DE722746C - Verfahren zum Feststellen von durch Glaettung entstandenen Fehlstellen an duennen nicht metallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflaechenschichten - Google Patents

Verfahren zum Feststellen von durch Glaettung entstandenen Fehlstellen an duennen nicht metallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflaechenschichten

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DE722746C
DE722746C DEM145863D DEM0145863D DE722746C DE 722746 C DE722746 C DE 722746C DE M145863 D DEM145863 D DE M145863D DE M0145863 D DEM0145863 D DE M0145863D DE 722746 C DE722746 C DE 722746C
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DEM145863D
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Inventor
Dr Alfred Durer
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GEA Group AG
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Metallgesellschaft AG
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties

Description

  • Verfahren zum Feststellen von durch Glättung entstandenen Fehlstellen an dünnen nicht metallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflächenschichten Zum Nachweis einer Schicht, die auf eine Unterlage aus einem anderen Stoff aufgebracht ist, werden meist Feinstrukturaufuahmen nach dem Debye-Scherrer-Verfahren angewandt.
  • Wenn es sich jedoch um den Nachweis dünner oder nichtkristalliner Schichten handelt, versagt dieses Verfahren. Es ist außerdem mit dem Nachteil des großen Zeit aufwandes behaftet, der vor allem bei Serienaufnahmen sehr merklich wird.
  • Weiterhin ist ein Verfahren bekannt, um sehr dünne Oberflächenschichten (Oxydhäute, deren Dicke 10 bis 20 Moleküllagen beträgt) nachzuweisen und miteinander zu vergleichen. Es beruht auf sehr geringen Veränderungen des Polarisationszustandes, die das an der Oberfläche reflektierte Licht erfährt. Gerade infolge dieser sehr geringen Veränderungen setzt das Verfahren aber eine Oberfläche von äußerster Reinheit voraus.
  • Die Dicke der Schicht ist sehr klein gegenüber der Lichtwellenlänge, so daß die Reflexion an der freien Oberfläche und an der Zwischenfläche (Metalloxyd) als ein einheitlicher Vorgang zu betrachten ist, wobei die optischen Eigenschaften des Metalls je nach Schichtdicke eine scheinbare mehr oder weniger große Änderung erfahren.
  • Dieses bekannte mit polarisiertem Licht arbeitende Verfahren zum Bestimmen der Dicke dünner Werkstoffschichten wird erfindungsgemäß angewendet zum Feststellen von durch Glättung, beispielsweise infolge spanloser Verformung, entstandenen Fehlstellen an dünnen nichtmetallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflächenschichten, und zwar derart, daß der Polarisationszustand des an der Oberfläche reflektierten Lichtes, vorzugsweise unter Einstellung der Reflexion auf den Brewsterschen Winkel, in Vergleich gesetzt wird mit dem am Normalüberzug herrschenden Polarisationszustand.
  • Nach einem weiteren Merkmal der Erfindung wird bei durchsichtigen nichtmetallischen Schichten auf matter metallischer Unterlage das im Reflexionswinkel reflektierte Licht ausgebl endet und allein untersucht.
  • Es ist bekannt, daß der Polarisationszustand von Licht bei der Reflexion an metallischen wie auch nichtmetallischen Oberflächen geändert wird. Natürliches (nichtpolarisiertes) Licht wird an nichtmetallischen Oberflächen im allgemeinen teilweise polarisiert reflektiert. Im Sonderfall der Reflexion unter einem bestimmten Winkel, dem Brewsterschen Winkel, ist das an glatter Oberfläche reflektierte Licht völlig (linear) polarisiert. Fällt natürliches Licht auf eine metallische Oberfläche, so wird das unter einem beliebigen Winkel einfallende Licht stets elliptisch polarisiert reflektiert.
  • - Nach dem Verfahren gemäß der Erfindung, bei dem dieses verschiedene Verhalten der metallischen und nichtmetallischen Oberflächen ausgenutzt wird, können auch nichtmetallische Schichten selbst bzw. ihre Abnutzung und ihr örtliches Fehlen nachgewiesen werden. Dies gelingt bei undurchsichtigen nichtmetallischen Schichten unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit des darunter befindlichen Metalles. Man erhält in diesem Fall bei der Reflexion an nichtmetallischen Oberflächenschichten lineare Polarisation des reflektierten Strahles und bei der Reflexion an z. B. durch Beschädigung der nichtmetallischen Schicht zutage tretender metallischer Oberfläche elliptisch polarisiertes reflektiertes Licht. Die Bestimmung des Polarisationszustandes des reflektierten Strahles erlaubt daher eine Aussage darüber, ob eine intakte nichtmetallische Schicht auf einer metallischen Oberfläche vorhanden ist.
  • Bei durchsichtigen nichtmetallischen Schichten ist die Anwendung des Verfahrens meßtechnisch nur möglich, wenn die Oberfläche des darunterliegenden Metalles nicht glatt, sondern matt ist und dementsprechend den Lichtanteil, der durch die durchsichtige Schicht hindurchdringt, diffus reflektiert. Bei den nach den gebräuchlichen Verfahren aufgebrachten Schichten ist die Metalloberfläche jedoch meistens nicht glatt, sondern durch Beizwirkung matt, so daß in den in der Praxis vorliegenden Fällen die Messung möglich ist.
  • Untersuchungen an chemisch oberflächenbehandelten, beispielsweise phosphatierten Schichten haben folgendes ergeben: Die oberflächlich rauhen Schichten sitzen zunächst auf einer gleichfalls rauhen Metalloberfläche auf (Abb. I). Ein auf das Werkstück auffallender gebündelter Lichtstrahl wird zum Teil an der freien Oberfläche der Schicht diffus reflektiert und fällt zum anderen Teil, bereits durch die Oberflächenschicht zerstreut, auf die rauhe Metalloberfläche, an der er nochmals zerstreut wird.
  • Die einfallende Lichtintensität wird also vollkommen diffus reflektiert.
  • Die Glättung, beispielsweise infolge spanloser Verformung, wirkt sich zunächst nur auf die freie Oberfläche der Schicht aus (Abb. 2). Dies bewirkt, daß ein auf das Werkstück auffallender gebündelter Lichtstrahl zum Teil von der geglätteten freien Oberfläche der Schicht gebündelt reflektiert wird. Der durchgelassene Teil des Lichtes fällt auf die rauhe Metalloberfläche und wir<l dort diffus nach allen Seiten reflektiert.
  • Im Laufe der weiteren Beanspruchung der Schicht treten oftmals Fehlstellen der Schicht auf. An diesen tritt das Metall frei zutage und wird nun seinerseits geglättet (Ahb. 3).
  • Die Reflexion des auffallenden Lichtes erfolgt an den mit Schicht bedeckten Stellen wie im Fall der Abb. 2. An den zutage getretenen blanken Metallstellen wird das Licht wie an der glatten nichtm,etall,ischen Schichtoberfläche gebündelt reflektiert, jedoch mit dem Polarisationszustand, der der Reflexion an dem betreffenden Metall entspricht.
  • Ein anderer Fall der Veränderung der Schicht ist in Abb. 4 gezeigt. Beispielsweise durch Mängel der Gegengleitfläche kann die freie Schichtoberfläche zum Teil wieder rauh werden, etwa durch Riefen. Dies wirkt sich optisch dadurch aus, daß ein Teil des an der freien Oberfläche der Schicht reflektierten Lichtes gestreut wird und nur der Teil des an der Schichtoberfläche reflektierten Lichtes, der von den glatten Stellen ausgeht, gebündelt reflektiert wird. Die Intensität des gebündelt reflektierten Lichtes ist also geringer als im Fall der Abb. 2.
  • Bei glatter Metalloberfläche und durchsichtiger nichtmetallischer Schicht ist ein Nachweis der relativ geringen Intensität des von der nichtmetallischen Oberfläche zurückgeworfenen linear polarisierten Lichtes nicht mit der Genauigkeit möglich, daß aus der polarisationsoptischen Analyse auf das Vorhandensein bzw; die Vollständigkeit einer nichtmetallischen Schicht in praktisch verwertbarem MaBe geschlossen werden könnte.
  • Das Verfahren gemäß der Erfindung ist daher geeignet, das Vorliegen intakter glatter nichtmetallischer Schichten, beispielsweise von Phosphat- und anderen Rostschutzschichten auf Eisen und anderen Metallen, von elektrolytisch oder chemisch erzeugten Oxydschichten auf Aluminium, oder von organischen Schichten, wie Lacken, Olfilmen u. dgl., auf Metallen nachzuweisen. Es erlaubt gleichfalls den Nachweis, wenn solche Schichten angegriffen und dadurch matt werden.
  • Außerdem ist mit ihm festzustellen, wenn diese Schichten nicht zusammenhängend das Metall bedecken, das ,dann selbst mit matter oder glatter Oberfläche stellenweise zutage tritt.
  • Besonders einfach gestaltet sich die Messung des Polarisationszustandes für vorliegenden Zweck, wenn man ihn durch Messungen der Intensitäten der beiden Hauptkomponenten charalçterisiert. Diese Art der Messung beruht darauf, daß das im Brewsterschen Winkel an einer nichtmetallischen Oberfläche reflektierte Licht linear polarisiert und daher durch ein analysierendes Nicolsches Prisma auslöschbar ist, während das an metallischen Oberflächen reflektierte Licht elliptisch polarisiert ist und daher durch den Analysator nur geschwächt, aber nicht ausgelöscht wird. Der Quotient Li d. h. das Jl, Verhältnis der größeren zur kleineren Hauptkomponente der Schwingung des polarisierten Lichtes (größte und kleinste Schwingungsweite), ist dann z. B. die Änderung des Polarisationszustandes und damit der Grad der Unversehrtheit bzw. Vollständigkeit der Oberflächenschicht.
  • Durch Ausblendung und alleinige Messung des nach dem für glatte Flächen gültigen Reflexionsgesetzes reflektierten Strahles gelingt es daher, auch bei solchen durchsichtigen Schichten das Verfahren anzuwenden, da durch die Ausblendung der diffus reflektierte Lichtanteil nur mit vernachlässigbar kleiner Intensität zu dem zur Messung kommenden Licht einen Beitrag liefert.
  • Die Untersuchung des vom Werkstück gebündelt reflektierten Lichtes, das, wie oben gezeigt wurde, charakteristisch für den Zustand der Schicht ist, kann beispielsweise mit einer nicht zum Gegenstand der Erfindung gehörenden Anordnung geschehen, wie sie in Abb. 5 dargestellt ist. Eine von einer Lichtquelle a ausgeleuchtete Blende b wird von einer Sammellinse ins Unendliche abgebildet.
  • Im parallelen Strahlengang befindet sich ein um die optische Achse drehbarer Polarisator d. Das parallele Licht fällt unter dem Brewsterschen Winkel auf die Oberfläche des zu untersuchenden Werkstücks e auf. Das gebündelt reflektierte Licht wird von einer Sammellinse f auf eine Blende g geworfen, die so angeordnet und so groß ist, daß sie der Abbildung der Blende b durch das optische System entspricht, das durch die Linsen c und f und die reflektierende Fläche e gebildet wird. Zur Messung hinter der Blende g gelang also im wesentlichen nur das bei e gebündelt reflektierte Licht. Hinter der Blende g ist eine Vorrichtung h zur Messung der Lichtintensität aufgestellt, beispielsweise eine Photozelle in Verbindung mit einem Galvanometer.
  • Das Verfahren hat besondere Bedeutung bei der Verwendung von nichtmetallischen Oberflächen zur Erleichterung der spanlosen Verformung. Bei diesem Verfahren wird beispielsweise das zu verformende metallische Werkstück oberflächlich mit einer Phosphatschicht versehen. Durch diese Schicht wird die spanlose Verformung z. B. durch Ziehen erheblich erleichtert, indem der Kraftbedarf beim Ziehen verringert wird. Es hat sich gezeigt, daß der günstige Einfluß der Phosphatschicht bei fortlaufender Verformung allmählich geringer wird, offenbar dadurch, daß sich die Schichtdicke- vermindert. Schließlich wird die Schicht nicht mehr lückenlos die gesamte metallische Oberfläche bedecken. Hierbei kann die Beschädigung örtlich begrenzt sein, so daß stellenweise die nichtmetallische Schicht fehlt und das Metall zutage tritt, während an anderen Stellen noch eine zusammenhängen de nichtmetallische Schicht vorliegt. In diesem Falle ergibt jede Messung, sofern sie eine entsprechend kleine Fläche zur Reflexion benutzt, je nachdem auf welche Stelle gerade eingestellt wird, den Intensitätswert der nichtmetallischen oder der metallischen Oberfläche. Der Abrieb kann auch so erfolgen, daß die Metallstellen und die nichtmetallischen Stellen der Werkstücksoberfläche nebeneinander so klein sind, daß im Untersuchungsgebiet mehrere solcher Stellen gleichzeitig liegen. Dann liefert die Untersuchung einen statistischen Mittelwert, der jedoch auch als Maß für den Abrieb gelten kann, da er gewissermaßen den Übergang von der lückenlosen nichtmetallischen Oberfläche zur völlig freigelegten metallischen darstellt.
  • Mit dem Verfahren gemäß der Erfindung ist es möglich, den jeweiligen Zustand der Phosphatschicht festzustellen und damit im voraus das Verhalten des Werkstückes bei weiterer Verformung zu kennen. Durch eine solche Kenntnis wird ein evtl. Versagen des Werkstückes bei der weiteren Verformung verhindert. Man kann mit dieser optischen Untersuchung sowohl Fehler, z. B. Aufrauhungen, die durch schlechte Ziehdüsen hervorgerufen werden, als auch glatten Abrieb von der alsdann gleichfalls als geglättet zutage tretenden Metalloberfläche feststellen.
  • Bei den in der Abb. 6 dargestellten Untersuchungsergebnissen wurde der Quotient aus den beiden an der bestrahlten Oberfläche reflektierten Hauptkomponenten Ji und J2 des Lichtes bestimmt. Diese Eigenschaft wurde im Verlauf eines Ziehvorganges von elf Zügen an einem mit Phosphatschicht überzogenen und an einem unbehandelten Stahlrohr verfolgt. Während das unbehandelte Rohr ein Verhältnis der beiden Intensitäten von etwa 2 bis 3 über den ganzen Ziehvorgang aufweist, liegt das des oberflächenbehandelten Rohres während der ersten fünf Züge bei etwa 20, um bei dem sechsten Zug auf den Wert von 3 abzufallen und dann weiterhin allmählich abzunehmen. Aus diesem Verhalten geht hervor, daß die Schicht während des sechsten Zuges eine wesentliche Schädigung unter teilweiser Bloßlegung der Metalloberfläche erfahren hat, um dann im Laufe der weiteren Züge vollends abgerieben zu werden.
  • Mit dem Verfahren kann man auch beispielsweise Veränderungen einer nichtmetallischen Schicht, beispielsweise-Phosphatschicht, die zur Erleichterung des Gleitvorganges bei gleitenden Maschinenteilen aufgebracht ist, verfolgen.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRÜCHE: I. Anwendung des zum Bestimmen der Dicke dünner WerkstoSifschichten bekannten, mit polarisiertem Licht arbeitenden Verfahrens zum Feststellen von durch Glättung, beispielsweise infolge spanloser Verformung entstandenen Fehlstellen an dünnen nichtmetallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflächenschichten, derart, daß der Polarisationszustand des an der Oberfläche reflektierten Lichtes, vorzugsweise unter Einstellung der Reflexion auf den Brewsterschen Winkel, in Vergleich gesetzt wird mit dem am Normalüberzug herrschenden Polarisationszustand.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch r, dadurch gekennzeichnet, daß bei durchsichtigen nichtmetallischen Schichten auf matter metallischer Unterlage das im Reflexionswinkel reflektierte Licht ausgeblendet ulld allein untersucht wird.
DEM145863D 1939-08-15 1939-08-15 Verfahren zum Feststellen von durch Glaettung entstandenen Fehlstellen an duennen nicht metallischen, auf metallischer Unterlage aufgebrachten Oberflaechenschichten Expired DE722746C (de)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2666355A (en) * 1951-10-12 1954-01-19 Hans J Trurnit Method of studying chemical reactions by measuring interfacial film thicknesses
US2795166A (en) * 1955-08-15 1957-06-11 Rauland Corp Method of inspecting a cathode-ray tube
US2947212A (en) * 1956-04-30 1960-08-02 American Brass Co Method of detecting surface conditions of sheet metal
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DE3709007A1 (de) * 1987-03-19 1988-10-06 Mannesmann Ag Verfahren und vorrichtung zur optischen oberflaechenpruefung

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