DE4208272A1 - Verfahren zur messung der kapazitaet eines kondensators nach der reflektometermethode und schalteinrichtung dazu - Google Patents
Verfahren zur messung der kapazitaet eines kondensators nach der reflektometermethode und schalteinrichtung dazuInfo
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- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung der
Kapazität eines Kondensators nach der Reflektometermethode
entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Bei vielen Meßverfahren, insbesondere Druckmeßverfahren, werden
Kondensatoren mit Elektroden eingesetzt, deren Abstand veränder
lich ist. In der Regel ist eine der beiden Elektroden des Kon
densators als Membran ausgebildet. Der Abstand der Elektroden und
damit die Kapazität des Kondensators hängen von der zu messenden
Größe, beispielsweise von dem auf der Membran lastenden Druck,
ab. Die Druckmessung kann deshalb über eine Kapazitätsmessung
erfolgen. Die DE-A-40 31 791 beschreibt einen Sensor, der für
Druckmessungen dieser Art geeignet ist.
Bei Meßverfahren der beschriebenen Art sind die Meßgrößen in der
Regel sehr klein. Sie liegen häufig in der Größenordnung von 20
pF und weniger bei einer Auflösung von etwa 0,1 fF. Die störungs
freie Messung derart kleiner Kapazitäten war bisher nur möglich,
wenn der Abstand zwischen dem Kapazitätssensor und der Meßelek
tronik klein gehalten werden konnte. Bei vielen Applikationen,
beispielsweise bei Druckmessungen in Chemieanlagen, bei denen
zwischen dem Kapazitätssensor und der Meßelektronik ein größerer
Abstand gefordert wird, konnten deshalb Kapazitätsmanometer nicht
eingesetzt werden.
Die Messung einer Kapazität nach der Reflektrometermethode ist
bekannt. Die Auswertung der Ergebnisse anhand der reflektierten
Signale erfolgt über eine spektrale Zerlegung der Signale, die
durch Fourier- oder Laplace-Transformationen erreicht wird.
Dieses Verfahren ist, wie allgemein bekannt, mit erheblichem
Rechenaufwand verbunden. Oft sind Millionen von Rechenoperationen
erforderlich, so daß zum einen ein leistungsfähiger Rechner
erforderlich ist, zum anderen viel Zeit benötigt wird. Für ein
schnelles, praktisch anwendbares Meßgerät scheidet diese Methode
aus.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren zur Messung einer Kapazität, vorzugsweise einer sehr
kleinen Kapazität, sowie eine dafür geeignete Schaltungseinrich
tung anzugeben, bei dem die störungsfreie Kapazitätsmessung bei
einem relativ groben Abstand zwischen Kapazitätssensor und
Meßelektronik ohne hohen Aufwand möglich ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die kennzeichnenden
Maßnahmen des Patentanspruchs 1 gelöst. Die Erfindung beruht
darauf, daß ein kurzer, beispielsweise wenige ns breiter Impuls,
der an einem Kondensator reflektiert wird, Formänderungen (Größe,
Fläche) erfährt, die u. a. auch von der Größe der Kapazität des
Kondensators abhängen. Die erfindungsgemäße Erkenntnis besteht
darin, daß der interessierende Teil der Information (Größe der
Kapazität) im Zeitbereich gewonnen werden kann. Impulse der be
schriebenen Art pflanzen sich selbst auf sehr langen Leitungen
relativ störungsfrei fort. Mit Torschaltungen, die die Laufzeit
der Impulse berücksichtigen, können deshalb die reflektierten
Impulse ausgekoppelt und zum Zwecke der Bildung von Spannungs
werten, die der Größe der Kapazität des Kondensators entsprechen,
ausgewertet werden. Infolge der Auswertung im Zeitbereich kann
auf eine spektrale Zerlegung durch Fourier- oder Laplace-Trans
formationen und damit auf einen hohen Software- und Hardware-
Aufwand verzichtet werden.
Vorzugsweise wird der über die Verbindungsleitung zugeführte
Impuls sowohl an dem zu messenden Kondensator als auch an einem
dazu parallel angeordneten Referenzkondensator reflektiert, und
zwar derart, daß die Reflexionen zu unterschiedlichen Zeiten
erfolgen, und daß die Form der mit einem zeitlichen Abstand
reflektierten Impulse zur Bildung von Meßspannungswerten verwen
det wird, beispielsweise durch Quotientenbildung.
Der wesentliche Vorteil der Erfindung liegt darin, daß die
Verbindungsleitung zwischen einem Kondensator, der einen Kapazi
tätssensor bildet, und der zugehörigen Meßelektronik sehr lang,
beispielsweise 100 m und mehr, gewählt werden kann. Die Meßelek
tronik erfordert keinen hohen Aufwand und kann weit entfernt vom
Meßort angeordnet werden.
Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sollen anhand von
in den Fig. 1 bis 3 dargestellten Ausführungsbeispielen
erläutert werden.
In allen Figuren ist der Kondensator, der beispielsweise den
Kapazitätssensor eines Kapazitätsmanometers bildet, mit 1 und die
den Kondensator 1 mit der Meßelektronik verbindende Leitung,
beispielsweise ein 50 Ω-Koaxialkabel mit 2 bezeichnet. Die
Meßelektronik umfalt den Impulsgenerator 3, der mit dem Kabel 2
in Verbindung steht und kurze, steile, z. B. 2 ns breite positive
Impulse 4 erzeugt. Diese werden z. B. mit einer Wiederholungsfre
quenz von 10 MHz dem Kondensator 1 über die Leitung 2 zugeführt.
Am Kondensator 1 findet eine Reflexion statt, bei der der Impuls
4 eine Formänderung erfährt. Der reflektierte Impuls 5 hat
infolge der aufgetretenen Differenzierung einen negativen und
einen positiven Anteil. Er wandert zur Meßelektronik zurück und
wird zunächst einer Begrenzungsstufe 6 zugeführt. Diese schneidet
den positiven Impulsanteil ab. Nur der negative Impulsanteil wird
einer allgemein mit 7 bezeichneten Auswerteelektronik zugeführt.
Beim beschriebenen Ausführungsbeispiel ist der Ausgangsimpuls 4
ein positives Signal, das nach der Reflexion einen negativen und
einen positiven Anteil hat. Zur Auswertung der reflektierten
Signale 5 im Zeitbereich kann entweder der positive oder der
negative Anteil verwendet werden. Zweckmäßig ist, wenn der
negative Anteil der Auswertung zugrunde gelegt wird. Natürlich
besteht auch die Möglichkeit, von negativen Ausgangsimpulsen 4
auszugehen, die ebenfalls nach der Reflexion einer negativen und
einen positiven, der Auswertung im Zeitbereich zur Verfügung
stehenden Anteil haben.
Am Ausgang 8 der Auswerteelektronik kann eine Meßspannung ent
nommen werden, die der Größe der Kapazität des Kondensators 1
entspricht. Ist der Kondensator 1 der Sensor eines Kapazitätsma
nometers, dann entspricht das am Ausgang 8 der Auswerteelektronik
7 anliegende Meßsignal dem Druck, der mit Hilfe des Kapazitäts
manometers gemessen werden soll.
Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 ist dem Kondensator 1 eine
Referenzkapazität parallel geschaltet, die vom Kondensator 11
gebildet wird. Die Leitungslängen zwischen dem Verzweigungspunkt
12 und den beiden Kondensatoren 1 und 11 sind unterschiedlich, so
daß der Impuls 4 zu unterschiedlichen Zeiten an beiden Kondensa
toren 1 und 11 reflektiert wird. Die Leitungslängen zwischen dem
Verzweigungspunkt 12 und den Kondensatoren 1 und 11 sind bei
spielsweise derart gewählt, daß die einfache Impulslaufzeit 2,5
bzw. 5 ns beträgt. Die reflektierten Impulse erreichen den
Verzweigungspunkt 12 zu unterschiedlichen Zeiten (beim angege
benen Beispiel mit einem zeitlichen Abstand von 5 ns). Das
reflektierte Signal ist dargestellt und mit 13 bezeichnet. Es
wird - wie beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 - der Begren
zungsstufe 6 zugeführt, so daß nur die negativen Impulsanteile,
ebenfalls mit einem Abstand von 5 ns, diese Stufe verlassen. Sie
werden einem Abtasttor 14 zugeführt, das derart gesteuert wird,
daß entweder nur die negativen Impulsanteile der am Kondensator 1
reflektierten Signale (beim dargestellten Ausführungsbeispiel der
obere Ausgang 15 der Torstufe 14) oder nur die am Kondensator 11
reflektierten Signale (unterer Ausgang 16) durchgelassen werden.
Die Torimpulse werden ebenfalls vom Generator 3 erzeugt, der über
die Leitung 18 mit der Verzögerungsstufe 17 mit dem Abtasttor in
Verbindung steht. Die Verzögerung läßt sich mit Hilfe der Verzö
gerungsstufe 17 derart einstellen, daß zum einen die Laufzeiten
der Impulse vom Impulsgenerator 3 zu den Kapazitäten 1 und 11 und
zurück berücksichtigt werden; außerdem erfolgt mit Hilfe des
Abtasttores 14 die Ausblendung der reflektierten Signale, die
beim beschriebenen Ausführungsbeispiel einen Abstand von 5 ns
haben. Mit einer Verschiebung des Fensters um 5 ns kann diese
Wirkung erreicht werden.
Die Meßwertbildung erfolgt in der Weise, daß eine feste Vielzahl
der beiden Reflexionssignale in sich an die Ausgänge 15, 16 des
Tores 14 anschließenden Summenstufen 21, 22 zu Summensignalen
addiert und dort so lange gespeichert werden, daß zwei zueinander
korrespondierende Summensignale gleichzeitig zur Vergleichsstufe
23 gelangen. Zweckmäßig erfolgt der Vergleich durch Differenz
bildung, insbesondere Quotientenbildung.
Fig. 3 zeigt eine Kurve, welche bei der Anwendung der Erfindung
bei einem Kapazitätsmanometer aufgenommen wurde. Dargestellt ist
das Spannungsaufgangssignal der Stufe 23, und zwar das Verhältnis
der Signale, die am Kondensator 1 reflektiert wurden, zu den
Signalen, die am Referenzkondensator 11 reflektiert wurden, in
Abhängigkeit zum Druck p im Bereich des Kapazitätssensors. Eine
Kurve dieser Art kann in einfacher Weise z. B. elektronisch
linearisiert oder logarithmiert werden, je nachdem, welche
Anzeige erwünscht ist.
Bei Kapazitätsmanometern werden in der Regel Sensoren mit zwei
Kondensatoren verwendet. Eine Elektrode des ersten Kondensators
befindet sich im zentralbereich der Membran und erzeugt zusammen
mit der feststehenden Elektrode das druckabhängige Meßsignal. Der
weitere Kondensator liefert Signale, die der Temperaturkompensa
tion dienen. Es hat sich gezeigt, daß dieser weitere Kondensator
gleichzeitig als Referenzkondensator 11 im Sinne der vorliegenden
Erfindung verwendet werden kann. Es ist also nicht erforderlich,
zusätzliche Referenzkondensatoren vorzusehen.
Claims (12)
1. Verfahren zur Messung der Kapazität eines Kondensators (1)
nach der Reflektometermethode, bei der am Kondensator (1),
der sich am Ende einer den Kondensator mit der Meßelektronik
verbindenden Leitung (2) befindet, über die Leitung zuge
führte Impulse reflektiert werden und infolge der Reflexion
auftretende Änderungen der Impulsform als Meßgröße für die
Kapazitätsmessung verwendet werden, dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswertung im Zeitbereich erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
positive Ausgangsimpulse (4) verwendet werden und daß der
Auswertung im Zeitbereich nur die negativen Anteile der
reflektierten Impulse (5) zugrundegelegt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß negative Ausgangsimpulse (4) verwendet werden und daß
der Auswertung im Zeitbereich nur die positiven Anteile der
reflektierten Impulse (5) zugrundegelegt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß über
die Verbindungsleitung (2) zugeführte Impulse sowohl an dem
zu messenden Kondensator (1) als auch an einem dazu parallel
angeordneten Referenzkondensator (11) reflektiert werden,
und zwar derart, daß die jeweiligen Reflexionen eines
Impulses zu unterschiedlichen Zeiten erfolgen, und daß die
Form der mit einem zeitlichen Abstand reflektierten Impulse
der Bildung von Meßgrößen dienen.
5. Verfahren nach Anspruch 2, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßwerte durch Quotientenbildung entstehen, indem
die an dem zu messenden Kondensator (1) reflektierten
Impulse in Relation zu den am Referenzkondensator (11)
reflektierten Impulse gesetzt werden.
6. Anwendung der Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 5 bei
einem Kapazitätsmanometer.
7. Schaltungseinrichtung zur Durchführung des Verfahrens zur
Messung der Kapazität eines Kondensators (1) nach einem der
Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen
Impulsgenerator (3) zur Erzeugung der dem Kondensator (1)
über die Verbindungsleitung (2) zuzuführenden Impulse (4)
und elektronische Mittel zur Verarbeitung und Auswertung der
reflektierenden Impulse im Zeitbereich (5, 13) umfaßt.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Begrenzungsstufe (6) für die reflektierten Impulse
vorgesehen ist.
9. Einrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Abtasttor (14) vorgesehen ist, das über eine Verzö
gerungsstufe (17) mit dem Impulsgenerator (3) verbunden ist.
10. Einrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß
sich an das Abtasttor (14) Summenstufen (21, 22) sowie eine
Vergleichsstufe (23) anschließen.
11. Kapazitätsmanometer mit einem Kondensator (1) als Sensor,
dadurch gekennzeichnet, daß es mit einer Schaltungseinrich
tung nach einem der Ansprüche 7 bis 10 ausgerüstet ist.
12. Kapazitätsmanometer nach Anspruch 11 mit einem ersten
Kondensator (1) als Sensor und mit einem zweiten, der
Temperaturkompensation dienenden Kondensator (11), dadurch
gekennzeichnet, daß der zweite Kondensator (11) die Refe
renzkapazität bildet.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924208272 DE4208272A1 (de) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | Verfahren zur messung der kapazitaet eines kondensators nach der reflektometermethode und schalteinrichtung dazu |
JP5515274A JPH07504504A (ja) | 1992-03-13 | 1993-01-14 | 反射計方式によるコンデンサ容量測定方法および該方法のための回路装置 |
PCT/EP1993/000069 WO1993018413A1 (de) | 1992-03-13 | 1993-01-14 | Verfahren zur messung der kapazität eines kondensators nach der reflektometermethode und schaltungseinrichtung dazu |
EP93902194A EP0630480A1 (de) | 1992-03-13 | 1993-01-14 | Verfahren zur messung der kapazität eines kondensators nach der reflektometermethode und schaltungseinrichtung dazu |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924208272 DE4208272A1 (de) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | Verfahren zur messung der kapazitaet eines kondensators nach der reflektometermethode und schalteinrichtung dazu |
Publications (1)
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---|---|
DE4208272A1 true DE4208272A1 (de) | 1993-09-16 |
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---|---|---|---|
DE19924208272 Withdrawn DE4208272A1 (de) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | Verfahren zur messung der kapazitaet eines kondensators nach der reflektometermethode und schalteinrichtung dazu |
Country Status (4)
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---|---|
EP (1) | EP0630480A1 (de) |
JP (1) | JPH07504504A (de) |
DE (1) | DE4208272A1 (de) |
WO (1) | WO1993018413A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10153298A1 (de) * | 2001-10-31 | 2003-05-22 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitäts-Änderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE10250523B4 (de) * | 2001-10-31 | 2008-12-11 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2720556B2 (de) * | 1976-05-12 | 1980-01-24 | Tektronix, Inc., Beaverton, Oreg. (V.St.A.) | Schaltung zum Anzeigen der Impedanzanpassung eines Signalkopplungsnetzwerkes |
DE3111204A1 (de) * | 1981-03-21 | 1982-09-30 | Ulrich Dr. rer. nat. Dipl.-Phys. 3300 Braunschweig Stumper | Schaltngsanordnung fuer ein elektrisches mehrtornetzwerk zur bestimmung komplexer reflexionsfaktoren |
DE3921594A1 (de) * | 1989-06-28 | 1991-01-10 | Wolfgang Sprodofsky | Impulsechomessgeraet mit automatischer schwellenanpassung |
DE4042335A1 (de) * | 1990-02-12 | 1991-08-14 | Fraunhofer Ges Forschung | Drucksensoranordnung mit einem drucksensor, einem referenzelement und einer messschaltung |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4458196A (en) * | 1981-08-05 | 1984-07-03 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Method and apparatus for high speed resistance, inductance and capacitance measurement |
US4860232A (en) * | 1987-04-22 | 1989-08-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Digital technique for precise measurement of variable capacitance |
-
1992
- 1992-03-13 DE DE19924208272 patent/DE4208272A1/de not_active Withdrawn
-
1993
- 1993-01-14 JP JP5515274A patent/JPH07504504A/ja active Pending
- 1993-01-14 WO PCT/EP1993/000069 patent/WO1993018413A1/de not_active Application Discontinuation
- 1993-01-14 EP EP93902194A patent/EP0630480A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2720556B2 (de) * | 1976-05-12 | 1980-01-24 | Tektronix, Inc., Beaverton, Oreg. (V.St.A.) | Schaltung zum Anzeigen der Impedanzanpassung eines Signalkopplungsnetzwerkes |
DE3111204A1 (de) * | 1981-03-21 | 1982-09-30 | Ulrich Dr. rer. nat. Dipl.-Phys. 3300 Braunschweig Stumper | Schaltngsanordnung fuer ein elektrisches mehrtornetzwerk zur bestimmung komplexer reflexionsfaktoren |
DE3921594A1 (de) * | 1989-06-28 | 1991-01-10 | Wolfgang Sprodofsky | Impulsechomessgeraet mit automatischer schwellenanpassung |
DE4042335A1 (de) * | 1990-02-12 | 1991-08-14 | Fraunhofer Ges Forschung | Drucksensoranordnung mit einem drucksensor, einem referenzelement und einer messschaltung |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10153298A1 (de) * | 2001-10-31 | 2003-05-22 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitäts-Änderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE10153298B4 (de) * | 2001-10-31 | 2005-06-16 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitäts-Änderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE10250523B4 (de) * | 2001-10-31 | 2008-12-11 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
DE10153298C5 (de) * | 2001-10-31 | 2012-05-03 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitäts-Änderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0630480A1 (de) | 1994-12-28 |
WO1993018413A1 (de) | 1993-09-16 |
JPH07504504A (ja) | 1995-05-18 |
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Legal Events
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Owner name: BALZERS UND LEYBOLD DEUTSCHLAND HOLDING AG, 63450 |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |