DE60024354T2 - Akustische mikroskopische Vielfachbündellinsenanordnung - Google Patents

Akustische mikroskopische Vielfachbündellinsenanordnung Download PDF

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Description

  • ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
  • I. TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen einen akustischen mikroskopischen Sensor, und genauer einen mehräugigen akustischen mikroskopischen Sensor, der eine Mehrzahl von akustischen Messwandlern aufweist.
  • II. BESPRECHUNG
  • Schweißen ist ein gebräuchlicher Vorgang zum Anbringen eines Metallelements an einem anderen. Dieser Vorgang umfasst im Allgemeinen das Erhitzen einer Grenzfläche zwischen den Objekten, die geschweißt werden sollen, wodurch die Grenzfläche zu einer Verbindung oder einer Schweißlinse geschmolzen wird. Da dieser Vorgang seine Anwendung in vielen unterschiedlichen Herstellungsarten wie etwa der Automobilherstellung findet, ist eine Untersuchung, die sicherstellt, dass die Schweißlinse bestimmte Qualitätsanforderungen erfüllt, ein Muss. Im Besonderen ist es erwünscht, den Bereich, die Größe und die Gestaltung der Schweißlinse zu untersuchen und zu bestimmen, ob darin etwaige Mängel vorhanden sind. Nicht untersuchte Schweißstellen können zu Schweißstellenbrüchen führen, nachdem das geschweißte Objekt an einen Endnutzer verkauft oder vertrieben wurde.
  • Idealerweise wird eine Schweißstelle entweder während oder kurz nach dem Schweißvorgang untersucht, damit die zusätzliche Untersuchung die Schweißzeit nicht erhöht, und um zu gestatten, dass Schweißprobleme identifiziert werden, wenn sie auftreten. Darüber hinaus wird eine nicht zerstörende Prüfung bevorzugt, so dass geschweißte Teile, die die Untersuchung bestehen, immer noch an den Endnutzer verkauft oder vertrieben werden können.
  • Zu diesem Zweck wurden in der Schweißumgebung visuelle Untersuchungssysteme eingesetzt. Im Besonderen kann eine Person wie etwa ein Qualitätskontrolleur die Größe der Schweißlinse messen oder ein geschweißtes Objekt zerstörend prüfen, um seine inneren Eigenschaften zu bestimmen. Doch diese Verfahren weisen mehrere Nachteile auf. Erstens kann die visuelle Untersuchung einer Schweißstelle aufgrund des hellen Lichts und der strengen Bedingungen, die durch das Schweißen erzeugt werden, nicht während des Schweißvorgangs durchgeführt werden. Statt dessen muss das geschweißte Objekt offline untersucht werden, was die Zeit und die Kosten für die Herstellung vermehrt. Zweitens muss der innere Aufbau der Schweißlinse betrachtet werden, um die Schweißstelle richtig hinsichtlich Mängeln zu untersuchen. Dies erfordert in vielen Fällen, dass das geschweißte Objekt zerstörend geprüft wird, was das geschweißte Objekt nutzlos macht. Neben den vermehrten Kosten, die mit dem Aussondern eines Objekts zum Zweck der Untersuchung verbunden sind, ist es praktisch unmöglich, alle Objekte zerstörend zu prüfen. Daher führt das zerstörende Prüfen zu einer geringeren Anzahl von geprüften Proben und vermehrten Kosten für die Herstellung.
  • Die akustische Mikroskopie ist eine mögliche Lösung für dieses Untersuchungsproblem. Typischerweise verwenden akustische Mikroskope einen einzelnen Messwandler, um einen Prüfgegenstand oder ein Ziel zu analysieren. Die Verwendung einer derartigen Vorrichtung zum Untersuchen von Schweißstellen weist mehrere Nachteile auf. Erstens kann ein akustisches Mikroskop, das einen einzelnen Messwandler einsetzt, zu jeder beliebigen gegebenen Zeit nur einen Bereich des Ziels untersuchen. Daher würde die Untersuchung eines vollständigen Querschnitts eines Ziels erfordern, dass der Messwandler ständig umpositioniert wird, um sicherzustellen, dass alle Punkte am Ziel untersucht werden. Um einen ausführlichen Querschnitt zu erhalten, müssten viele Ablesungen genommen werden, was zu einem großen Zeitaufwand führt. Die vorliegende Erfindung wurde angesichts dieser Nachteile entwickelt.
  • US 5,533,401 A1 offenbart einen akustischen Sensor, der eine Mehrzahl von akustischen Messwandlern umfasst, von denen jeder selektiv einen Strahl von akustischer Energie erzeugt, die ein Ziel an einem anderen Punkt schneidet als ein Rest dieser Mehrzahl. Die Messwandler wirken auch als Empfänger, um von jedem Strahl von akustischer Energie reflektierte akustische Energie zu empfangen, wodurch alle akustischen Strahlen parallel sind. Das Dokument offenbart auch die Verwendung von sphärischen Linsen oder gekrümmten Elementen mit den Messwandlern, um die ausgestrahlten Strahlen zu fokussieren. Die Brennweiten der verschiedenen Messwandler sind unterschiedlich. Zusätzlich stellt die Vorrichtung eine Längsabtastung bereit.
  • US 3,895,685 A1 offenbart eine Vorrichtung nach der Technik, wobei das Ziel eine Schweißlinse ist und die Sender der Reihe nach gepulst werden.
  • USA 3,575,044 A1 offenbart ein Verfahren zur Verwendung eines akustischen Mikroskops, das die Schritte des Bereitstellens akustischer Sensoren, des Bewegens der akustischen Sensoren in einer ersten Richtung über eine Fläche einer Schweißlinse, um eine erste Längsabtastung zu erhalten, des quergerichteten Verschiebens der akustischen Sensoren, des Bewegens der akustischen Sensoren in einer zweiten Richtung über die Fläche der Schweißlinse, um eine zweite Längsabtastung zu erhalten, und des Kombinierens der ersten Längsabtastung und der zweiten Längsabtastung, um eine dritte Längsabtastung zu erhalten, umfasst. Darüber hinaus offenbart die Vorrichtung die Verwendung einer Mehrzahl von akustischen Messwandlern.
  • KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, die Auflösung jedes beliebigen erzeugten Bilds zu erhöhen. Diese Aufgabe wird durch Bereitstellen eines akustischen Mikroskops nach Anspruch 1 und durch Bereitstellen eines Verfahrens zur Verwendung eines akustischen Mikroskops nach Anspruch 4 erfüllt.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • In den Zeichnungen, die die beste Weise zur Ausführung der vorliegenden Erfindung veranschaulichen, die gegenwärtig ins Auge gefasst ist,
  • ist 1 eine quergeschnittene Draufsicht auf einen akustischen Sensor nach der vorliegenden Erfindung;
  • ist 2 eine quergeschnittene Seitenansicht eines akustischen Mikroskops nach der vorliegenden Erfindung;
  • ist 3 eine quergeschnittene Seitenansicht eines akustischen Mikroskops nach der vorliegenden Erfindung;
  • ist 4 ein erstes Längsabtastungsbild, das durch ein akustisches Mikroskop nach der vorliegenden Erfindung erzeugt wird;
  • ist 5 eine quergeschnittene Draufsicht auf ein akustisches Mikroskop nach einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • ist 6 eine quergeschnittene Seitenansicht eines akustischen Mikroskops nach einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; und
  • ist 7 ein drittes Längsabtastungsbild, das von einem akustischen Mikroskop nach der vorliegenden Erfindung erzeugt wird.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Unter Bezugnahme auf 1 und 2 wird nun ein akustisches Mikroskop 20 beschrieben. In 1 beinhaltet ein akustischer Sensor 10 eine Mehrzahl von akustischen Messwandlern 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26, die an einem Ende durch eine Befestigungsvorrichtung 30 getragen und in einer parallelen Beziehung gehalten werden. Jeder akustische Messwandler 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26 ist vorzugsweise entweder zylinderförmig fokussiert oder kugelförmig fokussiert und kann seine eigenen unabhängigen akustischen Parameter aufweisen, was ihm gestattet, unabhängig vom Rest tätig zu sein. Diese Parameter beinhalten den Brennradius, die Öffnung und andere akustische Eigenschaften. Die Unabhängigkeit dieser Eigenschaften gestattet jeder Linse, ein Bild mit hoher Auflösung bereitzustellen.
  • In 2 ist der akustische Sensor 10 zur Bildung des akustischen Mikroskops 20 durch Anschlüsse 50 mit einem Computer 38 kombiniert gezeigt. Wie hinsichtlich der akustischen Messwandler 12 und 14 in 2 veranschaulicht, sind an den Anschlüssen 50 elektrische Kontakte 34 angebracht, zwischen denen sich flache Platten eines piezoelektrischen Kristalls 32 befinden. Jeder akustische Messwandler fokussiert Strahlen von akustischer Energie 42, die durch jeden piezoelektrischen Kristall 32 erzeugt werden (wie besprochen werden wird), durch die Verwendung einer Fokussierlinse 27. Die Fokussierlinse 27 konvergiert den Strahl von akustischer Energie 42 zu einem Brennpunkt. Durch das Fokussieren der Strahlen von akustischer Energie kann eine größere Auflösung eines Ziels erhalten werden. Die Brennweite der Fokussierlinse 27 beträgt vorzugsweise das Zehnfache ihres Durchmessers.
  • Es wird bemerkt, dass die verbleibenden akustischen Messwandler 16, 18, 22, 24, und 26 in der gleichen Weise wie die akustischen Messwandler 12 und 14 tätig sind. Man sollte jedoch verstehen, dass die Grundsätze der vorliegenden Erfindung nicht auf irgendeinen besonderen akustischen Messwandler beschränkt sind, und dass die vorliegende Erfindung auf eine breite Vielfalt von anderen ähnlichen akustischen Messwandlern anwendbar sein kann.
  • Unter Bezugnahme auf 3 wird nun der allgemeine Betrieb der vorliegenden Erfindung beschrieben. In 3 ist eine Schweißlinse 46 gezeigt, die Metallplatten 45 und 47 verbindet. Wo die Schweißlinse 46 die Metallplatten 45 und 47 nicht verbindet, trennen Zwischenräume 48 die Metallplatten 45 und 47. Beim Betrieb wird der akustische Sensor 10 auf die Schweißlinse 46 gerichtet. Der Computer 38 erzeugt zuerst einen kurzen Impuls eines Stromflusses durch die Anschlüsse 50, über die elektrischen Kontakte 34 und über die piezoelektrischen Kristalle 32 der akustischen Messwandler 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26. Der Stromfluss über die piezoelektrischen Kristalle 32 verursacht, dass jeder Kristall schwingt, was wiederum Strahlen von akustischer Energie 42 erzeugt, die an jedem jeweiligen akustischen Messwandler entstehen. Der kurze Impuls des Stroms, der durch den Computer 38 erzeugt wird, stellt sicher, dass jeder Strahl von akustischer Energie 42 ebenfalls ein kurzer Impuls ist. Die kombinierten Strahlen von akustischer Energie 42 von allen Messwandlern 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26 werden nachstehend als eine Front von akustischer Energie bezeichnet. Es wird jedoch bemerkt, dass die kombinierten Strahlen von akustischer Energie 42 nicht den gleichen zeitlichen Raum einnehmen müssen, um eine Front von akustischer Energie zu bil den. Daher können die Strahlen von akustischer Energie 42 zu unterschiedlichen Zeiten abgeschossen werden.
  • Jeder Strahl von akustischer Energie 42 bewegt sich in einer Richtung vom akustischen Sensor 10 weg und zu den Metallplatten 45 und 47 und zur Schweißlinse 46 hin. Strahlen von akustischer Energie 42, die den Zwischenraum 48 schneiden, werden dadurch reflektiert, während Strahlen von akustischer Energie 42, die die Schweißlinse 46 schneiden, entweder durch die Schweißlinse verlaufen und durch einen Übergangsbereich 7 reflektiert werden, oder irgendeinen Mangel wie etwa einen Lufteinschluss 57 schneiden und dadurch reflektiert werden. Zum Beispiel schießen die akustischen Messwandler 12, 14, 16, 24, und 26 wie in 3 gezeigt Strahlen von akustischer Energie 42 auf Bereiche außerhalb der Schweißlinse 46, während die akustischen Messwandler 18 und 22 Strahlen von akustischer Energie zur Schweißlinse 46 schießen. Die Strahlen von akustischer Energie von den akustischen Messwandlern 12, 14, 16, 24, und 26 werden durch einen Übergangsbereich 5 reflektiert, wo die Metallplatte 45 zum Zwischenraum 48 übergeht, wodurch reflektierte akustische Energie 49 erzeugt wird. Alternativ bewegt sich der Strahl von akustischer Energie 42 vom akustischen Messwandler 18 durch die Schweißlinse 46 und prallt er vom Übergangsbereich 7 ab, wodurch erneut reflektierte akustische Energie 49 gebildet wird. In der gleichen Weise schneidet der Strahl von akustischer Energie 42 vom akustischen Messwandler 22 den Lufteinschluss 57 und wird er dadurch reflektiert.
  • Die reflektierte akustische Energie 49 bewegt sich vom Übergangsbereich 5, vom Übergangsbereich 7, und vom Lufteinschluss 57 zurück, wodurch jeder verursachende piezoelektrische Kristall 32 (siehe 2) zum Schwingen gebracht wird und in den Anschlüssen 50 ein induzierter Strom erzeugt wird. Die kurzen Impulse der Strahlen von akustischer Energie 42 stellen sicher, dass jeder akustische Messwandler 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26 das Erzeugen von akustischer Energie eingestellt hat, wenn sich die reflektierte akustische Energie 49 zu jedem akustischen Messwandler 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26 bewegt. Daher sind die akustischen Messwandler 12, 14, 16, 18, 22, 24, und 26 im Sendemodus tätig, wenn sie Strahlen von akustischer Energie 42 erzeugen, und sind sie im Empfangsmodus tätig, wenn sie die reflektierte akustische Energie 49 empfangen. Der Computer 38 bestimmt durch Vergleichen der Rückkehrzeit der reflektierten akustischen Energie 49 die Grenzen der Schweißlinse 46 und das Vorhandensein von Mängeln wie etwa eines Lufteinschlusses 57.
  • Anstelle einer gleichzeitigen Erzeugung von Strahlen von akustischer Energie 42 können die akustischen Messwandler 14, 16, 18, 22, 24, und 26 der Reihe nach Strahlen von akustischer Energie 42 erzeugen. Dies gestattet, dass zu jeder gegebenen Zeit nur ein Strahl von akustischer Energie 42 abgeschossen und empfangen wird. Wenn dieses Verfahren verwendet wird, erzeugt zuerst der akustische Messwandler 12 einen Strahl von akustischer Energie 42 und empfängt er die reflektierte akustische Energie 49. Nachdem diese reflektierte akustische Energie empfangen wurde, erzeugt der akustische Messwandler 14 einen Strahl von akustischer Energie 42 und empfängt er die sich ergebende reflektierte akustische Energie 49. Diesem Verfahren folgend erzeugt der Rest der akustischen Messwandler 16, 18, 22, 24, und 26 durch den gleichen Vorgang der Reihe nach Strahlen von akustischer Energie 42 und empfängt er die reflektierte akustische Energie 49. Da zu jeder gegebenen Zeit nur ein akustischer Messwandler akustische Energie sendet und empfängt, wird das Rauschen, das durch die Interferenz gesonderter Strahlen von akustischer Energie 42 und reflektierter akustischer Energie 49 erzeugt wird, stark verringert.
  • Unter Bezugnahme auf 5 und 6 ist eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung gezeigt. In 5 steht der akustische Sensor 10 in einem gleitenden Eingriff mit Schienen 70, die wiederum an einer Halterung 74 an einem Träger 72 angebracht sind. Eine Magnetspule 76 ist an Punkten 78 am Träger 72 angebracht und durch eine Welle 80 am akustischen Sensor 10 angebracht. Um die Schienen 70 unterzubringen, weist eine Befestigungsvorrichtung 130 wie in 6 gezeigt Rillen 84 auf.
  • Der Träger 72 steht in einem gleitenden Eingriff mit Schienen 86, um dem Träger 72 zu gestatten, sich über die Metallplatten 45 und 47 und die Schweißlinse 46 hin und her zu bewegen. Ein Riemen 88 ist am Träger 72 angebracht und steht mit einem Motorkettenrad 90, das an einem Motor 92 angebracht ist, in Eingriff, um den Träger 72 entlang der Schienen 86 zu bewegen. Der Motor 92 steht in einer elektrischen Verbindung mit dem Computer 38, wodurch der Computer 38 mit Informationen hinsichtlich der Position des Trägers 72 entlang der Schienen 86 versorgt wird.
  • Beim Betrieb befiehlt der Computer 38 dem Motor 92, den Träger 72 entlang der Schienen 86 in die Richtung 94 zu bewegen. Während sich der Träger 72 bewegt, befiehlt der Computer 38 dem akustischen Sensor 10, durch ein beliebiges der oben besprochenen Verfahren eine Folge von Fronten von akustischer Energie abzuschießen. Da sich jede Front von akustischer Energie verglichen mit der Geschwindigkeit des Trägers 72 entlang der Schiene 86 mit einer sehr hohen Geschwindigkeit fortbewegt, bewegt sich jeder akustische Messwandler von der Zeit, zu der jeder Strahl von akustischer Energie 42 erzeugt wird, bis zum Empfang jeder reflektierten akustischen Energie 49 eine sehr kurze Strecke. Daher empfängt jeder akustische Messwandler reflektierte akustische Energie 49 von jedem Strahl von akustischer Energie 42, der erzeugt wird. Nachdem der Träger 72 einen vollständigen Durchlauf in der Richtung 94 ausgeführt hat, erzeugt der Computer 38 durch Kenntnis der Entfernung entlang der Schienen 86, bei der jeder Impuls von akustischer Energie erzeugt wurde, und durch Verwenden der vorher besprochenen Verfahren die wie in 4 gezeigte Längsabtastung.
  • Dann befiehlt der Computer 38 der Magnetspule 76, den akustischen Sensor 10 wie gezeigt entlang der Schienen 70 geringfügig abwärts zu einer neuen Position zu bewegen. Dann wird der wie im vorhergehenden Absatz dargestellte Vorgang in der Richtung 96 wiederholt, wodurch erneut eine Längsabtastung der Schweißlinse 46 erhalten wird.
  • Der Computer 38 kombiniert dann die erste und die zweite Längsabtastung, um die wie in 7 gezeigte Längsabtastung zu bilden. Da der akustische Sensor 10 geringfügig abwärts bewegt wird, weist die wie in 7 dargestellte Längsabtastung die doppelte Auflösung der in 4 dargestellten auf. Daher wird bemerkt, dass der akustische Sensor 10 zu jeder beliebigen Anzahl von unterschiedlichen Zeiten viele unterschiedliche Schritte bewegt werden kann, um eine gewünschte Auflösung zu erzielen.

Claims (5)

  1. Akustisches Mikroskop (20) zur Verwendung in einer Schweißumgebung, umfassend eine Mehrzahl von akustischen Messwandlern (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26), wobei jeder aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) selektiv einen Strahl von akustischer Energie (42, 49) erzeugt, wobei jeder aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) in einer benachbarten Beziehung mit einem Rest aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) angeordnet ist, so dass jeder Strahl von akustischer Energie (42, 49) einem Pfad folgt, der parallel zu jedem restlichen Pfad von akustischer Energie (42, 49) verläuft; einen Computer (38) in elektrischer Verbindung mit jedem aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26), wobei der Computer (38) jedem aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) selektiv befiehlt, den Strahl von akustischer Energie (42) für eine kurze Zeitdauer zu erzeugen, so dass jeder aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) in einem Sendemodus und in einem Empfangsmodus tätig ist, wobei der Computer (38) die reflektierte akustische Energie (49), die durch jeden aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) empfangen wird, wenn sich jeder aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) im Empfangsmodus befindet, verarbeitet, wobei der Computer (38) die verarbeitete reflektierte akustische Energie (49) analysiert; eine Vorrichtung, um die Mehrzahl von akustischen Messwandlern (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) quergerichtet zu verschieben, wobei die Vorrichtung die Mehrzahl von akustischen Messwandlern (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) selektiv verschiebt, um dem Computer (38) Informationen zur Erzeugung eines ersten Längsabtastungsbilds bereitzustellen; und die Vorrichtung die Mehrzahl von akustischen Messwandlern (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) selektiv quergerichtet verschiebt und bewegt, um dem Computer (38) Informationen zur Erzeugung eines zweiten Längsabtastungsbilds bereitzustellen, wobei der Computer (38) das erste Längsabtastungsbild und das zweite Längsabtastungsbild selektiv kombiniert, um ein drittes Längsabtastungsbild zu erzeugen, das die doppelte Auflösung das ersten Längsabtastungsbilds aufweist.
  2. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 1, wobei der Computer (38) jedem aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) befiehlt, der Reihe nach den Strahl von akustischer Energie (42, 49) zu erzeugen.
  3. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 2, wobei zu jeder beliebigen gegebenen Zeit nur einer aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) den Strahl von akustischer Energie (42) erzeugt oder die reflektierte akustische Energie (49) empfängt.
  4. Verfahren zur Verwendung eines akustischen Mikroskops, umfassend folgende Schritte: a. Bereitstellen zumindest eines akustischen Sensors (10) in elektrischer Verbindung mit einem Computer (38); b. wobei der akustische Sensor (10) eine Mehrzahl von akustischen Messwandlern (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) enthält, und c. jeder aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) in einer benachbarten Beziehung mit einem Rest aus dieser Mehrzahl (12, 14, 16, 18, 22, 24, 26) angeordnet ist, so dass jeder Strahl von akustischer Energie (42, 49) einem Pfad folgt, der parallel zu jedem restlichen Pfad von akustischer Energie (42, 49) verläuft; d. Bewegen des akustischen Sensors (10) in einer ersten Richtung über eine Fläche eines Ziels, um ein erstes Längsabtastungsbild zu erhalten; e. quergerichtetes Verschieben des akustischen Sensors (10); f. Bewegen des akustischen Sensors (10) in einer zweiten Richtung über die Fläche des Ziels, um ein zweites Längsabtastungsbild zu erhalten; und g. Kombinieren des ersten Längsabtastungsbilds und des zweiten Längsabtastungsbilds, um ein drittes Längsabtastungsbild zu erhalten, das die doppelte Auflösung des ersten Längsabtastungsbilds aufweist.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei das Ziel eine Schweißlinse (46) ist.
DE60024354T 1999-04-30 2000-03-29 Akustische mikroskopische Vielfachbündellinsenanordnung Expired - Lifetime DE60024354T2 (de)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US303301 1994-09-13
US09/303,301 US6116090A (en) 1999-04-30 1999-04-30 Multieyed acoustical microscopic lens system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60024354D1 DE60024354D1 (de) 2006-01-05
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US (1) US6116090A (de)
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AT (1) ATE311594T1 (de)
CA (1) CA2307518C (de)
DE (1) DE60024354T2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022125493A1 (de) 2022-10-04 2024-04-04 Pva Tepla Analytical Systems Gmbh Transducereinheit für ein akustisches Rastermikroskop, Verfahren zum Betreiben eines akustischen Rastermikroskops und akustisches Rastermikroskop

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6546803B1 (en) 1999-12-23 2003-04-15 Daimlerchrysler Corporation Ultrasonic array transducer
US7789286B2 (en) * 2003-06-04 2010-09-07 Chrysler Group Llc Method and apparatus for assessing the quality of spot welds
DE102006005448B4 (de) * 2005-04-11 2011-02-10 Pva Tepla Analytical Systems Gmbh Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren
DE102006005449B4 (de) * 2005-04-11 2010-11-25 Pva Tepla Analytical Systems Gmbh Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren
EP2780726A4 (de) 2011-11-18 2015-07-15 Sonix Inc Verfahren und vorrichtung zur signalwegentzerrung bei einem rasterschallmikroskop
US10557832B2 (en) * 2017-04-28 2020-02-11 GM Global Technology Operations LLC Portable acoustic apparatus for in-situ monitoring of a weld in a workpiece

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1147089A (en) * 1966-11-22 1969-04-02 Nat Res Dev Ultrasonic inspection system for materials
FR2093406A5 (de) * 1970-06-12 1972-01-28 Commissariat Energie Atomique
US3895685A (en) * 1971-04-19 1975-07-22 Combustion Eng Method and apparatus for ultrasonic inspection of weldments
US3868847A (en) * 1972-12-04 1975-03-04 Walter A Gunkel System and apparatus for inspecting elongated welds
US3958451A (en) * 1973-12-12 1976-05-25 Inspection Technology Development, Inc. Ultrasonic inspection apparatus
US3960005A (en) * 1974-08-09 1976-06-01 Canac Consultants Limited Ultrasonic testing device for inspecting thermit rail welds
US4012946A (en) * 1976-03-17 1977-03-22 United States Steel Corporation Ultrasonic weld inspection system
JPS5914187B2 (ja) * 1978-02-27 1984-04-03 株式会社豊田中央研究所 スポット溶接検査装置
US4480475A (en) * 1983-01-28 1984-11-06 Westinghouse Electric Corp. Real-time ultrasonic weld inspection method
US4712722A (en) * 1985-09-04 1987-12-15 Eg&G, Inc. Concurrent ultrasonic weld evaluation system
JPH063440B2 (ja) * 1986-10-06 1994-01-12 新日本製鐵株式会社 鋼管溶接部の超音波探傷方法およびその装置
EP0382844A4 (en) * 1988-05-20 1991-03-20 Moskovskoe Vysshee Tekhnicheskoe Uchilische Imeni N.E.Baumana Method for ultrasonically checking weld seams of articles
DE4213212A1 (de) * 1992-04-22 1993-10-28 Krautkraemer Gmbh Verfahren zur Ultraschallprüfung von Punktschweißverbindungen von Blechen
US5533401A (en) * 1994-05-12 1996-07-09 General Electric Company Multizone ultrasonic inspection method and apparatus
US5474225A (en) * 1994-07-18 1995-12-12 The Babcock & Wilcox Company Automated method for butt weld inspection and defect diagnosis
US5439157A (en) * 1994-07-18 1995-08-08 The Babcock & Wilcox Company Automated butt weld inspection system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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