DE60206859D1 - Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Teilchengrössen - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Teilchengrössen

Info

Publication number
DE60206859D1
DE60206859D1 DE60206859T DE60206859T DE60206859D1 DE 60206859 D1 DE60206859 D1 DE 60206859D1 DE 60206859 T DE60206859 T DE 60206859T DE 60206859 T DE60206859 T DE 60206859T DE 60206859 D1 DE60206859 D1 DE 60206859D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
particle sizes
measuring particle
measuring
sizes
particle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60206859T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60206859T2 (de
Inventor
Hideo Kusuzawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Publication of DE60206859D1 publication Critical patent/DE60206859D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60206859T2 publication Critical patent/DE60206859T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0211—Investigating a scatter or diffraction pattern

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE60206859T 2001-08-07 2002-08-07 Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Teilchengrössen Expired - Fee Related DE60206859T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001239440 2001-08-07
JP2001239440 2001-08-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60206859D1 true DE60206859D1 (de) 2005-12-01
DE60206859T2 DE60206859T2 (de) 2006-05-24

Family

ID=19070194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60206859T Expired - Fee Related DE60206859T2 (de) 2001-08-07 2002-08-07 Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Teilchengrössen

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6999171B2 (de)
EP (1) EP1286152B1 (de)
DE (1) DE60206859T2 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4043417B2 (ja) * 2003-08-28 2008-02-06 シスメックス株式会社 粒子径計測装置
DE10350243A1 (de) * 2003-10-27 2005-05-19 Fachhochschule Mannheim Hochschule für Technik und Gestaltung Belichtung für ein In Situ Mikroskop durch induzierte Emission mit verminderten Beugungsstrukturen
DE102005001504B4 (de) * 2005-01-04 2006-12-28 Justus Altmann Vorrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften von dispersen Bestandteilen in Fluiden
US7788067B2 (en) * 2006-05-12 2010-08-31 Artium Technologies, Inc. Means and methods for signal validation for sizing spherical objects
WO2008015677A2 (en) * 2006-08-02 2008-02-07 Camtek Ltd. Dark field illuminator and a dark field illumination method
US7564564B2 (en) * 2006-08-22 2009-07-21 Artium Technologies, Inc. Automatic set-up for instrument functions
WO2013031917A1 (ja) * 2011-08-30 2013-03-07 関西ペイント株式会社 顔料分散体の評価方法および評価装置
CN106796169B (zh) * 2014-10-01 2021-01-15 水光科技私人有限公司 探测流体中颗粒的传感器
US11169086B2 (en) * 2015-04-10 2021-11-09 Blaze Metrics, LLC System and method for simultaneously performing multiple optical analyses of liquids and particles in a fluid
EP3309536A1 (de) 2016-10-11 2018-04-18 Malvern Panalytical Limited Partikelcharakterisierungsinstrument

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3757213A (en) 1970-05-25 1973-09-04 Coulter Electronics Ntrol particle size analyzing apparatus and method using threshold level co
US5619043A (en) * 1994-09-21 1997-04-08 Laser Sensor Technology, Inc. System for acquiring an image of a multi-phase fluid by measuring backscattered light
US5815264A (en) * 1994-09-21 1998-09-29 Laser Sensor Technology, Inc System for acquiring an image of a multi-phase fluid by measuring backscattered light
JP3411112B2 (ja) 1994-11-04 2003-05-26 シスメックス株式会社 粒子画像分析装置
US5784160A (en) * 1995-10-10 1998-07-21 Tsi Corporation Non-contact interferometric sizing of stochastic particles
JP3587607B2 (ja) * 1995-12-22 2004-11-10 シスメックス株式会社 粒子測定装置およびその方法
US6180415B1 (en) * 1997-02-20 2001-01-30 The Regents Of The University Of California Plasmon resonant particles, methods and apparatus
US5861950A (en) * 1997-07-10 1999-01-19 Particle Measuring Systems, Inc. Particle detection system utilizing an inviscid flow-producing nozzle
EP0978748B1 (de) * 1998-08-07 2004-12-01 Sysmex Corporation Mehrfachlichtquelle und sie benutzendes optisches System
JP2000131616A (ja) 1998-08-17 2000-05-12 Sysmex Corp 可視化光学システム
JP2000186999A (ja) 1998-10-15 2000-07-04 Sysmex Corp 光学情報計測装置
US6423958B1 (en) * 2000-02-18 2002-07-23 Innotech Corporation Solid state imaging device and method of driving the same
US6423956B1 (en) * 2000-07-28 2002-07-23 Optical Biopsy Technologies Fiber-coupled, high-speed, integrated, angled-dual-axis confocal scanning microscopes employing vertical cross-section scanning
JP4484340B2 (ja) 2000-08-25 2010-06-16 シスメックス株式会社 粒子撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6999171B2 (en) 2006-02-14
US20030030803A1 (en) 2003-02-13
EP1286152A1 (de) 2003-02-26
DE60206859T2 (de) 2006-05-24
EP1286152B1 (de) 2005-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60229993D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Ramanverstärkung
DE50109562D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur winkelmessung
DE60142289D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von radstellungswerten
DE60030658D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Gegenständen
DE60220213D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Polarisationsanalyse
DE60236693D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bildverarbeitung
DE60133166D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Volumendarstellung
DE50012668D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur fahrweisenbewertung
DE60124225D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Emotionen
DE50203544D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Drehbearbeitung
DE602004011785D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der reifengleichförmigkeit
DE60109209D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung des radstandes
DE60209985D1 (de) Vorrichtung zur Fixmusterdetektion und Verfahren zur Fixmusterdetektion
DE60129691D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der fluoreszenz
DE60124647D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Abstandsmessung
DE10196012T1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Viskositätsmessung
DE60209608D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Strassenzuständen
DE60217589D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von weissen Linien
DE50312666D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur distanzmessung
DE50110488D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Registrierung von Bildern
DE69938992D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Teilchengrössenverteilung
DE60231036D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von wellenfrontaberrationen
DE60109052D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur paketklassifikation
DE60308471D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
DE60313244D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Verkehrsmessung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee