DE69925593D1 - Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung - Google Patents

Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung

Info

Publication number
DE69925593D1
DE69925593D1 DE69925593T DE69925593T DE69925593D1 DE 69925593 D1 DE69925593 D1 DE 69925593D1 DE 69925593 T DE69925593 T DE 69925593T DE 69925593 T DE69925593 T DE 69925593T DE 69925593 D1 DE69925593 D1 DE 69925593D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
testing
supply voltages
multiple supply
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69925593T
Other languages
English (en)
Inventor
Luigi Eugenio Garbelli
Guiseppe Luciano
Salvatore Portaluri
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STMicroelectronics SRL
Original Assignee
STMicroelectronics SRL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by STMicroelectronics SRL filed Critical STMicroelectronics SRL
Application granted granted Critical
Publication of DE69925593D1 publication Critical patent/DE69925593D1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40—Testing power supplies
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10—Regulating voltage or current
    • G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/468—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc characterised by reference voltage circuitry, e.g. soft start, remote shutdown

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
DE69925593T 1999-09-08 1999-09-08 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung Expired - Lifetime DE69925593D1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP99830559A EP1083436B1 (de) 1999-09-08 1999-09-08 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE69925593D1 true DE69925593D1 (de) 2005-07-07

Family

ID=8243574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69925593T Expired - Lifetime DE69925593D1 (de) 1999-09-08 1999-09-08 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6320439B1 (de)
EP (1) EP1083436B1 (de)
DE (1) DE69925593D1 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6813170B2 (en) 2002-08-19 2004-11-02 Semtech Corporation Multiple output power supply having soft start protection for load over-current or short circuit conditions
US8145934B1 (en) 2009-07-31 2012-03-27 Western Digital Technologies, Inc. Soft start sequencer for starting multiple voltage regulators
US8692593B1 (en) * 2012-09-14 2014-04-08 Nxp B.V. Zero or ultra-low DC current consumption power-on and brown-out detector
US10209279B2 (en) 2015-06-24 2019-02-19 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for monitoring a level of a regulated source
CN111949060A (zh) * 2020-08-14 2020-11-17 电子科技大学 一种缓启动电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5063303A (en) * 1991-02-08 1991-11-05 Racal Data Communications Inc. Soft start circuit
US5264782A (en) * 1992-08-10 1993-11-23 International Business Machines Corporation Dropout recovery circuit
ES2101640B1 (es) * 1994-10-24 1997-12-16 Telefonica Nacional Espana Co Circuito convertidor de alimentacion.
US5710701A (en) * 1995-07-31 1998-01-20 Deli Usa, L.P. Method and apparatus for power supply testing
FR2755317B1 (fr) * 1996-10-25 1999-01-15 Sgs Thomson Microelectronics Regulateur de tension a generation interne d'un signal logique
EP0871037A1 (de) * 1997-04-07 1998-10-14 Siemens Aktiengesellschaft Schaltungsanordnung zur Überwachung eines Schaltkreises

Also Published As

Publication number Publication date
US6320439B1 (en) 2001-11-20
EP1083436B1 (de) 2005-06-01
EP1083436A1 (de) 2001-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE59910039D1 (de) Verfahren zum Parametrieren einer integrierten Schaltungsanordnung und integrierte Schaltungsanordnung hierfür
DE60228542D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Oberfläche von Substraten
DE69400884D1 (de) Fassung zum Testen von integrierten Schaltkreisen
DE59911369D1 (de) Verfahren und werkzeug zum verbinden von bauteilen mit einer platte
DE69927111D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Substraten
DE69905750D1 (de) Einrichtung und verfahren zum kalibrieren von laufzeitunterschieden
DE60120822D1 (de) Meta-Dokument und Verfahren zum Verwalten von Meta-Dokumenten
DE60036851D1 (de) Entsprechende verfahren und vorrichtungen zum schleifen und läppen gleichzeitig von doppelseitigen oberflächen
DE69804704T2 (de) Schaltungsanordnung und Verfahren zum Takten einer integrierten Schaltung mit hoher Genauigkeit und niedrigem Leistungsverbrauch
DE69717971T2 (de) Verfahren und schaltung zum testen von elektrischen antrieben
DE59813158D1 (de) Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung
DE69808881T2 (de) Verfahren und einrichtung zum verbesserten verbindungsaufbau
DE50102323D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum lesen der adressen von sendungen
DE69717216D1 (de) Schaltplatinenprüfvorrichtung und Verfahren dafür
DE50008122D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum bestücken von substraten mit bauelementen
DE69925593D1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Testen der Anwesenheit von mehreren Versorgungsspannungen in einer integrierten Schaltung
DE50007134D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum bestücken von substraten mit bauelementen
DE69933028D1 (de) Verfahren und anordnung zum wählen von versorgungsspannung
DE69506585D1 (de) Verfahren und gerät zur prüfung von halbleiterplatten
DE50015432D1 (de) Prüfeinrichtung zum prüfen von langgestreckten gegenständen
DE59912334D1 (de) Verfahren zum testen einer integrierten schaltungsanordnung und integrierte schaltungsanordnung hierfür
DE60026705D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum nassätzen von halbleitersubstraten
DE69837980D1 (de) Struktur und Verfahren zum Reparieren einer integrierten Schaltung
DE59802233D1 (de) Verfahren zum prüfen einer integrierten schaltung
DE69822694D1 (de) Verfahren zum prüfgerechten Entwurf, Verfahren zur Prüfsequenzerzeugung und integrierte Halbleiterschaltung

Legal Events

Date Code Title Description
8332 No legal effect for de