DE4317285C2 - Kapazitive Meßsonde für die berührungslose Abstastung von Werkstückoberflächen - Google Patents
Kapazitive Meßsonde für die berührungslose Abstastung von WerkstückoberflächenInfo
- Publication number
- DE4317285C2 DE4317285C2 DE4317285A DE4317285A DE4317285C2 DE 4317285 C2 DE4317285 C2 DE 4317285C2 DE 4317285 A DE4317285 A DE 4317285A DE 4317285 A DE4317285 A DE 4317285A DE 4317285 C2 DE4317285 C2 DE 4317285C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- measuring probe
- probe according
- tip
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 86
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 3
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 2
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 2
- UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N tungsten carbide Chemical compound [W+]#[C-] UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000010678 Paulownia tomentosa Nutrition 0.000 description 1
- 240000002834 Paulownia tomentosa Species 0.000 description 1
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001502 supplementing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine berührungslos arbeitende kapazi
tive Meßsonde mit einer elektrisch leitfähigen kugelförmigen
Meßspitze und einem hohlen Schaft, an dessen einem Ende die
Meßspitze angeordnet ist und in dem ein Draht koaxial ange
ordnet ist, der elektrisch mit der kugelförmigen Meßspitze
verbunden ist und mit Spannungserzeugungseinrichtungen zum
Erzeugen einer Spannung zwischen der Meßspitze und einem von
dieser zu erfassenden Gegenstand.
Eine derartige kapazitive Meßsonde ist aus der WO 92/04593
bekannt. Die bekannte Meßsonde arbeitet mit einer Gleichspan
nung, wobei zur Unterdrückung des Einflusses von Streukapazi
täten auf das Meßergebnis eine Hilfssonde vorgesehen ist. Die
Möglichkeit der Erzeugung einer zweiten Wechselspannung zwi
schen dem hohlen Schaft und dem zu erfassenden Gegenstand
kann der zitierten Druckschrift jedoch nicht entnommen wer
den. Eine ähnliche berührungslos arbeitende kapazitive Meß
sonde ist ferner in der US-PS 48 16 744 beschrieben.
Allgemein gehören rechnergesteuerte Koordinatenmeßmaschinen
inzwischen zur Standardausrüstung bei der Fertigung von Prä
zisionsteilen und in Forschungslabors. Derartige Koordina
tenmeßmaschinen steuern eine Meßsonde in einem Koordinaten
meßsystem zur Gewinnung von Informationen über die Abmessun
gen eines Werkstücks oder dgl.
Derzeit sind mehrere verschiedene Typen von Meßsonden erhält
lich. In Systemen mit Meßsonden mit mechanischen Schaltern
wird die Meßsonde in Kontakt mit dem Werkstück oder dgl. ge
bracht, bis ein Schalter in der Sonde geöffnet oder geschlos
sen wird. Der Rechner der Koordinatenmeßmaschine gewinnt die
Information über die zu bestimmenden Abmessungen aufgrund der
Aktivierung des Schalters.
Derartige mechanische Meßsonden, die in Kontakt mit dem zu
erfassenden Gegenstand gebracht werden müssen, haben einige
Nachteile. Typischerweise werden Kontaktkräfte benötigt, die
größer sind als 0,1 N, so daß derartige mechanische Meßsonden
beispielsweise zur Durchführung von Messungen an Silicium
strukturen ungeeignet sind, welche nicht zerstörungsfrei be
rührt werden können.
Anstelle der mechanischen Meßsonden können auch kontaktlos
arbeitende Meßsonden der eingangs beschriebenen Art verwendet
werden. Ein weiterer Typ einer solchen kontaktlos arbeitenden
Meßsonde ist beispielsweise von McRae in dem Artikel "Anwen
dung einer kapazitiven Abtastung zur berührungslosen Bestim
mung von Abmessungen" in der GB-Zeitschrift "SENSORS",
Oktober 1988, Seiten 13 bis 20, beschrieben. Der Artikel be
schreibt die Verwendung eines flachen plattenförmigen Sen
sors, welcher in Verbindung mit einer benachbarten Zielplat
te, beispielsweise einem Werkstück, einen Kondensator mit
parallelen Platten bildet. Die Kapazität dieses parallele
Platten aufweisenden Kondensators ist dabei umgekehrt pro
portional zum Abstand zwischen dem Sensor und der Zielplatte;
es gilt also
C = K/d,
wobei C = Kapazität;
K = eine Konstante und
d = Abstand zwischen Sensor und Zielplatte
sind.
K = eine Konstante und
d = Abstand zwischen Sensor und Zielplatte
sind.
Kapazitive Meßsonden, die auf dem Prinzip der parallelen Kon
densatorplatten basieren, haben verschiedene Nachteile. Sie
müssen exakt parallel zu der Zielplatte bzw. der Werkstück
oberfläche ausgerichtet werden, damit die kapazitiv wirksame
Plattenfläche relativ konstant bleibt. Zusätzlich gestattet
die nur in einer Richtung wirksame kapazitive Charakteristik
der parallelen Sondenplatte nur Positionsmessungen längs
einer einzige Koordinatenachse, nämlich senkrecht zu der fla
chen Meßsondenplatte.
Ausgehend vom Stand der Technik und der vorstehend aufgezeig
ten Problematik, liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde,
eine gattungsgemäße kapazitive Meßsonde dahingehend zu ver
bessern, daß eine richtungsunabhängige, von Streukapazitäten
nicht beeinflußte Bestimmung von Abständen bzw. Abmessungen
eines zu erfassenden Gegenstandes mit einer einfachen Meß
sonde ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird durch eine gattungsgemäße, berührungslos
arbeitende kapazitive Meßsonde gelöst, die dadurch gekenn
zeichnet ist, daß die Spannungserzeugungseinrichtungen eine
erste Spannungsquelle zum Erzeugen einer Wechselspannung
zwischen der Meßspitze und dem zu erfassenden Gegenstand
sowie eine zweite Spannungsquelle umfassen, mit deren Hilfe
eine zweite Wechselspannung zwischen dem hohlen Schaft und
dem zu erfassenden Gegenstand erzeugbar ist und daß die bei
den von den Spannungserzeugungseinrichtungen erzeugten Wech
selspannungen zur Verringerung des Einflusses einer Streu
kapazität auf die mit der Sonde erhaltenen Meßergebnisse im
wesentlichen phasen- und amplitudengleich sind.
Es ist ein besonderer Vorteil der erfindungsgemäßen kapaziti
ven Meßsonde, daß sie richtungsunabhängig arbeitet und daß
die Meßergebnisse nicht durch Streukapazitäten verfälscht
werden.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
abhängiger Ansprüche.
Die Erfindung wird nachstehend anhand bevorzugter Ausfüh
rungsbeispiele in Verbindung mit Zeichnungen noch näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung einer bevor
zugten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Meßsonde, teilweise im Schnitt;
Fig. 2 einen Querschnitt durch die Abtastspitze einer
bevorzugten Meßsonde gemäß der Erfindung;
Fig. 2A eine schematische Darstellung einer weiteren
abgewandelten Meßsonde gemäß der Erfindung,
teilweise aufgebrochen bzw. im Schnitt;
Fig. 3 eine Seitenansicht der Meßsonde gemäß Fig. 1,
teilweise aufgebrochen bzw. im Schnitt;
Fig. 4 eine perspektivische Darstellung einer Vor
richtung zum Prüfen und Kalibrieren der Meß
sonde gemäß Fig. 1;
Fig. 5 eine grafische Darstellung von mit Hilfe der
Vorrichtung gemäß Fig. 4 erhaltenen Meßergeb
nissen für zwei unterschiedliche Orientierun
gen der Meßsonde;
Fig. 5A eine grafische Darstellung der Meßcharakteri
stik einer erfindungsgemäßen Meßsonde bei
kleinen Abständen im logarithmischen Maßstab;
Fig. 6 eine grafische Darstellung zur Erläuterung der
Zunahme der kapazitiv wirksamen Sondenfläche
bei Annäherung der Sonde gemäß Fig. 1 an einen
Gegenstand;
Fig. 7 eine grafische Darstellung zur Erläuterung des
Einflusses einer Seitenwand auf mit der Sonde
erhaltene Meßergebnisse, und
Fig. 8 eine erfindungsgemäße Meßsonde gemäß Fig. 1 in
Verbindung mit einer Koordinatenmeßmaschine.
Im einzelnen zeigt Fig. 1 eine kapazitive Sonde 10. Die Sonde
10 umfaßt eine sphärische Abtastspitze 15, die in Form einer
einteiligen, einheitlichen Struktur, beispielsweise aus
Stahl, Wolframcarbid, Inconel® (eine Nickel-Chrom-Legierung mit weiteren Bestandteilen,
z. B. Fe, Mn, Ti, Nb, Ta, Mo, Cu, Co, C und Si)
oder einem anderen harten
leitfähigen Material hergestellt werden kann, welches ver
schleißfest und widerstandsfähig gegen eine Verformung ist.
Der Durchmesser der sphärischen Abtastspitze 15 ist von dem
jeweiligen Einsatzzweck der Sonde abhängig. Der Radius der
sphärischen Abtastspitze 15 sollte deutlich größer sein als
der zwischen der Abtastspitze und einem zu erfassenden Gegen
stand bzw. einer Zielplatte zu ermittelnde Abstand. Für die
vorliegenden Zwecke werden jedoch die Meßsonde 10 und die
entsprechenden Testergebnisse bezüglich einer sphärischen Ab
tastspitze 15 aus Stahl und mit einem Durchmesser von 4,78 mm
beschrieben.
Die sphärische Abtastspitze 15 kann auch so wie in Fig. 2 ge
zeigt ausgebildet sein. Wie gezeigt, hat die sphärische Ab
tastspitze 15 einen zentralen Teil 20, der beispielsweise aus
einem isolierenden Material, wie z. B. einem Keramikmaterial,
hergestellt ist. Ein äußerer leitfähiger Mantel 25 ist rings
um den Umfang des zentralen Teils herumgelegt.
Wendet man sich nunmehr erneut Fig. 1 zu, so erkennt man, daß
die sphärische Abtastspitze 15 dort über einen isolierenden
Hals 30 mit einem Ende eines hohlen Schaftes 35 verbunden
ist. Der Hals 30 kann beispielsweise aus einem Epoxydharzma
terial hergestellt werden, welches die Abtastspitze 15 gegen
über dem hohlen Schaft 35 isoliert und zwischen diesen beiden
Teilen eine mechanisch stabile Verbindung herstellt. Der
Schaft 35 kann beispielsweise aus Messing oder rostfreiem
Stahl hergestellt sein.
In dem hohlen Schaft 35 ist koaxial ein Draht 40 angeordnet,
der sich bis zu der sphärischen Abtastspitze 15 erstreckt und
mit dieser in elektrischem Kontakt steht. Der Draht 40 kann
eine isolierende Hülle 45 aufweisen, um sicherzustellen, daß
der hohle Schaft 35 und der Draht 40 nicht in elektrischen
Kontakt miteinander gelangen. Andererseits ist eine iso
lierende Hülle nicht zwingend erforderlich.
In Fig. 2A ist ein abgewandelter Aufbau der sphärischen Ab
tastspitze 15 und des hohlen Schaftes 35 dargestellt. Wie ge
zeigt, besitzt die sphärische Abtastspitze 15 eine Öffnung
47, die den hohlen Schaft 35 aufnimmt. Ein isolierendes Ma
terial 48, beispielsweise ein Epoxydharz, ist in der Öffnung
47 vorgesehen, um die Abtastspitze 15 und den Schaft 35 mit
einander zu verbinden und sie gleichzeitig elektrisch gegen
einander zu isolieren.
Wie in Fig. 3 gezeigt, ist die Meßsonde 10 mit einem Koaxial
kabel 50 verbunden, beispielsweise mit einem Koaxialkabel des
Typs RG-179. Das Koaxialkabel 50 besitzt einen Außenleiter
55, der elektrisch mit dem Schaft 35 verbunden ist, und einen
Innenleiter 60, welcher elektrisch mit dem koaxial dazu ange
ordneten Draht 40 verbunden ist. Obwohl die Meßsonde 10 mit
einer direkten mechanischen Verbindung zwischen dem Koaxial
kabel und dem Rest der Sondenanordnung dargestellt ist, er
kennt der Durchschnittsfachmann, daß die Verbindung durch
Verwendung eines Koaxialkabelverbinders erleichtert werden
kann.
Fig. 4 zeigt eine Vorrichtung zum Kalibrieren und Prüfen der
Meßsonde 10. Diese Vorrichtung umfaßt einen gleitverschieb
lichen Tisch bzw. einen Schlitten 60 mit einer isolierenden
Spannzange 65 zum Erfassen des Schaftes 35 der Meßsonde 10
und zum Ausrichten derselben in einer von mindestens zwei
Richtungen. Weiterhin sind zwei Zielplatten 70, 75 vorgese
hen, welche ein zu erfassendes Werkstück repräsentieren. Die
Prüf-, Kalibrier- bzw. Zielplatte 70 wird zum Kalibrieren und
Prüfen der Meßsonde 10 verwendet, wobei der Schaft 35 senk
recht zu der Zielplatte ausgerichtet ist, wie dies mit ge
strichelten Linien eingezeichnet ist. Die Kalibrier- bzw.
Zielplatte 75 wird zum Kalibrieren und Prüfen der Meßsonde 10
für den Fall verwendet, daß der Schaft 35 im wesentlichen
parallel zu dieser Zielplatte ausgerichtet ist.
Die Zielplatten 70 und 35 werden aus Aluminium, einem leitfä
higen Metall hergestellt. Die Meßsonde 10 kann jedoch auch in
Verbindung mit anderen leitfähigen Materialien verwendet wer
den. Die Leitfähigkeit des Materials muß nicht erheblich
sein. Materialien mit mehreren M Ω m können gemessen werden.
Die Meßsonde 10 wird mit Hilfe eines kapazitiven Sondentrei
bers 80 angesteuert, beispielsweise mit einem Sondentreiber
des Typs Capacitec, Modell 4100S mit einer Takteinheit 4100-C
(diese Einheiten sind erhältlich von der Firma Capacitec
Corp., Postfach 819, 87 Fitchburg Road, Ayer/MA 01432). Der
Sondentreiber 80 umfaßt zwei getrennte elektrisch gegeneinan
der isolierte Wechselspannungsausgänge. Einer dieser Ausgänge
ist mit dem Innenleiter 60 des Koaxialkabels 50 und darüber
mit dem Draht 40 verbunden, der durch den hohlen Schaft 35
läuft. Dieser Ausgang dient der Erzeugung eines ersten Wech
selspannungspotentials zwischen der sphärischen Abtastspitze
15 und der jeweiligen Zielplatte. Der zweite Ausgang ist mit
dem Außenleiter 55 des Koaxialkabels 50 und über diesen mit
dem hohlen Schaft 35 verbunden und dient der Erzeugung eines
zweiten Wechselspannungspotentials zwischen dem hohlen Schaft
35 und der Zielplatte. Die beiden Wechselspannungspotentiale
haben dabei im wesentlichen dieselbe Größe und Phasenlage, um
den Effekt der Streukapazität auf die Sondenmessungen auszu
schließen.
Die Position der sphärischen Abtastspitze 15 bezüglich der
jeweiligen Zielplatte 70 bzw. 75 wird mittels eines Einstell
organs (Kurbel) 85 eingestellt. Dabei werden die betreffende
Zielplatte und die Abtastspitze 15 zunächst in Kontakt mit
einander gebracht, woraufhin ein Abstandsmesser 90 auf Null
gestellt wird. Der Abstandsmesser 90 wird dann dazu verwen
det, die Verlagerung bzw. den Abstand der Abtastspitze 15 von
der betreffenden Zielplatte zu messen. Für den betrachteten
Zweck kann ein Abstandsmesser des Typs Digimatic Indicator
Model IDF 130-E der Firma Mitutoyo verwendet werden.
Der Strom, der zwischen der sphärischen Abtastspitze 15 und
der Zielplatte fließt, ist eine Funktion der Kapazität eines
durch diese Elemente gebildeten Kondensators. Der Sondentrei
ber 80 mißt den zwischen der sphärischen Abtastspitze 15 und
der Zielplatte fließenden Wechselstrom und liefert eine Aus
gangsgleichspannung, die repräsentativ für diesen Strom und
damit für die Kapazität ist. Die Ausgangsgleichspannung wird
beispielsweise mit Hilfe eines Voltmeters 95 gemessen und in
Verbindung mit dem Abstandsmesser 90 zur Prüfung und Kali
brierung der Meßsonde 10 verwendet.
Mit der Vorrichtung gemäß Fig. 4 wurden Meßversuche bzw.
Testmessungen durchgeführt. Fig. 5 zeigt eine lineare grafi
sche Darstellung der Ausgangsgleichspannung des kapazitiven
Sondentreibers 80 als Funktion des Spalts bzw. des Abstands
zwischen der Meßspitze 15 der Sonde und der betreffenden
Zielplatte. Die Grafik zeigt zwei Funktionen, nämlich eine,
bei der der Schaft 35 senkrecht zu der Zielplatte 70 ausge
richtet ist und eine, bei der der Schaft 35 im wesentlichen
parallel zu der Zielplatte 75 ausgerichtet ist. Die Testmes
sungen wurden also für die beiden extremen Ausrichtungen des
Schaftes durchgeführt.
Die grafische Darstellung gemäß Fig. 5 zeigt die Ausgangs
gleichspannung des Sondentreibers 80 für Spaltbreiten zwi
schen 0 und 6 mm. Wie die grafische Darstellung zeigt, unter
scheiden sich die Meßergebnisse für die beiden angegebenen
Orientierungen des Schaftes bei größeren Spalten bzw. Abstän
den, haben jedoch die Tendenz, für geringere Abstände zu kon
vergieren. Die Kapazität und damit die Ausgangsspannung ste
hen in einer logarithmischen Beziehung zu der Spaltbreite.
Diese logarithmische Beziehung ist in der grafischen Darstel
lung gemäß Fig. 5A noch näher dargestellt.
Die grafische Darstellung gemäß Fig. 5 demonstriert die Rich
tungsunabhängigkeit der Meßcharakteristik der sphärischen Ab
tastspitze. Diese Charakteristik wird anhand der Darstellung
gemäß Fig. 6 noch näher erläutert. Fig. 6 zeigt eine vergrö
ßerte Darstellung der sphärischen Abtastspitze 15 in einem
Abstand d von der Zielplatte 70.
Wenn die sphärische Abtastspitze 15 in einem Abstand von der
Zielplatte 70 angeordnet ist, der größer ist als ein Radius
der Abtastspitze, dann liegt die Kapazität der sphärischen
Abtastspitze in der Nähe des Wertes für den freien Raum, näm
lich bei 4 π × e₀ × r, wobei r der Radius der sphärischen
Abtastspitze in cm und e₀ die Dielektrizitätskonstante im Va
kuum ist.
Wenn sich die sphärische Abtastspitze 15 der Zielplatte 70
(beispielsweise einem Werkstück) nähert und der Spalt d klein
wird im Vergleich zum Radius r der sphärischen Spitze, dann
wird durch die sphärische Spitze 15 und die Zielplatte 70 ein
Kondensator gebildet. Die Kapazität dieses Kondensators be
ginnt die Kapazität der Abtastspitze im freien Raum bei einer
Spaltbreite d zu überschreiten, die ungefähr gleich r, d. h.
einem Radius ist, und nimmt dann bei abnehmender Spaltbreite
logarithmisch zu. Die Kapazitätszunahme ergibt sich aufgrund
des resultierenden Gesamtergebnisses der beiden folgenden Ef
fekte:
- a) der Abnahme des Abstands d zwischen dem Sondenbereich 91 und der Zielplatte 70 und
- b) der Abnahme des effektiv zur Kapazität beitragenden Plat tenbereichs des Kondensators.
In Fig. 6 sind diese wirksamen Plattenbereiche als Projektio
nen A1, A2 und A3 dargestellt, die sich ergeben, wenn sich
aufeinanderfolgende Sondenbereiche 92, 95 und 100 der Ziel
platte 70 nähern.
Die in allen Richtungen gleiche bzw. richtungsunabhängige
Charakteristik der Meßsonde hat zur Folge, daß diese sowohl
auf die Zielplatte als auch auf alle in der Nähe befindlichen
leitfähigen Objekte anspricht. Die logarithmische Ansprech
charakteristik der Meßsonde verringert jedoch die Wirkung,
die diese in der Nähe befindlichen Gegenstände auf die gemes
sene Kapazität haben, da die Kapazität aufgrund der Nähe der
Sonde zu der Zielplatte bei geringem Abstand die Kapazität
bei weitem überschreitet, die sich aufgrund von in der Nähe
der Meßsonde befindlichen (weiteren) Gegenständen ergibt.
Fig. 7 verdeutlicht diesen Effekt und zeigt eine grafische
Darstellung der Spannung über der Spaltbreite in Anwesenheit
einer Seitenwand für Seitenwandabstände von 3, 5, 10 und 20
mm.
Die anhand von Fig. 7 gezeigte Richtungsunabhängigkeit ermög
licht einen einfachen Mechanismus zum Messen der Effekte der
Streukapazität aufgrund von in der Nähe befindlichen Objekten
sowie eine automatische Kompensation dieser Effekte. Bei
spielsweise könnte eine Kordinatenmeßmaschine bei einer ty
pischen programmgesteuerten Meßfolge die Meßsonde 10 in
mehrere Meßabstände mit einer Spaltbreite von 1 mm, 0,1 mm
und 0,01 mm bewegen. Auf der Basis der dabei gewonnenen Meß
ergebnisse kann die Streukapazität beispielsweise aufgrund
von Seitenwänden herausgezogen und von der Kordinatenmeßma
schine automatisch korrigiert werden.
Fig. 8 zeigt als Beispiel eine Koordinatenmeßmaschine 105,
die mit der Meßsonde 10 arbeitet. Die Koordinatenmeßmaschine
105 umfaßt eine Steuerkonsole 110, eine Kalibrierkugel 115,
einen Werkstücktisch 120 und einen Arm 125, der die Meßsonde
10 haltert und sie unter der Steuerung durch ein Programm in
die gewünschten Positionen bewegt. Der Tisch 120 trägt ein
Werkstück 130, welches in Fig. 8 als eine Siliciumstruktur
dargestellt ist, wie sie in Hochleistungsanwendungen einge
setzt wird. Der Arm 125 führt die Meßsonde 10 längs des Werk
stücks 130, um die geforderten Messungen durchzuführen. Ob
wohl die Meßsonde in Fig. 8 in Verbindung mit einer speziel
len Koordinatenmeßmaschine gezeigt ist, wird deutlich, daß
die Meßsonde zur Verwendung in Verbindung mit zahlreichen an
deren Koordinatenmeßmaschinen geeignet ist, beispielsweise
mit einer Maschine des Typs Cordax 1800 oder einer der Ma
schinen, die in der Zeitschrift ANSI/ASME, B 89.1.12M-1985,
gezeigt sind, wobei diese Literaturstelle die vorliegende Be
schreibung in vollem Umfang ergänzt.
Die Sonde 10 kann Kontaktsonden mit Schalter ersetzen, wie
sie normalerweise bei derartigen Koordinatenmeßmaschinen ver
wendet werden. Um dies zu erreichen, kann eine Schnittstel
lenschaltung (nicht gezeigt) ein Signal liefern, welches
einem offenen oder einem unterbrochenen Schaltkreis ent
spricht und bisher mit Hilfe eines Schalters der Meßsonde er
zeugt wurde. Das betreffende Signal für die Koordinatenmeß
maschine würde gemäß der Erfindung beispielsweise dann er
zeugt, wenn die Ausgangsspannung des kapazitiven Sondentrei
bers 80 (in Fig. 8 nicht gezeigt) anzeigt, daß sich die sphä
rische Meßspitze 15 in einem vorgegebenen Abstand von dem
Werkstück befindet, beispielsweise wenn der Spalt zwischen
Werkstück und Abtastspitze etwa 1 µm beträgt.
Claims (10)
1. Berührungslos arbeitende kapazitive Meßsonde mit einer
elektrisch leitfähigen kugelförmigen Meßspitze und einem
hohlen Schaft, an dessen einem Ende die Meßspitze an
geordnet ist und in dem ein Draht koaxial angeordnet ist,
der elektrisch mit der kugelförmigen Meßspitze verbunden
ist und mit Spannungserzeugungseinrichtungen zum Erzeugen
einer Spannung zwischen der Meßspitze und einem von die
ser zu erfassenden Gegenstand,
dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungserzeu
gungseinrichtungen (80) eine erste Spannungsquelle zum
Erzeugen einer Wechselspannung zwischen der Meßspitze
(15) und dem zu erfassenden Gegenstand (70, 75, 130) so
wie eine zweite Spannungsquelle umfassen, mit deren Hilfe
eine zweite Wechselspannung zwischen dem hohlen Schaft
(35) und dem zu erfassenden Gegenstand (70, 75, 130) er
zeugbar ist und daß die beiden von den Spannungserzeu
gungseinrichtungen erzeugten Wechselspannungen zur Ver
ringerung des Einflusses einer Streukapazität auf die mit
der Sonde erhaltenen Meßergebnisse im wesentlichen
phasen- und amplitudengleich sind.
2. Meßsonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Meßspitze (15) einen zentralen Teil (20) aus iso
lierendem Material aufweist, der von einem Mantel (25)
aus elektrisch leitfähigem Material umschlossen ist.
3. Meßsonde nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der
zentrale Teil aus einem elektrisch isolierenden Keramik
material besteht.
4. Meßsonde nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß das elektrisch leitfähige Material der
Meßspitze (15) aus einem der folgenden Materialien ausge
wählt ist: Stahl, Wolfram-Carbid, Inconel.
5. Meßsonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
hohle Schaft (35) aus einem elektrisch leitfähigen Ma
terial besteht.
6. Meßsonde nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der
hohle Schaft (35) aus Messing besteht.
7. Meßsonde nach einem der Ansprüche 5 oder 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß Verbindungseinrichtungen (30) vorgese
hen sind, durch die die kugelförmige Meßspitze (15) me
chanisch mit dem hohlen Schaft (35) verbunden ist und
durch die die kugelförmige Meßspitze (15) gegenüber dem
hohlen Schaft (35) elektrisch isoliert ist.
8. Meßsonde nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die
Verbindungseinrichtungen als halsförmiges Verbindungs
stück (35) ausgebildet sind.
9. Meßsonde nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das
halsförmige Verbindungsstück (35) aus einem Epoxid
harz-Material besteht.
10. Meßsonde nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß die kugelförmige Meßspitze (15) einen
Radius aufweist, welcher größer ist als der größte mit
Hilfe der Meßspitze zu erfassende Abstand zu einem Werk
stück (70, 75, 130).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/889,060 US5315259A (en) | 1992-05-26 | 1992-05-26 | Omnidirectional capacitive probe for gauge of having a sensing tip formed as a substantially complete sphere |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4317285A1 DE4317285A1 (de) | 1993-12-23 |
DE4317285C2 true DE4317285C2 (de) | 1996-03-28 |
Family
ID=25394449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4317285A Expired - Lifetime DE4317285C2 (de) | 1992-05-26 | 1993-05-25 | Kapazitive Meßsonde für die berührungslose Abstastung von Werkstückoberflächen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5315259A (de) |
JP (1) | JPH07119565B2 (de) |
DE (1) | DE4317285C2 (de) |
GB (1) | GB2267573B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19745104A1 (de) * | 1997-10-11 | 1999-04-29 | Microspace Mes Und Sensortechn | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Volumens von Näpfchen an Druckwalzen |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9021447D0 (en) * | 1990-10-03 | 1990-11-14 | Renishaw Plc | Capacitance probes |
US5446774A (en) * | 1994-02-15 | 1995-08-29 | General Electric Company | Spud finger gauge |
DE19622987C2 (de) * | 1996-06-08 | 1998-10-29 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Vorrichtung eines Kollisionsschutzes für Sensoren an Koordinatenmeßgeräten |
US5974869A (en) * | 1996-11-14 | 1999-11-02 | Georgia Tech Research Corp. | Non-vibrating capacitance probe for wear monitoring |
JP3197860B2 (ja) | 1997-12-24 | 2001-08-13 | 株式会社ミツトヨ | タッチ信号プローブ |
DE19954567C1 (de) * | 1999-11-12 | 2001-08-02 | Infineon Technologies Ag | Anordnung zur Positionsbestimmung |
WO2002067481A1 (en) * | 2001-02-20 | 2002-08-29 | University Of Maryland, Baltimore County | Widely tunable and integrated optical system and method |
JP3996812B2 (ja) * | 2002-08-06 | 2007-10-24 | ファナック株式会社 | ワイヤカット放電加工機のワイヤ接触・非接触境界位置検出装置 |
GB0228371D0 (en) * | 2002-12-05 | 2003-01-08 | Leland E C E | Workpiece inspection method |
TWI304158B (en) * | 2003-01-15 | 2008-12-11 | Asml Netherlands Bv | Detection assembly and lithographic projection apparatus provided with such a detection assembly |
US7103482B2 (en) * | 2003-02-03 | 2006-09-05 | Qcept Technologies, Inc. | Inspection system and apparatus |
US7308367B2 (en) * | 2003-02-03 | 2007-12-11 | Qcept Technologies, Inc. | Wafer inspection system |
US6957154B2 (en) * | 2003-02-03 | 2005-10-18 | Qcept Technologies, Inc. | Semiconductor wafer inspection system |
US7107158B2 (en) | 2003-02-03 | 2006-09-12 | Qcept Technologies, Inc. | Inspection system and apparatus |
US7152476B2 (en) * | 2003-07-25 | 2006-12-26 | Qcept Technologies, Inc. | Measurement of motions of rotating shafts using non-vibrating contact potential difference sensor |
GB0508395D0 (en) | 2005-04-26 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Method for scanning the surface of a workpiece |
JP4828316B2 (ja) | 2006-06-13 | 2011-11-30 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工機用のギャップ検出装置及びレーザ加工システム並びにレーザ加工機用のギャップ検出方法 |
US7659734B2 (en) * | 2007-03-07 | 2010-02-09 | Qcept Technologies, Inc. | Semiconductor inspection system and apparatus utilizing a non-vibrating contact potential difference sensor and controlled illumination |
JP4776588B2 (ja) * | 2007-06-13 | 2011-09-21 | 三菱電機株式会社 | ノズル検査装置およびノズル検査方法 |
US7900526B2 (en) * | 2007-11-30 | 2011-03-08 | Qcept Technologies, Inc. | Defect classification utilizing data from a non-vibrating contact potential difference sensor |
US7752000B2 (en) * | 2008-05-02 | 2010-07-06 | Qcept Technologies, Inc. | Calibration of non-vibrating contact potential difference measurements to detect surface variations that are perpendicular to the direction of sensor motion |
CN101561240B (zh) * | 2009-05-31 | 2010-10-20 | 哈尔滨工业大学 | 基于球形电容极板的超精密非接触式三维瞄准与测量传感器 |
DE102012003223A1 (de) * | 2012-02-20 | 2013-08-22 | Carl Zeiss 3D Automation Gmbh | Kugel-Schaft-Verbindung |
US20170266744A1 (en) * | 2015-10-30 | 2017-09-21 | Mitsubishi Electric Corporation | Wire electric discharge machine, control method of control device of wire electric discharge machine, and positioning method |
DE102016209547A1 (de) * | 2016-06-01 | 2017-12-07 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Messobjekten |
CA3084993C (en) * | 2017-12-07 | 2022-11-15 | Pitco Frialator, Inc. | Fluid sensor and control system |
GB201806830D0 (en) * | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2842738A (en) * | 1956-04-05 | 1958-07-08 | Ford Motor Co | Capacitance probe |
US2935681A (en) * | 1956-08-31 | 1960-05-03 | Gen Electric | Contour measuring method and probe |
GB985426A (en) * | 1960-10-27 | 1965-03-10 | Fairey Eng | Improvements relating to apparatus for exploring the contour of a conductive surface |
US3452273A (en) * | 1965-12-22 | 1969-06-24 | Reliance Electric & Eng Co | Non-contact displacement transducer with feedback controlled vibration amplitude and a probe having a sensing means disposed transversely of the direction of vibration |
US3706919A (en) * | 1970-08-17 | 1972-12-19 | Ade Corp | Capacitive gauge |
DE2158320B2 (de) * | 1971-11-24 | 1980-04-10 | Ferdy Dr. Grenoble Mayer (Frankreich) | Vorrichtung zur berührungsfreien relativen Abstandsmessung |
US4067225A (en) * | 1977-03-21 | 1978-01-10 | Mechanical Technology Incorporated | Capacitance type non-contact displacement and vibration measuring device and method of maintaining calibration |
US4422035A (en) * | 1981-12-11 | 1983-12-20 | Extrude Hone Corporation | Capacitance measurement probe |
US4482860A (en) * | 1981-12-11 | 1984-11-13 | Extrude Hone Corporation | Capacitance measurement probe |
JPS60168001A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-31 | Sakura Sokki Kk | 静電容量式位置検出装置 |
FR2566599B1 (fr) * | 1984-06-25 | 1986-09-26 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Dispositif de suspension electrostatique d'un corps |
DE3426993C1 (de) * | 1984-07-21 | 1986-01-09 | Rheinische Braunkohlenwerke AG, 5000 Köln | Sonde mit kapazitiven Messfuehlern |
US4766389A (en) * | 1986-09-03 | 1988-08-23 | Extrude Hone Corporation | Capacitor array sensors tactile and proximity sensing and methods of use thereof |
US4908574A (en) * | 1986-09-03 | 1990-03-13 | Extrude Hone Corporation | Capacitor array sensors for determining conformity to surface shape |
US4816744A (en) * | 1987-05-18 | 1989-03-28 | Laser Metric Systems, Inc. | Method and device for measuring inside diameters using a laser interferometer and capacitance measurements |
JPS6469301A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Method for forming ceramic-based electrically conductive material |
JPH0617765B2 (ja) * | 1987-12-25 | 1994-03-09 | 日本電信電話株式会社 | 静電容量型変位検出プローブ |
US4924172A (en) * | 1988-08-25 | 1990-05-08 | Kaman Instrumentation Corporation | Capacitive sensor and electronic circuit for non-contact distance measurement |
FR2640373B1 (fr) * | 1988-12-09 | 1992-12-11 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Chaines de mesure dimensionnelle capacitive a sortie lineaire |
US4918376A (en) * | 1989-03-07 | 1990-04-17 | Ade Corporation | A.C. capacitive gauging system |
US5189377A (en) * | 1990-09-04 | 1993-02-23 | Extrude Hone Corporation | Method and apparatus for co-ordinate measuring using a capacitance probe |
GB9021447D0 (en) * | 1990-10-03 | 1990-11-14 | Renishaw Plc | Capacitance probes |
-
1992
- 1992-05-26 US US07/889,060 patent/US5315259A/en not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-05-10 JP JP5107971A patent/JPH07119565B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1993-05-25 DE DE4317285A patent/DE4317285C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-05-25 GB GB9310793A patent/GB2267573B/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19745104A1 (de) * | 1997-10-11 | 1999-04-29 | Microspace Mes Und Sensortechn | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Volumens von Näpfchen an Druckwalzen |
DE19745104C2 (de) * | 1997-10-11 | 2001-10-04 | Microspace Mes Und Sensortechn | Vorrichtung zur Messung des Volumens von Näpfchen an Druckwalzen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9310793D0 (en) | 1993-07-14 |
DE4317285A1 (de) | 1993-12-23 |
US5315259A (en) | 1994-05-24 |
GB2267573B (en) | 1996-01-03 |
JPH0634311A (ja) | 1994-02-08 |
JPH07119565B2 (ja) | 1995-12-20 |
GB2267573A (en) | 1993-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4317285C2 (de) | Kapazitive Meßsonde für die berührungslose Abstastung von Werkstückoberflächen | |
DE112010002189B4 (de) | Kontaktfreies dreidimensionales Ultrapräzisions-Tastsystem basierend auf einer sphärischen kapazitiven Platte | |
EP0760931B1 (de) | Drehwinkel- oder drehzahlgeber | |
DE4333419C5 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Schichtdickenmessung und Meßsonde für eine kombinierte Schichtdickenmeßvorrichtung | |
DE69132243T2 (de) | Kalibrierung von kapazitiven Sonden | |
DE3851587T2 (de) | Verfahren und Apparatur zur Widerstandsmessung. | |
EP1735595B1 (de) | Vorrichtung, sensoranordnung und verfahren zur kapazitiven positionserfassung eines zielobjekts | |
DE69923999T2 (de) | Elektrostatischer kraftmessfühler mit ausleger und abschirmung | |
DE4317512A1 (de) | Vorrichtung zur berührungslosen Nullpunkt-, Positions- und Drehwinkelmessung | |
EP1556665B1 (de) | Tastkopf mit magnet und hallelement für den einsatz in einem koordinatenmessgerät | |
DE3815009C2 (de) | ||
DE19806290C2 (de) | Integrierte Entfernungsmeßschaltung | |
EP1219933B1 (de) | Differential-Wirbelstromgeber | |
EP0772054B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen einer elektrischen Leiteranordnung | |
EP0284737B1 (de) | Messtaster | |
DE3724137C2 (de) | Elektronisches Meßgerät mit Digitalanzeige | |
DE102021104542A1 (de) | Mehrfachpositionsdetektion unter Verwendung eines inhomogen variierenden Magnetfeldes | |
DD297509A5 (de) | Kapazitiver sensor zur beruehrungslosen rauheitsmessung | |
EP0595117A1 (de) | Vorrichtung zum ortsaufgelösten, zerstörungsfreien Untersuchen von magnetischen Kenngrössen | |
EP0489350A1 (de) | Einrichtung zur statischen und/oder dynamischen Längen- und/oder Winkelmessung | |
DE69617741T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum induktiven messen der lage und der abmessungen von messobjekten aus elektrisch leitfähigem material | |
DE1448760B2 (de) | Anwendung einer Hallplatte zur Feststellung der Auslenkung eines ein Magnetfeld aufweisenden Objektes aus einer Normallage | |
DE3815074C2 (de) | ||
EP3764054B1 (de) | Sensoranordnung zum erfassen einer auslenkung einer drahtelektrode | |
DE102014117079A1 (de) | Verfahren und System zum Bestimmen einer mechanischen Verformung und/oder eines Defekts eines Probenkörpers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01B 7/012 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8330 | Complete renunciation |