DE4231401A1 - Bildaufnahmevorrichtung - Google Patents
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- 230000010354 integration Effects 0.000 title abstract description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title abstract description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 238000004091 panning Methods 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
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- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14825—Linear CCD imagers
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- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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- H01L27/14831—Area CCD imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
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Description
Die Erfindung betrifft eine Bildaufnahmevorrichtung nach
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Derartige Bildaufnahmevorrichtungen arbeiten nach dem
Prinzip des Abtastens eines Bildfeldes, indem das Bildfeld
relativ zu den Detektorelementen, vorzugsweise mittels
eines Schwenkspiegels geschwenkt wird. Die betrachtete
Szene wird dadurch ausschnittsweise sukzessiv auf die
Detektorelemente abgebildet, die üblicherweise als lineare
Detektorzeile ausgeführt sind und durch Schwenken des
Bildfelds senkrecht zur Zeilenrichtung nacheinander
Bildzeilen aufnehmen.
Für das Erreichen eines hohen Signal-Rauschverhältnisses
ist es vorteilhaft, das Signal möglichst lange zu inte
grieren. Aus vorgegebenem Bildformat und gewünschter
Bildrate ergibt sich die Schwenkgeschwindigkeit des Bild
felds, die zusammen mit der Pixelgröße die Integrations
zeit begrenzt.
Zur Verbesserung des Signal-Rauschverhältnisses sind soge
nannte TDI-Anordnungen (Time Delay and Integration) be
kannt, welche in Schwenkrichtung hintereinander mehrere
Detektorelemente aufweisen, die an eine gemeinsame TDI-
CCD-Struktur angeschlossen sind. Während des Schwenkens
des Blickfelds über eine derartige lineare Detektorspal
tenanordnung wird ein Pixel des Bildfeldes nacheinander
auf die aufeinanderfolgenden Detektorelemente der Spalte
abgebildet und bewirkt ein entsprechendes Detektorsignal.
Durch zeitrichtiges Aufsummieren der Detektorsignale zu
ein und demselben Bildfeldpixel wird die effektive Inte
grationszeit erhöht und dadurch das Signal-Rauschverhält
nis verbessert, ohne daß die Bildauflösung beeinträchtigt
wird.
Während der Zeit des Rückschwenkens des Schwenkspiegels
kann die Detektorspalte mit der TDI-CCD-Struktur nicht
benutzt werden, da die Bildfeldbewegung gegenläufig zu der
festgelegten Ladungsverschieberichtung der CCD-Struktur
ist. Dies führt zu einer Verschlechterung der Sy
stemeigenschaften bei langer Rückschwenkzeit oder zu er
heblichen mechanischem Aufwand, um die Rückschwenkzeit ge
ring zu halten.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine
Bildaufnahmevorrichtung der genannten Art anzugeben, wel
che eine weitere Verbesserung der Systemeigenschaften auf
weist.
Die Erfindung ist im Patentanspruch 1 beschrieben. Die Un
teransprüche enthalten vorteilhafte Ausgestaltungen und
Weiterbildungen der Erfindung.
Die Erfindung bewirkt im wesentlichen durch einfache Vor
gabe eines neuen geometrischen Aufbaus der CCD-Struktur in
Verbindung mit einer gattungsgemäßen Bildaufnahmevorrich
tung eine erhebliche Verbesserung der Systemeigenschaften
durch Ausnutzen der Rückschwenkzeit des Bildfeldes zur
Bildaufnahme, ohne daß hierfür nennenswerter Zusatzaufwand
oder andere Nachteile in Kauf genommen werden müßten. Die
Erfindung ist insbesondere vorteilhaft für auf Lücke ver
setzte Doppelzeilenanordnungen von Detektorelementen mit
synchroner Auslesung einer vollständigen Bildzeile.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand von Beispielen unter
Bezugnahme auf die Abbildungen noch eingehend veranschau
licht. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine lückenversetzte Detektordoppelzeile,
Fig. 2 eine Anordnung mit mehreren linearen CCD-Struktu
ren,
Fig. 3 zwei schleifenförmige CCD-Strukturen,
Fig. 4 CCD-Strukturen für lückenversetzte Detektordoppel
zeilen.
Die Anordnung von Detektorelementen nach Fig. 1 sieht in
zwei Zeilen Z1, Z2 mit jeweils einer Mehrzahl N von Spal
ten angeordnete Einzelelemente DE vor, die sich jeweils
innerhalb einer vier Elemente enthaltenden Spalte an Spal
tenpositionen A, B, C, D in Zeile Z1 bzw. A′, B′, C′, D′ in
Zeile Z2 befinden. Die Spalten der Zeile Z1 sind gegenüber
denen der Zeile Z2 in Zeilenrichtung lückenversetzt ange
ordnet (staggered), so daß ein in Zeilenrichtung lückenlo
ses Bild aufgenommen werden kann. Eine Bildbeeinträchti
gung durch den Elementabstand in Spaltenrichtung kann
durch die Möglichkeit der an sich bekannten Zwischenabta
stung verhindert werden.
Die Schwenkung des in die Ebene der Detektorelemente abge
bildeten Bildfelds erfolgt in Spaltenrichtung.
Fig. 2 veranschaulicht das Prinzip einer TDI-CCD-Anordnung
für ein Detektorarray z. B. der Zeile Z1 aus Fig. 1. Die
Detektorelemente selbst sind nicht eingezeichnet. Jeder
Spalte mit vier Detektorelementen ist eine lineare TDI-
CCD-Struktur TCL zugeordnet. Die Detektorelemente sind
über Kontaktflächen IB mit je einem Integrationsspeicher
CI verbunden, dessen aufintegrierte Ladung nach Ablauf ei
ner Integrationsperiode mittels eines Transfergates TG in
die Struktur TCL vollständig oder teilweise übernommen
wird. Die TDI-CCD-Struktur ist in üblicher Weise aus auf
einanderfolgenden mehrphasigen Zellen aufgebaut.
Durch Takten der CCD-Struktur TCL werden die aus den Inte
grationsspeichern übernommenen Ladungspakete innerhalb der
Struktur in Pfeilrichtung verschoben. Die Ladungsverschie
bung im TDI-CCD erfolgt synchron zur Schwenkung SCAN des
Bildfeldes. Dadurch wird erreicht, daß während einer zwei
ten Integrationsperiode innerhalb einer Elementspalte das
zuvor auf Elementposition A abgebildete Bildfeldpixel nun
auf Elementposition B abgebildet wird. In derselben Zeit
ist das vom Element an Position A zuvor übernommene La
dungspaket in der Struktur TCL in die Zelle zur Elementpo
sition B verschoben worden und bei erneuter Übernahme von
Ladungen werden die beiden Ladungen, die den zeitlich
nacheinander aufgenommenen Detektorsignalen für dasselbe
Bildfeldpixel entsprechen, in der TDI-CCD-Struktur
aufaddiert. Diese Aufsummierung von Einzelsignalen
desselben Pixels setzt sich über die gesamte Spaltenlänge
bzw. Strukturlänge fort. Bei einer Spaltenlänge von M
Einzelelementen resultiert daraus eine Verbesserung des
Signal-Rauschverhältnisses um den Faktor M½.
Die nach Durchlaufen der TDI-CCD-Struktur am linksseitigen
Ausgang anstehenden aufsummierten Signale werden bei
spielsweise in ein serielles CCD-Register CA übernommen
und synchron mit den Signalen aus anderen Detektorspalten
ggf. über einen Verstärker U oder dergleichen dem Ausgang
A als serielle Bildsignale zugeführt.
Demgegenüber sieht die vorliegende Erfindung als wesentli
chen Gedanken vor, die TDI-CCD-Struktur nicht linear son
dern wie in Fig. 3 skizziert als Schleife TCS auszuführen
und aus Zellen CZ aufzubauen, die eine Ladungsverschiebung
TR in beide Längsrichtungen (Pfeil) erlauben. Letzteres
ist z. B. möglich mit gebräuchlichen 3- oder 4-Phasen-Zel
len. Die beiden Enden der Schleife einer CCD-Struktur sind
mit einem gemeinsamen CCD-Ausgang AS verbunden, der je
nach Art der Weiterverarbeitung der Signale, z. B. Auslesen
über CCD-Register oder Umsetzen in Spannungssignale als
CCD-Übergabestufe oder als Ausgangsdiffusion oder in son
stiger geeigneter Weise ausgeführt sein kann.
Die schleifenförmige Anordnung der Zellen in der TDI-CCD-
Struktur TCS bleibt ohne Einfluß auf die Anordnung der De
tektorelemente in linearen Spalten im Detektorarray. Die
korrekte Zuordnung der einzelnen Detektorelemente zu den
Ladungsspeichern CI entlang der Struktur TCS erfolgt über
Zuleitungen.
Besonders vorteilhaft ist ein hybrider Aufbau der Vorrich
tung derart, daß die Detektorelemente, beispielsweise IR-
Detektoren aus HgCdTe, einerseits und die CCD-Strukturen
mit Integrations-Ladungsspeichern andererseits auf ge
trennten Trägern angeordnet sind, die auf einander zuge
wandten ebenen Flächen gegenüberliegende Kontaktbereiche
(Pads P) aufweisen, zwischen denen beispielsweise über In
diumkontakte (Bumps) elektrische Verbindungen bestehen.
Die Kontaktbereiche auf dem Detektorträger sind dabei vor
teilhafterweise in ihrer Anordnung den CCD-Strukturen an
gepaßt und über metallische Zuleitungen mit den einzelnen
Detektorelementen verbunden. Hierdurch unterliegt das De
sign der gegenüber dem Detektorarray wesentlich komplexe
ren CCD-Strukturen keinen zusätzlichen Einschränkungen aus
der Geometrie des Detektorarrays und es entfallen entspre
chende Verdrahtungen bei den CCD-Strukturen.
Die Detektorelementzuordnung der einzelnen Ladungsspeicher
CI ist in Fig. 3 durch Bezeichnung der Pads P verdeut
licht. Die in a) und b) verschiedene Anzahl von CCD-Zellen
zwischen benachbarten Ladungsspeichern spiegelt die ver
schieden vorgebbare Zahl von Zwischenabtastungen wieder.
Die unter a) in Fig. 2 skizzierte CCD-Struktur hat gegen
über der unter b) skizzierten noch den Vorteil, daß die
Steuerleitungen zu einzelnen Baugruppen, insbesondere den
Ladungsspeichern nicht in die Schleife hineingeführt wer
den müssen.
In Fig. 4 sind zwei schleifenförmige TDI-CCD-Strukturen
TCS, TCS′ in vereinfachter Darstellung skizziert, welche
für eine Detektordoppelzeilenanordnung wie in Fig. 1 be
sonders vorteilhaft sind. Zusätzlich zu dem bereits zu
Fig. 3 erläuterten Aufbau weisen die beiden Strukturen
noch jeweils einen Verzögerungsabschnitt RT bzw. RT′ an ei
nem Schleifenende auf. Die Signallaufdauer in dem Verzöge
rungsabschnitt ist jeweils gleich der Bildschwenkzeit zwi
schen Position A′ und A (bzw. B′ und B usw.) nach Fig. 1.
Die Verzögerungsabschnitte sind so angeordnet, daß für
jede Schwenkrichtung der Schwenkzeitunterschied zwischen
Zeile Z1 und Zeile Z2 ausgeglichen wird, so daß die Si
gnale einer Bildfeldzeile trotz Aufnahme in verschiedenen
Detektorzeilen gleichzeitig an den Ausgängen AS bzw.
AS′ der TDI-CCD-Strukturen TCS, TCS′ auftreten. Der Verzöge
rungsabschnitt liegt dabei in den beiden Strukturen TCS,
TCS′ jeweils zwischen dem Ausgang AS bzw. AS′ und dem La
dungsspeicheranschluß, dessen zugehörige Detektorelement
position der jeweils anderen Zeile zugewandt ist, für TCS
also die Position A und TCS′ die Position D′ nach Fig. 1. In
jede Schwenkrichtung wird dann nur in einer der Strukturen
die Verzögerung wirksam. In Fig. 4 ist beispielhaft für
eine Schwenkrichtung von A nach D wie in Fig. 2 durch
Pfeil angedeutet die Ladungsverschieberichtung TR (2) in
den Strukturen TCS, TCS′ eingetragen. Nur die Verzögerung
TR′ in der Struktur TCS′ für die Signale aus den Positionen
A′, B′, C′, D′ wird wirksam. Bei Umkehr der Schwenkrich
tung wird auch die Ladungsverschiebungsrichtung umgeschal
tet und entsprechend wird die Verzögerung in der anderen
Struktur TCS wirksam.
Aus geometrischen Gründen ist es vorteilhaft die Ausgänge
AS, AS′ der Strukturen TCS bzw. TCS′ nach entgegengesetzten
Seiten auszurichten und bei Auslesung über ein serielles
CCD-Register zwei getrennte solche Register CA bzw. CA′
vorzusehen.
Die technischen Einzelheiten für die Ausführung der Erfin
dung, beispielsweise die Ausgestaltung bidirektional be
treibbarer CCD-Zellen, die Verbindung der CCD-Strukturen
mit den Detektorelementen, Auslesearten und Strukturen
usw. sind aus dem Stand der Technik bekannt und dem Fach
mann geläufig.
Die Erfindung ist auch nicht auf die zu den Beispielen be
schriebenen Ausführungen beschränkt.
Claims (7)
1. Bildaufnahmevorrichtung mit mindestens einer linearen
Spaltenanordnung mehrerer Photodetektorelemente und einer
zugeordneten CCD-Struktur zur zeitrichtigen Zusammenfas
sung und Ausgabe (TDI) der Detektorsignale für ein in
Spaltenrichtung relativ zu den Detektorelementen ge
schwenktes Bildfeld, dadurch gekennzeichnet, daß
- - die CCD-Struktur eine ebene Schleife mit einem beiden Schleifenenden gemeinsamen Ausgang bildet
- - die CCD-Struktur eine Ladungsverschiebung in beiden Längsrichtungen ermöglicht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Schwenkspiegel das Bildfeld abwechselnd in beide
Längsrichtungen der Spaltenanordnung schwenkt und Steuer
einrichtungen die Richtung der Ladungsverschiebung längs
der CCD-Struktur nach Maßgabe der Schwenkrichtung des
Bildfeldes steuern.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der CCD vorgeschaltete und mit dieser mono
lithisch integrierte Ladungsspeicher für die Detektorsi
gnale außerhalb der Schleife angeordnet sind.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß senkrecht zur Spaltenrichtung eine
Mehrzahl von Detektorspalten als Detektorzeile mit zuge
ordneten CCD-Strukturen vorgesehen sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß eine weitere Detektorzeile mit in Zeilenrichtung auf
Lücke und in Spaltenrichtung um mindestens eine Spalten
länge versetzt angeordneten Detektorspalten mit zugeordne
ten CCD-Strukturen vorgesehen ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die CCD-Strukturen der beiden Detektorzeilen jeweils
einen nur in einer Ladungstransferrichtung wirksamen
Verzögerungsabschnitt derart aufweisen, daß nur die Si
gnale der in Schwenkrichtung früher beleuchteten Detektor
zeile jeweils eine Verzögerung durch diese Abschnitte er
fahren.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch ih
ren hybriden Aufbau in der Weise, daß Detektorelemente ei
nerseits und CCD-Strukturen andererseits auf verschiedenen
Trägern realisiert sind, die auf einander zugewandten ebe
nen Flächen unmittelbar gegenüberliegende Kontaktbereiche
aufweisen, wobei die Anordnung der Kontaktflächen auf dem
Detektorträger der Anordnung der CCD-Strukturen angepaßt
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924231401 DE4231401A1 (de) | 1992-09-19 | 1992-09-19 | Bildaufnahmevorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924231401 DE4231401A1 (de) | 1992-09-19 | 1992-09-19 | Bildaufnahmevorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4231401A1 true DE4231401A1 (de) | 1994-03-24 |
Family
ID=6468347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924231401 Withdrawn DE4231401A1 (de) | 1992-09-19 | 1992-09-19 | Bildaufnahmevorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4231401A1 (de) |
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- 1992-09-19 DE DE19924231401 patent/DE4231401A1/de not_active Withdrawn
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|
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