DE60008241T2 - METHOD AND DEVICE FOR EPITACTICALLY GROWING A MATERIAL ON A SUBSTRATE - Google Patents

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Abstract

A method of epitaxially growing a material on a substrate (1). The method comprises separately heating precursors to their respective decomposition temperatures at or adjacent a region of the substrate to generate species which are supplied separately to the region and which combine at the region.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum epitaktischen Wachsen eines Materials auf einem Substrat.The invention relates to a Method and apparatus for epitaxially growing a material on a substrate.

Herkömmliche Methoden benutzen im typischen Fall einen Epitaxie-Reaktor mit metall-organischer chemischer Dampfphasenablagerung (MOCVD). Bei einem derartigen Reaktor werden die Vorläufer, die die zu wachsenden Elemente enthalten, dem Substrat in Form eines Wafer zugeführt, der auf einem Waferträger ruht, der erhitzt wird. Die Wärme wird auf die Vorläufer übertragen, die in naszierende Atome gespalten oder dissoziiert werden, und diese naszierenden Atome werden dann auf der Oberfläche des Substrates kombiniert. Bei einem typischen Beispiel werden dem Substrat Trimethylgallium und Ammoniak zusammen mit Wasserstoff zugeführt, um eine Gallium-Nitrit-Schicht zu bilden.Conventional methods use in typical case an epitaxial reactor with metal-organic chemical Vapor phase deposition (MOCVD). In such a reactor the forerunners, which contain the elements to be grown, the substrate in the form of a Wafers fed, the one on a wafer carrier resting, which is heated. The heat is transferred to the forerunners, which are split or dissociated into nascent atoms, and these nascent atoms are then combined on the surface of the substrate. In a typical example, the substrate will be trimethyl gallium and ammonia along with hydrogen fed to a gallium nitrite layer to build.

Ein Problem bei bekannten Reaktoren besteht darin, dass die Vorläufer eine Spalttemperatur haben, die sehr viel höher ist als die idealen Wachstumstemperaturen. Beispielsweise erfordert Ammoniak im typischen Fall Temperaturen bis zu 1000°C oder mehr, um eine wirksame Spaltung zu bewirken, während die ideale Wachstumstemperatur in der Größenordnung von 650°C liegt.A problem with known reactors is that the forerunner have a gap temperature that is much higher than the ideal growth temperatures. For example, ammonia typically requires temperatures up to 1000 ° C or more to effect an effective cleavage while the ideal growth temperature in the order of magnitude of 650 ° C lies.

Das Problem bei herkömmlichen Reaktoren besteht darin, dass der Waferträger das Substrat auf einer relativ konstanten Temperatur hält, die im typischen Fall so gewählt wird, dass sie mit der idealen Wachstumstemperatur übereinstimmt, d.h. in diesem Fall 650°C. Die Vorläufer der Gruppe V, beispielsweise Ammoniak, werden bei dieser Temperatur nur sehr unwirksam gespalten.The problem with conventional Reactors consist of the wafer carrier placing the substrate on a maintains a relatively constant temperature, who typically chose so will match the ideal growth temperature, i.e. in this case 650 ° C. The forerunners Group V, for example ammonia, are at this temperature only split very ineffectively.

Die JP-58125698 und die JP-58140391 beschreiben Verfahren zum Wachsen von InP auf einem Substrat unter Benutzung gasförmiger Mischungen von Vorläufern und Zerlegungsspezies. Die JP-04074858 und die JP-05335622 beschreiben alternative Hochvakuum-Zerlegungsverfahren, bei denen die Zerlegungsspezies einer Vorläuferatmosphäre reagieren. Hier ergibt sich ein Problem bei der Zerlegung eines Vorläufers an einer entfernten Stelle und dann in der Vermischung der Zerlegungsspezies mit anderen Vorläufern und ihren Zerlegungsspezies vor der Zerlegung. Jedoch bleiben die Probleme infolge des Auftretens unerwünschter Reaktionen in der Mischung bestehen, wodurch die Gesamtwirksamkeit des Verfahrens verringert wird.The JP-58125698 and the JP-58140391 describe methods of growing InP on a substrate using gaseous mixtures of precursors and decomposition species. The JP-04074858 and the JP-05335622 describe alternative high vacuum decomposition processes in which the decomposition species of a precursor atmosphere react. There is a problem here in disassembling a precursor at a distant location and then mixing the disassembly species with other precursors and their disassembly species before disassembly. However, problems due to the occurrence of undesirable reactions in the mixture persist, reducing the overall effectiveness of the process.

Die EP-A-0683249 beschreibt eine Vorrichtung zur unabhängigen Zuführung von kationischen und anionischen Materialgasen nach einem Substrat unter Benutzung eines sich drehenden Substrathalters.The EP-A-0683249 describes an apparatus for independently supplying cationic and anionic material gases to a substrate using a rotating substrate holder.

Gemäß einem Merkmal der Erfindung betrifft diese ein Verfahren zum epitaktischen Wachsen eines Materials auf einem Substrat, bei welchem Vorläufer, von denen wenigstens zwei unterschiedliche Zerlegungstemperaturen aufweisen, getrennt auf ihre jeweilige Zerlegungstemperatur in einem Bereich des Substrates oder in der Nähe hiervon erhitzt werden, um Spezies zu erzeugen, die getrennt aufeinanderfolgend dem Bereich zugeführt werden und die in dem Bereich kombiniert werden.According to a feature of the invention this relates to a method for epitaxially growing a material on a substrate, in which precursors, at least of which have two different decomposition temperatures, separated to their respective decomposition temperature in a region of the substrate or nearby of these are heated to produce species that are separated sequentially fed to the area and which are combined in the area.

Im Gegensatz zu bekannten Verfahren werden die Vorläufer getrennt auf ihre jeweilige Zerlegungstemperatur in diesem Bereich oder benachbart hierzu erhitzt. Dieser Bereich bildet einen Wachstumsbereich, in dem die Spezies kombiniert werden. Auf diese Weise kann jeder Vorläufer auf seine günstigste Zerlegungstemperatur (Spalttemperatur) erhitzt werden, während dieses Verfahren benachbart zu dem Bereich durchgeführt wird, was die Gefahr vermindert, dass naszierende Atome sich wieder vereinigen, bevor die Substratoberfläche erreicht ist.In contrast to known methods become the forerunners separated to their respective decomposition temperature in this area or heated adjacent to it. This area forms a growth area in which the species are combined. This way everyone can precursor at its cheapest Cutting temperature (gap temperature) are heated during this Procedure is carried out adjacent to the area, which reduces the risk of that nascent atoms reunite before reaching the substrate surface is.

Die durch die Zerlegung erzeugten Spezies der Vorläufer sind hochreaktiv und bilden schnell stabilere Produkte. Die Wahrscheinlichkeit, dass die Spezies in weitere Reaktionen verwickelt werden, ist eine Funktion der Zeit und der Konzentration. Durch Zerlegung der Vorläufer in der Nähe des Wachstumsbereichs werden die erzeugten Spezies angeregt, sich am Wachstumsbereich des Substrates zu kombinieren, statt unerwünschte Reaktionsprodukte zu bilden. Die Zerlegung der Vorläufer in dichter Nachbarschaft mit dem Wachstumsbereich verringert die Zeitdauer, in der unerwünschte Reaktionen auftreten können.The generated by the decomposition Forerunner species are highly reactive and quickly form stable products. The probability, that the species are involved in further reactions is one Function of time and concentration. By breaking down the forerunners into nearby of the growth area, the generated species are stimulated to combine at the growth area of the substrate instead of unwanted reaction products to build. The decomposition of the forerunners in close proximity with the growth area decreases the amount of time in which unwanted reactions may occur.

Vorzugsweise werden die Spezies von jedem Vorläufer getrennt dem Bereich nacheinander zugeführt. Die Spezies können getrennt dem Bereich durch Bewegung des Substrates zugeführt werden, um die Bewegung des Bereiches gegenüber den Stellen zu bewirken, an denen eine Zerlegung der Vorläufer auftritt. Im typischen Fall wird wenigstens einer der Vorläufer getrennt dem Bereich als Gasstrom zugeführt.Preferably the species of every precursor fed separately to the area one after the other. The species can be separated the area by movement of the substrate to be fed to the movement of the area opposite the places where a decomposition of the forerunners occurs. Typically, at least one of the precursors is separated from the area as Gas flow supplied.

Vorzugsweise können die Spezies aus Elementen der Gruppe III und der Gruppe V ausgewählt werden. Stattdessen können Elemente der Gruppe IV benutzt werden, beispielsweise Silizium und Kohlenstoff.Preferably, the species can be made up of elements Group III and Group V can be selected. Instead, items can Group IV can be used, for example silicon and carbon.

Gemäß dem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird einer der Vorläufer, vorzugsweise derjenige mit der niedrigsten Zerlegungstemperatur, auf seine Spalttemperatur durch Erhitzung des Substrates erhitzt. Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird ein anderer der Vorläufer auf seine Spalttemperatur an einer Stelle benachbart zu dem Bereich erhitzt. Auf diese Weise kann das Substrat auf den Bereich von 550°C bis 800°C, beispielsweise auf 650°C, erhitzt werden, während der andere Vorläufer auf seine optimale Spalttemperatur, entweder direkt oder in Gegenwart eines Katalysators, erhitzt wird. Im typischen Fall liegt diese Temperatur in dem Bereich zwischen 400°C und 1800°C.According to the preferred embodiment becomes one of the forerunners, preferably the one with the lowest decomposition temperature, heated to its gap temperature by heating the substrate. In this preferred embodiment another of the forerunners to its gap temperature at a location adjacent to the area heated. In this way, the substrate can range from 550 ° C to 800 ° C, for example to 650 ° C, be heated while the other precursor its optimal gap temperature, either directly or in the presence a catalyst is heated. This is typically the case Temperature in the range between 400 ° C and 1800 ° C.

Gemäß einem zweiten Merkmal der Erfindung betrifft diese eine Vorrichtung zum epitaktischen Wachsen eines Materials auf einem Substrat mit einer Kammer, die einen Substratsockel aufweist und einen ersten Einlass besitzt, um einen ersten Vorläufer zuzuführen, und die einen zweiten Einlass besitzt, der von dem ersten Einlass getrennt ist und einen zweiten Vorläufer zuführt, wobei erster und zweiter Vorläufer unterschiedliche Zerlegungstemperaturen aufweisen, wobei erste und zweite Heizeinrichtungen vorgesehen sind, um getrennt den ersten und zweiten Vorläufer auf ihre jeweilige Zerlegungstemperatur auf einem Bereich des Substrates oder in der Nähe hiervon aufzuheizen, um Spezies zu erzeugen, die getrennt dem Bereich zugeführt werden, und wobei Mittel vorgesehen sind, um die Spezies in Kombination dem Bereich zuzuführen, und wobei die Mittel zum aufeinanderfolgenden Zuführen der Spezies außerdem Mittel aufweisen, die eine Relativbewegung zwischen dem Substratsockel und wenigstens einem der Einlässe bewirken.According to a second feature of the invention, this relates to a device for epitaxially growing a material on a substrate a chamber having a substrate base and having a first inlet to supply a first precursor and having a second inlet separate from the first inlet and supplying a second precursor, the first and second precursors having different decomposition temperatures, wherein first and second heaters are provided to separately heat the first and second precursors to their respective decomposition temperatures on or near an area of the substrate to produce species that are separately supplied to the area and means are provided to control the Supplying species in combination to the region, and wherein the means for sequentially supplying the species further comprise means which cause relative movement between the substrate base and at least one of the inlets.

Vorzugsweise wird der zweite Einlass in einer Zuführungsleitung ausgebildet, die benachbart zum Substratträger liegt. Auf diese Weise kann der zweite Vorläufer in zweckmäßiger Weise nahe an das Substrat herangebracht werden.Preferably the second inlet in a feed line formed, which is adjacent to the substrate carrier. In this way can be the second precursor in an expedient manner be brought close to the substrate.

Der zweite Einlass kann verschiedene Formen annehmen, einschließlich beispielsweise einem kreisförmigen Loch oder dergleichen, aber vorzugsweise ist der zweite Einlass in Form eines langgestreckten Schlitzes ausgebildet.The second inlet can be different Take forms, including for example a circular one Hole or the like, but preferably the second inlet formed in the form of an elongated slot.

Die zweiten Heizeinrichtungen sind zweckmäßigerweise in oder benachbart zu dem Schlitz vorgesehen, obgleich sie auch im Abstand stromauf des Schlitzes angeordnet werden könnten.The second heaters are expediently provided in or adjacent to the slot, although they too could be spaced upstream of the slot.

Die Zuführungsleitung besteht im typischen Fall aus einem feuerfesten Material, beispielsweise aus Quarz, aus SiN oder Aluminiumoxid, während der zweite Einlass vorzugsweise eine Strahlöffnung definiert, die eine Querdimension von beispielsweise 2 mm besitzt.The feed line typically exists made of a refractory material, for example quartz, made of SiN or alumina during the second inlet preferably defines a jet opening that a Cross dimension of, for example, 2 mm.

Vorzugsweise definiert der zweite Einlass eine Auslassrichtung für den Vorläufer, die in einem spitzen Winkel gegenüber dem Substratträger verläuft, da dies einen Venturi-Effekt erzeugt, der andere Gase, wie Wasserstoff, die von einer entfernten Quelle zugeführt werden, anregt, unter der Leitung hinduchzutreten.Preferably the second defines Inlet an outlet direction for the forerunner which runs at an acute angle to the substrate carrier, because this creates a venturi effect that other gases, like hydrogen, which are supplied from a remote source, under which Line to step through.

Die zweite Heizeinrichtung ist im typischen Fall in Form eines Heizdrahtes ausgebildet, der beispielsweise aus Eisen, Nickel, Aluminium, Platin oder ihren Legierungen bestehen kann und der insbesondere aus Platin-Rhodium hergestellt wird. Der Draht ist im typischen Fall aufgespult.The second heater is in the typical case in the form of a heating wire, for example consist of iron, nickel, aluminum, platinum or their alloys can and which is made in particular of platinum-rhodium. The Wire is typically spooled.

Bei den meisten Anwendungen ist es erwünscht, das epitaktische Wachstum auf einen relativ großen Bereich des Substrates auszudehnen. Dies wird üblicherweise dadurch erreicht, dass der Bereich über das Substrat bewegt wird, indem beispielsweise Mittel vorgesehen werden, die eine Relativbewegung zwischen dem Substratträger und wenigstens einem der Einlässe bewirken.In most applications it is he wishes, epitaxial growth on a relatively large area of the substrate expand. This is usually achieved by moving the area over the substrate, for example, by providing means that have a relative movement between the substrate carrier and at least one of the inlets cause.

Ferner ist die Erfindung nicht beschränkt auf die Anordnung eines einzigen Bereichs auf einem einzigen Substrat. Beispielsweise können mehrere Zuführungsleitungen vorgesehen sein, um gleiche oder unterschiedliche Vorläufer auf dem Substrat zuzuführen, und die Leitungen und der Substratträger sind relativ zueinander beweglich, um die Leitungen auf die verschiedenen Bereiche auszurichten. Die Zuführungsleitungen können so angeordnet werden, dass die Vorläufer getrennt und nacheinander dem Bereich zugeführt werden.Furthermore, the invention is not limited to Arrangement of a single area on a single substrate. For example can several feed lines be provided to the same or different precursors to feed the substrate and the leads and substrate support are relative to each other movable to align the lines to the different areas. The supply lines can be arranged so that the precursors are separated and in sequence fed to the area become.

Einige Beispiele von Verfahren und Vorrichtungen gemäß der Erfindung werden nachstehend in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen beschrieben. In der Zeichnung zeigen:Some examples of procedures and Devices according to the invention are described below in conjunction with the accompanying drawings described. The drawing shows:

1 ist ein schematischer Querschnitt durch die Vorrichtung eines ersten Ausführungsbeispiels; 1 is a schematic cross section through the device of a first embodiment;

2 ist in größerem Maßstab gezeichnet eine Schnittansicht eines Teils der Vorrichtung gemäß 1; 2 is drawn to a larger scale a sectional view of a part of the device according to 1 ;

3 ist eine Ansicht eines Teils der Vorrichtung gemäß 1 von unten gesehen; 3 is a view of part of the device according to 1 seen from below;

4 ist eine schematische Schnittansicht einer Vorrichtung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel; 4 is a schematic sectional view of a device according to a second embodiment;

5 ist eine schematische Draufsicht des zweiten Ausführungsbeispiels; und 5 Fig. 3 is a schematic plan view of the second embodiment; and

6 ist eine schematische Grundrissansicht eines dritten Ausführungsbeispiels. 6 is a schematic plan view of a third embodiment.

Der Reaktor gemäß 1 weist eine Reaktionskammer 4 auf, in der ein Substratträger (Susceptor) 3 vorgesehen ist, der einen Substratsockel (Waferträger) 2 abstützt. In 1 ist ein Substrat (Wafer) 1 auf dem Substratsockel 2 angeordnet. Der Substratträger 3 kann ein Graphitblock sein, der in üblicher Weise, beispielsweise durch Induktion, durch Infrarotstrahlung oder durch Widerstandsheizverfahren, erhitzt wird.The reactor according to 1 has a reaction chamber 4 in which a substrate carrier (susceptor) 3 is provided which has a substrate base (wafer carrier) 2 supported. In 1 is a substrate (wafer) 1 on the substrate base 2 arranged. The substrate carrier 3 can be a graphite block which is heated in the usual way, for example by induction, by infrared radiation or by resistance heating methods.

In einer Seitenwand der Reaktionskammer 4 ist ein erster Einlass 6 vorgesehen, und innerhalb der Reaktionskammer befindet sich eine Gasablenkeinrichtung 7, um die Vorläufergase 5, die über den Einlass 6 eintreten, nach dem Wafer 1 zu richten.In a side wall of the reaction chamber 4 is a first entry 6 provided, and a gas deflector is located within the reaction chamber 7 to the precursor gases 5 that about the inlet 6 enter after the wafer 1 to judge.

Quer über die Reaktionskammer 4 erstreckt sich eine Injektorleitung 9, die in Form eines feuerfesten Rohres, beispielsweise aus Quarz, ausgebildet ist und einen Längsschlitz 10 besitzt, der eine Strahlöffnung bildet, die sich längs des Substratsockels 2 über dem Wafer erstreckt (vergleiche 2).Across the reaction chamber 4 extends an injector line 9 , which is in the form of a refractory tube, for example made of quartz, and a longitudinal slot 10 has, which forms a beam opening that extends along the substrate base 2 extends over the wafer (cf. 2 ).

Ein gerader Draht oder eine Spule 11 befindet sich innerhalb des Schlitzes 10, um ein Heizelement zu bilden.A straight wire or coil 11 is inside the slot 10 to form a heating element.

Bei der Benutzung wird ein Substrat 1 auf dem Substratsockel 2 angeordnet, und die Reaktionskammer 4 wird geschlossen, und dann wird der Druck innerhalb der Kammer in geeigneter Weise eingestellt, und zwar im typischen Fall in dem Bereich zwischen 0,7 und 130 kPa (5 bis 1000 torr). Im typischen Fall wird das Wafermaterial so gewählt, dass das epitaktische Wachstum des Materials begünstigt wird, und das Wafermaterial kann Saphir, GaN, GaAs, SiC oder ZnO umfassen.When using it becomes a substrate 1 on the substrate base 2 arranged, and the reaction chamber 4 is closed and then the pressure within the chamber is suitably adjusted, typically in the range between 0.7 and 130 kPa (5 to 1000 torr). Typically, the wafer material is chosen so that the epitaxial growth of the material favors and the wafer material can comprise sapphire, GaN, GaAs, SiC or ZnO.

Eines oder mehrere Vorläufergase 5 werden in die Kammer über den Einlass 6 eingeführt. Beispiele von reaktiven Gasen sind: Trimethylgallium (zur Ga-Ablagerung), Trimethylindium (zur Indium-Ablagerung) usw., je nach der erforderlichen Zusammensetzung der Ablagerungsschicht. Eine solche Mischung kann auch Vorläufer für Halbleiterdotierungen aufweisen. Ein Gas, wie z. B. Wasserstoff, wird der Mischung 5 außerdem zugesetzt, um die bei der Dissoziation des Vorläufers erzeugten Radikalen zu stabilisieren.One or more precursor gases 5 are in the chamber via the inlet 6 introduced. Examples of reactive gases are: trimethyl gallium (for Ga deposition), trimethyl indium (for indium deposition), etc., depending on the required composition of the deposition layer. Such a mixture can also have precursors for semiconductor doping. A gas such as B. hydrogen, the mixture 5 also added to stabilize the radicals generated upon dissociation of the precursor.

Der Substratträger 3 wird derart erhitzt, dass das Substrat 1 und der Substratsockel 2 ebenfalls erhitzt werden, weil sie sich in der Nähe des Substratträgers 3 befinden, und so wird das Substrat 1 auf eine geeignete Wachstumstemperatur erhitzt, d.h. auf eine Temperatur, bei der der Vorläufer 5, der durch den Einlass 6 eintritt, in der wirksamsten Weise aufbricht. Eine geeignete Temperatur für das Wachstum von GaN liegt im Bereich zwischen 600°C und 800°C.The substrate carrier 3 is heated such that the substrate 1 and the substrate base 2 also be heated because they are close to the substrate support 3 and so the substrate 1 heated to a suitable growth temperature, ie to a temperature at which the precursor 5 passing through the inlet 6 occurs in the most effective way. A suitable temperature for the growth of GaN is in the range between 600 ° C and 800 ° C.

Ein zweites Vorläufergas 8, in diesem Falle Ammoniak, wird über die Leitung 9 unter Druck zugeführt, so dass dieses Gas durch den Strahlschlitz 10 am Heizdraht 11 vorbei austritt. Der Draht 11 wird auf eine Temperatur, im typischen Fall im Bereich zwischen 400°C und 1800°C, erhitzt, d.h. auf eine Temperatur, die geeignet ist, um ein optimales Aufbrechen von Ammoniak zu bewirken, um N- und H-Radikale zu erzeugen. In 2 ist dargestellt, dass der Schlitz 10 relativ zur Normalen des Substrats 1 angestellt ist, so dass die durch den Einlass 6 eingeführten Gase veranlasst werden, unter der Leitung 9 vorbeizustreichen, wie dies durch den Pfeil 30 angegeben ist, und zwar als Ergebnis eines Venturi-Effektes.A second precursor gas 8th , in this case ammonia, is made via the line 9 fed under pressure so that this gas through the jet slot 10 on the heating wire 11 exits over. The wire 11 is heated to a temperature, typically in the range between 400 ° C and 1800 ° C, that is to say a temperature which is suitable for optimally breaking up ammonia in order to generate N and H radicals. In 2 it is shown that the slot 10 relative to the normal to the substrate 1 is hired so that through the inlet 6 imported gases are caused under the line 9 swipe like this by the arrow 30 is specified, as a result of a Venturi effect.

Das Vorläufergas 5 wird nach dem Erreichen des Substrats 1 in herkömmlicher Weise aufgebrochen, und die resultierenden Teile, beispielsweise die Ga-Atome, kombinieren sich mit Stickstoff-Radikalen des Gases 8, um ein epitaktisches Wachstum von Galliumnitrit auf dem auf dem Substrat 1 einzuleiten.The precursor gas 5 after reaching the substrate 1 broken up in a conventional manner, and the resulting parts, for example the Ga atoms, combine with nitrogen radicals of the gas 8th to an epitaxial growth of gallium nitrite on the on the substrate 1 initiate.

Der Draht 11 besteht vorzugsweise aus einem katalytischen Material, wie beispielsweise einer Platin-Rhodium-Legierung, und kann im Falle einer solchen Legierung auf eine Temperatur erhitzt werden, die im typischen Fall im Bereich zwischen 600°C und 700°C liegt. Dies kann durch elektrische Widerstandsheizung erreicht werden, wenn das Element die Form eines Heizdrahtes hat. Der Abstand zwischen dem Draht 11 und dem Substrat 1 ist klein, damit eine maximale Menge des aufgebrochenen Produktes des Vorläufers 8 mit der Vorläufermischung 5 an der Substratoberfläche reagiert. Diese optimale Entfernung wird auch durch die Strömungsrate der Mischung 5 beeinflusst. Typische Bedingungen für Ammoniak bei der Erzeugung von GaN ist ein Abstand von etwa 5 mm bei einer Strömungsgeschwindigkeit von 0,35 ms–1.The wire 11 is preferably made of a catalytic material, such as a platinum-rhodium alloy, and in the case of such an alloy can be heated to a temperature which is typically in the range between 600 ° C and 700 ° C. This can be achieved by electrical resistance heating if the element is in the form of a heating wire. The distance between the wire 11 and the substrate 1 is small, so a maximum amount of the broken product of the precursor 8th with the precursor mix 5 reacts on the substrate surface. This optimal distance is also determined by the flow rate of the mixture 5 affected. Typical conditions for ammonia in the generation of GaN is a distance of approximately 5 mm at a flow rate of 0.35 ms -1 .

Das Aufspritzen des zweiten Vorläufergases auf den Bereich des Substrates hat einen Vorteil insofern, als der Strahl als Gasabschirmung wirkt, die alles Vorläufergas 5 und dessen Zerlegungsprodukte wegfegt, die sich nicht auf dem Substrat abgelagert haben. Dies ermöglicht es den Stickstoff-Radikalen und den Wasserstoff-Radikalen, die Substratoberfläche in größeren Konzentrationen zu erreichen, da sie nicht mit dem Vorläufergas 5 oder dessen Zerlegungsprodukten vermischt sind, bevor sie die Substratoberfläche erreichen. Dieses Beispiel schafft daher die Möglichkeit, dass die Spezies eines jeden Vorläufers getrennt die Oberfläche des Substrates berühren.Spraying the second precursor gas onto the area of the substrate has an advantage in that the jet acts as a gas shield, which is all precursor gas 5 and sweeps away its decomposition products that have not deposited on the substrate. This enables the nitrogen radicals and the hydrogen radicals to reach the substrate surface in larger concentrations since they are not with the precursor gas 5 or whose decomposition products are mixed before they reach the substrate surface. This example therefore creates the possibility that the species of each precursor touch the surface of the substrate separately.

Um den Bereich des Wachstums einzustellen, wird der Substratsockel 2 beweglich auf dem Substratträger 3 gelagert, und er kann durch nicht dargestellte Mittel in den durch den Doppelkopfpfeil 31 angegebenen Richtungen unter der Leitung 9 bewegt werden. Diese Bewegung erlaubt es den Spezies aus jedem Vorläufer, getrennt die Substratoberfläche nacheinander in irgendeiner Ordnung zu erreichen, ohne dass eine Vermischung mit anderen Vorläufern oder den Zerlegungsspezies erfolgt.To adjust the area of growth, the substrate base 2 movable on the substrate carrier 3 stored, and he can by means not shown in the by the double-headed arrow 31 indicated directions under the line 9 be moved. This movement allows the species from each precursor to separately reach the substrate surface in any order, without mixing with other precursors or the decomposition species.

Dieses Verfahren kann wiederholt werden, um weitere Schichten auf dem Wafer abzulagern und um so einen Mehrschichtenwafer zu erzeugen, der Materialien unterschiedlicher Abmessungen, Dotierungen oder Zusammensetzungen enthält.This procedure can be repeated to deposit more layers on the wafer and so on to produce a multilayer wafer, the materials of different Contains dimensions, dopings or compositions.

Die Abgase treten schließlich durch einen Auslass 33 aus.The exhaust gases eventually pass through an outlet 33 out.

Eine Anwendung der Erfindung ist die Erzeugung von Mikrowelleneinrichtungen und von opto-elektronischen Einrichtungen. Diese Einrichtungen werden schichtweise mit unterschiedlichen Materialien hergestellt, die verschiedene elektrische Eigenschaften besitzen. Die Konfiguration dieser Schichten bestimmt, ob die Einrichtung für eine Mikrowellenemission oder eine Lichtemission vorgesehen ist, d. h. für einen Feldeffekttransistor oder für eine Leuchtdiode. Um eine optimale Durchführung zu erreichen, müssen die Schichten wachsen, womöglich mit der idealsten Temperatur. Diese Temperatur hängt ab vom Material und der herzustellenden Einrichtung. Der Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass die Wachstumstemperatur der Materialien nicht durch die Notwendigkeit kompromittiert, eine hohe Temperatur zum Aufbrechen des Voriäufermaterials, beispielsweise von Ammoniak, zu haben. Vorteilhafterweise schafft die Erfindung die Möglichkeit, Vorläufer zu benutzen, die sonst in der Gasphase nicht kompatibel wären, beispielsweise Dicyclopentadienylmagnesium, da diese sonst Niederdampfdruckaddukte mit Spezies der Gruppe V bilden würden, beispielsweise aus Ammoniak.One application of the invention is the production of microwave devices and opto-electronic Institutions. These facilities are layered with different ones Materials made that have different electrical properties have. The configuration of these layers determines whether the facility for one Microwave emission or light emission is provided, d. H. for one Field effect transistor or for one Led. To achieve an optimal implementation, the Layers grow, if possible with the most ideal temperature. This temperature depends on the material and the device to be manufactured. The advantage of the present invention is that the growth temperature of the materials is not compromised by the need to use a high temperature Breaking up the forerunner material, for example of ammonia. Advantageously creates the invention the possibility precursor use that would otherwise not be compatible in the gas phase, for example dicyclopentadienyl magnesium, since these would otherwise have low-vapor pressure adducts with Group V species would educate for example from ammonia.

Ein zweites Beispiel der vorliegenden Erfindung ist in 4 dargestellt. In diesem Fall besteht die Reaktionskammer 4' aus einer rohrförmigen äußeren Quarzzelle 60 mit kreisförmigem Querschnitt, die an einem Zellenblockende 61 befestigt ist. Innerhalb der äußeren Zelle 60 ist eine innere rohrförmige Zelle mit im Wesentlichen quadratischem Querschnitt angeordnet. Eine entnehmbare Molybden-Trägerplatte 66 sitzt innerhalb der inneren Zelle 65. Die Trägerplatte 66 erstreckt sich über die Basis der inneren Zelle 65. Der Substratträger 3 ist mit nicht dargestellten Heizmitteln ausgestattet, die auf der Trägerplatte 66 ruhen. Außerdem ist eine selbsttragende Gasablenkeinrichtung 7' auf der Trägerplatte 66 angeordnet. Eine Entlüftungsöffnung 67 für die Gase verläuft durch das Zellenblockende 61.A second example of the present invention is shown in 4 shown. In this case the reaction chamber exists 4 ' from a tubular outer quartz cell 60 with a circular cross-section at the end of a cell block 61 is attached. inner half of the outer cell 60 an inner tubular cell with a substantially square cross-section is arranged. A removable molybdenum base plate 66 sits inside the inner cell 65 , The carrier plate 66 extends across the base of the inner cell 65 , The substrate carrier 3 is equipped with heating means, not shown, on the carrier plate 66 rest. There is also a self-supporting gas deflector 7 ' on the carrier plate 66 arranged. A vent 67 for the gases runs through the end of the cell block 61 ,

Die Injektorleitung 9 tritt in die Zelle durch das Zellenblockende 61 ein, und im Gegensatz zu dem in 1 dargestellten Ausführungsbeispiel liegt dieses in einer Richtung etwa parallel zu jener der Hauptgasströmung (angedeutet durch einen Pfeil 68 in 4) und erstreckt sich nur über die Hälfte des Substrates 1. Ein langgestreckter Schlitz 10 und ein Heizelement 11 geeigneter Abmessungen bewirken eine Ablagerung in einem Bereich zwischen dem äußeren Rand und dem Zentrum des Substrates. In diesem Fall ist der Substratsockel 2 innerhalb einer Ausnehmung 70 angeordnet, die im Substratträger 3 vorhanden ist. Der Substratsockel selbst enthält ebenfalls eine Ausnehmung 71, in der das Substrat 1 bei der Ablagerung angeordnet ist. Die Abmessungen beider Ausnehmungen und des Substrates sind derart, dass die äußeren Oberflächen des Substrates 1 und des Substratträgers 2 im Wesentlichen mit dem Substratträger 3 fluchten. Der Substratträger ist auf einer Welle 75 montiert, die in die Zelle von unten her eintritt und durch Löcher im Substratträger 3 der Trägerplatte 66 und den Zellwänden 60, 65 verläuft. Die Zellwände 60, 65 sind mit geeigneten Gasdichtungen ausgestattet, um die Zelle leckdicht zu halten. Das untere Ende der Welle ist an einem Motor 80 oder einem anderen geeigneten Drehantrieb befestigt.The injector line 9 enters the cell through the end of the cell block 61 a, and contrary to that in 1 illustrated embodiment, this is in a direction approximately parallel to that of the main gas flow (indicated by an arrow 68 in 4 ) and only extends over half of the substrate 1 , An elongated slot 10 and a heating element 11 suitable dimensions cause deposition in a region between the outer edge and the center of the substrate. In this case, the substrate base 2 within a recess 70 arranged in the substrate carrier 3 is available. The substrate base itself also contains a recess 71 in which the substrate 1 is arranged at the deposit. The dimensions of both recesses and the substrate are such that the outer surfaces of the substrate 1 and the substrate support 2 essentially with the substrate support 3 aligned. The substrate carrier is on a shaft 75 mounted, which enters the cell from below and through holes in the substrate carrier 3 the carrier plate 66 and the cell walls 60 . 65 runs. The cell walls 60 . 65 are equipped with suitable gas seals to keep the cell leak-tight. The lower end of the shaft is on a motor 80 or another suitable rotary drive.

Im Betrieb wird sowohl die äußere als auch die innere Zelle evakuiert, um das Druckdifferential über den inneren Zellwänden 65 zu verringern. Wie bei dem vorher beschriebenen Ausführungsbeispiel tritt ein Vorläufergas oder es treten mehrere Vorläufergase in die inneren Zellen vom Einlass auf der rechten Seite gemäß der Zeichnung (nicht dargestellt) ein. Die Ablagerung des Materials erfolgt in ähnlicher Weise. Hierbei verursacht jedoch die Drehung der Welle 75 durch den Motor (durch den Pfeil 76 in 4 dargestellt) eine relative Drehbewegung statt eine hin- und hergehende Bewegung gegenüber der Injektorleitung.In operation, both the outer and inner cells are evacuated to the pressure differential across the inner cell walls 65 to reduce. As in the previously described embodiment, one or more precursor gases enter the inner cells from the inlet on the right side as shown in the drawing (not shown). The material is deposited in a similar manner. However, this causes the shaft to rotate 75 by the engine (by the arrow 76 in 4 shown) a relative rotary movement instead of a reciprocating movement with respect to the injector line.

Bei diesem Beispiel sind Injektorleitung 9 und Welle 75 von der Vorrichtung abnehmbar, so dass die Trägerplatte 66, die Gasablenkeinrichtung 7' und der Substratträgeraufbau durch Gleiten entfernt werden können.In this example there are injector lines 9 and wave 75 detachable from the device so that the support plate 66 , the gas deflector 7 ' and the substrate support structure can be removed by sliding.

5 zeigt eine Vorrichtung zum Wachsen von Materialien auf mehreren Substraten 17, die auf einem erhitzten Susceptor 18 in einer nicht dargestellten Kammer angeordnet sind. Eine Leitung oder beide Leitungen 19 und der Susceptor 18 sind drehbar. Schichten aus einem Halbleitersubstrat können nacheinander unter Benutzung mehrerer Vorläuferzuführungsleitungen 19 entsprechend der Leitung 9 abgelagert werden, die vom Zentrum des Susceuptors radial verlaufen. Gemäß einem Ausführungsbeispiel sind die Zuführungsleitungen wie dargestellt derart gruppiert, dass sie Vorläufer für beide Reaktionsspezies gleichzeitig in einem einzigen Bereich zusammenführen. Die Substrate 17 werden aufeinanderfolgend in unmittelbarer Nähe der Zuführungsleitungen 19 durch Relativbewegung zwischen Leitungen 19 und Substraten 17 gebracht. In diesem Fall wird Wasserstoff, Stickstoff, Argon oder ein anderes geeignetes Reinigungsgas dem System in der Mitte des Substratträgers eingeführt, das radial nach außen strömt, statt direkt mit einem der Vorläufer zugeführt zu werden. Diese Strömung fegt die verbrauchten Reaktionsprodukte weg. 5 shows an apparatus for growing materials on multiple substrates 17 on a heated susceptor 18 are arranged in a chamber, not shown. One line or both lines 19 and the susceptor 18 are rotatable. Layers of a semiconductor substrate can be processed in succession using multiple precursor feed lines 19 according to the line 9 are deposited, which run radially from the center of the susceuptor. According to one embodiment, the feed lines are grouped as shown such that they combine precursors for both reaction species simultaneously in a single area. The substrates 17 are successively in the immediate vicinity of the feed lines 19 by relative movement between lines 19 and substrates 17 brought. In this case, hydrogen, nitrogen, argon or another suitable cleaning gas is introduced into the system in the middle of the substrate carrier, which flows radially outwards instead of being supplied directly with one of the precursors. This flow sweeps away the consumed reaction products.

Gemäß einem abgewandelten Ausführungsbeispiel nach 6 führen Leitungen 19a und 19b individuell Vorläufer nacheinander dem Wachstumsbereich zu und eine schnelle Relativbewegung zwischen jedem Substrat und jeder Vorläuferleitung gewährleistet, dass nur eine kurze Zeit zwischen der Ausgabe der Spezies verläuft. Die Wirksamkeit des Ablagerungsprozesses wird daher verbessert, da in jedem Falle die Spezies von den Vorläufern das Substrat erreichen können, ohne mit den Spezies der anderen Vorläufer oder mit den Vorläufern selbst zu reagieren.According to a modified embodiment 6 lead lines 19a and 19b individually precursors to the growth area one after the other and a rapid relative movement between each substrate and each precursor line ensures that there is only a short time between the release of the species. The effectiveness of the deposition process is therefore improved, since in any case the species from the precursors can reach the substrate without reacting with the species of the other precursors or with the precursors themselves.

Die Leitungen 19a und 19b führen die Vorläufer vom Umfang eines ringförmigen Susceptors zu. Die Substrate sind in Umfangsrichtung über die Oberfläche des kreisförmigem Susceptors angeordnet. Es ist klar, dass eine oder mehrere der Leitungen mit Mitteln ausgestattet sind, um einen oder mehrere der zugeführten Vorläufer zu zerlegen.The lines 19a and 19b lead the forerunners from the circumference of an annular susceptor. The substrates are arranged in the circumferential direction over the surface of the circular susceptor. It is clear that one or more of the lines are provided with means to disassemble one or more of the supplied precursors.

Bei diesem Beispiel ist jede Leitung mit Heizdrähten ausgestattet, um die getrennten Vorläufer mit ihrer jeweiligen Temperatur zu zerlegen. Die Leitungen 19a führen einen Vorläufer der Gruppe V, nämlich Ammoniak, zu und die Leitungen 19b führen einen Vorläufer der Gruppe III, nämlich Trimethylgallium, zu. Die Substrate 17 werden ebenfalls durch Verfahren erhitzt, die denen der vorherigen Beispiele entsprechen, und die Erhitzung gewährleistet die Gleichförmigkeit der abgelagerten Materialien.In this example, each line is equipped with heating wires to disassemble the separate precursors at their respective temperatures. The lines 19a lead to a precursor of group V, namely ammonia, and the lines 19b lead to a precursor of group III, namely trimethyl gallium. The substrates 17 are also heated by methods similar to those of the previous examples, and the heating ensures the uniformity of the deposited materials.

Diese Anordnung ist insbesondere vorteilhaft insofern, als die Vorrichtung eingerichtet werden kann zur Herstellung von Einrichtungen in großen Mengen, ohne die Gasströmung oder die Chemie in der Nähe eines jeden Substrates zu ändern. Dies kann erreicht werden, indem der Radius des kreisförmigen Susceptors 18 vergrößert wird, wodurch die Möglichkeit geschaffen wird, dass mehrere Substrate um den Umfang herum angeordnet werden können, und zwar zusammen mit mehreren Leitungen 19a und 19b, wie dies jeweils zweckmäßig erscheint. Außerdem können Substrate unterschiedlicher Größen benutzt werden.This arrangement is particularly advantageous in that the device can be set up to manufacture devices in large quantities without changing the gas flow or chemistry in the vicinity of each substrate. This can be done by changing the radius of the circular susceptor 18 is increased, thereby creating the possibility that multiple substrates can be arranged around the circumference, together with multiple lines 19a and 19b how this seems appropriate in each case. In addition, substrates of different sizes can be used.

Obgleich in 6 nicht dargestellt, kann eine radiale Wasserstoffströmung bei diesem Beispiel zugeführt werden. Stattdessen können andere Gase, wie Stickstoff oder Argon, benutzt werden.Although in 6 Not shown, a radial flow of hydrogen can be supplied in this example. Instead, other gases such as nitrogen or argon can be used.

Claims (27)

Verfahren zum epitaktischen Wachsen eines Materials auf einem Substrat (1), bei welchem Vorläufer (5, 8), von denen wenigstens zwei unterschiedliche Zerlegungstemperaturen aufweisen, getrennt auf ihre jeweilige Zerlegungstemperatur in einem Bereich des Substrates oder in der Nähe hiervon erhitzt werden, um Spezies zu erzeugen, die getrennt aufeinanderfolgend dem Bereich zugeführt werden und die in dem Bereich kombiniert werden.Method for epitaxially growing a material on a substrate ( 1 ) with which forerunner ( 5 . 8th ), at least two of which have different decomposition temperatures, separately heated to their respective decomposition temperatures in or near an area of the substrate to produce species which are separately sequentially fed to the area and which are combined in the area. Verfahren nach den Ansprüchen 1 oder 2, bei welchem die Spezies getrennt dem Bereich durch Relativbewegung des Substrates zugeführt werden, um eine Bewegung des Bereiches gegenüber jenen Stellen zu bewirken, an denen die Zerlegung der Vorläufer auftritt.A method according to claims 1 or 2, in which the species separated the area by relative movement of the substrate supplied to cause the area to move relative to those locations on which the decomposition of the forerunners occurs. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem wenigstens ein Vorläufer getrennt dem Bereich als Gasstrom zugeführt wird.Method according to one of the preceding claims, which separated at least one precursor supplied to the area as a gas stream becomes. Verfahren nach Anspruch 3, bei welchem der Gasstrom so angeordnet wird, dass er eine Gasabschirmung bewirkt, um Vorläufer oder Zerlegungsprodukte abzuführen, die nicht an dem Substrat anhaften.The method of claim 3, wherein the gas stream arranged to provide gas shielding to precursors or To dissect cutting products, that do not adhere to the substrate. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem die Spezies aus der Gruppe III und der Gruppe V des periodischen Systems der Elemente ausgewählt sind.Method according to one of the preceding claims, which is the species from group III and group V of the periodic System of elements selected are. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei welchem die Spezies aus der Gruppe IV der Elemente ausgewählt sind.Method according to one of claims 1 to 4, wherein the Species are selected from Group IV of the elements. Verfahren nach Anspruch 5, bei welchem die Spezies Gallium und Stickstoff sind.The method of claim 5, wherein the species Are gallium and nitrogen. Verfahren nach Anspruch 6, bei welchem die Spezies Kohlenstoff und Silizium sind.The method of claim 6, wherein the species Are carbon and silicon. Verfahren nach Anspruch 7, bei welchem einer der Vorläufer Ammoniak ist.The method of claim 7, wherein one of the precursor Is ammonia. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem das Substrat ein Halbleiter, beispielsweise Gallium-Arsenid, ist.Method according to one of the preceding claims, which the substrate is a semiconductor, for example gallium arsenide, is. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem das Substrat ein Halbleiter, beispielsweise Silizium-Karbid, ist.Method according to one of the preceding claims, which the substrate is a semiconductor, for example silicon carbide, is. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem einer der Vorläufer auf seine Zerlegungstemperatur durch Erhitzung des Substrats aufgeheizt wird.Method according to one of the preceding claims, which one of the forerunners heated to its decomposition temperature by heating the substrate becomes. Verfahren nach Anspruch 12, bei welchem das Substrat auf die Zerlegungstemperatur des Vorläufers mit der niedrigeren Zerlegungstemperatur aufgeheizt wird.The method of claim 12, wherein the substrate heated to the decomposition temperature of the precursor with the lower decomposition temperature becomes. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, bei welcher das Substrat auf eine Temperatur zwischen 550 und 800°C aufgeheizt wird.The method of claim 12 or 13, wherein the substrate is heated to a temperature between 550 and 800 ° C becomes. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem einer der Vorläufer auf seine Zerlegungstemperatur an einer Stelle benachbart zu dem Bereich aufgeheizt wird.Method according to one of the preceding claims, which one of the forerunners to its decomposition temperature at a location adjacent to that Area is heated. Verfahren nach Anspruch 15, bei welchem der Vorläufer auf eine Temperatur im Bereich zwischen 400 und 1800°C aufgeheizt wird.The method of claim 15, wherein the precursor is a temperature in the range between 400 and 1800 ° C is heated. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem der Bereich über dem Substrat bewegt wird.Method according to one of the preceding claims, which the area over the substrate is moved. Vorrichtung zum epitaktischen Wachsen eines Materials auf einem Substrat (1) mit einer Kammer (4), die einen Substratsockel (2) aufweist und einen ersten Einlass (6) besitzt, um einen ersten Vorläufer (5) zuzuführen, und die einen zweiten Einlass (9) besitzt, der von dem ersten Einlass getrennt ist und einen zweiten Vorläufer (8) zuführt, wobei erster und zweiter Vorläufer unterschiedliche Zerlegungstemperaturen aufweisen, wobei erste und zweite Heizeinrichtungen vorgesehen sind, um getrennt den ersten und zweiten Vorläufer auf ihre jeweilige Zerlegungstemperatur auf einem Bereich des Substrates oder in der Nähe hiervon aufzuheizen, um Spezies zu erzeugen, die getrennt dem Bereich zugeführt werden, und wobei Mittel vorgesehen sind, um die Spezies in Kombination dem Bereich zuzuführen, und wobei die Mittel zum aufeinanderfolgenden Zuführen der Spezies außerdem Mittel aufweisen, die eine Relativbewegung zwischen dem Substratsockel und wenigstens einem der Einlässe bewirken.Device for epitaxially growing a material on a substrate ( 1 ) with one chamber ( 4 ) that have a substrate base ( 2 ) and has a first inlet ( 6 ) has a first precursor ( 5 ) and the second inlet ( 9 ), which is separate from the first inlet and a second precursor ( 8th ), wherein the first and second precursors have different decomposition temperatures, with first and second heaters being provided to separately heat the first and second precursors to their respective decomposition temperatures on or near a region of the substrate to produce species that separate are supplied to the region, and wherein means are provided to deliver the species in combination to the region, and wherein the means for sequentially supplying the species further include means that cause relative movement between the substrate base and at least one of the inlets. Vorrichtung nach Anspruch 18, bei welcher der zweite Einlass in einer Zuführungsleitung vorgesehen ist, die benachbart zum Substratsockel liegt.The apparatus of claim 18, wherein the second Inlet in a supply line is provided, which is adjacent to the substrate base. Vorrichtung nach Anspruch 19, bei welcher der zweite Einlass die Gestalt eines langgestreckten Schlitzes hat.The apparatus of claim 19, wherein the second Inlet has the shape of an elongated slot. Vorrichtung nach den Ansprüchen 19 oder 20, bei welcher die zweiten Heizmittel in dem Schlitz oder benachbart hierzu angeordnet ist.Apparatus according to claims 19 or 20, in which the second heating means are arranged in or adjacent to the slot is. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 21, bei welcher die zweiten Heizmittel die Gestalt eines Heizdrahtes haben.Device according to one of claims 18 to 21, wherein the second heating means are in the form of a heating wire. Vorrichtung nach Anspruch 22, bei welcher der Heizdraht aus einem katalytischen Material besteht.The apparatus of claim 22, wherein the heating wire consists of a catalytic material. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 bis 23, bei welcher die ersten Heizmittel an einer Stelle angeordnet sind, in der der Substratsockel aufgeheizt wird.Device according to one of claims 18 to 23, wherein the first heating means are arranged at a point in which the Substrate base is heated. Vorrichtung nach Anspruch 18, bei welcher eine Vielzahl von Zuführungsleitungen vorgesehen ist, um gleiche oder unterschiedliche Vorläufer nach Bereichen des Substrates zuzuführen, wobei die Leitungen und der Substratsockel relativ zueinander beweglich sind, um die Leitungen auf unterschiedliche Bereiche auszurichten.The apparatus of claim 18, wherein a plurality of supply lines is provided to same or different precursors by area to feed the substrate, the lines and the substrate base being movable relative to one another to align the lines to different areas. Vorrichtung nach Anspruch 18, bei welcher die Mittel zum aufeinanderfolgenden Zuführen der Spezies so ausgebildet sind, dass eine Relativbewegung zwischen dem Substratsockel und wenigstens einem der Einlässe in Querrichtung bewirkt wird.The apparatus of claim 18, wherein the means for consecutive feeding of the species are designed so that a relative movement between causes the substrate base and at least one of the inlets in the transverse direction becomes. Vorrichtung nach Anspruch 18, bei welcher die Mittel zur aufeinanderfolgenden Zuführung der Spezies derart ausgebildet sind, dass eine Relativbewegung zwischen dem Substratsockel und wenigstens einem der Einlässe in Drehrichtung bewirkt wird.The apparatus of claim 18, wherein the means for successive feeding of the species are designed in such a way that a relative movement between causes the substrate base and at least one of the inlets in the direction of rotation becomes.
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