DE60317107T2 - Verfahren und apparat zur messung der polarisationsmodendispersion - Google Patents

Verfahren und apparat zur messung der polarisationsmodendispersion Download PDF

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Description

  • TECHNISCHES GEBIET:
  • Diese Erfindung betrifft ein Verfahren und einen Apparat zur Messung einer Polarisationsmodendispersion (PMD) in optischen Geräten, insbesondere in Wellenleitern, wie sie beispielsweise in optischen Kommunikationssystemen verwendet werden.
  • STAND DER TECHNIK:
  • Es ist gut bekannt, dass eine PMD durch Einspeisen von linear polarisiertem Breitbandlicht in den Wellenleiter gemessen werden kann, wobei das Licht, das den Wellenleiter verläßt, durch einen linearen Polarisator hindurchgeleitet wird und dann zu einem Scanning-Interferometer gesandt wird, das Licht von den beiden Armen des Interferometers rekombiniert wird, so dass Interferogramme erzeugt werden, die Intensität des rekombinierten Lichts, I, in ein entsprechendes elektrisches Signal umgewandelt wird und das elektrische Signal verarbeitet wird, um die PMD von einer Kurve I(τ) zu extrahieren, wobei die Kurve I(τ) eine Intensität I gegen die Pfadverzögerungsdifferenz τ zwischen den zwei Interferometerarmen (im folgenden als Verzögerung τ bezeichnet) darstellt.
  • Wie in dem U.S.-Patent Nr. 5,712,704 (Martin et al.) erklärt, zeigt die Kurve I(τ) einen hohen zentralen Peak mit kleineren Fluktuationen, die auf beiden Seiten zu sehen sind. (Ähnliche Fluktuationen am Zentrum sind durch den zentralen Peak überdeckt.) Der zentrale Peak stellt das Lichtspektrum am Ausgang des Wellenleiters (vor dem Linearpolarisator) dar, während die Fluktuationen die PMD darstellen. Gemäß Martin et al. "behindert dieser Peak die Verarbeitung des erfassten Signals, wodurch die genaue Messung der PMD verhindert wird".
  • Martin et al. erörterten eine zuvor offenbarte Technik, welche den zentralen Peak entfernte, indem das Licht mittels eines ersten Polarisators bei 45° einem Interferometer mit einem Polarisator bei 0° in einem Arm und einem Polarisator bei 90° in seinem anderen Arm hindurch geleitet wird und das rekombinierte Licht durch einen Analysator (Analyse-Polarisator) bei 0° hindurch geleitet wird. Nachdem er diesen komplexen Aufbau und die Verwendung des Analysators als unbefriedigend erkannt hatte, suchten Martin et al. danach, einen einfacheren Weg zur Entfernung des zentralen Peaks bereitzustellen. Insbesondere sahen Martin et al. wenigstens ein doppelbrechendes Element mit zwei unabhängigen Polarisationsmoden in wenigstens einem der Interferometerarme vor, wobei die algebraische Summe der elementaren Phasenverschiebungen in den beiden Armen gleich einer relativen Phasenverschiebung ist und die algebraische Differenz zwischen den zwei relativen Phasenverschiebungen einen Wert von π aufweist. Gemäß Martin et al. gestattet dies, die Kurve der Intensität I gegen die Verzögerung τ ohne den "parasitären" zentralen Peak zu erhalten.
  • Keiner dieser Ansätze ist jedoch gänzlich zufriedenstellend, weil sie auf der Entfernung des "parasitären" zentralen Peaks mit der Begründung beruhen, dass er die Messung der PMD beeinträchtigt, so dass ein einfaches Entfernen des zentralen Peaks die Messgenauigkeit deutlich verbessern sollte. Dies trifft nur teilweise zu. Tatsächlich bedeutet ein Entfernen des zentralen Peaks, dass nützliche Informationen verworfen werden, mit dem Ergebnis, dass sehr kleine PMDs, die gegen Null gehen, nicht genau gemessen werden können. In der Praxis ist eine Verbesserung einer Messgenauigkeit unbedeutend.
  • Eine andere Lösung zur Bestimmung der Polarisationsmodendispersion eines optischen Geräts ist in der EP 1 113 250 A offenbart.
  • OFFENBARUNG DER ERFINDUNG:
  • Die vorliegende Erfindung sucht danach, die Nachteile dieser bekannten PMD-Messtechniken wenigstens zu mindern oder wenigstens eine Alternative bereitzustellen.
  • Entsprechend einem erfindungsgemäßen Aspekt umfasst ein Apparat zur Messung von Polarisationsmodendispersion (PMD) eines Wellenleiters:
    • (i) Breitbandlichtquellen-Mittel zum Zuführen von polarisiertem Breitbandlicht auf ein Ende des Wellenleiters,
    • (ii) ein Interferometer mit einer Eintrittsöffnung und einer Austrittsöffnung, Mittel zum Aufspalten des Lichts vom Wellenleiter in erste und zweite Komponenten, erste und zweite Pfade zum Transportieren der ersten bzw. zweiten Komponente zur Austrittsöffnung zur Rekombination, sowie Mittel zum Abwandeln der Länge von entweder dem ersten oder zweiten Pfad relativ zu dem anderen, um eine Interferenz zwischen den Komponenten bei Rekombination zu bewirken,
    • (iii) einen Polarisationsseparator zum Empfangen des rekombinierten Lichts von der Austrittsöffnung und Separieren des rekombinierten Lichts entlang zweier orthogonaler Polarisationszustände, um entsprechende erste und zweite Interferogramme zu erhalten,
    • (iv) erste und zweite Erfassungsmittel zum Umwandeln des ersten bzw. zweiten Interferogramms in entsprechende erste und zweite Interferogrammsignale (PX(τ), PY(τ)), und
    • (v) Prozessormittel zum Verarbeiten der ersten und zweiten Interferogrammsignale, um eine Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) und eine Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) zu erzeugen, und Bestimmen der Polarisationsmodendispersion (PMD) des Wellenleiters von der Kreuzkorrelations- und der Autokorrelationshüllkurve.
  • Gemäß einem zweiten erfindungsgemäßen Aspekt umfasst ein Verfahren zur Messung einer Polarisationsmodendispersion eines Wellenleiters die Schritte:
    • (i) Zuführen von linear polarisiertem Breitbandlicht, um es durch das Gerät hindurch zu leiten,
    • (ii) Verwenden eines Scanning-Interferometers mit einem Mittel zum Abwandeln eines ersten seiner zwei Pfade relativ zum zweiten, Aufspalten des Lichts, welches das Gerät verläßt, in erste und zweite Komponenten, Transportieren der ersten und zweiten Komponenten über einen ersten bzw. zweiten Pfad und Rekombinieren der Komponenten, nachdem sie den ersten bzw. zweiten Pfad durchquert haben, und Abwandeln der Länge eines der Pfade relativ zu dem andren, um eine Interferenz bei Rekombination zwischen den Komponenten zu erzeugen,
    • (iii) Separieren des rekombinierten Lichts entlang zweier orthogonaler Polarisationszustände, um entsprechende erste und zweite Interferogramme zu erhalten,
    • (iv) Umwandeln des ersten bzw. zweiten Interferogramms in entsprechende erste und zweite elektrische Interferogrammsignale (PX(τ), PY(τ)), und
    • (v) Verarbeiten der ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignale, um eine Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) und eine Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) zu erzeugen und Bestimmen der Polarisationsmodendispersion (PMD) des Wellenleiters von der Kreuzkorrelations- und der Autokorrelationshüllkurve.
  • In Ausführungsformen gemäß eines der erfindungsgemäßen Aspekte kann gemäß den Ausdrücken EC(τ) = |Pi(τ) – PP(τ)| und EA(τ) = |Pi(τ) + PP(τ)|die Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) als der Modul der Differenz zwischen den ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignalen berechnet werden und die Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) als der Modul der Summe der ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignale.
  • Vorzugsweise wird die Polarisationsmodendispersion (PMD) von der Kreuzkorrelation (EC(τ)) und der Autokorrelation (EA(τ)) gemäß dem Ausdruck
    Figure 00050001
    berechnet,
    Figure 00050002
    und τ die Verzögerung zwischen dem ersten und zweiten Pfad des Interferometers ist.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN:
  • Eine erfindungsgemäße Ausführungsform wird nun lediglich beispielhaft unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben, worin:
  • 1(a) – bezeichnet mit STAND DER TECHNIK – einen herkömmliche Apparat zur Messung einer Polarisationsmodendispersion (PMD) eines Wellenleiters unter Test zeigt;
  • 1(b) das Leistungsspektrum von Licht, das einen Analysator in dem Apparat verläßt, als eine Funktion einer optischen Frequenz ν zeigt;
  • 1(c) die Randhüllkurve am Austritt eines Interferometers in dem Apparat als eine Funktion der Verzögerung τ zeigt;
  • 1(d) mit der Hilfe des Leistungsspektrums den physikalischen Ursprung der Autokorrelations- und Kreuzkorrelationsteile der Randhüllkurve zeigt; und
  • 2 eine erfindungsgemäße Ausführungsform zeigt.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSFORMEN:
  • Der in 1 gezeigte bekannte Apparat umfasst ein Quellen-Mittel für polarisiertes Breitbandlicht umfassend eine Breitbandlichtquelle 10, beispielsweise eine Leuchtdiode, mit Erbium dotierte Faser-Quelle, und so weiter, und einen Polarisator (herkömmlicherweise einen Linearpolarisator) zum Polarisieren des Lichts von der Quelle 10 und Zuführen des polarisierten Lichts mit dem Polarisationszustand s ^0 zu einem Eingang eines Gerätes unter Test (DUT, device-under-test) 14, beispielsweise einer optischen Faser oder anderen Art von Wellenleiter. Licht, das das DUT 14 verläßt und einen von einer optischen Frequenz abhängigen Polarisationszustand s ^(ν) und Leistung P0(ν) aufweist, wird über einen Analysator 16, herkömmlicherweise einen anderen Linearpolarisator, einer Eintrittsöffnung 18 eines Interferometers 20 zugeführt, das als Michelson-Interferometer gezeigt ist.
  • Das Interferometer 20 umfasst einen Teiler oder Separator 22, beispielsweise eine unter 45° geneigte semi-reflektive Platte oder einen 50-50-Faser-Koppler, um das von dem Analysator 16 empfangene Licht in zwei Komponenteninterferenzstrahlen 24A bzw. 24B zu teilen und, um die Interferenzstrahlen nach ihrer Reflexion durch Spiegel 26A bzw. 26B zu rekombinieren, um einen rekombinierten Lichtstrahl zu bilden, welcher das Interferometer 20 über eine Austrittsöffnung 28 verläßt.
  • Der Spiegel 26A ist fixiert, während der Spiegel 26B beweglich ist, um die Länge des Pfades, der vom Interferenzstrahl 24B durchquert wird, relativ zu dem, der vom Interferenzstrahl 24A durchquert wird, abzuwandeln. Im Betrieb wird der abtastende Spiegel 26B hin- und zurückbewegt, um die Pfadlänge und damit die Pfadverzögerungsdifferenz τ zwischen den zwei Armen abzuwandeln, so dass die Interferenzstrahlen 24A und 24B interferieren, wenn sie an dem Ausgang des Interferometers 20 rekom binieren. Die 1(c) zeigt das resultierende Interferogramm an der Austrittsöffnung des Interferometers 20 (genauer gesagt die Interferenz-Randhüllkurve oder Randsichtbarkeit als eine Funktion der Verzögerung τ).
  • Wie in 1(b) gezeigt, kann das Lichtspektrum, das in das Interferometer 20 eintritt, insgesamt eine Glockenform, allerdings mit starken Fluktuationen, aufweisen, wenn sich ein Analysator 16 am Ausgang des DUT 14 befindet. In der Tat ist die vom Interferometer 20 erzeugte Interferenz-Randhüllkurve, gezeigt in 1(c), der Modul der Fouriertransformierten des Spektrums. 1(d) zeigt die Ableitung des Interferogramms von dem folgenden Ausdruck für das Spektrum:
    Figure 00080001
    wobei e ^a die Achse maximaler Transmission des Analysators 16 ist.
  • Wie von den 1(c) und 1(d) und dem Ausdruck in den eckigen Klammern in Gleichung (1) gesehen werden kann, kann das Spektrum des Lichts, das den Analysator 16 verlässt, als die Summe der zwei Teile angesehen werden, wobei der eine Teil unabhängig vom Polarisationszustand s ^(ν) ist; der sogenanne zentrale Peak rührt von diesem Teil her. Der zentrale Peak ist die Autokorrelation, d. h. der Modul der Fouriertransformierten des Spektrums P0(ν) am Eingang des Analysators (siehe 1(d)) und ist unabhängig von den Fluktuationen des Polarisationszustands s ^(ν) und daher der PMD. Es sei angemerkt, dass das Maximum des Autokorrelationspeaks am Zentrum (Verzögerung = 0) auf 1 gesetzt wurde; der Graph ist skaliert, um den Kreuzkorrelationsteil deutlicher zu zeigen.
  • Der zweite Teil des Ausdrucks in den eckigen Klammern in Gleichung (1) hängt vom Polarisationszustand ab und ergibt den Kreuzkorrelationsteil des Interferogramms in 1(d); er weist einen gegebenen Wert am Zentrum, aber keinen großen zentralen Peak auf. Es sei angemerkt, dass 1(d) einfach bereitgestellt ist, um ein grundlegendes Verständnis zu erleichtern. Dieser Apparat misst Interferogramme direkt; es wird kein Spektrum gemessen.
  • In solch einem herkömmlichen interferometrischen PMD-Messapparat ist die Gesamthüllkurve in 1(c) und 1(d) nicht die Summe der zwei Hüllkurven, d. h. Autokorrelation und Kreuzkorrelation; sie interferieren im zentralen Bereich (Modul der Summe, nicht Summe der Module). Wo die PMD relativ groß ist, beispielsweise 10 ps, ist die Breite der Kreuzkorrelationshüllkurve viel größer als die Breite des Autokorrelationspeaks, so dass die Anwesenheit des Autokorrelationspeaks kein Problem darstellt. Es sei angemerkt, dass das Maximum des Autokorelationspeaks am Zentrum (Verzögerung = 0) auf 1 gesetzt wurde: Die Skala des Graphs ist vergrößert, um den Kreuzkorrelationsteil klarer zu zeigen.
  • Die durch die US 5,712,704 gelehrte Herangehensweise ist, diesen Autokorrelationspeak durch Weglassen des Analysators und Einfügen einer Wellenplatte in einem Arm des Interferometers 20 zu entfernen. Dies ist jedoch nicht vollständig zufriedenstellend, weil sie Informationen verwirft, die insbesondere nützlich sind, wenn sehr kleine PMD-Werte gemessen werden. Dieser sogenannte parasitäre zentrale Peak ist nicht einfach nur ein Parasit. Die Kenntnis dieses Peaks, erhalten durch Extrahieren von sowohl der Kreuzkorrelation und der Autokorrelation, separat, ohne mit der anderen am Zentrum zu interferieren, kann zu einem großen Vorteil verwendet werden.
  • Daher verwerfen die erfindungsgemäßen Ausführungsformen nicht den Autokorrelationspeak, sondern verwenden ihn vielmehr, um die Genauigkeit der PMD-Messung zu verbessern, insbesondere, wo die PMD sehr klein ist. Solch eine Ausführungsform wird nun beispielhaft mit Bezug auf 2 beschrieben, worin Komponenten, die den in 1(a) gezeigten entsprechen, dieselben Bezugszeichen haben. Der Betrieb des in 2 gezeigten Apparats ist in vieler Hinsicht ähnlich zu der in der US 5,712,704 gezeigten und wird daher zur Einfachheit hier nicht ausführlich beschrieben. Für weiter Informationen wird der Leser auf die US 5,712,704 verwiesen, die hierin durch Bezugnahme aufgenommen ist.
  • Der in 2 gezeigte Apparat unterscheidet sich von dem in 1(a) gezeigten dadurch, dass der Analysator weggelassen ist und ein Polarisationsstrahlteiler (PBS) 30 mit seiner an die Austrittsöffnung 28 des Interferometers 20 gekoppelten Eintrittsöffnung und mit seinen an erste und zweite Photodetektoren 32X bzw. 32Y gekoppelten Austrittsöffnungen angeordnet ist. Die elektrischen Ausgänge der Photodetektoren 32X und 32Y , (optional) verstärkt durch Verstärker 34X und 34Y , werden durch einen Prozessor 36 überwacht.
  • Der PBS 30 teilt den rekombinierten Lichtstrahl in zwei Interferogrammkomponenten PX(τ) und PY(τ), die wechselseitig orthogonale Polarisationszustände aufweisen und versorgt die Photodetektoren 32X bzw. 32Y mit zwei Interferogrammkomponenten zur Umwandlung in entsprechende elektrische Signale, welche verstärkt und dem Prozessor 36 zugeführt werden.
  • Der Prozessor 34 verarbeitet die elektrischen Signale, um die Interferogramme für beide Polarisationszustände zu extrahieren und verwendet sie, um die PMD der DUT 14 zu berechnen. Insbesondere erhält der Prozessor 36 die Autokorrelationshüllkurve EA(τ) und Kreuzkorrelationshüllkurve EC(τ) durch Berechnen der Summe und Differenz der elektrischen Signale von den zwei Photodetektoren 32X und 32Y . Mit PX(τ) und PY(τ), die die zwei Interferogramme als Funktionen der Verzögerungsdifferenz τ zwischen den zwei Armen des Interferometers 20 sind, werden Autokorrelation EA(τ) und Kreuzkorrelation (EC(τ) daher wie folgt abgeleitet: EA(τ) = |PX(τ) + PY(τ)| und EC(τ) = |PX(τ) – PY(τ)| (2)
  • Der Hauptunterschied in der nachfolgenden Verarbeitung, verglichen mit der in der US 5,712,704 beschriebenen, ist der, dass die PMD unter Verwendung des Ausdrucks
    Figure 00110001
    berechnet wird, wobei σ 2 / 0 die rms-Breite des Quadrats der Autokorrelationshüllkurve ist, so wie σ die rms-Breite des Quadrats der Kreuzkorrelationshüllkurve ist. Die Formel, um σ und σ 2 / 0 zu erhalten ist in beiden Fällen folgendermaßen die gleiche:
    Figure 00110002
  • Wie von der Gleichung (3) gesehen wird, wird ein bekannter Offset σ 2 / 0 von σ2 subtrahiert, um den PMD-Wert zu erhalten; σ 2 / 0 ist tatsächlich von dem PMD-Wert unabhängig, weil es gemäß Gleichung (4) von der separaten Autokorrelationshüllkurve hergeleitet wird. Aufgrund der Tatsache, dass sowohl die Autokorrelationshüllkurve als auch die Kreuzkorrelationshüllkurve separat, ohne mit der anderen zu interferieren, extrahiert wer den, kann der Offset σ 2 / 0 gemäß Gleichung (4) berechnet werden und gemäß Gleichung (3) von σ2 subtrahiert werden.
  • Die folgenden praktischen Vorteile ergeben sich aus der Kenntnis und dem Subtrahieren dieses Offsets σ 2 / 0 bei der Berechnung der PMD:
    • 1. Unabhängigkeit von der Gestalt des Spektrums: Die Technik wird unempfindlich gegenüber der Breite und Gestalt des Spektrums P0(n), vor allem unempfindlich gegenüber Welligkeiten des Spektrums (beispielsweise Multipfad-Interferenz(MPI)-Effekte, Filtern durch das DUT, etc.), welche Phänomene zur Zeit tatsächliche praktische Einschränkungen kommerziell erhältlicher interferometrischer PMD-Analysatoren sind. Wie auch immer die Gestalt des Spektrums aussieht, es wird als ein Offset σ 2 / 0 des beobachteten σ2 übersetzt.
    • 2. Messung der PMD, die so klein wie PMD = 0 ist: Es sollte verstanden werden, dass wenn der PMD-Wert klein ist, d. h. nicht so viel größer als σ0 oder in der selben Größenordnung, eine Kenntnis des Offsets mehr als ein geringfügiger Vorteil ist. Tatsächlich sind die erfindungsgemäßen Ausführungsformen wirklich in der Lage, das Ergebnis PMD = 0 zurückzuliefern, wenn PMD = 0 ist, was bei zur Zeit verfügbaren Analysatoren nicht der Fall ist, welche, wenn PMD = 0 ist, einen PMD-Wert von
      Figure 00120001
      zurückliefern, d. h. den Offset-Wert. Natürlich wird dies kein Problem sein, wenn PMD groß ist.
    • 3. Eine Messung durch EDFAs (Erbium-dotierte Faserverstärker) ist erleichtert: Als eine Folge ermöglichen es die oben beschriebenen Eigenschaften der erfindungsgemäßen Ausführungsformen in der Praxis, den interferometrischen PMD- Analysator zur Messung von Faserverbindungen zu verwenden, die EDFAs umfassen, was sehr vorteilhaft ist.
  • Während es durch ein EDFA hindurchgeht, ist das Spektrum des Ausgangs der Verbindung viel enger als das Spektrum der Eingangs-Breitbandquelle und weist keine gleichmäßige Gestalt auf. Daher ist die Autokorrelationsbreite (σ0) sehr viel größer als sie beim Messen einer typischen "passiven" Faser ist (angemerkt sei, dass, wie in 1(d) gezeigt, das Autokorrelationsinterferogramm die Fouriertransformierte des Lichtspektrums am Eingang des Interferometers ist (ohne Analysator, wie in 2)). Weiterhin und offensichtlich kann man nicht erwägen, dass das Spektrum nach dem Durchgang durch EDFAs in allen Fällen von vornherein mit Präzision bekannt ist. Ein Messen der Autokorrelation zusätzlich zur Kreuzkorrelation ist im wesentlichen ein Messen der einzigen Charakteristik des Spektrums, die gemäß Gleichung (3) bekannt sein muss, d. h. die rms-Breite der entsprechenden Autokorrelation σ0 (ins Quadrat genommen). Mit EDFAs kann σ0 im Pikosekundenbereich anstelle von ∼30 fs sein, wenn nur die Faser vorliegt. Dies kann nicht als "vernachlässigbar" ignoriert werden.
  • Es sei angemerkt, dass auch unpolarisiertes Rauschen am Ausgang anliegt, wenn eine EDFA anwesend ist, weil optische Verstärker, wie elektronische Verstärker, eine endliche "Rauschzahl" aufweisen.
  • Das Kreuzkorrelationsinterferogramm enthält keinen Beitrag des ASE-Rauschens zu σ. Nichtsdestotrotz erzeugt dies eine Einschränkung, weil Interferogramme (Interferenzmuster (fringes)) tatsächlich einem konstanten Offset (Gesamtleistung) überlagert werden, d. h. konstant als eine Funktion der Verzögerung τ. Falls ASE zu groß ist, bedeutet dies daher, dass das Sig nal-Rausch-Verhältnis in der Praxis deutlich verschlechtert werden kann.
  • Es sollte verstanden werden, dass der Prozessor 36 Mittel zum Speichern der zwei beobachteten Interferogramme PX(τ) und PY(τ) aufweisen kann, um in der Lage zu sein, danach die Summe und Differenz gemäß Gleichung (2) zu berechnen. (möglicherweise unter Verwendung eines separaten Computers). Alternativ kann der Prozessor 36 dazu ausgebildet sein, die Summe und Differenz in Echtzeit zu berechnen (elektronisch, analog oder numerisch).
  • Verschiedene andere Abwandlungen sind im Bereich der Erfindung vorgesehen. Beispielsweise könnte der PBS 30 durch einen gewöhnlichen Strahlteiler (d. h. nicht polarisiationsselektiv) und zwei Polarisatoren, die jeweils vor einem der zwei Photodetektoren angeordnet werden, ersetzt werden, wobei die Achse eines Polarisators orthogonal zur Achse des anderen ist. Alternativ, wiederum mit einem gewöhnlichen Strahlteiler anstelle eines PBS 30, könnte ein Polarisator vor einem Photodetektor angeordnet werden und kein Polarisator vor dem anderen angeordnet werden, um die Interferogramme PX(τ) bzw. PY(τ) zu erhalten: In diesem letzteren Falle unterscheidet sich die Berechnung zur Herleitung der Autokorrelations- und Kreuzkorrelationshüllkurve von den zwei Rohinterferogrammen von Gleichung (2), verwendet aber immer noch einfache Summen und Differenzen wie folgt: EC(τ) = |2PX(τ) – P0(τ)| und EA(τ) = |P0(τ)| (5)
  • Es ist vorgesehen, dass die Erfindung unter Verwendung einer Erfassung entlang jeglicher zwei "eindeutiger" Polarisationsachsen (eindeutig bedeutet "nicht streng identisch") implementiert werden könnte, vorausgesetzt, dass sie präzise bekannt sind (d. h., dass der Winkel zwischen den zwei Achsen präzise bekannt ist). Es ist nicht erforderlich, dass sie orthogonal (unter 180° auf der Poincaré-Kugel) sind.
  • Die Erfindung ist nicht auf die Messung von PMD in Wellenleitern, beispielsweise Fasern (sogar Multimoden-Fasern), eingeschränkt, sondern für optische "open space"- oder "bulk"-Geräte oder optische Komponenten mit eingebauten Wellenleitern geeignet. Im Grunde genommen kann das DUT 14 jegliches Gerät sein, dessen Lichtausgabe zu einem im wesentlichen kollimierten Strahl gesammelt werden kann. Andere Optionen umfassen:
    Das "bulk"-Gerät kann Lichtwellenleiter-Anschlussfasern am Eingang und Ausgang aufweisen;
    Das Interferometer kann einen Fasereingang (mit einer Linse zum Bilden eines kollimierten Strahls) aufweisen;
    Ein kollimierter Strahl kann in das Interferometer ohne Fasereingang gesandt werden.
  • Während die oben beschriebene Ausführungsform ein schematisches Michelson-Interferometer aufweist, genauer gesagt das einfachere Michelson-Interferometer mit einem Arm mit festgelegter Verzögerung, wäre es möglich, ein Michelson-Interferometer zu verwenden, bei dem die Verzögerungen der beiden Arme variieren, aber nur einen zwei-seitigen sich bewegenden Spiegel aufweist: Die Verzögerung in einem Arm nimmt ab, wenn sie in dem anderen Arm zunimmt und umgekehrt: Dies verdoppelt den Verzögerungsbereich der mit einer gegebenen physikalischen Verzögerung des sich bewegenden Spiegels abgetastet wird.
  • Alternativ könnte ein Interferometer vom Mach-Zehnder-Typ verwendet werden, in welchem sich kein Spiegel befindet, wobei die zwei Pfade einfach auf einem zweiten Ausgangs-Strahlteiler rekombiniert werden.
  • Ob vom Michelson-Typ oder vom Mach-Zehnder-Typ – das Interferometer kann ein Faser-Interferometer sein: Hierbei sind die "free-space"-Strahlteiler durch eine Faserkupplung ersetzt.
  • Im allgemeinen können die erfindungsgemäßen Ausführungsformen daher jegliches Zwei-Pfad-Interferometer mit einer variablen Pfadverzögerungsdifferenz untersuchen, welches das Licht von den zwei Pfaden in einen gemeinsamen Pfad hinein rekombiniert, d. h. in eine Faser oder in zwei im wesentlichen überlagerte Lichtstrahlen (nicht notwendigerweise kollimiert, wobei vorausgesetzt ist, dass die zwei Strahlen von den zwei Pfaden im wesentlichen dieselbe Ausbreitungsrichtung und Kurvenradius der Wellenfronten aufweisen).

Claims (6)

  1. Apparat zur Messung einer Polarisationsmodendispersion (PMD) eines Wellenleiters, umfassend: (i) Breitband-Lichtquellen-Mittel (10, 12) zum Zuführen von polarisiertem Breitband-Licht auf ein Ende des Wellenleiters (14), (ii) ein Interferometer (20) mit einer Eintrittsöffnung (18) zum Empfangen des Lichts von dem Wellenleiter (14), einer Austrittsöffnung (28), Mittel (22) zum Aufspalten des Lichts in erste und zweite Komponenten (24A, 24B), erste und zweite Pfade zum Transportieren der ersten bzw. zweiten Komponente zur Austrittsöffnung (28) zur Rekombination, sowie Mittel (268) zum Abwandeln der Länge von einem von dem ersten und dem zweiten Pfad relativ zum anderen, um bei Rekombination eine Interferenz zwischen den Komponenten zu bewirken, gekennzeichnet durch (iii) einen Polarisationsseparator (30) zum Empfangen des rekombinierten Lichts von der Austrittsöffnung und Separieren des rekombinierten Lichts in erste und zweite Interferogramme mit orthogonalen Polarisationszuständen, (iv) Erfassungsmittel (32X , 32Y ) zum Umwandeln des ersten bzw. zweiten Interferogramms in entsprechende erste bzw. zweite Interferogrammsignale (PX(τ), PY(τ)), und (v) Prozessormittel (36) zum Verarbeiten der ersten und zweiten Interferogrammsignale, um eine Kreuzkorrelations hüllkurve (EC(τ)) und eine Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) zu erzeugen, und Bestimmen der Polarisationsmodendispersion (PMD) des Wellenleiters von der Kreuzkorrelationshüllkurve und der Autokorrelationshüllkurve.
  2. Apparat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Prozessor (36) dazu ausgebildet ist, die Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) als den Modul der Differenz zwischen den ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignalen und die Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) als den Modul der Summe der ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignale abzuleiten.
  3. Apparat nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Prozessor (36) dazu ausgebildet ist, die Polarisationsmodendispersion (PMD) von der Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) und der Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) gemäß dem Ausdruck
    Figure 00180001
    zu berechnen,
    Figure 00180002
    und τ die Verzögerung zwischen dem ersten und zweiten Pfad des Interferometers ist.
  4. Verfahren zur Messung einer Polarisationsmodendispersion (PMD) eines Wellenleiters, umfassend die Schritte: (i) Hindurchleiten von polarisiertem Breitbandlicht durch den Wellenleiter; (ii) Verwenden eines Interferometers (20), Aufspalten und Rekombinieren des Lichts, das den Wellenleiter verläßt, um Interferogramme zu erzeugen; gekennzeichnet durch die Schritte: (iii) Separieren des rekombinierten Lichts in erste und zweite Interferogramme mit orthogonalen Polarisationszuständen, (iv) Umwandeln des ersten bzw. zweiten Interferogramms in entsprechende erste und zweite elektrische Interferogrammsignale (PX(τ), PY(τ)), und (v) Verarbeiten der ersten und zweiten Interferogrammsignale, um eine Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) und eine Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) zu erzeugen und Bestimmen der Polarisationsmodendispersion (PMD) des Wellenleiters von der Kreuzkorrelationshüllkurve und der Autokorrelationshüllkurve.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) als der Modul der Differenz zwischen den ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignalen abgeleitet wird und die Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) als der Modul der Summe der ersten und zweiten elektrischen Interferogrammsignale abgeleitet wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Polarisationsmodendispersion (PMD) von der Kreuzkorrelationshüllkurve (EC(τ)) und der Autokorrelationshüllkurve (EA(τ)) gemäß dem Ausdruck
    Figure 00200001
    berechnet wird,
    Figure 00200002
    und τ die Verzögerung zwischen dem ersten und zweiten Pfad des Interferometers ist.
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITTO20020585A1 (it) * 2002-07-05 2004-01-05 Telecom Italia Lab Spa Metodo sistema e dispositivo per misurare la dispersione di polarizzazione di una fibra ottica
ES2259267B1 (es) * 2005-03-05 2007-10-01 Universidad Politecnica De Valencia Metodo y dispositivo de medida del estado de polarizacion y de la dispersion modal por polarizacion en sistemas fotonicos de transmision.
US7532330B2 (en) * 2005-08-16 2009-05-12 Zygo Corporation Angle interferometers
US9829429B2 (en) 2005-09-29 2017-11-28 Exfo Inc Determining a polarization-related characteristic of an optical link
US20100073667A1 (en) * 2007-03-28 2010-03-25 Normand Cyr Method and Apparatus for Determining Differential Group Delay and Polarization Mode Dispersion
DE602006018009D1 (de) * 2006-09-16 2010-12-16 Acterna Llc Messung von Polarisationsmodendispersion
US20080205814A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Lijie Qiao Method and Apparatus for Dynamic Polarization Mode Dispersion Compensation
US7812962B2 (en) 2007-05-09 2010-10-12 Luciol Instruments Sa Polarization mode dispersion measurement using an improved fixed analyzer method
WO2009049393A1 (en) * 2007-10-15 2009-04-23 Michael Galle System and method to determine chromatic dispersion in short lengths of waveguides using a 3-wave interference pattern and a single-arm interferometer
US8014669B2 (en) * 2007-12-17 2011-09-06 Verizon Patent And Licensing Inc. In-channel residual chromatic dispersion measurement
CN101769819B (zh) * 2008-12-31 2011-07-20 中国科学院西安光学精密机械研究所 光纤色散测量仪
US8599385B2 (en) * 2010-05-14 2013-12-03 General Photonics Corporation Measuring distributed polarization crosstalk in polarization maintaining fiber and optical birefringent material
US10215642B2 (en) * 2012-05-17 2019-02-26 The University Of Akron System and method for polarimetric wavelet fractal detection and imaging
US9041935B2 (en) 2012-05-29 2015-05-26 General Photonics Corporation Measuring polarization crosstalk in optical birefringent materials and devices based on reduction of line broadening caused by birefringent dispersion
EP2720388A1 (de) 2012-10-15 2014-04-16 Koninklijke Philips N.V. OFDR-System
CN102914421B (zh) * 2012-10-19 2015-08-12 苏州光环科技有限公司 一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法及其设备
US9689666B2 (en) 2014-10-07 2017-06-27 General Photonics Corporation 1-dimensional and 2-dimensional distributed fiber-optic strain and stress sensors based on polarization maintaining fiber using distributed polarization crosstalk analyzer as an interrogator
CN105806379B (zh) * 2014-12-30 2019-03-12 深圳先进技术研究院 弱反射光纤布拉格光栅-珐泊腔传感器的解调系统
US9476699B2 (en) 2015-03-05 2016-10-25 General Photonics Corporation Measurements of strain, stress and temperature by using 1-dimensional and 2-dimensional distributed fiber-optic sensors based on sensing by polarization maintaining fiber of distributed polarization crosstalk distribution
CN107246952A (zh) * 2017-05-19 2017-10-13 北京邮电大学 一种偏振模色散测量精度提升方法和系统
EP3730897A1 (de) 2019-04-25 2020-10-28 Nokia Technologies Oy Vorrichtung, systeme und verfahren zur detektion von licht
WO2023042313A1 (ja) * 2021-09-15 2023-03-23 日本電信電話株式会社 伝搬モード間の遅延時間差を測定する装置及び方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2738634B1 (fr) * 1995-09-13 1997-11-21 Photonetics Dispositif de mesure de dispersion de polarisation et procede de mesure correspondant
US6654105B2 (en) * 2000-03-06 2003-11-25 Corning Applied Technologies Corporation Cross-correlating PMD detector
EP1113250B1 (de) * 2000-11-17 2003-02-05 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Polarisationsdispersionsmessverfahren für optische Geräte und Vorrichtung dazu

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