DE69920443T2

DE69920443T2 - Impedanz- und Fluoreszenz-Partikelerfassungssystem

Info

Publication number: DE69920443T2
Application number: DE69920443T
Authority: DE
Inventors: Anthony Michael Leamington Spa WOOD
Original assignee: Microbial Systems Ltd
Current assignee: CELLFACTS INSTRUMENTS LTD., COVENTRY, GB
Priority date: 1998-05-16
Filing date: 1999-05-17
Publication date: 2005-10-13
Anticipated expiration: 2019-05-18
Also published as: EP1080363B1; JP2002515601A; EP1080363A1; ATE277344T1; GB9810492D0; DE69920443D1; WO1999060379A1; AU3943899A; US6614215B1

Description

Die Erfindung betrifft ein Partikelerfassungssystem, insbesondere solch ein System, das einen Impedanzpartikeldetektor und einen Fluoreszenzdetektor umfasst.
Es ist bekannt, Partikel innerhalb einer Probe, wie etwa beispielsweise Blutzellen oder Hefezellen, durch das Durchleiten der Partikel durch eine enge Öffnung und das Erfassen von Veränderungen der Impedanz quer durch die Öffnung zu erfassen. Es ist außerdem bekannt, Proben mit einem geeigneten Fluoreszenzfarbstoff einzufärben oder zu markieren und dann die Partikel mit einer geeigneten Lichtquelle, wie etwa Laserlicht mit einer Grundschwingungsfrequenz anzuleuchten und danach die Natur der Partikel durch das von den Partikeln emittierten Fluoreszenzsignal zu bestimmen.
Solche Systeme sind jedoch sehr komplex, kostspielig, erfordern fortwährende Einstellung und sind beschränkt, was die die minimale Größe von Partikeln betrifft, die erfasst werden können. Demgemäß versucht die Erfindung, Impedanz- und Fluoreszenz-Partikelerfassungssysteme dahingehend zu verbessern, dass sie wirtschaftlicher herzustellen sind und/oder effizienter arbeiten. Eine Aufgabe ist es, das optische System zu vereinfachen und die Optik mit dem Impedanzsystem zu vereinigen, speziell durch die Verwendung einer Lochplatte als Teil des Fluoreszenz- und Impedanzsystems.
WO-A 91/04507 offenbart eine Anordnung, bei der eine optische Partikelerfassung unter Verwendung einer transparenten Membran durchgeführt wird, die als ein optischer Wellenleiter wirkt, und wobei eine Öffnung von der Seite mit Licht beleuchtet wird, um durch die Öffnung hindurchtretende Partikel zu veranlassen, Licht zu einem Detektor zu streuen oder Fluoreszenzlicht zu diesem zu emittieren.
Gemäß einem Gesichtspunkt der Erfindung wird ein kombiniertes Impedanz- und Fluoreszenz-Partikelerfassungssystem bereitgestellt, das eine optisch durchlässige Platte, die eine Öffnung für die Strömung der Partikel durch sie hindurch aufweist, eine Lichtquelle, die im Einsatz Licht auf ein Partikel an der Öffnung lenkt, und einen Lichtdetektor umfasst der so positioniert ist, dass er Licht erfasst, das von den Partikeln emittiert wird, und wobei die Platte als ein Wellenleiter wirkt, um Licht entlang eines Teils seines Weges zwischen der Lichtquelle und dem Lichtdetektor zu lenken. Vorteilhafterweise umfasst die Platte daher eine Öffnung, um die Impedanzmessung zu bewirken, wobei die Platte zudem als ein Wellenleiter für einen Teil des optischen Systems wirkt. Beispielsweise kann Licht von der Öffnung über die Platte zu einem Detektor übertragen werden.
Die Richtung des Partikelstroms tritt durch die Platte, jedoch wenigstens ein Teil des Lichtwegs zwischen der Quelle und dem Detektor kann eine unterschiedliche Richtung in Bezug auf die Partikelströmungsrichtung aufweisen. Bei einer besonderen Form wird Licht von der Lichtquelle im Wesentlichen in Linie mit der Partikelstromrichtung projiziert und der Lichtdetektor befindet sich im Wesentlichen im rechten Winkel dazu. Bei einer anderen Form befinden sich die Quelle und der Detektor im Wesentlichen in Linie, deshalb an entgegengesetzten Seiten der Lochplatte.
Vorzugsweise ist das System bei zwei oder mehreren Grundschwingungsfrequenzen betriebsfähig. Die Lichtquelle kann wenigstens eine Licht emittierende Einheit umfassen, die Licht bei verschiedenen Lichtwellenlängen emittiert. Vorteilhafterweise ermöglicht dies, unterschiedliche Partikeleigenschaften zu messen.
Bei einer bevorzugten Form sind eine Lichtquelle und/oder ein Lichtdetektor optisch an die Lochplatte gekoppelt. Die Lichtquelle und/oder ein Lichtdetektor können direkt optisch an die Lochplatte gekoppelt sein. Der Lichtdetektor kann jedoch direkt optisch an einen Filter gekoppelt sein, der direkt optisch an die Lochplatte gekoppelt ist. Vorzugsweise umfasst die Lochplatte eine im Wesentlichen gerade Kante für das Anbringen oder das Ankoppeln der Lichtquellen und/oder der Lichtdetektoren. Bei bevorzugten Formen ist die Lochplatte polygonal, insbesondere von vierseitiger, hexagonaler oder oktagonaler Form. Keine, eine oder mehrere, tatsächlich alle, Kanten der Lochplatte können eine Lichtquelle oder einen Lichtdetektor tragen. Die Platte kann zudem scheibenförmig sein.
Um die Effizienz der Lichtübertragung an den Detektor zu optimieren, werden die Wellenleitereigenschaften der platte vorzugsweise optimiert. Die Plattenoberflächen, wie etwa der Flächen und/oder Kanten können so behandelt sein, dass die inneren Reflexionen innerhalb der Platte gesteigert werden. Beispielsweise können die Flächen und/oder Kanten beschichtet sein, wie etwa mit Silber oder mit Aluminium.
Bei einer bevorzugten Form ist wenigstens ein Teil der Plattenkante so behandelt, dass die Reflexionen zum Detektor hin erhöht werden. Bei einer bevorzugten Form sind die beiden Flächen der Platte teilweise behandelt, um so die inneren Reflexionen zu steigern.
Auf diese Weise kann Fluoreszenzlicht, das ursprünglich vom Detektor weggestreut wurde, durch die versilberte Kante zum Detektor hin gespiegelt werden.
Vorzugsweise ist die Öffnung in einer Region der Platte mit vergleichsweise hoher Konzentration an innerlich reflektiertem Licht lokalisiert, möglicherweise ein Brennpunkt der Platte. Für eine scheibenförmige Platte kann dies beispielsweise eine zentrale Position sein, oder wo beschichtete Oberflächen verwendet werden, eine ausmittige Position. Die Kombinationen der folgenden drei Merkmale sind möglich (um sechs Möglichkeiten zu erhalten): die Öffnung ist an einem Punkt der gesteigerten Konzentration von inneren Reflexionen innerhalb der Platte lokalisiert, eine oder mehrere Kanten der Platte sind speziell durch Beschichten behandelt, um die inneren Reflexionen zu steigern, oder eines oder mehrere Flächen der Platte sind behandelt, wie etwa durch metallische Beschichtung, um die inneren Reflexionen zu steigern.
Die Platte kann beispielsweise ein Rubin-, Quarz- oder Saphirkristall sein oder ein anderes optisch transparentes Medium. Vorzugsweise Weist die Lochplatte einen Brechungsindex auf, der höher ist als Saline oder irgend ein anderes Medium, wie etwa das Verdünnungsmittel, das verwendet wird, um die Probenpartikel zu tragen oder zu verdünnen. Vorzugsweise ist die Oberflächenbeschaffenheit glatt bis zu einer viertel Wellenlänge.
Vorzugsweise ist ein Filter zwischen der Platte und dem Detektor positioniert, um andere Frequenzen als die Fluoreszenz-Emissionsfrequenz von den Partikeln abzuschwächen. Demgemäß ist der Filter vorzugsweise ein Bandpassfilter, wobei die optimale Übertragung auf der Emissionsfrequenz von den Partikeln basiert, die natürlich von der Grundschwingungsfrequenz der Lichtquelle verschoben ist, und oder die Kennwerte derart gewählt sind, dass der Unterschied der Abschwächung zwischen der Emissionsfrequenz von den Partikeln und der Grundschwingungsfrequenz der Lichtquelle maximiert ist.
Vorzugsweise ist die optisch durchlässige Lochplatte aus einem Stück gefertigt, aber sie kann aus Komponenten oder teilen gefertigt sein, wie etwa einem ersten, die Öffnung tragenden Teil, der in einer größeren Halterung oder einem Trägerteil montiert ist, um die Handhabung und die Positionierung der platte innerhalb des Partikelerfassungssystems zu verbessern. Solch ein Befestigungsteil kann beispielsweise ein Glasobjektträger sein und der erste Teil ist vorzugsweise unter Verwendung eines geeigneten Klebstoffs, der einen Brechungsindex aufweist, der mit dem des ersten Teils der Platte vergleichbar ist, optisch mit dem zweiten Teil verbunden. Vorzugsweise sind die Oberflächen und/oder die Kanten des die Öffnung tragenden Teils und/oder des Befestigungsteils behandelt, um so die inneren Reflexionen zu verstärken und die Übertragung von Licht zum Detektor oder von der Lichtquelle zu optimieren.
Ein Lichtwellenleiter oder eine optisch durchlässige Platte für das Partikelerfassungssystem umfasst eine Öffnung zur ermöglichen eines Partikelstroms durch die Platte und ein Teil der Extremitäten oder der Oberflächen der Platte sind so behandelt, dass die inneren optischen Reflexionen innerhalb der Platte verstärkt werden. Die Platte umfasst eine optisch durchlässige Region, die an die Öffnung angrenzt oder diese umgibt, wodurch ermöglicht wird, Licht an und aus der platte einzugeben und auszugeben. Zusätzlich sind wenigstens ein Teil der Extremitäten der Platte zudem optisch transparent, um das Anbringen einer Lichtquelle oder eines Detektors an dieses Teil zu ermöglichen.
Die Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun lediglich beispielhaft unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung beschrieben, bei der:
1 ein schematisches Blockdiagramm eines erfindungsgemäßen Systems ist;
2 eine schematische perspektivische Ansicht der Lochplattenanordnung und eines Teils des optischen ist;
die 3 und 4 schematische Vorder- und Seitenrissansichten einer Lochplatte in einer etwas unterschiedlichen Form zu der in 2 gezeigten sind; und
5 eine schematische perspektivische Ansicht eines anderen Ausführungsbeispiels der Erfindung ist.
Unter Bezugnahme auf 1 kann ersehen werden, dass ein erfindungsgemäßes Partikelerfassungssystem 10 eine Steuerung 12 umfasst, der einen Mikroprozessor 14 aufweist, der im Einsatz mit einer Impedanzerfassungsschaltung 16 in Verbindung steht, ferner eine Lasersteuerung 18 und eine Lichtdetektorschaltung 20. Die Steuerung 12 umfasst des Weiteren eine Stromversorgungsleitung P und geeignete Mittel zur Stromversorgung eines jeden Subsystems 14 bis 20 und wenigstens einen Eingangs-/Ausgangskanal 1/0, beispielsweise zur Kommunikation mit einer Anzeige oder einem Drucker.
Das System 10 umfasst darüber hinaus eine Probenkammer 22, die ein Elektrodenpaar 24 aufweist, wobei jeweils eine in jedem Abteil 26 und 28 angeordnet ist. Die Abteile 26 und 28 sind durch eine Platte 30 getrennt, die eine Öffnung 44 beinhaltet, die das Strömen von Partikeln zwischen den Abteilen 26 und 28 ermöglicht. Eine Lichtquelle, wie etwa ein Laser 31, ist vorgesehen, um einen Lichtstrahl L an die Öffnung 30 zu leiten. Die Lichtquelle 31 wird von der Lasersteuerung 18 gesteuert und emittiert vorzugsweise einen kohärenten Lichtstrahl L hauptsächlich einer Grundschwingungsfrequenz. Der Laser 31 kann beispielsweise ein kostengünstiger Halbleiterlaser sein. Der Laser kann eine Grundschwingungswellenlänge von zwischen etwa 300 und 700 nm aufweisen.
Das System 10 umfasst darüber hinaus einen Lichtdetektor 32 in optischem Kontakt mit der Platte 30 und davon durch einen Lichtfilter 34 getrennt. Der Detektor 32 steht im Einsatz mit der Erfassungsschaltung 20 in Verbindung.
Unter Bezugnahme auf die 2 und 4 werden größere Details eines Teils der Platte 30 gezeigt. Die Platte 30 ist aus einer Halterung 36 aufgebaut, wie etwa einem Glas-Objektträger. Die äußeren Flächen und Kanten des Glas-Objektträgers 36 sind vorzugsweise behandelt, wie etwa durch Versilbern, um die inneren Reflexionen zu verstärken. Die Halterung 36 umfasst jedoch eine unbehandelte Kante 38, die an den Filter 34 angrenzt, der in optischer Verbindung mit dem Detektor 32 steht.
Die Halterung 36 umfasst darüber hinaus eine Aussparung 40 zur Aufnahme einer Scheibe 42, die eine Öffnung 44 aufweist. Die Scheibe 42 ist vorzugsweise optisch an eine Kante der Halterung 36 gekoppelt, die die Aussparung 40 abgrenzt, beispielsweise unter Verwendung eines geeigneten lichtbrechenden Klebstoffs. Demgemäß kann die Platte 30 einen ersten, die Öffnung tragenden Teil umfassen, wie etwa die Scheibe 42, der optisch in einem zweiten Halterungsteil 36 montiert ist.
Die Scheibe 42 ist in größerem Detail in den 3 und 4 gezeigt, wobei ersehen werden kann, dass die Scheibe 42 in ihrer bevorzugten Form eine völlig flache Scheibengestalt aufweist, die beispielsweise eine Dicke T von etwa 30 bis 200 μm, vorzugsweise 75 bis 180 μm und vorzugsweise ruhig 80 bis 160 μm und einen Durchmesser D in der Größenordnung von 5 bis 15 Millimetern und bevorzugt 10 Millimetern aufweist. Die Scheibe 42 kann beispielsweise einen Rubin- oder Saphirkristall umfassen.
Die Scheibe 42 umfasst darüber hinaus eine Vorder- und Rückseite 46 und eine äußere Kante 48. Vorzugsweise sind die Vorder- und Rückseite so behandelt, dass sie die inneren Reflexionen innerhalb der Scheibe 42 verstärken. Eine die Öffnung 44 umgebende Aussparung oder Region Y kann unbehandelt bleiben. Beispielsweise kann der Durchmesser der Aussparung Y in der Größenordnung eines Millimeters sein, während der Durchmesser der Öffnung 44 in der Größenordnung von 30 bis 80 μm sein kann. Die Kante 48 ist vorzugsweise zwischen den Positionen X, die am Umfang der Scheibe 42 markiert ist, derart behandelt, dass an die Öffnung 44 angrenzende innere Reflexionen verstärkt werden, wodurch das Licht zum Lichtdetektor 32 hin gelenkt wird, d. h. Zurückgespiegelt wird zur rechten Seite, wie es in 3 gesehen wird.
Bei diesem in 3 gezeigten Beispiel, wo die Hälfte der Kante 48 der Platte 42 versilbert ist, ist die Öffnung 44 auf halbem Weg zwischen dem Zentrum der kreisrunden Scheibe und der versilberten Kante 48 lokalisiert. Die Öffnung 44 kann aber mittig lokalisiert sein, wie es in 2 gezeigt ist.
Im Gebrauch wird eine Probe in einer der Abteile 26 oder 28 platziert und die Partikel werden durch die Öffnung 44 in das andere Abteil gezogen. Die Größe der Öffnung 44 ist derart, dass sie es einzelnen Partikeln ermöglicht, zwischen den Abteilen 26 und 28 zu strömen. Diese Bewegung von Partikeln durch die Öffnung 44 wird infolge der Veränderung der Impedanz zwischen den Elektroden 24 erfasst, d. h. durch den Elektrolyten innerhalb der Abteile 26 und 28. Diese wird unter Verwendung der Schaltung 16 und des Mikroprozessors 14 erfasst, um beispielsweise die Zahl der Partikel zu zählen und/oder die Größe der Partikel auszumessen, die zwischen den Abteilen strömen. Zusätzlich werden der Mikroprozessor 14 und die Schaltung 18 verwendet, um die Lichtquelle 31 so zu betreiben, dass ein Lichtstrahl L an die Öffnung 44 geleitet wird. Durch geeignetes Anfärben oder Markieren der Partikel in einer Probe unter Verwendung eines Fluoreszenzfarbstoffs emittieren die durch die Öffnung 44 tretenden Partikel Licht einer Frequenz, die sich von der Grundschwingungsfrequenz der Lichtquelle 31 unterscheidet. Wenigstens ein Teil des emittierten Fluoreszenzsignals wird durch die Scheibe 42 eingefangen, die die Öffnung 44 umgibt. Die Scheibe 42 wirkt danach als ein Wellenleiter, um das emittierte Licht zum Lichtdetektor 32 zu leiten. Diese Wirkung als Wellenleiter wird durch die versilberten Flächen 46 der Scheibe 42 und der versilberten Kante 48 unterstützt.
Das Licht, das von der Scheibe 42 durchgelassen wurde, wird in die Halterung 36 und danach wiederum in den Filter 34 und eventuell an den Detektor 32 übertragen. Da die Halterung 36 aus einem optisch durchlässigen Material gefertigt ist, wie etwa Glas, und versilberte Flächen und Kanten aufweist, ist die von den Partikeln an der Öffnung 44 emittierte Lichtmenge, die den Detektor 32 erreicht, vorteilhafterweise optimiert.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel einer geeigneten erfindungsgemäßen Lichtquelle, eines Lichtdetektors und der Lochplatte ist in 5 gezeigt. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden gleichen Merkmalen wie bei früheren Ausführungsbeispielen die gleichen zweistelligen Bezugsnummern wie früher gegeben, mit der Ziffer 1 vorangestellt. Demgemäß umfasst die optisch durchlässige Platte 130 eine Öffnung 144. Die Platte 130 ist eine einstückige Platte, die aus einem optisch durchlässigen Material gefertigt ist, wie etwa aus einem Rubin- oder Saphirkristall. Die Platte 130 ist bei diesem Beispiel rechteckig, wobei die Kanten der Platte eine optische Komponente des Fluoreszenzsystems in optischem Kontakt damit aufweisen, beispielsweise durch Verwendung eines optisch durchlässigen Klebstoffs. Hier ist eine Lichtquelle 131a, wie etwa ein Laser, an der oberen Kante der Platte 142 angebracht und ein geeigneter Lichtdetektor 132a ist über den Filter 134a an einer Seitenkante der Platte 130 angebracht. Eine zugehörige Lichtquelle und ein Detektor arbeiten entsprechend, um Licht an die Partikel zu leiten, die durch die Öffnung 144 treten, und erfassen das emittierte Fluoreszenzlicht, das durch die Platte 130 über den Filter 134a zum Detektor 132a gestreut wird. Gleicherweise ist eine zweite Lichtquelle 131b an der unteren Kante der Platte 130 angebracht und ein zugehöriger Detektor und Filter 132b und 134b sind an der anderen Seitenkante der Platte 142 angebracht, um die Erfassung des von den durch die Öffnung 144 tretenden Partikeln emittierten Fluoreszenzlichts von geeigneter Wellenlänge zu ermöglichen. Die Vorder- und Rückseiten der Platte 130 können natürlich behandelt sein, um die inneren Reflexionen zu verstärken.
Die Platte 130 dieses Beispiels kann zudem aus einer zwei- oder mehrteiligen Konstruktion bestehen. Die Wellenleitereigenschaften der Platte sind ein Ergebnis des plattenaktiven Zusammenwirkens beim Leiten von Licht zwischen der Lichtquelle und dem Lichtdetektor infolge beispielsweise der inneren Reflexionen an den Oberflächen der Platte, wobei die Reflexionen durch Beschichtungen verstärkt werden können. Zudem ist der Raumwinkel an der Öffnungsoberfläche, der durch die Kante der Platte an der Öffnung abgegrenzt wird, vorteilhafterweise optimiert, um ein ausreichendes Einfangen von emittiertem Licht von einem Partikel zu ermöglichen. Vorzugsweise ist die Fläche, die durch die Öffnung abgegrenzt wird, regelmäßig und deshalb integral in einem Teil der Platte ausgebildet.
Bei einer anderen Form der Erfindung ist die Kante 38 direkt mit einem Bündel faseroptischer Kabel gekoppelt. Der Teil der Kante 38, der nicht mit dem Ende einer optischen Faser in Kontakt steht, wird maskiert, so dass das Einfangen von Licht optimiert wird, das auf die Kante auftrifft. Zusätzlich ist vorzugsweise ein Interferenzfilter zwischen den optischen Fasern und dem Detektor positioniert, um beispielsweise das Fluoreszenzsignal aus irgendeinem Hintergrundsignal auszuwählen. Vorteilhafterweise wirken die faseroptischen Kabel so, dass das Licht gesammelt wird, und ermöglichen die Übertragung des Fluoreszenzsignals an einen Detektor, der von der Halterung 36 abgelegen ist.

Claims

Kombiniertes Impedanz- und Fluoreszenz-Partikelerfassungssystem, das eine optisch durchlässige Platte, die eine Öffnung für die Strömung der Partikel durch sie hindurch aufweist, eine Lichtquelle, die im Einsatz Licht auf ein Partikel an der Öffnung lenkt, und einen Lichtdetektor umfasst, der so positioniert ist, dass er Licht erfasst, das von den Partikeln emittiert wird, und wobei die Platte als ein Wellenleiter wirkt, um Licht entlang eines Teils seines Weges zwischen der Lichtquelle und dem Lichtdetektor zu lenken.
System nach Anspruch 1, wobei Licht von der Öffnung über die Platte zu einem Detektor übertragen wird.
System nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Lichtquelle im Einsatz Licht im Wesentlichen in Linie mit der Partikelstromrichtung projiziert und sich der Lichtdetektor aus der Linie damit und im Wesentlichen in rechten Winkeln dazu befindet.
System nach Anspruch 3, wobei im Gebrauch das Licht entgegen der Richtung der Strömung der Partikel projiziert wird.
System nach Anspruch 4, wobei die Platte derart zurechtgemacht ist, dass sie die andere Übertragung von Licht von einer Lichtquelle zur Probe als durch die Öffnung im Wesentlichen blockiert.
System nach Anspruch 1 oder 2, wobei Licht von einer Lichtquelle über die Platte an die Öffnung übertragen wird.
System nach Anspruch 6, wobei sich die Lichtquelle und der Lichtdetektor an entgegengesetzten Seiten der Lochplatte in einer Linie befinden.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, das bei zwei oder mehreren unterschiedlichen Licht-Wellenlängen betriebsfähig ist.
System nach Anspruch 8, umfassend wenigstens eine Licht emittierende Einheit, die bei zwei oder mehreren unterschiedlichen Grundschwingungsfrequenzen betriebsfähig ist.
System nach Anspruch 8 oder 9, umfassend zwei oder mehrere Lichtquellen.
System nach Anspruch 8, 9 oder 10, wobei ein Detektor für jede Lichtquelle und/oder einfallende Grundschwingungsfrequenz vorgesehen ist, um die Fluoreszenz bei einer gegebenen Wellenlänge zu bestimmen.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei eine Lichtquelle und/oder ein Lichtdetektor optisch an die Lochplatte gekoppelt sind.
System nach Anspruch 12, wobei eine Lichtquelle und/oder ein Lichtdetektor direkt optisch an die Lochplatte gekoppelt sind.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei der Lichtdetektor direkt optisch an einen Filter gekoppelt ist, der direkt optisch an die Lochplatte gekoppelt ist.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Lochplatte eine im Wesentlichen gerade Kante für die Lichtquellen und/oder die Lichtdetektoren umfasst.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Lochplatte polygonal geformt ist und vorzugsweise eine oder mehrere Kanten davon wenigstens eine Lichtquelle und/oder wenigstens einen Lichtdetektor tragen.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Wellenleitereigenschaften der Lochplatte durch Behandlung eines Teils Oberflächen der Lochplatte verstärkt werden, um die inneren Reflexionen zu steigern.
System nach Anspruch 17, wobei die behandelte Oberfläche eine spiegelnde Beschichtung umfasst, wie etwa ein metallischer Überzug.
System nach Anspruch 17 oder 18, wobei wenigstens ein Teil der Lochplattenkante behandelt ist, um so die Reflexionen zu steigern.
System nach Anspruch 17, 18 oder 19, wobei die Flächen der Platte teilweise behandelt sind, um so die inneren Reflexionen zu steigern.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Öffnung in einer Region der Platte mit vergleichsweise hoher Konzentration: an innerlich reflektiertem Licht lokalisiert ist.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Lochplatten eines oder mehreres des folgenden aufweisen: die Öffnung ist an einem Punkt der gesteigerten Konzentration von inneren Reflexionen innerhalb der Platte lokalisiert, eine oder mehrere Kanten der Platte sind speziell durch Beschichten behandelt, um die inneren Reflexionen zu steigern, oder eines oder mehrere Flächen der Platte sind behandelt, wie etwa durch metallische Beschichtung, um die inneren Reflexionen zu steigern.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Lochplatte einen Brechungsindex aufweist, der höher ist als Saline oder irgend ein anderes Medium, wie etwa das Verdünnungsmittel, das verwendet wird, um die Probenpartikel zu tragen oder zu verdünnen, welches Medium im Einsatz die Öffnung umgibt.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei ein Filter zwischen der Platte und dem Detektor positioniert ist, um andere Frequenzen als die Fluoreszenz-Emissionsfrequenz von den Partikeln abzuschwächen, und der Filter vorzugsweise ein Bandpassfilter ist, wobei die Kennwerte derart gewählt sind, dass der Unterschied der Abschwächung zwischen der Emissionsfrequenz von den Partikeln und der Grundschwingungsfrequenz der Lichtquelle maximiert ist.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die optisch durchlässige Lochplatte eine ganzheitliche Konstruktion aus einem Stück ist.
System nach einem der Ansprüche 1 bis 24, wobei die Lochplatte eine erste Öffnung umfasst, die einen Teil trägt, der in einem zweiten Befestigungsteil montiert ist.
System nach Anspruch 26, wobei der erste Teil unter Verwendung eines geeigneten Klebstoffs, der einen Brechungsindex aufweist, der mit dem des ersten Teils der Platte vergleichbar ist, optisch mit dem zweiten Teil verbunden ist.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, umfassend eine optische Faser zwischen der Platte und dem Detektor.
System nach Anspruch 28, wobei zwei oder mehrere optische Fasern im Einsatz Licht durch einen Interferenzfilter an den Detektor leiten.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Platte als ein Wellenleiter wirkt, um Licht, das vom Partikel emittiert wird, entlang eines Teils seines Weges zwischen der Öffnung und dem Lichtdetektor zu leiten.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Platte ein optisch durchlässiges Material umfasst und wobei die Platte als ein Wellenleiter wirkt, um Licht, das von einem Partikelstrom emittiert wird, entlang wenigstens eines Teils seines Wegs zwischen der Öffnung und dem Lichtdetektor durch das optisch durchlässige Material zu leiten.
System nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem eine oder mehrere Kanten der Lochplatte wenigstens eines, die Lichtquelle oder den Lichtdetektor trägt.