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Die
Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erweitern des Erfassungsbereiches
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
für die
Laser eines Wellenlängenmultiplex-(WDM)Übertragungssystems
gemäß dem Oberbegriff
des Anspruches 1, eine Wellenlängenüberwachungseinrichtung
mit einem Wellenlängenfilter
und Mitteln zur Erzeugung eines periodischen Fehlersignals für das Einstellen
eines Lasers gemäß dem Oberbegriff
des Anspruches 4 und ein Lasersystem mit Lasern und mindestens einer
Wellenlängenüberwachungseinrichtung,
wobei jeder der Laser mit Hilfe eines Fehlersignals gemäß dem Oberbegriff
des Anspruches 1 auf eine gewünschte
Wellenlänge
eingestellt wird.
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WDM-Verfahren
werden zunehmend in optischen Übertragungssystemen
verwendet. Bei solchen Verfahren wird eine Anzahl modulierter optischer
Träger
mit unterschiedlichen Frequenzen gleichzeitig in einer Glasfaser übertragen.
Jeder dieser Träger
bildet einen Kanal, der logisch von den Trägern unabhängig ist, wobei jeder Kanal
durch einen Laser versorgt wird. Um die Übertragungskapazität zu erhöhen, wird
die Anzahl der Kanäle
der WDM-Übertragungssysteme
zunehmend vergrößert, wobei
der Frequenzabstand und somit auch der Wellenlängenabstand zunehmend verringert
werden. Bei derzeitigen Übertragungssystemen
mit sogenanntem dichten WDM (DWDM), die im Folgenden als DWDM-Übertragungssysteme
bezeichnet werden, werden zum Beispiel 16 Kanäle mit einem äquidistanten
Frequenzabstand von 100 GHz übertragen.
Um weiterhin die Übertragungskapazität zu erhöhen, ist
gemäß der internationalen
Telekommunikationsunion (ITU) vorgeschlagen, daß dieser Frequenzabstand auf
50 GHz halbiert wird. Mit abnehmendem Frequenzabstand werden jedoch
die Anforderungen an die Genauigkeit und Stabilität der Wellenlängen, welche
von den Laserdioden emittiert werden, die im Folgenden auch als
ITU-Wellenlängen
bezeichnet werden, größer. Die
ITU erlaubt eine Wellenlängenabweichung
von maximal 10% des Wellenlängenabstandes
zwischen zwei benachbarten Kanälen,
nachfolgend auch als ITU-Wellenlängenabstand
bezeichnet.
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Die
Wellenlänge
einer Laserdiode, die abgekürzt
im Folgenden Laser genannt wird, ist eine Funktion ihrer Temperatur.
Mit Hilfe einer steuerbaren Lasererwärmungseinheit wird diese Temperatur
so eingestellt, daß die
gewünschte
Wellenlänge
emittiert wird. Zu diesem Zweck wird mit Hilfe einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
ein wellenlängenabhängiges Fehlersignal
erzeugt, aus welchem ein geeignetes Steuersignal für die Steuerung
der Lasererwärmungseinheit
gebildet wird. Bei der Wellenlängenüberwachungseinrichtung
wird das eingegebene Laserlicht durch eine Spalteinrichtung in zwei
optische Zweige gespalten; in dem ersten optischen Zweig wird das
Licht direkt einer ersten Photodiode zugeführt, während das Licht in dem zweiten
optischen Zweig durch ein Wellenlängenfilter hindurchgeht, bevor
es auf eine zweite Photodiode auftrifft. Während die erste Photodiode
der Wellenlängenüberwachungseinrichtung
einen Strom zuführt,
welcher der Intensität
des eingegebenen Laserlichts unabhängig von der Wellenlänge proportional
ist, führt
die zweite Photodiode einen Strom zu, der mit der Wellenlänge periodisch
ist. Das Fehlersignal wird zum Beispiel durch Bilden der Differenz
zwischen den Ausgangsströmen
der Photodioden erzeugt. Damit alle die Laser eines DWDM-Übertragungssystems
jeweils auf eine ITU-Wellenlänge
mit Hilfe einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
eingestellt werden können,
muß der
Periodenabstand des Wellenlängenfilters,
wobei der Periodenabstand auch als der freie Spektralbereich (FSR)
bekannt ist, exakt dem ITU-Wellenlängenabstand entsprechen.
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Eine
solche Vorrichtung ist zum Beispiel in der US-5,798,859 offenbart.
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Um
in jedem Fall ein unzweideutiges Einstellen der Laser auf eine spezielle
ITU-Wellenlänge
zu erreichen, muß sichergestellt
werden, daß,
bevor die Wellenlängensteuerung
in Wirkung tritt, die Emission jedes Lasers immer in einen speziellen
Wellenlängenbereich
fällt.
Dieser Wellenlängenbereich,
der im Nachfolgenden auch als Erfassungsbereich (CR) bezeichnet
wird, entspricht dem freien Spektralbereich, wobei ein Erfassungsbereich
in jedem Fall nur die gewünschte
ITU-Wellenlänge
enthält.
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Als
Folge der vorher beschriebenen, geplanten Verringerung in dem ITU-Wellenlängenabstand
wird der freie Spektralbereich des Wellenlängenfilters proportional reduziert.
Folglich wird auch der Erfassungsbereich proportional reduziert.
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Laser
unterliegen infolge Alterung einer Verschiebung in der emittierten
Wellenlänge.
Der Erfassungsbereich sollte deshalb ausreichend groß sein,
um sicherzustellen, daß selbst
nach einer Alterung die emittierte Wellenlänge immer noch in den Erfassungsbereich
fällt.
Wenn der Erfassungsbereich zu klein ist, besteht das Risiko, daß nach einer
bestimmten Zeit die Wellenlänge
sich außerhalb
des Ertassungsbereiches befindet und deshalb nicht mehr auf die
vorgesehene ITU-Wellenlänge
eingestellt werden kann.
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Wenn
ein Fabry-Perot-(FP)Interferometer als Wellenlängenfilter benutzt wird, welches
in abgekürzter Form
im Folgenden als FP-Interferometer bezeichnet wird, führt die
Verringerung im ITU-Wellenlängenabstand auch
zu einer Vergrößerung des
Luftspaltes, was der angestrebten vergrößerten Integration der optischen Komponenten
zuwiderläuft.
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US-6,067,181
beschreibt deshalb eine optische Vorrichtung mit Filterelementen,
zum Beispiel Fabry-Perot-Filtern, die erweiterte, sich überlappende
Erfassungsbereiche haben. Bei der Anpassung dieses Verfahrens an
ein WDM-System werden ein Filterelement für die ungeradzahligen Kanäle und ein
Filterelement für
die geradzahligen Kanäle
verwendet, wobei jedes der Filterelemente entweder die entsprechenden
Wellenlängen
auf die Maximalwerte oder auf die Minimalwerte des periodischen
Fehlersignals (Übertragungsspektrum)
festsetzt.
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Aufgabe
der Erfindung ist es, ein alternatives Verfahren und alternative
Vorrichtungen vorzusehen, wodurch erweiterte Erfassungsbereiche
ermöglicht
werden.
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Diese
Aufgabe wird erfindungsgemäß durch
ein Verfahren, eine Wellenlängenüberwachungseinrichtung
und ein Lasersystem nach den Ansprüchen gelöst.
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Das
Grundprinzip der Erfindung besteht darin, daß bei der Bildung des Steuersignals
für die
Wellenlängeneinstellung
des Lasers das Vorzeichen des Gradienten des Fehlersignals bei der
gewünschten ITU-Wellenlänge berücksichtig
wird. In jeder Periode hat das Fehlersignal exakt einen Teil mit
einem positiven Gefälle
und einen Teil mit einem negativen Gefälle; das Fehlersignal wird
auf solche Weise erzeugt, daß die ITU-Wellenlängen in
jedem Fall alternativ an Orten des Fehlersignals mit einem positiven
und einem negativen Gradienten auftreten. Der ITU-Wellenlängenabstand
ist deshalb im Vergleich zu dem freien Spektralbereich und somit
auch dem Erfassungsbereich halbiert. Weil die periodische Übertragungskurve
eines FP-Interferometers jedoch relativ scharfe Spitzen hat und
dazwischen relativ flach ist, würden
Vergleichswerte, die zu einer äquidistanten
Verteilung der ITU-Wellenlängen über diese
Fehlersignalkurve führen,
in den flachen Bereichen dieser Kurve auftreten mit der Folge einer
Qualitätsbeeinträchtigung
des Wellenlängensteuerverfahrens.
Um dieselbe Qualität
des Steuerverfahrens wie beim Stand der Technik zu erreichen, wird
ein modifiziertes Fehlersignal erzeugt, welches sinusförmig oder
mindestens sinusähnlich
ist. Für
ein solches Fehlersignal können in
jedem Fall äquidistante
Vergleichswerte in den steilen Bereichen des Fehlersignals bestimmt
werden. Zwei unterschiedliche Verfahren für das Erhalten eines solchen
Fehlersignals werden vorgeschlagen. Bei einem ersten Verfahren wird
ein geeignetes Fehlersignal dadurch erhalten, daß das FP-Interferometer einer
Wellenlängenüberwachungseinrichtung
der im einleitenden Teil beschriebenen Art insofern geändert wird,
als der Einfallswinkel des in das FP-Interferometer eintretenden
Lichts zu der optischen Achse nicht parallel ist. Dies ruft ein
sinusähnliches
Fehlersignal hervor. Bei einem zweiten Verfahren erfolgt eine zusätzliche
Messung der Reflexionskomponente des in das FP-Interferometer eintretenden
Lichts einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
der in dem einleitenden Teil beschriebenen Art mittel einer dritten
Photodiode. Eine geeignete Verknüpfung
der Ausgangsströme
der drei Photodioden ruft ein sinusförmiges Fehlersignal hervor.
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Weitere
Entwicklungen der Erfindung kann man den abhängigen Ansprüchen und
der folgenden Beschreibung entnehmen.
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Im
Folgenden wird die Erfindung unter Bezugnahme auf die anliegenden
Zeichnungen weiter erläutert:
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1 veranschaulicht den Aufbau
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß dem Stand der
Technik,
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2 ist ein Grunddiagramm
der Wellenlängensteuerung
eines Lasers,
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3 veranschaulicht das Fehlersignal
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß dem Stand
der Technik,
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4 veranschaulicht das Fehlersignal
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß der Erfindung,
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5 ist ein Grunddiagramm
eines FP-Interferometers für
eine erste Ausführungsform
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß der Erfindung,
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6 veranschaulicht das Meßergebnis
des Fehlersignals eines Labormodells gemäß der ersten Ausführungsform,
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7 veranschaulicht den Aufbau
einer zweiten Ausführungsform
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß der Erfindung
und
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8 veranschaulicht das Meßergebnis
des Fehlersignals eines Labormodells gemäß der zweiten Ausführungsform.
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Schematisch
veranschaulicht 1 den
Aufbau einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung.
Die Wellenlängenüberwachungseinrichtung
weist eine optische Spalteinrichtung (Strahlteiler) 3,
ein Wellenlängenfilter 4,
eine erste Photodiode P1 und eine zweite Photodiode P2 auf. Ein
optisches Eingangssignal I0 wird der optischen
Spalteinrichtung 3 zugeführt, welche das Eingangssignal
I0 zwischen zwei optischen Ausgangssignalen
spaltet. Das erste Ausgangssignal der optischen Spalteinrichtung 3 wird
direkt der ersten Photodiode P1 zugeführt. Das zweite optische Ausgangssignal
der optischen Spalteinrichtung wird über das zwischengeschaltete
Wellenlängenfilter
der zweiten Photodiode P2 zugeführt.
Die Photodioden P1 und P2, deren elektrische Anschlüsse hier
nicht gezeigt wurden, führen
einen ersten Photostrom I1 bzw. einen zweiten
Photostrom I2 zu, deren Wellenformen über der
Wellenlänge λ des optischen
Eingangssignals I0 aufgetragen wurden. Während der
erste Photostrom I1 mit einer sich verändernden
Wellenlänge λ konstant
ist, ändert
sich der zweite Photostrom I2 mit sich verändernder
Wellenlänge λ. Sogenannte
Mach-Zehnder-Interferometer oder Fabry-Perot-Interferometer können zum
Beispiel als Wellenlängenfilter
benutzt werden. FP-Interferometer
werden aus wirtschaftlichen Gründen
bevorzugt verwendet. Ein FP-Interferometer besteht grundsätzlich aus
zwei reflektierenden, parallelen Oberflächen, zwischen denen ein Luftspalt
besteht. Das durch eine Kollimatorlinse eingekoppelte Licht wird
zwischen diesen Oberflächen
so oft wie erwünscht
vor- und zurückreflektiert,
wobei eine spezielle Komponente des Lichtes nach jeder Reflexion
in die Ausgangsfaser eingekoppelt wird. Die Überlagerung dieser Lichtkomponenten
ruft eine Intensitätscharakteristik
hervor, die über
der Wellenlänge
periodisch ist, wobei der Periodenabstand umgekehrt proportional
zu dem Luftspaltabstand ist. Der Periodenabstand repräsentiert
den oben erwähnten
freien Spektralbereich (FSR).
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2 veranschaulicht das Prinzip
der Wellenlängensteuerung
eines Lasers. Ein Abschnitt bzw. Teil der Differenz zwischen den
oben erwähnten
Photoströmen
I2 – I1 ist über
der Wellenlänge λ aufgetragen.
Diese Differenz veranschaulicht hier das Fehlersignal, welches im
einleitenden Teil er wähnt
ist. In dem veranschaulichten Abschnitt nimmt der Wert des Fehlersignals
monoton über
die Wellenlänge
zu und schneidet die Abszisse an dem Wert λ0, auf
welchen der Laser eingestellt werden soll. Über dieser Wellenlänge ist
das Fehlersignal positiv und fällt
in den Kühlbereich
der Wellenlängensteuerung.
Unter dieser Wellenlänge
ist das Fehlersignal negativ und fällt in den Erwärmungsbereich
der Wellenlängensteuerung.
Wenn der Laser eingeschaltet wird, emittiert er im allgemeinen zuerst
eine Wellenlänge,
die sich von dem gewünschten
Wert λ0 unterscheidet und die im Fall einer negativen
Wellenlängenabweichung
zu einem negativen Fehlersignal führt. Der Laser wird dann erwärmt, bis
die gewünschte
Wellenlänge λ0 erreicht
ist, und somit nimmt das Fehlersignal den Wert null an. Im Fall
einer positiven Wellenlängenabweichung
und somit eines positiven Fehlersignals wird der Laser gekühlt, bis
das Fehlersignal verschwindet und die gewünschte Wellenlänge λ0 somit
erreicht ist. Die gewünschte
Wellenlänge λ0 kann
durch Verändern
der Verstärkung
der Photodioden P1 und P2 und/oder durch Verändern der Parameter des Wellenlängenfilters 4 geändert werden.
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3 veranschaulicht ein Fehlersignal
E1, welches über
der Wellenlänge λ periodisch
ist und zum Beispiel durch die Differenz zwischen den zwei Strömen I2 und I1 gebildet
wird, wie in 1 beschrieben
ist. Das Fehlersignal E1 schneidet die Nullinie (Abszisse) periodisch
mit seinen negativen Gefälleteilen.
Der Abstand zwischen diesen Schnittpunkten entspricht dem ITU-Wellenlängenabstand,
wobei die Schnittpunkte die ITU-Wellenlänge λ0, λj+1, λj+1,...
des DWDM-Übertragungssystems
darstellen. Gezeigt ist auch ein Erfassungsbereich CR, der genau
eine Periode des periodischen Fehlersignals E1 aufweist. Der Erfassungsbereich
CR ist derjenige Bereich, in welchem die Laseremission für eine unzweideutige
Einstellung an der gewünschten ITU-Wellenlänge λj erfolgen
kann. Dieser Bereich muß deshalb
keinen weiteren Schnittpunkt des periodischen Fehlersignals E1 mit
der Nullinie außer
an der gewünschten
ITU-Wellenlänge λj enthalten,
weil der Laser sonst auf einen solchen Schnittpunkt und somit auf
eine falsche Wellenlänge
eingestellt werden könnte.
Wie oben erwähnt,
werden zunehmend kleinere ITU-Wellenlängenabstände in DWDM-Übertragungssystemen
ausgeführt.
Nach dem Stand der Technik werden der freie Spektralbereich ( FSR)
und somit auch der Erfassungsbereich (CR) proportional zu diesen
reduziert. Das Reduzieren im Erfassungsbereich CR ruft jedoch Probleme bezüglich der
Langzeitstabilität
des Lasersystems hervor: infolge Alterung unterliegen Laser einer
Verschiebung in der emittierten Wellenlänge. Der Erfassungsbereich
sollte deshalb ausreichend groß sein,
um sicherzustellen, daß die
emittierte Wellenlänge
nach der Alterung noch in den Erfassungsbereich fällt. Wenn
der Erfassungsbereich CR zu klein ist, besteht das Risiko, daß nach einer
bestimmten Zeit die Wellenlänge
außerhalb
des Ertassungsbereiches CR liegt und deshalb nicht mehr an der gewünschten
ITU-Wellenlänge λ; eingestellt
werden kann. Ein weiterer Nachteil der Verwendung eines FP-Interferometers
ist die Größenzunahmen infolge
der erforderlichen Vergrößerung des
Luftspaltes. Die folgende 4 veranschaulicht
eine vorgeschlagene Lösung
dieser Probleme, wodurch insbesondere ein Halbieren des ITU-Wellenlängenabstandes
bei demselben Erfassungsbereich CR ermöglicht wird. Als Beispiel veranschaulicht 4 ein Fehlersignal E2, welches über der
Wellenlänge λ sinusförmig ist,
und zwar von einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung gemäß der Erfindung.
Die Schnittpunkte der negativen Gefälleteile des sinusförmigen Fehlersignals
E2 mit einem ersten Vergleichswert C1 und ihrer positiven Gefälleteile
mit einem zweiten Vergleichswert C2 treten an äquidistanten Wellenlängen mit
dem ITU-Wellenlängenabstand
A auf, wobei diese zum Beispiel durch die ITU-Wellenlängen λj, λj+1, λj+1,
..., dargestellt werden, die aus 3 bekannt
sind. Wie in 3 weist
der Erfassungsbereich CR eine Periode des sinusförmigen Fehlersignals E2 auf.
Verglichen mit nur einem ITU-Wellenlängenabstand
A gemäß 3 entspricht hier der Erfassungsbereich
CR zwei ITU-Wellenlängenabständen. Da
jedoch die ITU-Wellenlängen λ0, λj+1, λj+1,...
hier abwechselnd an Schnittpunkten des ersten Vergleichswertes C1
mit den negativen Gefälleteilen
und an Schnittpunkten des zweiten Vergleichswertes C2 mit den positiven
Gefälleteilen
des sinusförmigen
Fehlersignals E2 auftreten, muß das
Vorzeichen des Gefälles
beim Bilden des Steuersignals für
die Steuerung der Lasererwärmungseinheit
berücksichtig
werden. Auf diese Weise wird je nach dem Gefällevorzeichen die Lasererwärmungseinheit
entweder im Fall einer positiven oder einer negativen Differenz
zwischen dem sinusförmigen
Fehlersignal E2 und dem entsprechenden Vergleichswert C1 oder C2
eingeschaltet.
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Die
folgenden Parameter werden somit für jede ITU-Wellenlänge bestimmt
und werden in der Wellenlängenüberwachungseinrichtung
oder der Lasersystem gespeichert:
– der Erfassungsbereich CR,
– das Gefällevorzeichen
(positiv oder negativ) und
– der Vergleichswert (C1 oder
C2).
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Ein
Problem besteht jedoch bei der Erzeugung eines geeigneten Fehlersignals,
zum Beispiel das hier gezeigte sinusförmige Fehlersignal E2. Das
periodische Fehlersignal E1, das in 3 veranschaulicht
ist, entspricht der Übertragungskurve
eines FP-Interferometers, welches relativ scharfe Spitzen hat und
dazwischen flach ist (siehe 6).
Würde dieses
periodische Fehlersignal E1 äquidistant
aufgeteilt, so daß die
ITU-Wellenlängen
abwechselnd auf einem positiven und einem negativen Gefälleteil
des Fehlersignals E1 lägen,
würden
die Vergleichswerte C1 und C2 in die flachen Bereiche des periodischen
Fehlersignals E1 fallen mit dem Ergebnis einer Qualitätsbeeinträchtigung
des Wellenlängensteuerverfahrens,
welches von der Wellenlängenüberwachungseinrichtung
durchgeführt
wird. Um ein Wellenlängensteuerverfahren
mit derselben Qualität
wie beim Stand der Technik zu erreichen, ist es notwendig, ein Fehlersignal
zu bilden, welches eine äquidistante Aufteilung
in jedem Fall bei steilen Gefällen
des Fehlersignals erlaubt. Das hier gezeigte sinusförmige Fehlersignal
E2 oder ein sinusähnliches
Fehlersignal ist für
diesen Zweck geeignet. Als Beispiel sollten zwei Verfahren zum Erzeugen
eines solchen Fehlersignals in den folgenden Zeichnungen beschrieben
werden.
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5 ist ein Grundschema eines
FP-Interferometers, welches als Wellenlängenfilter 4 in einer
ersten Ausführungsform
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß der Erfindung
benutzt wird. Ein erster (optischer) Spiegel 51 und ein
zweiter (optischer) Spiegel 52 wurden gezeigt. Von rechts
tritt ein breiter, normalerweise verteilter Strahl unter einem Einfallswinkel α in das FP-Interferometer ein,
wobei ein erster Teil des Strahles durch die zwei Spiegel 51 und 52 hindurchgeht,
um auf eine Photodiode 56 mit einer großen Oberfläche aufzutreffen, während ein
weiterer Teil des Stahles von dem zweiten Spiegel 52 zu
dem ersten Spiegel 51 reflektiert wird und von dort zurück zu dem
zweiten Spiegel 52, wobei ein Abschnitt desselben seinerseits
auf die Photodiode 56 versetzt relativ zu dem ersten Teil
auftrifft. Hier ist die Photodiode 56 zum Beispiel so angeordnet,
daß sie
symmetrisch von dem ersten Teil des Strahles bestrahlt wird. Wegen
der Tatsache, daß sich der
Einfallswinkel α von
null unterscheidet, gibt es über
die ganze Oberfläche
der Photodiode 56 keine Interferenz; zur Vereinfachung
sind hier ein Teil 55, in dessen Fall periodische Interferenzen
auftreten, und ein Teil 54, in dessen Fall keine Interferenzen
auftreten, gezeigt.
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6 veranschaulicht ein Meßergebnis
einer Übertragungskurve 61 eines
FP-Interferometers eines ersten Labormodells gemäß der Beschreibung der 5. Der Einfallswinkel α unterscheidet
sich von null. Die Wellenform ihrer Amplitude 1 der Übertragungskurve 61 ist über der
Wellenlänge
in 6 aufgetragen. Zum Vergleich
ist die Wellenform einer zweiten Übertragungskurve 62 für einen
Einfallswinkel von 0° entsprechend dem
in der Einleitung beschriebenen Stand der Technik auch gezeigt worden.
Die Übertragungskurven 61 und 62 sind
für den
leichteren Vergleich normiert worden. Man sieht deutlich, daß die Übertragungskurve 61 eine sinusähnliche
Form hat, während
die Übertragungskurve 62 scharfe
Spitzenwerte hat.
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7 veranschaulicht den Aufbau
einer zweiten Ausführungsform
einer Wellenlängenüberwachungseinrichtung
gemäß der Erfindung
als Verlängerung
der Wellenlängenüberwachungseinrichtung,
die unter Bezugnahme auf 1 beschrieben
wurde. Die Wellenlängenüberwachungseinrichtung
besteht aus der ersten Photodiode P1, der zweiten Photodiode P2,
einer Spalteinrichtung (Strahlteiler) 73, der bezüglich 1 modifiziert ist mit einem
zusätzlichen
optischen Ausgang, der zu einer zusätzlichen dritten Photodiode
P3 führt,
und dem Wellenlängenfilter
in der Form des FP-Interferometers 74.
Die modifizierte Spalteinrichtung 73 ist als halbtransparenter,
optischer Spiegel aufgebaut, welcher das optische Signal I0 zwischen zwei Ausgängen wie in 1 spaltet. Das erste Ausgangssignal wird
direkt zu der ersten Photodiode P2 und das zweite Ausgangssignal
wird zu dem FP-Interferometer 74 geführt, wodurch dieses Signal
zum Teil zu der zweiten Photodiode P2 zugeführt wird und zum Teil zu der
modifizierten Spalteinrichtung 73 reflektiert wird, deren
optischer Spiegel diese Signalkomponente über den vorgenannten zusätzlichen
optischen Ausgang zu der dritten Photodiode P3 zuführt. Die
in den Photodioden P1, P2 und P3 erzeugten Photoströme sind
proportional der Intensität
der empfangenen Lichtsignale.
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Die
Intensität
I
2 der Lichtkomponente, die von dem FP-Interferometer übertragen
und von der zweiten Photodiode P2 empfangen wird, wird gegeben durch:
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Die
Intensität
I
3 der von dem FP-Interferometer reflektierten
und von der dritten Photodiode P3 empfangenen Lichtkomponente ist
gegeben durch:
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- R: Reflexionskoeffizient der Spiegel des FP-Interferometers,
- VR, VT: Verlustfaktoren
- δ (λ): zu der
Frequenz des einfallenden Lichtes proportionale Funktion.
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Das
Verhältnis
der reflektierten Lichtkomponente zu der übertragenen Lichtkomponente
ergibt eine Verhältnisfunktion
E (λ):
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Die
Intensität
I1 der von der ersten Photodiode P1 empfangenen
Lichtkomponente ist von der Wellenlänge unabhängig: I1 (λ) = c.I0 (4) wobei I0 die
Intensität
des Eingangssignals ist und c ein konstanter Faktor ist.
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Ähnlich der
Intensitätsfunktion
I2(λ)
des übertragenen
Lichtsignals ist die Verhältnisfunktion
E(λ) periodisch
mit (δ(λ)) = kπ,
wobei k ein Element der ganzen Zahlen ist. Die Verhältnisfunktion
E(λ) hat
eine quadrierte sinusförmige
Wellenform, so daß sie
gut geeignet ist, um ein Fehlersignal gemäß 4 zu bilden. Für die Bildung des Fehlersignals
wird das Verhältnis
oder die Differenz der Verhältnisfunktion
E(λ) zu
dem Photostrom Ι1 bestimmt: Die Verhältnisfunktion E(λ) kann zum
Beispiel durch analoge Berechnung unter Verwendung einer geeigneten
elektronischen Schaltung oder durch numerische Berechnung in einem
Rechner, zum Beispiel einem Mikrocontroller, erzeugt werden.
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8 veranschaulicht ein Meßergebnis
eines zweiten Labormodells, in welchem die Wellenform eines Fehlersignals 82,
das gemäß 7 erzeugt ist, über der
Wellenlänge
aufgetragen wird. Außerdem
wurde zum Vergleich ein Vergleichssignal 81 über der
Wellenlänge
aufgetragen, wobei das Vergleichssignal 81 einem Fehlersignal
gemäß dem Stand
der Technik und somit der ersten Übertragungskurve 61 gemäß 6 entspricht. Die Übertragungskurven 81 und 82 wurden
für den
leichteren Vergleich normiert. Das Fehlersignal zeigt die gewünschte sinusförmige Wellenform.