DE60336047D1 - Verfahren und Schaltung zur verzögerungsfreien Speicherung von Fehlern zur Selbstreparatur von eingebetteten RAM-Speichern - Google Patents
Verfahren und Schaltung zur verzögerungsfreien Speicherung von Fehlern zur Selbstreparatur von eingebetteten RAM-SpeichernInfo
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- G11C2029/1208—Error catch memory
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP20030291208 EP1480228B9 (de) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | Verfahren und Schaltung zur verzögerungsfreien Speicherung von Fehlern zur Selbstreparatur von eingebetteten RAM-Speichern |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE60336047D1 true DE60336047D1 (de) | 2011-03-31 |
Family
ID=33041118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE60336047T Expired - Lifetime DE60336047D1 (de) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | Verfahren und Schaltung zur verzögerungsfreien Speicherung von Fehlern zur Selbstreparatur von eingebetteten RAM-Speichern |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1480228B9 (de) |
| DE (1) | DE60336047D1 (de) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5987632A (en) * | 1997-05-07 | 1999-11-16 | Lsi Logic Corporation | Method of testing memory operations employing self-repair circuitry and permanently disabling memory locations |
| JP2000030483A (ja) * | 1998-07-15 | 2000-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | 大規模メモリ用ｂｉｓｔ回路 |
-
2003
- 2003-05-22 DE DE60336047T patent/DE60336047D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-22 EP EP20030291208 patent/EP1480228B9/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1480228B1 (de) | 2011-02-16 |
| EP1480228B9 (de) | 2011-06-29 |
| EP1480228A1 (de) | 2004-11-24 |
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