DE4423802A1 - Optischer Sensor zur Indikatrizenerfassung - Google Patents
Optischer Sensor zur IndikatrizenerfassungInfo
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- DE4423802A1 DE4423802A1 DE19944423802 DE4423802A DE4423802A1 DE 4423802 A1 DE4423802 A1 DE 4423802A1 DE 19944423802 DE19944423802 DE 19944423802 DE 4423802 A DE4423802 A DE 4423802A DE 4423802 A1 DE4423802 A1 DE 4423802A1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/08—Catadioptric systems
- G02B17/0856—Catadioptric systems comprising a refractive element with a reflective surface, the reflection taking place inside the element, e.g. Mangin mirrors
- G02B17/086—Catadioptric systems comprising a refractive element with a reflective surface, the reflection taking place inside the element, e.g. Mangin mirrors wherein the system is made of a single block of optical material, e.g. solid catadioptric systems
-
- G—PHYSICS
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/02—Simple or compound lenses with non-spherical faces
- G02B3/04—Simple or compound lenses with non-spherical faces with continuous faces that are rotationally symmetrical but deviate from a true sphere, e.g. so called "aspheric" lenses
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen optischen Sensor zur Indikatrizenvermessung, der mit einem
ortsauflösenden elektrooptischen Wandler den von einem Punkte in einen großen Raumwinkel
abgestrahlten Strahlungsfluß erfaßt und nach Azimut und Höhe bestimmen kann. Der Sensor
kann den gesamten Halbraum erfassen. Die Speziallinse verfügt über mehrere Brennweiten und
transformiert das vom Untersuchungspunkt ausgehende Strahlenbündel in ein Parallelbündel,
welches auf den planar ausgeführten elektrooptischen Wandler fällt. Jedes Pixel des elek
trooptischen Wandlers erfaßt somit einen definierten Punkt des Halbraumes, in den der Unter
suchungsgegenstand Strahlung abgibt.
Der übliche Weg zur Vermessung zweidimensionaler Indikatrizen ist das mechanische Abfahren
des Halbraumes durch einen elektrooptischen Wandler mit einer Goniometeranordnung (vgl.
J.M. Bennett and L. Mattson: Introduction to surface roughness and scattering, Optical Society
of America, Washington D.C., 1989). Diese sehr genaue Meßmethode erfordert einen hohen
mechanischen Aufwand zur Realisierung der Meßbewegungen. Die zweidimensionale Indikatrix
kann in einer sehr dichten Folge von Meßwerten aufgenommen werden. Der Zeitaufwand für
eine vollständige Indikatrix beträgt mehrere Stunden.
Für insitu-Prüfaufgaben reichen oft erheblich weniger Meßpunkte aus. Für solche Aufgaben
sind Fasermeßköpfe entwickelt worden. Hier nimmt eine Halbkugel die Faserenden auf. Die
geforderte Winkelauflösung und der gegebene Faserdurchmesser legt den Halbkugeldurchmesser
und damit die Grenzen der Miniaturisierbarkeit fest. Die Fasern müssen einzeln gefaßt,
positioniert und an einen elektrooptischen Wandler angeschlossen werden. Diese Anordnung
erlaubt eine schnelle Meßwerterfassung, erfordert aber erheblichen Aufwand bei der Fasermon
tage. Außerdem müssen die einzelnen Fasern vor mechanischen Belastungen geschützt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Indikatrizen zweidimensional in situ unter ver
schiedensten Umweltbedingungen zu messen. Die Nachteile der Faserankopplung sollten
umgangen und der Vorteil der schnellen Meßwertverfügbarkeit in ortsauflösenden elektroopti
schen Wandlern genutzt werden.
Erfindungsgemäß wird dieses Ziel durch eine Speziallinse erreicht, welche den Strahlungstrans
port vom Prüfling zu einer planaren Empfängerarchitektur übernimmt.
Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes ist in der Zeichnung dargestellt und wird
im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Fig. 1 zeigt einen Halbschnitt durch einen
erfindungsgemäßen Sensor zur Indikatrizenerfassung. Der Sensor zur Indikatrizenerfassung
besteht aus der Speziallinse (L) und dem ortsauflösenden elektrooptischen Wandler (W). Die
strahlungsempfindliche Seite des Wandlers ist der Speziallinse zugewandt. Der Untersuchungs
gegenstand (S) befindet sich auf der optischen Achse (O) der Speziallinse (L). Das dargestellte
Ausführungsbeispiel erfaßt den vom Untersuchungsgegenstand in den gesamten Halbraum
abgestrahlten Strahlungsfluß durch zwei unterschiedliche Zonen. Für den Winkelbereich
0 α < αg (α Winkel des von S ausgehenden Strahles bzgl. der optischen Achse) werden die
Strahlen zunächst an einer Planfläche (PL) und dann einer Rotationsasphäre (AS) gebrochen.
Beide Flächen sind so aufeinander abgestimmt, daß die von (S) ausgehenden Strahlen in eine
Parallelbündel transformiert werden. Für den Winkelbereich αg < α 90° erfolgt der Eintritt
in den Linsenkörper über die zu (S) konzentrische Fläche (KZ), so daß hier keine Strahl
ablenkung zustande kommt. Die Ablenkung in die zur optischen Achse parallele Richtung
erfolgt durch Totalreflexion an der Paraboloidfläche (PA). Die plane Austrittsfläche (A2)
erzeugt ebenfalls keine Strahlablenkung.
Die Speziallinse (L) kann, um eine einfache und kostengünstige Herstellbarkeit zu gewähr
leisten, aus Kunststoff gefertigt sein. Ihre Dimensionen sind hier nur beispielhaft gewählt.
Insbesondere können der Winkel αg, die Form der Asphäre (AS) und der Abstand der Plan
fläche (PL) vom Scheitelpunkt der Asphäre (AS) die äußere Form der Speziallinse (L) stark
verändern. Die lückenlose Erfassung von Winkeln 0 α 90° ohne Überdeckung ist durch
geeignete Dimensionierung möglich. Die Zuordnung des Winkels α zur Strahlhöhe bzgl. der
optischen Achse auf dem elektrooptischen Wandler ist nicht ganz linear. Bei αg wird aus der
monoton steigenden Funktion eine monoton fallende.
Wird die Speziallinse (L) mit einem elektrooptischen Wandler (W) kombiniert, dessen Pixel
anordnung rotationssymmetrisch zur optischen Achse (O) ist, ergeben sich einfache Ausleseal
gorithmen zur schnellen Darstellung der zweidimensionalen Indikatrix.
Die angegebene Anordnung zeichnet sich durch ihre Robustheit aus.
Bezugszeichenliste
A1 Außenseite Prüfling
A2 Außenseite elektrooptischer Wandler
AS Rotationsasphäre
KZ konzentrische Fläche
L Speziallinse
PA Rotationsparaboloid
PL Planfläche
S Probenlage
W ortsauflösender elektrooptischer Wandler
A2 Außenseite elektrooptischer Wandler
AS Rotationsasphäre
KZ konzentrische Fläche
L Speziallinse
PA Rotationsparaboloid
PL Planfläche
S Probenlage
W ortsauflösender elektrooptischer Wandler
Claims (3)
1. Speziallinse für die Ablenkung des von einem Punkt auf der Symmetrieachse in einen
Raumwinkel von ca. 2π Steradiant strahlenden Bündels in ein Achsparallelbündel,
dadurch gekennzeichnet, daß die Speziallinse aus glatten Flächen besteht, die sowohl
Brechung als auch Reflexion zur Strahlablenkung nutzt und für unterschiedliche Ab
strahlwinkelbereiche verschiedene Brennweiten hat.
2. Speziallinse nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie in Verbindung mit einer
geeigneten Einkoppeloptik gleichzeitig zur Auflichtbeleuchtung einer Probe genutzt wird
und eine Reflexionsindikatrix meßbar macht.
3. Speziallinse nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Öffnungsfehler
für beide Erfassungsgebiete vermieden wird, indem einerseits die reflektierende Fläche
PA als Paraboloid und die dazugehörige Eintrittsfläche KZ konzentrisch zum Aus
sendpunkt ausgeführt wird und andererseits die innere Eintrittsfläche PL plan und die
dem Wandler zugewandte Fläche als Rotationsasphäre AS ausgeführt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944423802 DE4423802A1 (de) | 1994-07-01 | 1994-07-01 | Optischer Sensor zur Indikatrizenerfassung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944423802 DE4423802A1 (de) | 1994-07-01 | 1994-07-01 | Optischer Sensor zur Indikatrizenerfassung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4423802A1 true DE4423802A1 (de) | 1996-01-04 |
Family
ID=6522460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944423802 Withdrawn DE4423802A1 (de) | 1994-07-01 | 1994-07-01 | Optischer Sensor zur Indikatrizenerfassung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4423802A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19914279C1 (de) * | 1999-03-25 | 2000-09-07 | Jena Optronik Gmbh | Anordnung zum optischen Auslesen der Information von einem matrixförmigen Substrat mit einer Vielzahl von Einzelproben |
WO2002052354A2 (de) * | 2000-12-22 | 2002-07-04 | Xetos Ag | Optisches system |
US7443500B2 (en) | 2003-07-09 | 2008-10-28 | Carl Zeiss Smt Ag | Apparatus for scattered light inspection of optical elements |
DE102009005552A1 (de) | 2009-01-20 | 2010-07-29 | Odelo Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung der Radialsymmetrie der Abstrahlung seitlich emittierender Leuchtdioden (LEDs) |
-
1994
- 1994-07-01 DE DE19944423802 patent/DE4423802A1/de not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19914279C1 (de) * | 1999-03-25 | 2000-09-07 | Jena Optronik Gmbh | Anordnung zum optischen Auslesen der Information von einem matrixförmigen Substrat mit einer Vielzahl von Einzelproben |
US6542241B1 (en) | 1999-03-25 | 2003-04-01 | Jena-Optronik Gmbh | Arrangement for optically reading out the information from substrates having a multiplicity of individual samples |
WO2002052354A2 (de) * | 2000-12-22 | 2002-07-04 | Xetos Ag | Optisches system |
WO2002052354A3 (de) * | 2000-12-22 | 2003-03-13 | Xetos Ag | Optisches system |
US7443500B2 (en) | 2003-07-09 | 2008-10-28 | Carl Zeiss Smt Ag | Apparatus for scattered light inspection of optical elements |
DE102009005552A1 (de) | 2009-01-20 | 2010-07-29 | Odelo Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung der Radialsymmetrie der Abstrahlung seitlich emittierender Leuchtdioden (LEDs) |
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