strahlenverlauf 1, 1" wird mittels der schematisch dargestellten Blenden 6 und 7 begrenzt. Die Oberfläche 8 des Reflektors ist gekrümmt ausgebildet (Zylinderoberfläche), so daß sie totalreflektierend wird. Hierdurch entsteht praktisch ein Fokussierungseffekt für die Röntgenstrahlung 1 zu 1' und eine Bündelung zur Probenoberfläche 4 hin.
Der Zusammenhang zwischen der zur Verfügung gestellten Strahlungsintensität I (in relativen !Einheiten) bzw* dem Intensitätsverlauf der anregenden Strahlung am Probenort ist als Funktion des Krijmmungsradius r (in Metern) des Reflektors 3 für zwei Breiten (15 um und 40 um) der Anode 2 in Fig* 2 dargestellt.

Claims (2)

GKSS Forschungszentrum Geesthacht, den 5. Feb. 86 Geesthacht GmbH PLA 8569 Ga/he ANR 12 83 715 Schutzansprüche:
1. \Reflektor für eine Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenz-
analyse^ mit dem die von einer Stranlenquelle emittierende Röntgenstrahlung streifend auf eine Probe ausgerichtet wird, wobei die Röntgenstrahlung diese Probe anregt und die aus der Probe austretende Fluoreszenzstrahlung mit einem Detektor untersucht wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche (4) des Reflektors (3) totalreflektierend gekrümmt ausgebildet ist.
2. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Krümmungsradius (r) unterschiedlich ausführbar ist.
- 2 -
* * t t t t 4 t I
* * III
I HII · *
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0372278A2 (de) * 1988-12-02 1990-06-13 Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh Verfahren und Anordung zur Untersuchung von Proben nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse
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