DE4212501C1 - Deposition of silicon nitride polymer layer on substrate - using linear or cyclic silazane in gas, giving good quality and high coating ratio - Google Patents
Deposition of silicon nitride polymer layer on substrate - using linear or cyclic silazane in gas, giving good quality and high coating ratioInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ab
scheidung einer Siliziumnitrid-Polymerschicht auf einem
Substrat nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Siliziumnitrid wird in der Halbleiterindustrie zur Passivie
rung von integrierten Schaltungen und als Diffusionssperre
gegen störende chemische Elemente, wie beispielsweise Na
trium oder Eisen, verwendet.
Bei der Herstellung von mikromechanischen Bauteilen aus Si
lizium bedient man sich einer Siliziumnitridschicht als Atz
maske zur Strukturierung von Silizium. Hier ist die erhöhte
Ätzfestigkeit von Siliziumnitrid in Lauge gegenüber Sili
ziumdioxid oder Photolack die wichtigste Eigenschaft.
Bei bekannten Verfahren zur Erzeugung einer Siliziumnitrid
schicht verwendet man als Ausgangssubstanzen Gase, die je
doch aufgrund ihrer hohen Gefährdungspotentiale nur bei
hohen sicherheitstechnischen Standards verarbeitet werden
können. So ist das als Ausgangssubstanz zur Erzeugung einer
Siliziumnitridschicht verwendete Silan ein an feuchter Luft
selbstentzündliches und explosives Gas. Das als Ausgangs
substanz hierfür verwendete NH3 wirkt toxisch.
Gasmischungen aus Silan und Ammoniak werden in zwei unter
schiedlichen Reaktorkonzepten zum Abscheiden einer Silizium
nitridschicht eingesetzt. Ein erstes Konzept betrifft einen
Diffusionsofen mit Abscheidetemperaturen im Bereich zwischen
600° und 1000°C. Ein zweites Konzept betrifft die plasma
induzierte Abscheidung mit maximalen Temperaturen zwischen
400° und 500°C. Der Diffusionsprozeß liefert qualitativ
sehr gute Schichten, ist jedoch aufgrund seiner hohen Pro
zeßtemperaturen nicht mit Aluminiumstrukturen kompatibel, da
diese maximale Prozeßtemperaturen von 450°C erfordern.
Bei der plasmainduzierten Abscheidung (diesbezüglich wird
auf die nicht-veröffentlichte, ältere Patentanmeldung P 42 02 652.0-51
verwiesen) ergeben sich verglichen mit dem
Diffusionsofenprozeß nicht ganz so hochwertige Nitridschich
ten. Diese würden jedoch als Passivierungsschichten ausrei
chen, wenn nicht bei hohen Aspektverhältnissen der zu be
deckenden Strukturen eine mangelnde Kantenbedeckung auftre
ten würde. Diese wird durch die Beschleunigung reaktiver
Ionen auf die Oberfläche während der Abscheidung (gasdiffu
sionsbegrenzte Abscheidung) verursacht und wird gleichfalls
durch die geringe Oberflächenhaftung der Ausgangssubstanzen
aufgrund der relativ kleinen Molekülmasse begründet.
Die US-PS 48 63 755 zeigt die Abscheidung einer (harten)
Siliziumnitridschicht auf einem Substrat, in dem zunächst
zyklisches Silazan, vorzugsweise in Form von
Hexamethylcyclotrisilazan zusammen mit Stickstoff gasförmig
in einen Reaktionsraum eingebracht wird und dann in einem
Hochfrequenzfeld zur Mikrowellenplasma-CVD auf dem Substrat
abgeschieden wird. Als Substrattemperaturen werden dort
Temperaturen zwischen 200 und 400°C angegeben. Als
geforderte Leistungsdichten werden Leistungsdichten zwischen
0,37 und 1,5 W/cm2 gefordert. Der Druck im Reaktionsraum
soll zwischen 0,1 und 0,7 Torr liegen.
Auch die US-PS 50 41 303 zeigt lediglich Verfahren zur Ab
scheidung von Siliziumnitridschichten, nicht jedoch von
Siliziumnitrid-Polymerschichten unter Erhaltung der funktio
nellen NH-Gruppen. In dieser Schrift werden die abgeschie
denen Schichten als "Plasmasiliziumnitrid", "Plasmasilizium
dioxid" und "Plasmasiliziumoxinitrid" bezeichnet. Hinweise
auf eine Abscheidung von Polymerschichten sind dieser
Schrift nicht zu entnehmen.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der vorliegen
den Erfindung daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur
Abscheidung einer Siliziumnitrid-Polymerschicht auf einem
Substrat zu schaffen, welches mit einfacher handhabbaren
Ausgangssubstanzen auskommt, eine gegenüber den bekannten
Verfahren zumindest gleiche Schichtqualtität liefert und ein
besseres Bedeckungsverhalten zeigt.
Ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Abscheidungs
verfahrens wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die bei
liegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1a, 1b Molekülstrukturen eines linearen sowie eines
zyklischen Silazans, welche als Ausgangsstoffe
des erfindungsgemäßen Abscheidungsverfahrens
eingesetzt werden;
Fig. 2a eine IR-Spektroskopie der Ausgangssubstanz;
und
Fig. 2b bis 2d jeweils eine IR-Spektroskopie der mit dem er
findungsgemäßen Verfahren bei unterschiedli
chen Parametern abgeschiedenen Schichten.
Das erfindungsgemäße Verfahren bedient sich als Ausgangs
substanz eines Stoffes aus der Klasse der Silazane. Bei die
sen Verbindungen ist der dreiwertige Stickstoff mit minde
stens zwei Einfachbindungen an Silizium gekoppelt.
Fig. 1a zeigt ein Silazan mit der einfachsten Form einer
linearen Molekülstruktur, nämlich das Hexamethyldisilazan.
Fig. 1b zeigt eine zyklische Verbindung der Silazan-Klasse,
nämlich das 1,1,3,3,5,5-Hexamethylcyclotrisilazan. Dieses
1,1,3,3,5,5-Hexamethylcyclotrisilazan, welches nachfolgend
mit der Kurzbezeichnung HMCTS angesprochen wird, wurde auf
grund seiner verglichen mit dem Hexamethyldisilazan größeren
Molekülmasse bei der nachfolgend erläuterten bevorzugten
Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens ausgewählt
und untersucht.
In einem ersten Verfahrensschritt wird das flüssige Silazan
mittels eines Flüssigkeitsmassendurchflußreglers dosiert und
in einem Gasraum verdampft. Das gasförmige Silazan, welches
im Falle des bevorzugten Ausführungsbeispieles HMCTS ist,
wird von dem Gasraum mittels einer Ausströmdusche gleich
mäßig verteilt in einen Reaktionsraum eingebracht.
Eine plasmainduzierte Abscheidung von Siliziumnitrid-Polymer
auf einem Substrat erfolgt innerhalb des Reaktionsraumes in
einem Hochfrequenzfeld, wobei die deponierte Schicht in
Abhängigkeit von der nachfolgend angesprochenen Festlegung
der Prozeßparameter modifiziert werden kann.
Zur Abscheidung einer Siliziumnitrid-Polymerschicht wird
eine Substrattemperatur zwischen 20° und 100°C eingestellt.
Hier wird als Trägergas Stickstoff N2 verwendet, wobei die
Zumischung des Stickstoffes je nach dem gewünschten
Stickstoffanteil in der Polymerschicht durchgeführt wird.
Der Prozeß wird in einem Druckbereich zwischen 0,5 und 5
mbar bei einer Leistungsdichte des Hochfrequenzfeldes
zwischen 0,06 und 0,3 W/cm2 durchgeführt.
Fig. 2a zeigt das Absorptionsspektrum der Ausgangssubstanz
HMCTS aufgrund einer IR-Spektroskopie.
Die Absorptionsspitzenwerte bei 2960, 1250 und 840 cm-1 sind
den Methylgruppen der Ausgangssubstanz HMCTS zuzuordnen. Das
kleine Signal bei 3390 cm-1 entspricht der Schwingung von
Wasserstoff am Stickstoff, während bei 1180 und 935 cm-1 der
Stickstoff gegenüber dem Silizium schwingt.
Fig. 2d zeigt den Fall einer Abscheidung bei 350° C im
Druckbereich von 0,3 mbar mit Stickstoff als Trägergas. Hier
erhält man das Spektrum einer Nitridschicht, die sich nicht
von einer Schicht aus Silan und NH3 unterscheidet. Es wird
von der breiten Si3N4-Schwingung bei 800 cm-1 dominiert.
Daneben enthält das Spektrum noch N-H-Schwingungen bei 3400
cm-1 und einen SiH-Spitzenwert bei 2100 cm-1.
Die Fig. 2b und 2c zeigen Spektren von Schichten, welche bei
50°C bzw. 150°C abgeschieden wurden. Die Abscheidung bei
50°C und 5 mbar erzielte eine Polymerschicht, in der eine
sehr große Anzahl der ursprünglichen funktionellen Gruppen
erhalten blieb.
Fig. 2c zeigt den stetigen Übergang von einer Polymerschicht
zu der harten Passivierungsschicht.
Claims (4)
1. Verfahren zur Abscheidung einer Siliziumnitrid-Polymer
schicht unter Erhaltung der funktionellen NH-Gruppen auf
einem Substrat,
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:.
- - Verdampfen von zunächst flüssigem, linearen oder zykli schen Silazan in einem Gasraum;
- - verteiltes Einbringen des verdampften Silazans in einen Reaktionsraum, wobei der Druck in dem Reaktionsraum zwischen 0,5 und 5 mbar beträgt,
- - Zumischen von N2-Gas zu dem verdampften Silazan in dem Gasraum in einer von dem gewünschten Stickstoffanteil in der Polymerschicht abhängigen Menge,
- - Erwärmen des Substrats auf eine Temperatur zwischen 20° C und 100°C,
- - Erzeugen eines Hochfrequenzfeldes mit einer Leistungs dichte zwischen 0,06 und 0,3 W/cm2, und
- - Abscheiden des Silazans auf dem Substrat in dem Hoch frequenzfeld.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß Hexamethyldisilazan eingesetzt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß 1,1,3,3,5,5-Hexamethylcyclotrisilazan eingesetzt
wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet,
daß Stickstoff als Trägergas dem Silazan in dem Gasraum
beigemischt wird.
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DE4212501A DE4212501C1 (en) | 1992-04-14 | 1992-04-14 | Deposition of silicon nitride polymer layer on substrate - using linear or cyclic silazane in gas, giving good quality and high coating ratio |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4212501C1 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0654544A2 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | ENICHEM S.p.A. | Verbindungen verwendbar als chemische Precursoren zur Herstellung von siliziumhaltigen keramischen Werkstoffen mittels CVD |
EP0671483A1 (de) * | 1994-03-07 | 1995-09-13 | ENICHEM S.p.A. | Keramische Beschichtung abgeschieden aus der Dampfphase unter Verwendung eines wasserdampfhaltigen Trägergases und nicht-Alkoxy-Silan Precursoren |
EP0855614A1 (de) * | 1996-05-15 | 1998-07-29 | Seiko Epson Corporation | Dünnfilmbauelement mit beschichtungsfilm, flüssigkristallfeld, elektronikvorrichtung und herstellungsmethode des dünnfilmbauelements |
EP1316108A1 (de) * | 2000-08-18 | 2003-06-04 | Tokyo Electron Limited | Niederdielektrizitäts-siliziumnitridfilm und verfahren zu seiner ausbildung, halbleiterbauelement und herstellungsprozess dafür |
US6821553B2 (en) | 1996-11-25 | 2004-11-23 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing organic EL element, organic EL element, and organic EL display device |
US8431182B2 (en) | 1996-09-19 | 2013-04-30 | Seiko Epson Corporation | Matrix type display device and manufacturing method thereof |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1544287A1 (de) * | 1966-04-29 | 1969-07-10 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer Schutzschicht aus einer Silizium-oder Germaniumstickstoff-Verbindung an der Oberflaeche eines Halbleiterkristalls |
US4863755A (en) * | 1987-10-16 | 1989-09-05 | The Regents Of The University Of California | Plasma enhanced chemical vapor deposition of thin films of silicon nitride from cyclic organosilicon nitrogen precursors |
US5041303A (en) * | 1988-03-07 | 1991-08-20 | Polyplasma Incorporated | Process for modifying large polymeric surfaces |
-
1992
- 1992-04-14 DE DE4212501A patent/DE4212501C1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1544287A1 (de) * | 1966-04-29 | 1969-07-10 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer Schutzschicht aus einer Silizium-oder Germaniumstickstoff-Verbindung an der Oberflaeche eines Halbleiterkristalls |
US4863755A (en) * | 1987-10-16 | 1989-09-05 | The Regents Of The University Of California | Plasma enhanced chemical vapor deposition of thin films of silicon nitride from cyclic organosilicon nitrogen precursors |
US5041303A (en) * | 1988-03-07 | 1991-08-20 | Polyplasma Incorporated | Process for modifying large polymeric surfaces |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0654544A3 (de) * | 1993-11-23 | 1995-08-23 | Enichem Spa | Verbindungen verwendbar als chemische Precursoren zur Herstellung von siliziumhaltigen keramischen Werkstoffen mittels CVD. |
EP0654544A2 (de) * | 1993-11-23 | 1995-05-24 | ENICHEM S.p.A. | Verbindungen verwendbar als chemische Precursoren zur Herstellung von siliziumhaltigen keramischen Werkstoffen mittels CVD |
EP0671483A1 (de) * | 1994-03-07 | 1995-09-13 | ENICHEM S.p.A. | Keramische Beschichtung abgeschieden aus der Dampfphase unter Verwendung eines wasserdampfhaltigen Trägergases und nicht-Alkoxy-Silan Precursoren |
US7067337B2 (en) | 1996-05-15 | 2006-06-27 | Seiko Epson Corporation | Thin film device provided with coating film, liquid crystal panel and electronic device, and method for making the thin film device |
EP0855614A1 (de) * | 1996-05-15 | 1998-07-29 | Seiko Epson Corporation | Dünnfilmbauelement mit beschichtungsfilm, flüssigkristallfeld, elektronikvorrichtung und herstellungsmethode des dünnfilmbauelements |
EP0855614A4 (de) * | 1996-05-15 | 2001-12-19 | Seiko Epson Corp | Dünnfilmbauelement mit beschichtungsfilm, flüssigkristallfeld, elektronikvorrichtung und herstellungsmethode des dünnfilmbauelements |
US7229859B2 (en) | 1996-05-15 | 2007-06-12 | Seiko Epson Corporation | Thin film device provided with coating film, liquid crystal panel and electronic device, and method for making the thin film device |
US8580333B2 (en) | 1996-09-19 | 2013-11-12 | Seiko Epson Corporation | Matrix type display device with optical material at predetermined positions and manufacturing method thereof |
US8431182B2 (en) | 1996-09-19 | 2013-04-30 | Seiko Epson Corporation | Matrix type display device and manufacturing method thereof |
US6863961B2 (en) | 1996-11-25 | 2005-03-08 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing organic EL element, organic EL element, and organic EL display device |
US6838192B2 (en) | 1996-11-25 | 2005-01-04 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing organic EL element, organic EL element, and organic EL display device |
US7662425B2 (en) | 1996-11-25 | 2010-02-16 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing organic EL element, organic EL element and organic EL display device |
US6821553B2 (en) | 1996-11-25 | 2004-11-23 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing organic EL element, organic EL element, and organic EL display device |
US8614545B2 (en) | 1996-11-25 | 2013-12-24 | Seiko Epson Corporation | Organic EL display device having a bank formed to fill spaces between pixel electrodes |
EP1316108A4 (de) * | 2000-08-18 | 2005-10-26 | Tokyo Electron Ltd | Niederdielektrizitäts-siliziumnitridfilm und verfahren zu seiner ausbildung, halbleiterbauelement und herstellungsprozess dafür |
EP1316108A1 (de) * | 2000-08-18 | 2003-06-04 | Tokyo Electron Limited | Niederdielektrizitäts-siliziumnitridfilm und verfahren zu seiner ausbildung, halbleiterbauelement und herstellungsprozess dafür |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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