DE69023167T2 - Verfahren zum Eichen eines Röntgensystems und zur Messung der äquivalenten Dicke eines Gegenstandes. - Google Patents
Verfahren zum Eichen eines Röntgensystems und zur Messung der äquivalenten Dicke eines Gegenstandes.Info
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- A61B6/582—Calibration
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8907686A FR2648229B1 (fr) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | Procede d'etalonnage d'un systeme radiologique et de mesure de l'epaisseur equivalente d'un objet |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69023167D1 DE69023167D1 (de) | 1995-11-30 |
DE69023167T2 true DE69023167T2 (de) | 1996-06-05 |
Family
ID=9382580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69023167T Expired - Fee Related DE69023167T2 (de) | 1989-06-09 | 1990-06-06 | Verfahren zum Eichen eines Röntgensystems und zur Messung der äquivalenten Dicke eines Gegenstandes. |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5528649A (de) |
EP (1) | EP0402244B1 (de) |
DE (1) | DE69023167T2 (de) |
FR (1) | FR2648229B1 (de) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2680884B1 (fr) * | 1991-09-03 | 1993-11-26 | General Electric Cgr Sa | Procede de determination automatique de la duree d'exposition d'un film bicouche et systeme de mise en óoeuvre. |
FR2705785B1 (fr) * | 1993-05-28 | 1995-08-25 | Schlumberger Ind Sa | Procédé pour déterminer la fonction d'atténuation d'un objet par rapport à la transmission d'une épaisseur de référence d'un matériau de référence et dispositif pour la mise en Óoeuvre du procédé. |
FR2722938B1 (fr) * | 1994-07-25 | 1996-10-11 | Ge Medical Syst Sa | Procede de reglage de parametre(s) de fonctionnement d'un appareil radiologique et generateur correspondant |
US6278519B1 (en) | 1998-01-29 | 2001-08-21 | Therma-Wave, Inc. | Apparatus for analyzing multi-layer thin film stacks on semiconductors |
US5798837A (en) * | 1997-07-11 | 1998-08-25 | Therma-Wave, Inc. | Thin film optical measurement system and method with calibrating ellipsometer |
US6317482B1 (en) * | 1998-06-30 | 2001-11-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Radiological image quality indicator |
FR2786389B1 (fr) * | 1998-11-27 | 2001-01-26 | Ge Medical Syst Sa | Procede de reglage de la configuration en radiologie numerique |
FR2819329B1 (fr) | 2001-01-11 | 2003-06-06 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede et dispositif de detection automatique d'une pelote de compression graduee d'un appareillage de mammographie |
FR2846503B1 (fr) * | 2002-10-29 | 2005-03-25 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede de determination des parametres optimaux d'une acquisition de radiographie |
US6859119B2 (en) * | 2002-12-26 | 2005-02-22 | Motorola, Inc. | Meso-microelectromechanical system package |
DE102004034237A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Siemens Ag | Verfahren zur Korrektur von Detektorsignalen eines Gerätes zur Rekonstruktion von Schnittbildern aus Projektionsdaten |
DE102004039681B4 (de) * | 2004-08-16 | 2006-06-01 | Siemens Ag | Tomographiegerät und Verfahren für ein Tomographiegerät |
KR102393294B1 (ko) * | 2014-09-26 | 2022-05-03 | 삼성전자주식회사 | 의료 영상 장치 및 의료 영상 장치의 제어 방법 |
CN108918559B (zh) * | 2018-07-28 | 2021-08-17 | 北京纳米维景科技有限公司 | 一种实现图像自校正的x射线图像探测器及其方法 |
CN113359176B (zh) * | 2020-03-06 | 2022-10-04 | 台达电子工业股份有限公司 | X射线照影方法及其系统 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2258593A (en) * | 1940-03-18 | 1941-10-14 | Lawrence F Black | Method of calibrating roentgenographic machines |
US2399650A (en) * | 1943-08-30 | 1946-05-07 | Aviat Corp | Method of determining blade thickness |
US3334231A (en) * | 1964-06-25 | 1967-08-01 | Gen Electric | Plate thickness measuring device with means to adjust source voltage in response to thickness variations |
US3343231A (en) * | 1964-12-31 | 1967-09-26 | Kellems Company Inc | Mechanical holding device |
NL7710052A (nl) * | 1977-09-14 | 1979-03-16 | Philips Nv | Inrichting voor computer-tomografie. |
US4763343A (en) * | 1986-09-23 | 1988-08-09 | Yanaki Nicola E | Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time |
-
1989
- 1989-06-09 FR FR8907686A patent/FR2648229B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-06-06 EP EP90401529A patent/EP0402244B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-06 DE DE69023167T patent/DE69023167T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-11-20 US US07/979,471 patent/US5528649A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5528649A (en) | 1996-06-18 |
EP0402244B1 (de) | 1995-10-25 |
DE69023167D1 (de) | 1995-11-30 |
EP0402244A3 (de) | 1991-11-21 |
FR2648229A1 (fr) | 1990-12-14 |
FR2648229B1 (fr) | 1991-09-06 |
EP0402244A2 (de) | 1990-12-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |