DE624339C - Photocell - Google Patents

Photocell

Info

Publication number
DE624339C
DE624339C DES97834D DES0097834D DE624339C DE 624339 C DE624339 C DE 624339C DE S97834 D DES97834 D DE S97834D DE S0097834 D DES0097834 D DE S0097834D DE 624339 C DE624339 C DE 624339C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
photocell
insulating
insulating support
semiconductor
carrier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES97834D
Other languages
German (de)
Inventor
Dr Hans Kersehbaum
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens and Halske AG
Siemens AG
Original Assignee
Siemens and Halske AG
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens and Halske AG, Siemens AG filed Critical Siemens and Halske AG
Priority to DES97834D priority Critical patent/DE624339C/en
Application granted granted Critical
Publication of DE624339C publication Critical patent/DE624339C/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/06Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors

Description

Photozelle Im Hauptpatent werden. Verfahren undE'inrichtungen zur Herstellung von lichtempfindlichen elektrischen Zellen beschrieben, deren Wirksamkeit auf der Veränderung der elektrischen Leitfähigkeit eines Halbleiters bei Belichtung beruht. Um .die Halbleiterschicht unter exakt definierten Bedingungen herzustellen, wird im Hauptpatent vorgeschlagen, den isolierenden Träger, auf den die Halbleiterschicht aufgebracht wird; auf genau konstanter Temperatur während des Aufbrsngens zu halten:. Der Halbleiter wird dabei vorzugsweise in atomarer Form auf die isolierende Unterlage aufgebracht.Photocell in the main patent. Procedures and facilities for Manufacture of photosensitive electrical cells described their effectiveness on the change in the electrical conductivity of a semiconductor upon exposure is based. In order to produce the semiconductor layer under precisely defined conditions, is proposed in the main patent, the insulating support on which the semiconductor layer is applied; to keep at a precisely constant temperature during application :. The semiconductor is preferably in atomic form on the insulating substrate upset.

Gemäß vorliegender Erfindung wird die Photozelle derart ausgebildet, daß ein Körper aus gut wärmeleitendem Material mit einer sehr dünnen Schlicht eines Isolators überzogen ist, die als Träger für die Elektroden.. und den Halbleiter dient. Auf diese Weise. gelingt es, den .isolierenden Träger so dünn zu machen, daß zwischen seinen beiden Seiten ein so schneller Wärmeaustausch erfolgt, d@aß auch bei ungleichmäßiger Aufbringung des Halbleiters die Temperatur, bei der er auf dem Isolator niedergeschlagen wird, sehr genau konstant bleibt. Die Herstellung der neuen Photozellen sei an Hand der Figur beschrieben. Die Platte i aus gut wärmeleitendem Material, z. B. aus Kupfer, ist mit der dünnen Schicht 2 aus elektrisch isolierendem Material überzogen. Auf diese Schicht wird dis Elektrodenraster 3 und der Halbleiter aufgebracht. Die Kupferplatte i dient als Abschluß der oberen Ein:stülpung 5 dies Gefäßes q.. Um den Halbleiter bei genau vorgeschriebener konstanter Temperatur niederzuschlagen, wird durch die Einstülpung 5 mit Hilfe der Röhren b und 7 eine Flüssigkeit geleitet, die sich auf der vorgeschriebenen Temperatur befindet. Da die Platte r sehr gut wärmeleitend. ist, befindet sie sich durch und durch auf der gewünschten Temperatur.According to the present invention, the photocell is designed in such a way that that a body made of highly thermally conductive material with a very thin finishing one Insulator is coated as a carrier for the electrodes .. and the semiconductor serves. In this way. succeeds in making the insulating carrier so thin, that such a rapid exchange of heat takes place between its two sides that d @ aß even with uneven application of the semiconductor the temperature at which it is deposited on the insulator remains constant very precisely. The production of the new photocells is described on the basis of the figure. The plate i made of good thermal conductivity Material, e.g. B. made of copper, is with the thin layer 2 of electrically insulating Material coated. The electrode grid 3 and the semiconductor are placed on this layer upset. The copper plate i serves as the conclusion of the upper indentation 5 dies Vessel q .. To knock down the semiconductor at a precisely prescribed constant temperature, a liquid is passed through the indentation 5 with the help of the tubes b and 7, which is at the prescribed temperature. As the plate r very good thermally conductive. it is at the desired temperature through and through.

Die Herstellung der Halbleiterschicht kann beispielsweise durch Kathodenzerstäubung erfolgen, wobei mit Hilfe der Zuleitungen 8 und 9 an das Raster das positive und an die im Innern des Gefäßes aufgestellte Kathode io das negative Potential gelegt ist. -Tritt nun durch eine geringe Ungleichmäßigkeit beim Zerstäuben des Halbleiters i i eine ungleichmäßige Erwärmung des Elektrodenrasters an einzelnen Stellen ein, so gleicht sich, da die Schicht 2 so dünn ist, d@aß sie einen schnellen Wärmedurchschnitt gestattet, die Temperatur schnell genug-_wieder aus, -um eine auch nur stellenweise Änderung in der Modifikation des niedergeschlagenen Halbleiters zu- vermeiden.The semiconductor layer can be produced, for example, by cathode sputtering take place, with the help of the leads 8 and 9 to the grid the positive and the negative potential is applied to the cathode located inside the vessel is. - Now occurs due to a slight unevenness in the sputtering of the semiconductor i i an uneven heating of the electrode grid at individual points, so, since layer 2 is so thin, it looks like a fast one Heat average allows the temperature to turn off quickly enough, even only in places Avoid changing the modification of the deposited semiconductor.

Der isolierende Träger, auf .dem der Halbleiter aufgebracht wird, kann beispielsweise durch einen Lack, der auch bei genügend hoher Terüperatur widerstandsfähig ist, hergestellt werden, indem er auf eine Metallplatte aufgestrichen wird. Die Auffangtemperatur kann bei Selenzellen beispielsweise bis aio°C betragen.The insulating carrier on which the semiconductor is applied For example, a varnish that is resistant even when the temperature is high enough by painting it on a metal plate. the In the case of selenium cells, the collection temperature can be up to 100 ° C, for example.

Auch kann die Isolierschicht durch Glasieren einer Metallplatte oder durch ähnliche Verfahren: gewonnen werden. Es empfiehlt sich, Tals Material eine solche Substanz zu verwenden, die eine möglichst ;hohe elektrische Isolierfestigkeit mit guter Wärmedurchlässigkeit vereinigt: Die Schicht braucht dann nur so stark zu sein, :dt.ß sie bei den Spannungen, für die -die Zelle benutzt werden soll, genügend isoliert. = Die Herstellung der Elektroden kann bei den neuen Zellen nach beliebigen Verfahren, die auch sonst bei .der Herstellung von lichtelektrischen Zellen anwendbar sind, erfolgen. Beispielsweise kann ein Elektrodenraster aufgedruckt, aufphotogxraphiert oder in eine gleichmäßig aufgestäubte Metallhaut eingeschnitten werden. Besonders vorteilhaft ist es, das Raster nach Auflegen einer Schablone katholisch aufzustäuben. Als Halbleiter können sowohl Selen als auch die anderen Subsbanzen mit belichtungsabhängiger Leitfähigkeit, wie Tellur, Thalliumsulfid und andere, zur Anwendung gelangen. -Die Elektroden können bei den neuen Zellen auch nach Aufbringen der Halbleiterschicht auf dieser erzeugt werdenc Es ist z. B. möglich, das Selen wie das Dielektrikurn eines Kondensators zwischen zwei Elektroden anzuordnen, indem auf .den: isolierenden Träger abwechselnd die eine Elektrode, der Halbleiter und die andere Elektrode aufgestäubt werden. Das'Aufstäuben der letzten Elektrode gelingt erst-bei den neuen Zellen in einwandfreier Weise, da sie ,gestatten, die Halbleiterschicht stark genug zu kühlen, um ein Verdampfen beim Aufstäuben der Elektrode zu verhindern.The insulating layer can also be obtained by glazing a metal plate or by similar processes. It is advisable to use a substance that combines the highest possible electrical insulation strength with good heat permeability: the layer then only needs to be so strong that it is at the voltages for which the cell is used should be sufficiently isolated. = The production of the electrodes can take place in the new cells by any method that can otherwise be used in the production of photoelectric cells. For example, an electrode grid can be printed on, photographed or cut into a uniformly dusted metal skin. It is particularly advantageous to use catholic dusting of the grid after placing a stencil. Both selenium and other substances with exposure-dependent conductivity, such as tellurium, thallium sulfide and others, can be used as semiconductors. -The electrodes can also be produced on the new cells after the semiconductor layer has been applied. B. possible to arrange the selenium like the dielectric of a capacitor between two electrodes by alternately sputtering one electrode, the semiconductor and the other electrode on the insulating carrier. The sputtering of the last electrode only succeeds properly with the new cells, since they allow the semiconductor layer to be cooled sufficiently to prevent evaporation when the electrode is sputtered.

Claims (1)

PATENTANSPRÜCHE: i. Photozelle nach. dem Herstellungsverfahren des Hauptpatents 6z3 488, bei dem ein Halbleiter mit belichtungsabhängigem Widerstand in atomarer Form auf einen zweckmäßig vorher mit Elektroden versehenen isolierenden, auf konstanter. Formierungstemperatur gehaltenen Träger aufgebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß_ der isolierende Träger als dünner Überzug eines gut wärmeleitenden .Körpers ausgebildet ist. a. Photozelle nach Anspruch z, dadurch gekennzeichnet, daß der isolierende Träger aus einer wärmebeständigen Lackschicht besteht. 3. Photozelle nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der isolierende Träger als Glasur des gut wärmeleitenden Körpers ausgebildet ist. q.. Photozelle nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der isolierende Träger nicht dicker ist, als zur Spannungsisolierung der fertigen, Zelle erforderlich ist. 5. Photozelle nach Anspruch. i, dadurch gekennzeichnet, d'aß .der isolierende Träger aus einer gut wärmeleitenden und schlecht elektrisch leitenden Substanz besteht. 6. Photozelle:nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Halbleiter auf der vom isolierendenTräger abgewandten Seite eine Elektrode aufgebracht ist. 7. Verfahren zur Herstellung von Photozellen nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden unter Benutzung einer Schablone auf den isolierenden Träger aufgedampft oder aufgestäubt werden. PATENT CLAIMS: i. Photocell after. the manufacturing process of the main patent 6z3 488, in which a semiconductor with exposure-dependent resistance in atomic form on an insulating, expediently provided with electrodes beforehand, on constant. Forming temperature maintained carrier is applied, characterized in that the insulating carrier is designed as a thin coating of a highly thermally conductive .Körpers. a. Photocell according to claim z, characterized in that the insulating support consists of a heat-resistant lacquer layer. 3. Photocell according to claim i, characterized in that the insulating carrier is designed as a glaze of the body with good thermal conductivity. q .. photocell according to claim i, characterized in that the insulating support is not thicker than is necessary for voltage insulation of the finished cell. 5. Photocell according to claim. i, characterized in that the insulating support consists of a substance that conducts heat well and is poorly electrically conductive. 6. Photocell: according to claim i, characterized in that an electrode is applied to the semiconductor on the side facing away from the insulating support. 7. A method for producing photocells according to claim i, characterized in that the electrodes are vapor-deposited or sputtered onto the insulating support using a template.
DES97834D 1931-04-02 1931-04-02 Photocell Expired DE624339C (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES97834D DE624339C (en) 1931-04-02 1931-04-02 Photocell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES97834D DE624339C (en) 1931-04-02 1931-04-02 Photocell

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE624339C true DE624339C (en) 1936-01-17

Family

ID=7521016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES97834D Expired DE624339C (en) 1931-04-02 1931-04-02 Photocell

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE624339C (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2753278A (en) * 1951-04-14 1956-07-03 Haloid Co Method for the production of a xerographic plate
DE1117790B (en) * 1957-09-03 1961-11-23 Nat Res Dev Semiconductor material suitable for the manufacture of photo semiconductor cells, radiation filters or the like

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2753278A (en) * 1951-04-14 1956-07-03 Haloid Co Method for the production of a xerographic plate
DE1117790B (en) * 1957-09-03 1961-11-23 Nat Res Dev Semiconductor material suitable for the manufacture of photo semiconductor cells, radiation filters or the like

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1696075C3 (en) Process for the partial electroplating of a semiconductor layer
DE2052424C3 (en) Process for making electrical line connections
DE2542194A1 (en) METHOD FOR MANUFACTURING PHOTO ELEMENTS
DE2227751A1 (en) ELECTRIC CAPACITOR
DE1589727C3 (en) Electrolytic capacitor and process for its manufacture
DE624339C (en) Photocell
DE1521336A1 (en) Process for the production of rod-shaped bodies made of gallium arsenide, provided on both faces with uniform, low-resistance contacts
DE1121241B (en) Photoelectric device with a lead oxide layer as a photoconductor and process for its manufacture
DE2250184C3 (en) Optical relay that contains a photoconductive element
DE1275221B (en) Process for the production of an electronic solid state component having a tunnel effect
DE2445659C2 (en) Metal oxide varistor
DE3312249A1 (en) AMORPHE SILICON SOLAR BATTERY
DE908043C (en) Process for the production of selenium rectifiers, preferably those with light metal carrier electrodes
DE102019104062B3 (en) Thermoelectric element and method of manufacture
DE501228C (en) Process for the production of rectifier elements for dry rectifiers with a selenium layer
DE2534468B2 (en) METHOD OF MANUFACTURING A GRID FOR ELECTRON TUBES
DE971697C (en) Process for the manufacture of selenium rectifiers
DE2543079A1 (en) PROCESS FOR MANUFACTURING SOLID STATE CAPACITORS
DE1278194B (en) Process for vacuum deposition of stable thin silicon monoxide layers
DE898468C (en) Process for the production of electrical resistors
DE1103104B (en) Method and device for the electrolytic formation of a strip of film-forming metal, in particular of electrode foils for electrolytic capacitors
DE634594C (en) Process for the production of photosensitive cells
DE1564285C3 (en) Method of manufacturing a selenium rectifier plate with a two-layer selenium layer
DE2057538C3 (en) Process for producing a thermal generator and arrangement for carrying out the process
AT117652B (en) Process for making photosensitive cells.