DE602006009318D1 - Scan-Mikroskop und Verfahren zum Erhalt eines Probenbildes - Google Patents

Scan-Mikroskop und Verfahren zum Erhalt eines Probenbildes

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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005047884A1 (de) * 2005-10-06 2007-04-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Scanverfahren mit einem Scanmikroskop
US7936503B2 (en) * 2007-02-19 2011-05-03 Olympus Corporation Laser scanning microscope
US7855844B2 (en) * 2007-05-17 2010-12-21 Mitutoyo Corporation Objective lens and optical measuring device
DE102008034137A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
JP5013228B2 (ja) * 2007-12-13 2012-08-29 株式会社ニコン レーザ走査顕微鏡
EP2237097A4 (de) * 2007-12-13 2013-02-27 Nikon Corp Scanning-laser-mikroskop
US9413988B2 (en) * 2012-07-24 2016-08-09 Fluke Corporation Thermal imaging camera with graphical temperature plot
CN103616760B (zh) * 2013-11-26 2016-01-27 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 激光扫描共焦显微镜成像系统
CN104570860A (zh) * 2014-12-22 2015-04-29 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种激光扫描共聚焦显微镜硬件控制系统与方法
JP6891130B2 (ja) * 2015-06-02 2021-06-18 ライフ テクノロジーズ コーポレーション 構造化照明イメージを生成するためのシステムおよび方法
EP3465317A1 (de) * 2016-05-31 2019-04-10 Leica Microsystems CMS GmbH Optische anordnung zur gepulsten beleuchtung, verfahren zur gepulsten beleuchtung und mikroskop
DE102017108834A1 (de) * 2017-04-25 2018-10-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop, insbesondere Konfokal- oder Lichtblattmikroskop, mit beliebig programmierbarer Laserpulssequenz und Verfahren hierzu
DE102017109456A1 (de) * 2017-05-03 2018-11-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskopsystem und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopsystems
WO2019012771A1 (ja) * 2017-07-11 2019-01-17 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法
CN113853544B (zh) * 2019-03-28 2024-03-26 有限公司诗兰帝普研究所 图像数据获得方法
CN113558577B (zh) * 2021-07-27 2024-04-02 苏州微景医学科技有限公司 激光扫描成像方法、系统及存储介质

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD254998A1 (de) * 1985-07-26 1988-03-16 Zeiss Jena Veb Carl Anordnung zur bildlichen darstellung und analyse von fluoreszenzsignalen
US5028802A (en) * 1990-01-11 1991-07-02 Eye Research Institute Of Retina Foundation Imaging apparatus and methods utilizing scannable microlaser source
JPH1010436A (ja) 1996-06-24 1998-01-16 Nikon Corp 光走査型顕微鏡
FR2785052B1 (fr) * 1998-10-27 2000-12-01 Commissariat Energie Atomique Dispositif de determination de la concentration d'une substance melangee a un fluorophore et procede de mise en oeuvre de ce dispositif
KR100689319B1 (ko) * 1999-03-19 2007-03-09 올림푸스 가부시키가이샤 주사형 공초점현미경
DE10013254A1 (de) * 2000-03-17 2001-10-04 Friz Biochem Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis organischer Moleküle in einer Probensubstanz
JP3663125B2 (ja) * 2000-11-28 2005-06-22 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社 蛍光読み取り方法及び蛍光読み取り装置
US6756202B2 (en) * 2001-04-30 2004-06-29 Agilent Technologies, Inc. Reading multi-featured arrays
JP3787631B2 (ja) * 2003-03-07 2006-06-21 国立大学法人名古屋大学 生物発光測定・解析プログラム、該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体並びに該プログラムおよび該コンピュータを含む生物発光測定・解析装置
WO2005043197A2 (en) * 2003-10-28 2005-05-12 University Of Maryland, Baltimore Spatial light modulator apparatus and method
DE102004034951A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikrokopes mit linienförmiger Abtastung

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