DE69501533D1 - Partikel-optisches instrument mit einer ablenkeinheit für sekundärelektronen - Google Patents
Partikel-optisches instrument mit einer ablenkeinheit für sekundärelektronenInfo
- Publication number
- DE69501533D1 DE69501533D1 DE69501533T DE69501533T DE69501533D1 DE 69501533 D1 DE69501533 D1 DE 69501533D1 DE 69501533 T DE69501533 T DE 69501533T DE 69501533 T DE69501533 T DE 69501533T DE 69501533 D1 DE69501533 D1 DE 69501533D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrones
- particle
- optical instrument
- deflecting unit
- deflecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/15—Means for deflecting or directing discharge
- H01J2237/151—Electrostatic means
- H01J2237/1516—Multipoles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/244—Detection characterized by the detecting means
- H01J2237/2448—Secondary particle detectors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP94200713 | 1994-03-18 | ||
PCT/IB1995/000142 WO1995026041A1 (en) | 1994-03-18 | 1995-03-07 | Particle-optical instrument comprising a deflection unit for secondary electrons |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69501533D1 true DE69501533D1 (de) | 1998-03-05 |
DE69501533T2 DE69501533T2 (de) | 1998-07-30 |
Family
ID=8216718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69501533T Expired - Lifetime DE69501533T2 (de) | 1994-03-18 | 1995-03-07 | Partikel-optisches instrument mit einer ablenkeinheit für sekundärelektronen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5510617A (de) |
EP (1) | EP0699341B1 (de) |
JP (1) | JPH08510596A (de) |
DE (1) | DE69501533T2 (de) |
WO (1) | WO1995026041A1 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0917177A1 (de) * | 1997-11-17 | 1999-05-19 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Korpuskularstrahlgerät |
EP0958590B1 (de) * | 1997-12-08 | 2003-06-11 | Fei Company | Rasterelektronenmikroskop unter kontrollierter umgebung mit mehrpolfelder zur erhöter sekundärelektronenerfassung |
JP4176159B2 (ja) * | 1997-12-08 | 2008-11-05 | エフ イー アイ カンパニ | 改善された2次電子検出のための磁界を用いた環境制御型sem |
EP1057203B1 (de) * | 1998-12-17 | 2004-09-15 | Fei Company | Korpuskularstrahloptisches gerät mit auger-elektronendetektion |
EP1049131B1 (de) * | 1999-03-31 | 2008-08-13 | Advantest Corporation | Teilchenstrahlgerät zur schrägen Beobachtung einer Probe |
US7361600B2 (en) | 2001-11-02 | 2008-04-22 | Ebara Corporation | Semiconductor manufacturing apparatus having a built-in inspection apparatus and a device manufacturing method using said manufacturing apparatus |
JP3953309B2 (ja) | 2001-12-04 | 2007-08-08 | 株式会社トプコン | 走査電子顕微鏡装置 |
DE10301579A1 (de) * | 2003-01-16 | 2004-07-29 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Elektronenstrahlgerät und Detektoranordnung |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR850001390B1 (ko) * | 1980-07-31 | 1985-09-24 | 니혼 덴시 가부시끼 가이샤 | 2차 전자 검출장치 |
JPS59184440A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-19 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
DE3532781A1 (de) * | 1985-09-13 | 1987-03-19 | Siemens Ag | Anordnung zur detektion von sekundaer- und/oder rueckstreuelektronen in einem elektronenstrahlgeraet |
GB8604181D0 (en) * | 1986-02-20 | 1986-03-26 | Texas Instruments Ltd | Electron beam apparatus |
US5192867A (en) * | 1989-01-13 | 1993-03-09 | Hitachi, Ltd. | Electron optical measurement apparatus |
US5360764A (en) * | 1993-02-16 | 1994-11-01 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | Method of fabricating laser controlled nanolithography |
-
1995
- 1995-03-07 DE DE69501533T patent/DE69501533T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-07 JP JP7524512A patent/JPH08510596A/ja active Pending
- 1995-03-07 WO PCT/IB1995/000142 patent/WO1995026041A1/en active IP Right Grant
- 1995-03-07 EP EP95909084A patent/EP0699341B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-03-15 US US08/404,706 patent/US5510617A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69501533T2 (de) | 1998-07-30 |
EP0699341B1 (de) | 1998-01-28 |
JPH08510596A (ja) | 1996-11-05 |
US5510617A (en) | 1996-04-23 |
EP0699341A1 (de) | 1996-03-06 |
WO1995026041A1 (en) | 1995-09-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69504507T2 (de) | Ein gerät zur auflösung einer lungenembolie | |
DE59605760D1 (de) | Vorrichtung zur vakuumversiegelung einer wunde | |
DE69604946T2 (de) | Zusatzgerät für einer Nagelmaschine | |
DE69514683D1 (de) | Hybridvervielfacherröhre mit ionenablenkung | |
DE69629225D1 (de) | Anordnung zur Unterdrückung einer Frequenzverschiebung | |
DE69408854D1 (de) | Verbesserung an einer trägen sicherung | |
DE59503370D1 (de) | Lasersystem mit einer kompensierten optik | |
DE69418189D1 (de) | Trennbare kupplung für kraftstoffschläuche | |
DE59813789D1 (de) | Röntgeneinrichtung mit einer Primärblendenanordnung | |
DE59706124D1 (de) | Trokardorn mit einer spitze | |
DE69500907T2 (de) | Elektronenmikroskop zur Fehlerbeobachtung | |
DE69501533T2 (de) | Partikel-optisches instrument mit einer ablenkeinheit für sekundärelektronen | |
DE69722026D1 (de) | Endstück einer hülle für einen bowdenzug | |
DE69608067T2 (de) | Elektronenvervielfacher für Rasterelektronenmikroskope | |
DE69710652D1 (de) | Kombination einer Verbindung mit einer Aufnahme für einen Hebelverbinder | |
DE69925418D1 (de) | Verschlusseinrichtung für eine feuerwaffe mit einer elektronischen abzugsvorrichtung | |
DE69817117D1 (de) | Steckverbindungsgruppe für einer abnehmbaren Vorrichtung | |
DE59601329D1 (de) | Schaltungsanordnung zur Glättung einer Spannung | |
DE69420343T2 (de) | Rückschlussgerät zur Unterscheidung einer speziellen Schwingung | |
DE69841133D1 (de) | Vorrichtung zur überwachung einer hochspannungsumformeranlage | |
DE69701337D1 (de) | Führungsrohr für Kernbrennstabbündel | |
DE69500563T2 (de) | Brennstoffbundel | |
DE69401976T2 (de) | Faltvorrichtung für Dokumente mit einer schwenkbaren Führung | |
ATA29193A (de) | Zuluftleitvorrichtung für die sekundärluft einer heizeinrichtung | |
ATA79892A (de) | Siphon für kondensat einer heizeinrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V., EINDHOVEN, N |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: FEI CO., HILLSBORO, OREG., US |