DE4034237A1 - Verfahren und anordnung zur messung von temperaturaenderungen - Google Patents
Verfahren und anordnung zur messung von temperaturaenderungenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum
Messen von Temperaturänderungen unter Verwendung von
Laserstrahlung, wobei der Laser im Einfrequenzbetrieb
arbeitet, sowie eine Anordnung zur Durchführung dieses
Verfahrens.
Präzise Messungen der Temperatur bzw. deren Änderungen
sind in vielen Bereichen der Technik notwendig.
Insbesondere im Bereich der Verfahrenstechnik und der
Produktion ist zur genauen Kontrolle der Prozesse und
zur anschließenden Qualitätsbestimmung die während
dieses Prozesses durchlaufene Temperaturkennlinie von
entscheidendem Interesse.
Bekannte Verfahren und Anordnungen zur Messung der
Temperatur beruhen meist auf materialspezifischen
Änderungen elektrischer Eigenschaften wie Widerstand,
Kapazität und dgl. der verwendeten Bauteile. Die
Genauigkeit solcher Temperatursensoren ist aufgrund des
geringen Signal-Rausch-Abstandes bei der Messung von
Widerständen oder Kapazitäten in diesem
Genauigkeitsbereich sowie der Nichtlinearität aufgrund
herstellungsbedingter Verunreinigungen beschränkt. Es
können im allgemeinen nur einige mK in einem dynamischen
Bereich von etwa 200 K aufgelöst werden, wobei
berührungsfreie Verfahren, wie z. B. Wärmebildkameras,
bei weitem nicht diese Auflösungen erreichen.
Laserstrahlung entsteht in einem von außen optisch oder
elektrisch angeregten Medium, das sich in einem
optischen Resonator befindet. Die Anregung muß dabei so
stark sein, daß das Medium die durchlaufende Strahlung
verstärkt und damit die Verluste aufgrund von Absorption
und Abstrahlung kompensiert. Es bilden sich dann
stehende Wellen aus, wobei die den Resonator verlassende
Nutzstrahlung sich gegenüber den herkömmlichen
Strahlungsquellen durch ihre hohe spektrale Dichte, ihre
Kohärenz, ihre Polarisation sowie die nahezu ideale
sphärische Wellenfront auszeichnet.
Mit der Entwicklung von Hochleistungs-Laserdioden ist es
neuerdings möglich, Festkörperlaser, etwa den
Nd:YAG-Laser hocheffizient optisch anzuregen. Die
optische Konversions-Effizienz der Laserdioden in
Festkörper-Laserstrahlung kann hierbei sogar weit über
50% liegen, wobei Laserdioden selbst mit Wirkungsgraden
von etwa 30 bis 40% arbeiten. Ein derartiger Laser kann
daher äußerst kompakt bei geringem Strombedarf, d. h.
auch mit Batteriebetrieb arbeiten, wobei die Lebensdauer
einer Laserdiode heutzutage mehr als 104 h beträgt,
wodurch eine Wartung des gesamten Lasers nicht mehr
nötig ist.
Die Pumpstrahlung kann insbesondere mit hoher Effizienz
über eine Glasfaser an den eigentlichen Laserkopf
herangeführt werden, so daß dieser bequem dort
hingebracht werden kann, wo die hohe Qualität der
Festkörper-Laserstrahlung gebraucht wird, d. h. an den
Applikationsort. Die Laser-Pumpdiode befindet sich dann
z. B. im Niederspannungsnetzteil des Gerätes; bei
relativ niederen Pumplaserleistungen ist ein
Einfrequenzbetrieb bei geeigneter Laserkopfkonfiguration
ohne weiteres erzielbar, und zwar bei äußerst kompaktem
und stabilem Aufbau.
Eine derartige Laserkopfkonfiguration ist der
monolithische Laseraufbau, wobei ein Laserkristall ange
schliffen, poliert und derart verspiegelt ist, daß der
Laserkristall selbst den Laserresonator bildet. Neben
größtmöglicher Kompaktheit ist dieser Aufbau besonders
stabil, da er keinerlei zu justierende Elemente enthält;
Messungen an hochspannungsführenden Teilen sind ohne
Beeinflußung der Messung möglich; im Einfrequenzbetrieb
können Ausgangsleistungen von einigen mW erzielt werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren
zum Messen von Temperaturänderungen unter Verwendung von
Laserstrahlung zu schaffen sowie eine Anordnung zur
Durchführung dieses Verfahrens.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist dadurch
gekennzeichnet, daß die Einfrequenz der Laserstrahlung
eines zweiten frequenzstabilisierten Referenzlasers
überlagert wird und die dabei durch Interferenz
auftretenden Summen- und Differenzfrequenzen als
Meßgröße für die auftretenden Temperaturänderungen
verwendet werden.
Das Überlagerungssignal der beiden Laser wird
vorteilhafterweise von einer Photodiode detektiert und
von einem Hochfrequenzanalysator verarbeitet und
angezeigt.
Die erfindungsgemäße Anordnung ist dadurch
gekennzeichnet, daß ein monolithischer Festkörperlaser
über eine Glasfaser mit einer Laserpumpdiode verbunden
ist, daß ein frequenzstabilisierter zweiter
Referenzlaser vorgesehen ist sowie eine Photodiode, der
ein Hochfrequenzanalysator nachgeschaltet ist.
Vorteilhafterweise ist der monolithische Laser derart
verspiegelt, daß der der Glasfaser zugewandte Spiegel
für die Wellenlänge der Pumpstrahlung hoch
transmittierend ist und für die erzeugte Laserstrahlung
einen Reflektionsgrad von weniger als 100% aufweist,
während der der Glasfaser abgewandte Spiegel für die
erzeugte Laserstrahlung hoch reflektierend ist.
Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist in die die
Pumpdiode mit dem monolithischen Laser verbindende
Glasfaser eine Y-förmige Weiche eingebaut; zwischen der
Y-förmigen Weiche der Glasfaser und der Photodiode ist
in vorteilhafter Weise ein wellenlängenselektives Filter
zum Abtrennen der Pumpstrahlung vorgesehen.
Mit der Erfindung wird der Vorteil erzielt, daß extrem
genaues Messen von Temperaturänderungen in einem
dynamischen Bereich von 109 möglich ist mittels eines
optischen hochspannungsunempfindlichen Meßverfahrens,
das bisherige Meßverfahren um mehrere Größenordnungen
sowohl in der Empfindlichkeit als auch in der Dynamik
übertrifft. Die erfindungsgemäße Anordnung ist in der
Lage, Temperaturänderungen von 0,1 mK in einem
dynamischen Bereich von 109 zu messen, aufgrund einer
sich linear mit der Temperatur ändernden, auf einer
Längenänderung des monolithischen Laserresonators
beruhenden Frequenzänderung, die durch Überlagerung mit
einem frequenzstabilisierten Referenzlaser und
Hochfrequenzanalyse des Schwebungssignales am Ausgang
einer Photodiode leicht zu messen ist.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnung
näher erläutert, in der in vorteilhaftes
Ausführungsbeispiel dargestellt ist. Es zeigen
Fig. 1 schematisch einen Querschnitt durch einen
monolithischen Festkörperlaser und
Fig. 2 schematisch eine Ansicht der erfindungsgemäßen
Anordnung.
Ein monolithischer kleiner Festkörperlaser, bestehend
aus einem Laserkristall 1 aus Nd:YAG, der an seinen
beiden sich gegenüberliegenden Enden mit Spiegelschichten 2, 3
versehen ist, wird mittels einer Laserdiode 10 über eine
Glasfaser 11 optisch gepumpt. Die notwendige
Ausgangsleistung der Pumplaserdiode 10 liegt hierbei in
einem Bereich von einigen 10 bis 100 mW. Der derart
optisch angeregte Festkörperlaser liefert im Einfrequenz
betrieb eine Ausgangsleistung von einigen mW. Ein
derartiger Laser mit monolithischem Aufbau weist eine
typische Linienbreite von kleiner als 1 kHz auf, welche
die Messung von kleinsten Frequenzverstimmungen in
gleicher Größenordnung (d. h. einige 100 Hz bis 1 kHz)
ermöglicht.
Durch den monolithischen Aufbau des Lasers ist ferner
die exakte Emissionsfrequenz dieses Lasers lediglich von
der Kristalltemperatur abhängig, welche die Länge des
monolithischen Resonators, der durch die Spiegel 2 und 3
begrenzt wird, bestimmt. Temperaturänderungen des
Laserkristalles 1 führen so zu einer unmittelbaren
linearen Änderung der Emissionsfrequenz; typische Werte
hierfür sind etwa -3 GHz/Kelvin. Eine Überlagerung
dieser temperaturabhängig verschobenen Laseremission mit
der Emission eines frequenzstabilisierten
Referenzlasers, dessen Ausgangsstrahlung in Fig. 2 mit 9
bezeichnet ist, führt zur Erzeugung von Summen- und
Differenzfrequenzen durch Interferenz. Wird das optisch
überlagerte Signal mit einer Photodiode 7 optisch
detektiert und in einem Hochfrequenzanalysator 8
analysiert, so kann die Schwebungsfrequenz direkt
sichtbar gemacht werden. Hochfrequenzanalysatoren können
Frequenzen bis zu wenigen Hz, sogar bis zu mHz leicht
auflösen, bei gleichzeitig sehr hohen freien spektralen
Bereichen, bis zu vielen GHz.
Der über die Glasfaser 11 gepumpte monolithische
Laserkristall 1 ist nun dergestalt verspiegelt, daß der
der Glasfaser 11 zugewandte Spiegel 2 für die
Laserstrahlung, die im Falle eines Nd:YAG-Laserkristalls
eine Wellenlänge von 1064 nm aufweist einen
Reflexionsgrad von weniger als 100% aufweist und
gleichzeitig für die eintretende Pumpstrahlung hoch
transmittierend ist. Der der Glasfaser 11 abgewandte
Spiegel 3 des Laserkristalles 1 ist hingegen für die
Erzeugung der Laserstrahlen hoch reflektierend
ausgebildet.
Aufgrund dieser Verspiegelung emittiert der über die
Glasfaser 11 gepumpte monolithische Laserkristall 1
Laserstrahlung der Wellenlänge 1064 nm in Richtung
Glasfaser, aus der die eine Pumpstrahlung von der
Laserdiode 10 über die Ankoppeloptik 4′ mit einer
Wellenlänge von 810 nm dem Laserkristall 1 zugeführt
wird. Die ausgesandte Laserstrahlung wird demzufolge
über die Pumpstrahlung-Ankoppeloptik 4 wieder zurück in
die Glasfaser 11 fokusiert. In dieser Glasfaser ist nun
eine Y-förmige Weiche 5 vorgesehen, durch welche ein
Teil der in die Glasfaser 11 eingespeisten
Laserstrahlung abgezweigt und in Richtung einer
Photodiode 7 geführt wird.
An einer geeigneten Stelle zwischen dem Anbringungsort
der Y-förmigen Weiche 5 und der Photodiode ist ein
wellenlängenselektives Filter 12 vorgesehen, mit der die
Pumpstrahlung, die eine unterschiedliche Wellenlänge
aufweist, abgetrennt wird.
Mit 9 ist die Ausgangsstrahlung eines
frequenzstabilisierten, nicht näher dargestellten
Referenzlasers, z. B. ebenfalls eines monolithischen
Festkörperlasers, bezeichnet, dessen Strahlung zusammen
mit der durch die Y-förmige Weiche 5 abgetrennten
Laserstrahlung des Laserkristalls 1 über eine geeignete
Optik 6 der Photodiode 7 und damit dem
Hochfrequenzanalysator 8 zugeführt wird. Das
hochfrequenzanalysierte Schwebungssignal ist dabei
direkt der Längenänderung des Festkörperlasers
proportional und somit der Temperatur des Kristalles 1,
welcher hier als Temperatursonde wirkt.
Bei einer Frequenzänderung von etwa 3 GHz/K und einer
Spektrum-Analysator-Auflösung von 100 Hz oder besser
können damit Temperaturunterschiede von unter 0,1 µK
aufgelöst werden, in einem Dynamikbereich von nahezu 109.
Der erfindungsgemäße Lasertemperatursensor ist damit in
der Lage, hochpräzise Temperatur-Änderungsmessungen in
einem großen Dynamikbereich durchzuführen. Bei
geeigneter Eichung des monolithischen Lasers sowie des
Referenzlasers sind auch absolute Temperaturmessungen
mit einer Genauigkeit möglich, welche letztlich nur
durch die Eichgenauigkeit bestimmt ist.
Claims (6)
1. Verfahren zum Messen von Temperaturänderungen unter
Verwendung von Laserstrahlung, wobei der Laser
im Einfrequenzbetrieb arbeitet, dadurch gekenn
zeichnet, daß diese Einfrequenz der
Laserstrahlung eines zweiten frequenzstabilisierten
Referenzlasers überlagert wird und die dabei durch
Interferenz auftretenden Summen- und
Differenzfrequenzen als Meßgröße für auftretende
Temperaturänderungen verwendet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Überlagerungssignal der beiden Laser von
einer Photodiode detektiert und von einem
Hochfrequenzanalysator verarbeitet und angezeigt
wird.
3. Anordnung zum Messen von Temperaturänderungen zur
Durchführung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1
und 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein
monolithischer Festkörperlaser über eine Glasfaser
mit einer Laserdruckdiode verbunden ist, daß ein
frequenzstabilisierter zweiter Referenzlaser
vorgesehen ist sowie eine Photodiode, der ein
Hochfrequenzanalysator nachgeschaltet ist.
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der monolithische Laser derart verspiegelt ist,
daß der der Glasfaser zugewandte Spiegel für die
Wellenlänge der Pumpstrahlung hochtransmittierend
ist und für die erzeugte Laserstrahlung einen
Reflexionsgrad von weniger als 100% aufweist,
während der von der Glasfaser abgewandte Spiegel
für die erzeugte Laserstrahlung hoch reflektierend
ist.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 3 und 4, dadurch
gekennzeichnet, daß in die die Pumpdiode mit dem
monolithischen Laser verbindende Glasfaser eine
Y-förmige Weiche eingebaut ist.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß zwischen der Y-förmigen Weiche
in der Glasfaser und der Photodiode ein
wellenlängenselektives Filter zum Abtrennen der
Pumpstrahlung vorgesehen ist.
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE4034237A1 true DE4034237A1 (de) | 1992-04-30 |
DE4034237C2 DE4034237C2 (de) | 1992-08-06 |
Family
ID=6417178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19904034237 Granted DE4034237A1 (de) | 1990-10-27 | 1990-10-27 | Verfahren und anordnung zur messung von temperaturaenderungen |
Country Status (1)
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DE8910521U1 (de) * | 1989-09-04 | 1989-12-28 | Kerl, Klaus, Prof. Dr., 3300 Braunschweig | Sensor |
-
1990
- 1990-10-27 DE DE19904034237 patent/DE4034237A1/de active Granted
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Non-Patent Citations (1)
Title |
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JP 56-135 135 (A) in: Patents Abstr. of Japan, Sect. P., Vol. 6(1982) No. 8, P-98 * |
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DE19960370C2 (de) * | 1999-12-14 | 2001-11-22 | Rubitec Gesellschaft Fuer Innovation & Technologie Ruhr Univ Bochum Mbh | Optischer Temperatursensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4034237C2 (de) | 1992-08-06 |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DEUTSCHE AEROSPACE AG, 8000 MUENCHEN, DE |
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
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Owner name: DAIMLER-BENZ AEROSPACE AKTIENGESELLSCHAFT, 80804 M |
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