DE60317859D1 - Überwachungsschaltung und Verfahren zur Prüfung von integrierten Schaltungen mit analogen und/oder Mischsignalen - Google Patents
Überwachungsschaltung und Verfahren zur Prüfung von integrierten Schaltungen mit analogen und/oder MischsignalenInfo
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- G01R31/3181—Functional testing
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- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31919—Storing and outputting test patterns
- G01R31/31921—Storing and outputting test patterns using compression techniques, e.g. patterns sequencer
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US10/193,949 US6714036B2 (en) | 2002-07-11 | 2002-07-11 | Monitor circuitry and method for testing analog and/or mixed signal integrated circuits |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE60317859D1 true DE60317859D1 (de) | 2008-01-17 |
Family
ID=29735347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE60317859T Expired - Lifetime DE60317859D1 (de) | 2002-07-11 | 2003-03-05 | Überwachungsschaltung und Verfahren zur Prüfung von integrierten Schaltungen mit analogen und/oder Mischsignalen |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6714036B2 (enExample) |
| EP (1) | EP1380847B1 (enExample) |
| JP (1) | JP2004045404A (enExample) |
| DE (1) | DE60317859D1 (enExample) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8437720B2 (en) | 2002-12-02 | 2013-05-07 | Broadcom Corporation | Variable-gain low noise amplifier for digital terrestrial applications |
| US7471941B2 (en) * | 2002-12-02 | 2008-12-30 | Broadcom Corporation | Amplifier assembly including variable gain amplifier, parallel programmable amplifiers, and AGC |
| US7260377B2 (en) * | 2002-12-02 | 2007-08-21 | Broadcom Corporation | Variable-gain low noise amplifier for digital terrestrial applications |
| US7309998B2 (en) * | 2002-12-02 | 2007-12-18 | Burns Lawrence M | Process monitor for monitoring an integrated circuit chip |
| US6798286B2 (en) * | 2002-12-02 | 2004-09-28 | Broadcom Corporation | Gain control methods and systems in an amplifier assembly |
| US20050056375A1 (en) * | 2003-09-16 | 2005-03-17 | Sanford, L.P. | Applicator tip for a corrective tape dispenser |
| US7265629B2 (en) * | 2005-03-29 | 2007-09-04 | Sirific Wireless Corporation | Circuit and method for automatic gain control |
| CA2733891C (en) * | 2008-10-01 | 2017-05-16 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method, system and apparatus for multiplexing ions in msn mass spectrometry analysis |
| US8492892B2 (en) | 2010-12-08 | 2013-07-23 | International Business Machines Corporation | Solder bump connections |
| CN104680945B (zh) | 2015-03-23 | 2018-05-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 像素排列方法、像素渲染方法及图像显示装置 |
| CN112485654B (zh) * | 2020-11-16 | 2023-07-21 | 上海唯捷创芯电子技术有限公司 | 一种芯片端口状态检测电路、芯片及通信终端 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5938670B2 (ja) * | 1976-10-15 | 1984-09-18 | 日本電気株式会社 | 差信号増巾回路 |
| US4158241A (en) * | 1978-06-15 | 1979-06-12 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device with a plurality of memory cells and a sense amplifier circuit thereof |
| US5698998A (en) * | 1996-04-12 | 1997-12-16 | Hewlett-Packard Co. | Fast, low power, differential sense amplifier |
| US6191620B1 (en) * | 1999-11-04 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | Sense amplifier/comparator circuit and data comparison method |
-
2002
- 2002-07-11 US US10/193,949 patent/US6714036B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-03-05 EP EP03004842A patent/EP1380847B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-03-05 DE DE60317859T patent/DE60317859D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-07-01 JP JP2003189236A patent/JP2004045404A/ja not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1380847B1 (en) | 2007-12-05 |
| EP1380847A3 (en) | 2005-11-30 |
| US20040008049A1 (en) | 2004-01-15 |
| EP1380847A2 (en) | 2004-01-14 |
| US6714036B2 (en) | 2004-03-30 |
| JP2004045404A (ja) | 2004-02-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| 8332 | No legal effect for de |