DE621820C - Device for determining the light transmittance of thin layers, especially photographic layers - Google Patents

Device for determining the light transmittance of thin layers, especially photographic layers

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DE621820C
DE621820C DEW81320D DEW0081320D DE621820C DE 621820 C DE621820 C DE 621820C DE W81320 D DEW81320 D DE W81320D DE W0081320 D DEW0081320 D DE W0081320D DE 621820 C DE621820 C DE 621820C
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    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0096Microscopes with photometer devices

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Description

-VWichtüng-zur Bestimmung der Lichtdurchlässigkeit dünner Schichten, " " insbesondere photographischer Schichten Der Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtdurchlässigkeit dünner Schichten, insbesondere photographischer Schichten, bei der am Bildorte eines die Schicht abbildenden optischen Systems eine Spaltblende, auf der dem optischen System abgekehrten Seite der Spaltblende eine lichtelektrische Meßeinrichtung angeordnet ist und bei der Mittel zur Beobachtung des von dem optischen System erzeugten Bildes der Schicht während der Messung vorgesehen sind.-VWichtüng- to determine the light transmission of thin layers, "" in particular photographic layers The subject matter of the present invention is a device for determining the light transmission of thin layers, in particular photographic layers, in the case of the image locations of an optical layer which images the layer System a slit diaphragm on the side of the slit diaphragm facing away from the optical system a photoelectric measuring device is arranged and at the means for observation of the image of the layer generated by the optical system is provided during the measurement are.

Bei Einrichtungen dieser bekannten Art wird die Beobachtung der im Bildort erzeugten Abbildung der Schicht durch Verwendung einer als Projektionsfläche - ausgebildeten Spaltblende ermöglicht.In devices of this known type, the observation of the im Image location generated image of the layer by using as a projection surface - Enables trained slit diaphragm.

Die erfindungsgemäße Anordnung besteht nun darin, daß zwischen der Spaltblende und der Meßeinrichtung eine Strahlenteilur_gseinrichtung und ein Okular angeordnet sind und die Spaltblende als Farbfilter ausgebildet ist, welches nur solche Strahlen durchläßt, auf die die lichtelektrische Meßeinrichtung nicht anspricht.The inventive arrangement is that between the Slit diaphragm and the measuring device, a beam splitting device and an eyepiece are arranged and the slit diaphragm is designed as a color filter, which only passes those rays to which the photoelectric measuring device does not respond.

Gegenüber dem Bekannten liegt der Vorteil dieser Anordnung darin, daß nicht nur die in weitem Umkreis neben dem Spalt, sondern auch die auf dem Spalt selbst abgebildeten Stellen der Schicht sichtbar sind. Der neben dem Spalt abgebildete Teil der Schicht erscheint heller, in größerem Maßstabe und in größerer Ausdehnung, ohne daß dabei ein wirklicher Lichtverlust in der Spaltstelle selbst eintritt. Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht noch darin, daß der zwischen Spaltblende und Ob- jektiv liegende Raum von einem Gehäuse umgeben werden kann, so daß kein Nebenlicht durch den Spalt auf die Meßeinrichtung fällt.The advantage of this arrangement over the known is that not only the areas of the layer which are depicted in a wide area next to the gap, but also the areas of the layer depicted on the gap itself are visible. The part of the layer shown next to the gap appears lighter, on a larger scale and in a larger area, without any real loss of light occurring in the gap itself. A further advantage of the arrangement according to the invention consists in the fact that the objectively located between the slit diaphragm and object space can be surrounded by a housing, so that no stray light falls through the gap on the measuring device.

An Hand der schematischen Zeichnung (Abb. i und 2) wird nachfolgend der grundsätzliche Aufbau der Meßanordnung beschrieben: z ist eine Lichtquelle, 2 ein Kondensor, 3 die zu messende Schicht und q. der Strahlengang durch die optische Einrichtung, 5 ist das Objektiv und 6 die Kollektivlinse der optischen Einrichtung. Am Bildort 7 ist erfindungsgemäß die auswechselbare Farbfilterblende 8 angeordnet. Man verwendet zweckmäßig ein rotes oder gelbes Filter, in welchem sich, wie in Abb. 2 dargestellt, in geometrisch bestimmter Form, z. B. rechteckiger Form, eine Blendenöffnung 9 befindet. Durch diese Blendenöffnung treten die Lichtstrahlen im Bereiche des ganzen Spektrums hindurch, passieren ferner den teilweisen lichtdurchlässigen Spiegel io, treffen auf das Reflexionsprisma i i und werden von diesem auf die lichtempfindliche Zelle der Meßeinrichtung 12 geworfen, in welcher dann in bekannter Weise je nach der Menge des einwirkenden Lichtes, also in Abhängigkeit von der Durchlässigkeit - der zu messenden Schicht, mehr oder weniger große Strom- oder Spannungsänderungen zur Auswirkung kommen. Das ebenfalls auf das lichtelektrische Meßsystem gelangende Filterlicht bleibt ohne Meßwirkung.The following is based on the schematic drawing (Fig. I and 2) the basic structure of the measuring arrangement is described: z is a light source, 2 a condenser, 3 the layer to be measured and q. the beam path through the optical Device, 5 is the objective and 6 is the collective lens of the optical device. According to the invention, the replaceable color filter screen 8 is arranged at the image location 7. It is advisable to use a red or yellow filter in which, as shown in Fig. 2 shown, in a geometrically defined shape, for. B. rectangular shape, an aperture 9 is located. The light rays pass through this aperture in the area of the across the entire spectrum, also pass through the partially translucent mirror io, meet the reflection prism i i and are sensitive to light by this Cell of the measuring device 12 thrown, in which then in a known manner depending on the amount of light acting on it, i.e. depending on the permeability - the layer to be measured, more or less large changes in current or voltage come into effect. That which is also applied to the photoelectric measuring system Filter light has no measuring effect.

Ein Teil des durchgefilterten und ungefilterten Lichtes wird von dem teilweise durchlässigen Spiegel io in bekannter Weise durch die Augenlinse 13 der optischen Einrichtung zum Auge 14 des Beobachtenden geleitet.Part of the filtered and unfiltered light is used by the partially permeable mirror io in a known manner through the eye lens 13 of the optical device passed to the eye 14 of the observer.

Claims (1)

PATENTANSPRUCH: Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtdurchlässigkeit dünner Schichten, insbesondere photographischer Schichten, bei der am Bildorte eines die Schicht abbildenden optischen Systems eine Spaltblende und auf der dem optischen System abgekehrten Seite der Spaltblende eine lichtelektrische Meßeinrichtung angeordnet ist und bei der Mittel zur Beobachtung des von dem optischen System erzeugten Bildes der Schicht während der Messung vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zur Beobachtung des Schichtbildes darin bestehen, daß zwischen der Spaltblende und der Meßeinrichtung eine Strahlenteilungseinrichtungund ein Okular angeordnet sind und die Spaltblende als Farbfilter ausgebildet ist, welches nur solche Strahlen durchläßt, auf die die lichtelektrische Meßeinrichtung nicht anspricht.PATENT CLAIM: Device for determining the light transmission thin layers, especially photographic layers, in which at the image location one the layer imaging optical system a slit and on the optical A photoelectric measuring device is arranged on the side of the slit diaphragm facing away from the system and the means for observing the image generated by the optical system the layer are provided during the measurement, characterized in that the Means for observing the layer image consist in the fact that between the slit diaphragm and a beam splitter and an eyepiece are arranged on the measuring device are and the slit diaphragm is designed as a color filter, which only such rays passes to which the photoelectric measuring device does not respond.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE969720C (en) * 1954-03-09 1958-07-10 Fuess Vormals J G Greiner Jr & Objective photometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE969720C (en) * 1954-03-09 1958-07-10 Fuess Vormals J G Greiner Jr & Objective photometer

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