DE69727290D1 - Messverfahren zur Feststellung eines Kurzschlusses zwischen den Windungen einer auf einem Chip integrierten Spule und auf ein solches Messverfahren zugeschnit- tene integrierte Schaltung - Google Patents

Messverfahren zur Feststellung eines Kurzschlusses zwischen den Windungen einer auf einem Chip integrierten Spule und auf ein solches Messverfahren zugeschnit- tene integrierte Schaltung

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Pascal Kunz
Antal Banyai
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/72Testing of electric windings

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CH692162A5 (fr) * 1997-03-24 2002-02-28 Em Microelectronic Marin Sa Procédé de mesure pour détecter un court-circuit entre des spires d'une bobine intégrée sur une puce, et structure de circuit intégré adaptée à un tel procédé de mesure.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1178938B (de) * 1961-10-28 1964-10-01 Helmut Langkau Dipl Ing Einrichtung zum Messen des Schein-widerstandes einer elektrischen Spule, ins-besondere zum Pruefen auf Windungsschluss
US4724427A (en) * 1986-07-18 1988-02-09 B. I. Incorporated Transponder device
SI9300622A (en) * 1993-11-30 1995-06-30 Fakulteta Za Elektrotehniko In Integrated circuit with magnetic sensor

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