DE4138679C1 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Gerät zur Bestimmung visueller
Oberflächeneigenschaften, d. h. zur physikalischen Objektivie
rung von Oberflächeneigenschaften, wie sie durch physiologische
und psychologische Verarbeitung von spektral bewerteten reflek
tierten, gestreuten, der Interferenz unterworfenen oder Fluo
reszenz-Strahlungen, die von Oberflächen beliebiger Körper aus
gehen, vom menschlichen Auge empfunden werden. Beispiele sol
cher Oberflächeneigenschaften sind Glanz, Schleier, Beschlag,
Farbe, Metalleffekt, Perlmutteffekt usw. Um den Bewertungsfunk
tionen des Auges zu folgen, muß ein solches Gerät in der Lage
sein, ausgehend von einer entsprechenden Einstrahlungsgeometrie
und der jeweiligen spektralen Zusammensetzung der auf die Ober
fläche treffenden Strahlung, die Winkel-, Phasen- und Spektral
verteilung der von der Oberfläche remittierten Strahlung quan
titativ zu erfassen. Dazu reicht in der Regel eine einzige Meß
geometrie nicht aus.
Ein Gerät mit den im Oberbegriff des Anspruchs 1 angege
benen Merkmalen ist aus AT-PS 3 56 935 bekannt. Bei diesem Ge
rät sind Beleuchtungs- und Meßoptik koaxial angeordnet und
senkrecht auf die Meßfläche gerichtet. Das reflektierte Licht
wird über ein Lichtleitfaserbündel aufgenommen, das zur Be
stimmung der Intensitätsverteilung des reflektierten Lichts
in mehrere Teilbündel aufgeteilt ist und die Teilstrahlung
jeweils eigenen Detektoren zuführt. Unterschiedliche Beleuch
tungs- und Reflexionswinkel lassen sich bei dem bekannten Ge
rät allenfalls durch manuelle Verschwenkung des Gerätes ge
genüber der Meßfläche herbeiführen.
Aus "International Laboratory", September 1990, Seiten
28 bis 32 ist ein Gerät zur Bestimmung visueller Oberflächen
eigenschaften mit drei Meßanordnungen bekannt, bei denen Ein
falls- und Reflexionswinkel, bezogen
auf die Normale der Meßfläche, 20°/20°, 60°/60° und 85°/85°
betragen. Jede dieser drei Meßanordnungen umfaßt dabei eine
Strahlungsquelle, eine erste Optik, die den von der Strahlungs
quelle emittierten Strahl auf die Meßfläche richtet, einen De
tektor und eine zweite Optik, die den von der Meßfläche remit
tierten Strahl auf den Detektor richtet. Das bekannte Gerät ist
aufgrund der Vielzahl der erforderlichen optischen Bauelemente
aufwendig und teuer. Außerdem weist das bekannte Gerät eine an
die Meßfläche anzulegende Grundfläche von erheblicher Länge
auf, so daß es eine Messung nur an entsprechend großen oder
freien, ebenen Oberflächen gestattet.
Andere bekannte Geräte arbeiten mit einer einzigen Meßgeo
metrie und sind entsprechend weniger aufwendig und kleiner. Zur
vollständigen Bewertung der visuellen Oberflächeneigenschaften
sind jedoch mehrere solcher Geräte mit unterschiedlichen Geome
trien erforderlich, so daß der Gesamtaufwand noch größer wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Gerät zur
Bestimmung visueller Oberflächeneigenschaften anzugeben, das bei
möglichst geringem Aufwand Messungen auch an kleinen, entspre
chend schwerer zugänglichen Oberflächenbereichen gestattet.
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist im Kennzei
chenteil des Anspruchs 1 angegeben.
Das danach gebaute Gerät verwendet ein und dasselbe Objek
tiv (bei dem es sich im einfachsten Fall um eine einzelne Linse
handeln kann), um sowohl den von der Strahlungsquelle emittier
ten Strahl auf die Meßfläche als auch den von dieser remittier
ten Strahl auf dem Detektor zu richten. Dies gelingt dadurch,
daß die beiden Strahlen Umlenkelemente durchsetzen, die zwi
schen der Linsenanordnung und der Meßfläche vorgesehen sind. Da
das Gerät mit einem einzigen Objektiv auskommt, kann dieses
hoch-korrigiert sein, ohne den Gesamtaufwand des Gerätes un
wirtschaftlich zu machen.
Die Tatsache, daß das gleiche Objektiv vom Meßstrahl zwei
mal durchlaufen wird, führt zu einer automatischen Korrektur
der wichtigsten Bildfehler, z. B. Astigmatismus.
Die vorhandenen Strahlumlenkelemente bewirken ferner, daß
das Gerät unabhängig vom Einfalls- und Austrittswinkel an der
Meßfläche kleine Abmessungen in Richtung parallel zur Meßfläche
und trotzdem vergleichsweise lange Brennweiten aufweisen kann.
Die Verwendung von optischen Elementen mit langen Brennweiten
ist deshalb von Vorteil, weil bei der Fertigung mit größeren
Toleranzen gearbeitet werden kann.
In der Weiterbildung der Erfindung nach Anspruch 2 ergibt
sich ein besonders handliches und schlankes Gerät zur Messung
auch an kleinen und schwer zugänglichen Oberflächenbereichen.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 führt zu einer konzen
trischen Anordnung mehrerer, mit demselben einzigen Objektiv
arbeitenden Meßanordnungen.
In der Ausgestaltung der Erfindung nach Anspruch 4 wird es
ferner möglich, eine einzige Strahlungsquelle und einen einzi
gen Detektor für die verschiedenen Meßanordnungen einzusetzen.
Eine besonders einfach zu handhabende Gestaltung ist dabei in
Anspruch 5 angegeben.
Die Weiterbildung der Erfindung nach Anspruch 6 ist inso
fern vorteilhaft, als für die verschiedenen Strahlengänge vor
allem der mit den geringsten optischen Fehlern behaftete mitt
lere Bereich des Objektivs herangezogen wird.
Bei der nach Anspruch 7 bevorzugten Verwendung von total
reflektierenden Prismen werden Polarisationseffekte vermieden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend an
hand der Zeichnungen näher erläutert. Darin zeigt
Fig. 1 einen Längsschnitt durch ein Gerät gemäß einer
ersten Ausführungsform,
Fig. 2 einen Querschnitt längs der Linie II-II der Fig. 1,
und
Fig. 3 eine Längsschnitt durch ein Gerät gemäß einer
zweiten Ausführungsform.
Das in Figur gezeigte Gerät weist ein zylindrisches rohr
förmiges Gehäuse 10 auf, das mit seiner unteren Fläche stehend
auf die Meßfläche 11 aufsetzbar ist. Im oberen Teil des Gehäu
ses ist eine Beleuchtungseinrichtung 12 angeordnet, die eine
Lichtquelle 13, eine Meßfleckblende 14 und eine Hilfsoptik 15
aufweist.
Der von der Beleuchtungseinrichtung 12 emittierte, in
Fig. 1 dick-gestrichelt dargestellte Lichtstrahl A durchsetzt
zunächst eine Blendenöffnung 16, die in einer senkrecht zur
Achse des Gehäuses 10 angeordneten Blendenplatte 17 vorgesehen
ist. Der Lichtstrahl A verläuft ferner durch eine in dem Ge
häuse 10 weiter unten angeordnete, senkrecht zur Gehäuseachse N
stehende Filterplatte 18 und ein darunter angeordnetes Objektiv
19, das in Fig. 1 als einzelne Sammellinse veranschaulicht
ist, und wird von einem totalreflektierenden Prisma 20 so umge
lenkt, daß er unter einem Winkel von 60° zur Gehäuseachse N,
d. h. zur Normalen bezüglich der Meßfläche 11, auf den Meßfleck
21 der Meßfläche 11 fällt.
Der von dem Meßfleck 21 unter einem Winkel von 60° zur
Gehäuseachse N reflektierte (oder generell remittierte) Strahl
A′ wird von einem weiteren totalreflektierenden Prisma 20′ um
gelenkt, durchsetzt erneut das Objektiv 19 und die Filterplatte
18 und gelangt durch eine weitere Blendenöffnung 16′ in der
Blendenplatte 17 an ein Photoelement 22. Das von dem Photoele
ment 22 empfangene Signal wird von einer im oberen Gehäuseteil
angeordneten Elektronik 23 ausgewertet.
Neben der Elektronik 23 ist im oberen Gehäuseteil auch
eine (nicht dargestellte) Stromversorgung untergebracht. Ein
das Gehäuse nach oben abschließender Deckel 24 trägt Bedie
nungs- und Anzeigeelemente, die in Fig. 1 schematisch bei 25
dargestellt sind.
Wie in Fig. 2 gezeigt, weist die Blendenplatte 17 insge
samt 8 in Umfangsrichtung um jeweils 450 versetzte Blendenöff
nungen 16, 16′, 26, 26′, 27, 27′, 28 und 28′, die jeweils paar
weise diametral einander gegenüber angeordnet sind, sowie eine
mittlere Blendenöffnung 29 auf.
Oberhalb der Blendenöffnungen 26, 27, 28 und 28′ sind
weitere (nicht gezeigte) Beleuchtungseinrichtungen angeordnet,
die im wesentlichen der Beleuchtungseinrichtung 12 nach Fig. 1
entsprechen. Über den Blendenöffnungen 26′, 27′ und 29 sind
weitere (nicht gezeigte) Photoelemente angeordnet, die dem in
Fig. 1 über der mittleren Blendenöffnung 29 befindlichen Pho
toelement 30 entsprechen.
In die Darstellung der Fig. 1 sind außer dem Strahl A, A′
drei weitere Strahlen eingezeichnet, die mit B, B′, C, C′ und D
bezeichnet sind. Dabei ist zu verstehen, daß der dünn-gestri
chelte Strahl B von der über der Blendenöffnung 26 angeordneten
(nicht gezeigten) Beleuchtungseinrichtung ausgeht, die Filter
platte 18 und das Objektiv 19 durchsetzt und von einem Prisma
31 unter einem Winkel von 85° zur Gehäuseachse N auf den Meß
fleck 21 gerichtet wird. Der von der Meßfleck 21 unter einem
Winkel von 850 reflektierte Strahl B′ wird von einem weiteren
Prisma 31′ umgelenkt, durchsetzt erneut das Objektiv 19 und die
Filterplatte 18 und gelangt an das über der Blendenöffnung 26′
angeordnete (nicht gezeigte) Photoelement.
In ähnlicher Weise gelangt der in Fig. 1 ebenfalls dünn
gestrichelt gezeigte Lichtstrahl C, der von der oberhalb der
Blendenöffnung 27 angeordneten (nicht gezeigten) Beleuchtungs
einrichtung emittiert wird, durch die Filterplatte 18 und das
Objektiv 19 an ein weiteres Prisma 32 und wird von diesem unter
einem Winkel von 20° relativ zur Gehäuseachse N auf den Meß
fleck 21 gerichtet, und der unter dem gleichen Winkel von dem
Meßfleck 21 reflektierte Strahl C′ wird von einem weiteren
Prisma 32′ umgelenkt und gelangt durch das Objektiv 19 und die
Filterplatte 18 hindurch an ein über der Blendenöffnung 27′ an
geordnetes weiteres (nicht gezeigtes) Photoelement.
Die mit den Strahlen A, B und C arbeitenden Meßgeometrien
dienen der normgerechten Glanzmessung, wobei die 20°/20°-Meß
geometrie insbesondere zur Erfassung von Hochglanz und die
85°/85°-Meßgeometrie insbesondere zur Erfassung von Mattglanz
dient. Zur Ermittlung weiterer Oberflächeneigenschaften wie
Schleier, Beschlag, Metalleffekt, Perlmutteffekt usw. läßt sich
das gleiche Gerät - mit entsprechend modifizierten Meßgeometri
en - heranziehen.
Wie aus der obigen Beschreibung und Fig. 1 ersichtlich,
verlaufen die von der Beleuchtungseinrichtung 12 emittierten
und in das Photoelement 22 eintretenden Strahlen wegen ihrer Um
lenkung in den Prismen wesentlich steiler als die auf die Meß
fläche 11 auftreffenden und von ihr reflektierten Strahlen und
können daher als im wesentlichen koaxial zur Gehäuseachse N an
gesehen werden. Daraus resultiert der insgesamt schlanke Aufbau
des Geräts.
Wie anhand von Fig. 2 erläutert, sind die Paare von Blen
denöffnungen 16-16′, 26-26′ und 27-27′ in einer die Gehäuse
achse N enthaltenden Ebene aber in unterschiedlichen Winkeln
bezüglich dieser angeordnet. Entsprechend sind auch die Pris
menpaare 20-20′, 31-31′ und 32-32′ in unterschiedlichen Radial
ebenen angeordnet. Die drei so gebildeten Beleuchtungsanordnun
gen sind also insgesamt konzentrisch um die Gehäuseachse N ver
teilt. (Die drei Strahlen A, B und C sind nur zur Vereinfachung
der zeichnerischen Darstellung in Fig. 1 in derselben Ebene
veranschaulicht.)
Die beiden über den Blendenöffnungen 28 und 28′ angeordne
ten Beleuchtungseinrichtungen erzeugen jeweils einen in Fig. 1
mit D bezeichneten Lichtstrahl, der jeweils über ein Prisma 33
unter einem Winkel von 45° auf den Meßfleck 21 gerichtet wird.
In diesem Fall wird der längs der Gehäuseachse N reflektierte
Strahl ausgenutzt, der das Objektiv 19, eine in der Filterplat
te 18 zentrisch vorgesehene Öffnung 34 und die mittlere Blen
denöffnung 29 durchsetzt und von dem Photoelement 30 erfaßt
wird. Diese mit dem Strahl D arbeitende 45°/0°-Meßanordnung
dient zur Farbmessung.
In alternativer Ausgestaltung kann auch über der Blenden
öffnung 28′ ein Detektor angeordnet sein und mit der über der
Blendenöffnung 28 angeordneten Beleuchtungseinrichtung zur Er
zielung einer 45°/45°-Meßgeometrie herangezogen werden.
Anstelle der oben beschriebenen Ausgestaltung mit mehreren
in Umfangsrichtung verteilt angeordneten Beleuchtungseinrich
tungen 12 und diametral gegenüberliegenden Photoelementen 22
ist es auch möglich, den diese Bauelemente enthaltenden oberen
Gehäuseteil gegenüber dem die Blendenplatte 17, die Filterplat
te 18, das Objektiv 19 und die Prismen 20, 20′, 31, 31′, 32,
32′ und 33 enthaltenden unteren Gehäuseteil um die Gehäuseachse
N drehbar zu gestalten. Die einzige Beleuchtungseinrichtung 12
kann dann durch Relativdrehung der beiden Gehäuseteile auf die
entsprechende Blendenöffnung ausgerichtet und so für die ent
sprechende Meßgeometrie herangezogen werden, wobei das einzige
Photoelement 22 gleichzeitig auf die diametral gegenüberliegen
de Blendenöffnung ausgerichtet wird. Unter Drehung der Gehäuse
teile werden die aus unterschiedlich steiler Beleuchtung der
Meßfläche 11 resultierenden Meßsignale nacheinander gewonnen
und von der Elektronik 23 miteinander verarbeitet.
Die Gerätevariante nach Fig. 3 unterscheidet sich von der
nach Fig. 1 durch eine derartige Anordnung der Beleuchtungs
einrichtung 12, daß der von ihr emittierte Strahl und ebenso
auch der auf das Photoelement 22 treffende remittierte Strahl
parallel zur Gehäuseachse N verlaufen. Im Gegensatz zu der Aus
führungsform nach Fig. 1 findet also keine Überkreuzung zwi
schen den Strahlen A und A′, B und B′, C und C′ statt. In die
sem Fall durchsetzen sämtliche Strahlen den Randbereich des Ob
jektivs 19, wo etwaige Linsenfehler ausgeprägter sind. Infolge
des doppelten Durchsetzens findet allerdings eine automatische
Fehlerkorrektur statt, sofern das Objektiv 19 symmetrisch ist.
Eine weitere Variante kann ferner darin bestehen, die
Prismen 32, 32′ wegzulassen und den 20°/20°-Strahl direkt unter
diesem Winkel aus der Beleuchtungseinrichtung 20 austreten bzw.
auf das Photoelement 22 fallen zu lassen.
In den obigen Ausführungsbeispielen ist angenommen worden,
daß zur Umlenkung der Strahlen A, B, C und D totalreflektieren
de Prismen verwendet werden. Statt dessen ist es grundsätzlich
auch möglich, mit Spiegeln zu arbeiten, die einen noch gedräng
teren Aufbau gestatten, wegen der an ihnen auftretenden Polari
sationseffekte jedoch nachteilig sind.
Claims (7)
1. Gerät zur Bestimmung visueller Oberflächeneigenschaften,
umfassend
eine Strahlungsquelle (13),
einen Detektor (22), und
ein Objektiv (19), das den von der Strahlungsquelle (13) emittierten Strahl (A) auf die Meßfläche (11) und den von der Meßfläche (11) remittierten Strahl (A′) auf den Detektor (22) richtet, gekennzeichnet durch ein Paar von zwischen dem Objektiv (19) und der Meßfläche (11) vorgesehenen Strahlumlenkelementen (20, 20′), deren eines (20) den Strahl (A) der Strahlungsquelle (13) unter einem vorgegebenen Winkel auf die Meßfläche (11) und deren anderes (20′) den unter einem vorgegebenen Winkel remittierten Strahl (A′) auf den Detektor (22) richtet.
eine Strahlungsquelle (13),
einen Detektor (22), und
ein Objektiv (19), das den von der Strahlungsquelle (13) emittierten Strahl (A) auf die Meßfläche (11) und den von der Meßfläche (11) remittierten Strahl (A′) auf den Detektor (22) richtet, gekennzeichnet durch ein Paar von zwischen dem Objektiv (19) und der Meßfläche (11) vorgesehenen Strahlumlenkelementen (20, 20′), deren eines (20) den Strahl (A) der Strahlungsquelle (13) unter einem vorgegebenen Winkel auf die Meßfläche (11) und deren anderes (20′) den unter einem vorgegebenen Winkel remittierten Strahl (A′) auf den Detektor (22) richtet.
2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der von
der Strahlungsquelle (13) emittierte Strahl (A) und der auf den
Detektor (22) auftreffende Strahl (A′) im wesentlichen senk
recht zur Meßfläche (11) verlaufen.
3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen Objektiv (19) und Meßfläche (11) mindestens ein weite
res Paar von Strahlumlenkelementen (31, 31′; 32, 32′) mit ge
genüber dem ersten Paar (20, 20′) unterschiedlichen Einfalls-
und Remissionswinkeln bezüglich der Meßfläche (11) vorgesehen
ist und die Ebene des ersten Strahlengangs (A, A′) gegenüber
der Ebene des weiteren Strahlengangs (B, B′; C, C′) um eine zur
Meßfläche (11) senkrechte Mittelachse (N) gedreht ist.
4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine
einzige Strahlungsquelle (13) und einziger Detektor (22) vor
handen sind, die durch gemeinsame Drehung um die Mittelachse
(N) auf jedes Paar von Strahlumlenkelementen (20, 20′; 31, 31′;
32, 32′) ausrichtbar sind.
5. Gerät nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch einen generell
zylindrischen ersten Gehäuseteil, der das Objektiv (19) und die
Strahlumlenkelemente (20, 20′, 31, 31′, 32, 32′) enthält, und
einen zu dem ersten Gehäuseteil um die Mittelachse (N) drehba
ren, generell zylindrischen zweiten Gehäuseteil, der die Strah
lungsquelle (13) und den Detektor (22) enthält.
6. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß der von der Strahlungsquelle (13) emittierte
Strahl (A) und der von der Meßfläche (11) remittierte Strahl
(A′) einander kreuzen.
7. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlumlenkelemente (20, 20′, 31, 31′, 32,
32′, 33) totalreflektierende Prismen sind.
Priority Applications (3)
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