DE3943731C2 - Optischer Stellungsgeber - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen optischen Linearkodierer,
der zur Stellungsmessung beispielsweise in einer
Werkzeugmaschine oder dergleichen eingesetzt wird.
Speziell geht es um einen mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgeber, der mit einem
Moir´muster arbeitet, das von einem Satz von Beugungs
gittern erzeugt wird.
Derzeitige Längen- oder Entfernungsmeßmethoden bein
halten solche, bei denen mit Moir´mustern gearbeitet
wird, die von einem Paar Beugungsgittern erzeugt werden.
Solche Moir´muster sind für jegliche seitliche
Änderungen der Beugungsgitter empfindlich und können
Versetzungen oder Verschiebungen in sehr feinen
Schritten erfassen. An zwei relativ zueinander be
wegten Teilen einer Werkzeugmaschine ist ein Paar
Beugungsgitter befestigt, die im folgenden als erstes
bzw. zweites Beugungsgitter bezeichnet werden. Während
die die Beugungsgitter tragenden Teile der Werkzeug
maschine bewegt werden, muß darauf geachtet werden,
daß der Abstand, der Spalt oder die Lücke zwischen den
beiden Beugungsgittern stets konstant gehalten wird.
Während man die Gitterkonstante der beiden Beugungs
gitter kleinmacht, um die Auflösung einer Längen
messung zu vergrößern, wird der Einfluß des Licht
beugungseffekts groß. Deshalb wird ein auf das zweite
Beugungsgitter reflektierter Schatten des ersten
Beugungsgitters schwach, so daß es unter Umständen
nicht mehr möglich ist, Beugungsmuster mit guter
Sichtbarkeit zu erhalten. Um derartige Nachteile auszu
schließen, wurde ein Fourierbild dazu verwendet,
Beugungs-Moir´muster zu erhalten. Ein Fourierbild
bedeutet eine Verteilung von dunklen und hellen Ab
schnitten aufgrund einer Lichtabschattung. Wenn das
erste Gitter von parallelen Lichtstrahlen gleicher
Phase oder mit Koherenz bestrahlt wird, erhält man
eine Lichtabschattung oder Lichtverteilung mit der
gleichen Gitterkonstanten, wie der des ersten Beugungs
gitters, und zwar an Stellen, die sich dadurch be
stimmen, daß man mit einer ganzen Zahl den fest
stehenden Abstand multipliziert, indem man das zwei
fache der zum Quadrat erhobenen Gitterkonstanten P
durch die Wellenlänge teilt (an den Mittelpositionen
der genannten Stellen, d. h. an Stellen, die sich durch
Multiplizieren des erwähnten Abstands mit einer
halbierten ganzen Zahl ergeben, erhält man eine Licht
abschattung mit der umgekehrten Beziehung von dunklen
und hellen Abschnitten).
Wenn das zweite Gitter an der Stelle plaziert wird,
an der das Fourierbild erzeugt wird, und die zwei
Gitter seitlich und relativ zueinander bewegt werden,
zeigt das durch das zweite Gitter gelangende Beugungs
licht einen deutlichen Kontrast mit einer Periode P.
Diesen Kontrast nennt man ein Beugungsmoir´ (oder im
folgenden Beugungsmuster). In jüngster Zeit wurden
Untersuchungen vorgenommen, die darauf abzielten, dieses
Prinzip bei der Kurzwegmessung zu verwenden, so z. B.
bei dem Maskenausrichtschritt im Zuge der Halbleiter
fertigung (vergleiche J. Vac. Sci. Technol. 15 (1978),
S. 984 und J. V. Vac. Sci. Technol. B1 (1983), S. 1276).
[Z. B. aus der letztgenannten Literaturstelle ist es u. a. für sich auch bekannt,
von einem Indexgitter ausgehende Lichtbündel gleicher negativer
und positiver Ordnung additiv zusammenzufassen.]
Wenn der zu messende Abstand groß und die Gitter
konstante P kleingemacht wird, um die Genauigkeit der
Abstandsmessung zu vergrößern, so ist es schwierig,
zwei Beugungsgitter an in Längsrichtung getrennten
Stellen auf einer Distanz von 2P²/λ zu halten, um
ein Fourierbild zu erzeugen, da der Abstand sich im
Verhältnis zu der quadrierten Gitterkonstanten P
abrupt verkürzt. Wenn der Abstand oder der Spalt
zwischen den Beugungsgittern sich gegenüber dem Zustand,
in welchem ein Fourierbild erzeugt wird, ändert oder
verschiebt, ändert sich die Intensität des Beugungs
lichts stark, was eine Positionierung der Werkzeug
maschinenteile unmöglich macht. Nimmt man z. B. eine
Beugungsgitterkonstante P von 1 µm an, während der
Lichtstrahl eine Wellen von λ= 0,633 µm aufweise,
so muß eine Änderung des Abstands oder der Lücke
G des Beugungsgitters beschränkt werden auf einen
ausreichend kleinen Bereich in bezug auf 1,6 µm, was
eine Fresnel-Zahl (λ · G)/P² = 2 ergibt, dieses
Ergebnis erhält man, indem man das Produkt aus Lücken
größe G zwischen den Beugungsgittern und der Licht
wellenlänge λ dividiert durch die quadrierte
Gitterkontante P. Dies ist der Grund dafür, daß
Beugungsmuster nicht dazu verwendet werden können,
jeden Abstand zwischen zwei Teilen, wie sie üblicher
weise in Werkzeugmaschinen verwendet werden, genau zu
messen.
Im Hinblick auf die oben gezeigten Umstände ist von
der Anmelderin (JP-A-61-17016) ein Stellungsdetektor
zum genauen Bestimmen irgendwelcher Stellungen vorge
schlagen worden. Bei diesem Stellungsdetektor wird ein
Beugungsmustersignal erhalten, welches nicht beein
flußt ist durch eine Änderung der Lücke zwischen dem
ersten und dem zweiten Beugungsgitter, und die Anordnung
ist empfindlich gegenüber seitlichen Versetzung der
Beugungsgitter. Bei diesem Gerät wird an sämtlichen
Abschnitten der effektiven gegenüberliegenden Fläche
zwischen dem ersten und dem zweiten Gitter der Licht
weg oder der Durchgangsweg der Lücke zwischen den
Gittern geändert, so daß ein Signal erhalten wird,
welches dem Mittelwert der Beugungsmustersignale ent
spricht. Die richtige Stellung wird erfaßt unter Ver
wendung der Änderung der Signale derjenigen Periode,
die der Periode der halben Gitterkonstante P der
Beugungsgitter entspricht, wobei die Änderung in dem
Mittelwert zum Ausdruck kommt.
Fig. 1 bis 3 zeigen jeweils ein Beispiel für einen
mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungs
geber der oben beschriebenen Art. Die Arbeitsweise
des Stellungsgebers soll im folgenden für den Fall
beschrieben werden, daß ein Beugungslaserstrahl
nullter Ordnung verwendet wird.
Bei der Anordnung nach Fig. 1 wird das erste Gitter 1
von einem Laserstrahl LB auf der linken Bildseite be
strahlt. Man beachte, daß das zweite Gitter 2 an der
Rückseite des ersten Gitters 1 eine abgestufte
transparente Platte 3 aufweist, die an dem zweiten
Gitter 2 befestigt ist. Die abgestufte transparente
Platte 3 besteht aus einem Material mit hohem
Brechungsindex, welches so ausgewählt ist, daß der
optische Bereich der Lücke G in einen der Werte von
Go bis Go + 2P²/λ
fällt. Die abgestufte transparente Platte 3 erzeugt
Lichtweg-Längenunterschiede in jedem Teil des Laser
strahls LB. Die abgestufte transparente Platte 3 nach
Fig. 1 besitzt fünf Stufen, die den Bereich des optischen
Abstands 2P²/λ in fünf Teile unterteilt. An einer
Stelle hinter dem zweiten Gitter 2 befindet sich eine
seriell angeordnete Linsengruppe 4, die die durch die
unterschiedliche optische Abstände aufweisenden fünf
Zonen des zweiten Gitters 2 gelangenden Laserstrahlen
konvergiert.
Von den einzelnen Linsen der Linsengruppe 4 jeweils
konvergierte Laserstrahlen werden mit Hilfe eines Satzes
von Fotodioden erfaßt. Ein Addierer 7, der durch einen
Operationsverstärker und zugehörige Schaltungselemente
gebildet wird, addiert die von den Fotodioden 5 kommenden
Signale, um Versetzungssignale zu erhalten.
Im Fall nach Fig. 2 sind das erste Gitter 1 und das
zweite Gitter 2 parallel angeordnet, wobei an dem
letztgenannten Gitter 2 eine Zufallslichtwegdifferenz-
Platte 9 einstückig angeformt ist. Diese Zufallslicht
wegdifferenz-Platte besteht aus einem transparenten
Stoff und hat eine konkav-konvexe Oberfläche. Diese
konkav-konvexe Oberfläche bestimmt auf Zufallsbasis
die verschiedenen Lichtwegabstände jedes Teils des
Laserstrahls LB innerhalb des Bereichs von 2P²/λ.
Einzelne Teile des Laserstrahls LB konvergieren durch
die Linsengruppe 4 in Richtung der Streuplatte 10. Die
Brennpunkte des durch jede Linse der Linsengruppe 4
gelangenden Laserstrahls befinden sich in einer
vertikalen Lichtlinie auf der Streuplatte 10. Das
heißt: Jeder Teil des fokussierten oder konvergierten
Laserstrahls wird aufgrund der Streuplatte 10 zu einem
inkohärenten Strahl. Ein von der Streuplatte 10 ge
streuter Laserstrahl gelangt durch eine konvexe Linse 11,
und ein Photosensor 12, z. B. eine Fotodiode oder der
gleichen, stellt den Laserstrahl in der in Fig. 2
angedeuteten Weise fest. Aufgrund der Verwendung der
Streuplatte sowie der Tatsache, daß einzelne Laser
strahlen durch unterschiedliche Lücken-Distanzen oder
unterschiedliche Lichtwegabstände laufen, werden
diese Laserstrahlen ohne gegenseitige Beeinflussung
gemittelt.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Beispiel für eine her
kömmliche Anordnung. Ein erstes Gitter 1 ist vertikal
bezüglich dem auftreffenden Laserstrahl LB angeordnet,
während das zweite Gitter 2 schräg zu dem ersten
Gitter 1 angeordnet ist. Der Lückenabstand der sich
effektiv gegenüberliegenden Flächenbereiche zwischen
den beiden Gittern 1 und 2 wird so gesteuert, daß er
im Bereich von 2P²/λ liegt. Also kann nur das
Beugungslichtmaximum nullter Ordnung des durch die
Gitter 1 und 2 gelangenden Laserstrahls auf einen
Photodetektor 13 gelangen und erfaßt werden.
Fig. 4 ist eine perspektivische Ansicht, die der
Ansicht nach Fig. 3 ähnelt und einen mit gemitteltem
Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgeber zeigt, bei
dem sekundäres Beugungslicht verwendet wird. Bei dem
Stellungsgeber wird die Lücke zwischen den beiden
Gittern 1 und 2 so gesteuert, daß Abstände erhalten
werden, die man durch den Faktor P²/4 λ erhält. Im
Fall der Verwendung des zweiten Beugungsmaximums
(Beugungsmaximum oder -streifen zweiter Ordnung) er
folgt die im Fall des Beugungslichts nullter Ordnung
entstehende Abschattung an der Stelle, die durch den
Faktor P²/4 λ bestimmt wird. Diese Stelle unter
scheidet sich von der Stelle, die man bei der Ver
wendung des Beugungsmaximums nullter Ordnung erhält.
Es empfiehlt sich, die Lücken-Lichtwegentfernungen
zu mitteln, die man erhält, indem man den Lücken-
Lichtwegabstand von 2P²/λ, der bei Verwendung
des Beugungsmaximums nullter Ordnung zu mitteln ist,
in acht Teile unterteilt. Nebenbei bemerkt: Bei Ver
wendung des zweiten Beugungsmaximums ist selbst dann, wenn
der Bereich 2P²/λ enthalten ist, der identisch ist
mit dem Bereich bei Verwendung des Beugungsmaximums
nullter Ordnung, die Bedingung der gemittelten Lücken-
Lichtwegentfernung für die Verwendung des Sekundär-
Beugungsmaximums erfüllt, da die Breite der Lücke dem
Wert P²/4 λ, multipliziert mit einer ganzen Zahl,
entspricht. Es versteht sich, daß, wenn in einem
ähnlichen optischen System ein Sekundär-Beugungs
maximum (einschließlich Beugungsmaxima anderer Ordnung)
verwendet wird, die Möglichkeit besteht, exakt die
Stellung zu erfassen, ohne daß eine Änderung der
Spaltbreite zwischen erstem und zweitem Gitter irgend
einen Einfluß auf das Meßergebnis hat, ähnlich wie
bei der Verwendung des Beugungsmaximums nullter Ordnung.
Bei den verschiedenen herkömmlichen Stellungsgebern,
die mit gemittelten Beugungsmustern arbeiten, ändert
sich die Lichtintensität I in Abhängigkeit der
relativen Versetzung X der Beugungsgitter in der in
Fig. 5 dargestellten Weise. Es ist möglich, ein Ver
setzungs- oder Verschiebungssignal zu erhalten, dessen
Periodendauer der Hälfte der Gitterkonstanten P der
Beugungsgitter entspricht, ohne daß das Meßergebnis
irgendwie beeinflußt ist von einer Änderung der
Spaltgröße zwischen erstem und zweitem Gitter.
Das Versetzungssignal läßt sich angenähert durch folgende
Gleichung beschreiben:
I(x) = A cos(2 π 2x/P) + B (1)
worin A: Amplitude
B: Versetzungskomponente
bedeutet.
B: Versetzungskomponente
bedeutet.
Wenn allerdings irgendeine Differenz zustandekommt
zwischen den zu mittelnden Spalt-Lichtwegabständen
während eines Montagevorganges und während des Betriebs
einerseits und einem weiteren, gerade gemittelten
Lichtwegabstand andererseits, oder wenn die Installation
fehlerhaft ist, kann das erhaltene Versetzungssignal
eine Fehlerkomponente enthalten, die eine Periode der
Gitterkonstanten P des Gitters enthält, und/oder Fehler
komponenten ungeradzahliger Ordnung. Wenn das Ver
setzungssignal eine solche Fehlerkomponente enthält,
ist es leider unmöglich, eine präzise Stellungsmessung
durchzuführen, da die Wiederholbarkeit oder Repro
duzierbarkeit des Versetzungssignals einer Periode P/2
nicht erhalten werden kann.
Aus der Druckschrift DE-A1-24 31 551 ist eine Anordnung zur Modula
tion von Licht bekannt. Bei dieser bekannten Anordnung wird das ver
wendete Licht durch mindestens drei aufeinanderfolgende Beugungsvor
gänge in Flächen mit relativ großem Abstand und ohne abbildende Optik
unter Einhaltung bekannter Abstands- und Beugungsbedingungen ge
lenkt. Das von einem ersten Gitter in verschiedene Richtungen gebeugte
Licht wird von einem zweiten Gitter umgelenkt und an einem dritten
Gitter wieder interferentiell vereinigt, wobei alle Gitter die gleiche
Gitterkonstante aufweisen und das dritte Gitter um eine bestimmte
Strecke längs der optischen Achse verschoben ist.
Aus der Druckschrift DE-A-23 31 573 sind ein Verfahren und eine
Vorrichtung zur optoelektronischen digitalen Längenmessung bekannt.
Mit einem transparenten Beugungsgitter, mit einer mit reflektierender
Oberfläche versehenen und zum Beugungsgitter schräg verlaufenden
Basisplatte sowie mit einem optischen System werden Moir´fransen-
Konturlinien erzeugt, die in elektrische Signale umgesetzt werden, wel
che bei einer geradlinigen Relativbewegung von Beugungsgitter, Basis
platte oder optischem System gegenüber den jeweils beiden anderen
Elementen in einer Richtung, die die Gitterlinie zwischen den beiden
anderen Elementen schneidet, in einer elektrischen Schaltung zu einer
Impulsreihe verarbeitet werden, deren Impulszahl proportional der An
zahl der an der Meßstelle vorbeibewegten Moir´fransen-Konturlinien ist.
Die hierzu verwendete bekannte Vorrichtung weist ein Beugungsgitter
und ein fotoelektronisches Element auf einem relativ zur Basisplatte in
Längsrichtung des Beugungsgitters bewegbaren Schlitten auf.
Die vorliegende Erfindung zielt darauf ab, den dem
herkömmlichen optischen Linearkodierer anhaftenden
Nachteil zu beseitigen. Aufgabe der Erfindung ist es
deshalb, einen mit gemitteltem Beugungsmuster ar
beitenden Stellungsgeber zu schaffen, der gegenüber
relativen seitlichen Versetzungen der Beugungsgitter
auch dann empfindlich ist, wenn die Lücke oder der
Spalt zwischen den beiden Gittern Änderungen unter
worfen ist. Dadurch soll der nachteilige Einfluß be
seitigt werden, der durch einen Fehler während der
Montage und des Betriebs hervorgerufen wird.
Es soll eine exakte Stellungsmessung der Teile,
z. B. einer Werkzeugmaschine und einer Struktur,
oder dergleichen möglich sein.
Diese Aufgabe wird
erfindungsgemäß gelöst durch einen mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgeber mit den in dem Anspruch 1 angegebenen Merkmalen. Den Unteransprüchen 2 und
3 sind Weiterentwicklungen des Gegenstandes des Anspruchs 1 zu entnehmen.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung
anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 bis 4 perspektivische, schematische An
sichten von bereits konzipierten
Beugungsmusterdetektoren, die
mit gemitteltem Beugungsmuster ar
beiten,
Fig. 5 den Verlauf einer Ausgangswelle
eines herkömmlichen, mit gemittel
tem Beugungsmuster arbeitenden
Stellungsgebers,
Fig. 6 eine perspektivische Ansicht einer
Ausführungsform eines er
findungsgemäßen, mit gemitteltem
Beugungsmuster arbeitenden
Stellungsgebers,
Fig. 7 eine perspektivische Ansicht einer
zweiten Ausführungsform eines er
findungsgemäßen Stellungsgebers, und
Fig. 8A-8C Ausgangssignalwellenformen für das
erste und das zweite Ausführungs
beispiel.
Fig. 6 zeigt eine perspektivische Ansicht einer
ersten Ausführungsform eines mit gemitteltem Beugungs
muster arbeitendem Stellungsgebers nach der Erfindung,
bei dem ein Sekundär-Beugungsmaximum verwendet wird.
Bei der ersten Ausführungsform befindet sich in senk
rechter Anordnung bezüglich eines Laserstrahls LB ein
erstes Gitter 21, während ein zweites Gitter 22 schräg
gegenüber dem ersten Gitter 21 angeordnet ist. Die
durch das erste Gitter 21 und das zweite Gitter 22
gelangten, mehrfach gebeugten Laserstrahlen werden an
einer zylindrischen Linse 23, die sich hinter dem
zweiten Gitter 22 befindet, gesammelt. Fig. 6 zeigt
lediglich das auf der Minus- und der Plus-Seite ge
legene Beugungsmaximum zweiter Ordnung L±2. Die
konvergierenden Sekundär-Beugungsmaxima L+2 und
L-2 werden mit Hilfe von photoelektrischen Wandler
elementen 24A und 24B erfaßt. Die Wandlerelemente setzen
das Licht um in elektrische Signale, die proportional
zu der Lichtintensität sind. Die elektrischen Signale
I+2 und I-2 werden in dem Addierer 25 addiert, um
Versetzungssignale zu erhalten.
Wenn in dem der Plus-Seite zugehörenden Sekundär-
Beugungsmaximum L+2 eine Fehlerkomponente mit einer
Periode enthalten ist, die der Gitterkonstanten P des
Beugungsgitters gleicht, wird bei der ersten Aus
führungsform eine Änderung der Lichtintensität des
der positiven Seite zugehörenden Sekundär-Beugungs
maximums L+2 in Form eines Versetzungssignals I+2
(X) erhalten, wie es in Fig. 8(A) dargestellt ist.
Diese Wellenform wird durch folgende Gleichung be
schrieben:
I+2(x) = a cos(2 π x/P) + A cos(2 π · 2x/P) + B (1)
worin
a eine Amplitude einer Fehlerkomponente mit einer Periode P ist.
a eine Amplitude einer Fehlerkomponente mit einer Periode P ist.
Demgegenüber besitzt die Änderung der Lichtintensität
des der Minus-Seite zugehörigen Sekundär-Beugungs
maximums L-2 die gleiche Fehlerkomponente mit einer
Periode, die der Gitterkonstanten P des Beugungsgitters
gleicht, und die Phase der Fehlerkomponente ist um
P/2 gegenüber der Phase der Fehlerkomponente des
auf der Plus-Seite gelegenen Sekundär-Beugungsmaximums
L₂ verschoben. Folglich erhält man eine Änderung der
Lichtintensität für das Sekundär-Beugungsmaximum L-2
auf der Minus-Seite oder ein Versetzungssignal I-2(X),
wie sie durch die Wellenform in Fig. 8(B) dargestellt
ist, und wie sie durch die folgende Gleichung be
schrieben wird:
I-2(x) = a cos { 2π (x/P-1/2) } + A cos(2 π·2x/P) + B
= -a cos( 2π x/P)+ A cos (2 πr · 2x/P) + B (2)
Es ist also möglich, ein korrektes Versetzungssignal
zu erhalten, wie es in Fig. 8(C) mit einer Periode
P/2 gezeigt ist, nachdem die Fehlerkomponente mit einer
der Gitterkonstanten P des Beugungsgitters gleichenden
Periode verschoben ist, indem ein elektrisches Signal
(Versetzungssignal) I+2(X), das proportional zur
Änderung einer Lichtintensität des positiven Sekundär-
Beugungsmaximums L+2 ist, addiert wird auf ein
anderes elektrisches Signal (Versetzungssignal) I-2(X),
welches proportional ist zu einer Änderung der Licht
intensität des negativen Sekundär-Beugungsmaximums
L-2.
Fig. 7 zeigt schließlich eine zweite Ausführungsform
eines erfindungsgemäßen, mit gemitteltem Beugungs
muster arbeitenden Stellungsdetektors. Diese ent
spricht dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 6 in ge
wisser Weise, so daß gleiche Teile mit gleichen Bezugs
zeichen versehen sind. Bei der zweiten Ausführungs
form wird das Beugungsmaximum nullter Ordnung sowie
das positive und das negative Beugungsmaximum erster
Ordnung aus verschiedenen Beugungsmaxima unterschied
licher Ordnung gesperrt mit Hilfe einer Abschirmplatte
26, wobei die verbleibenden Beugungsmaxima zweiter
Ordnung durch die zylindrische Linse 23 gesammelt
werden. Lediglich das positive und negative Sekundär-
Beugungsmaximum L+2 werden von einem photoelektrischen
Wandlerelement (Photodetektor) 24C, das sich hinter der
Abschirmplatte 26 befindet, erfaßt. Diese Beugungs
maxima L+2 werden gleichzeitig in ein elektrisches
Signal umgesetzt. Das bedeutet eine Addition zweier
elektrischer Signale, wie es oben erwähnt wurde. Dadurch
ist der mit dem zweiten Ausführungsbeispiel erzielte
Effekt ähnlich dem Effekt, der mit dem anderen Aus
führungsbeispiel erzielt wird.
Obschon bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen
unter anderem das positive Sekundär-Beugungsmaximum
verwendet wird, ist es ebenfalls möglich, andere
Beugungsmaxima der Minus-Seite und der Plus-Seite,
jedoch gleicher Größenordnung zu verwenden.
Durch den erfindungsgemäß ausgestalteten Stellungsgeber
ist es möglich, exakt die gewünschte Position ohne
irgendwelche Fehlerkomponenten anzugeben. Im Vergleich
zu den herkömmlichen Stellungsgebern, die die Licht
intensitäten von positiven und negativen Beugungs
maxima auswerten, vermag der erfindungsgemäße Stellungs
geber eine Stellungsmessung durchzuführen, mittels
doppelter Lichtintensität des gebeugten Laserstrahls,
wobei die Fehlerkomponenten einander auslöschen. Dies
gestattet eine Präzisions-Stellungsmessung, wie sie
z. B. bei Werkzeugmaschinen benötigt wird.
Claims (3)
1. Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungsgeber, um
fassend:
- a) einen ein Lichtbündel aussendenden Laser,
- b) ein erstes vom Lichtbündel beaufschlagtes Beugungsgitter (21), das in Transmission arbeitet,
- c) ein seitlich in bezug auf das erste Beugungsgitter senkrecht zu seiner Teilung verschiebbares zweites Beugungsgitter (22), das über das erste Beugungsgitter beleuchtet wird und ebenfalls in Transmission arbeitet, wobei die Teilungen beider Beugungs gitter senkrecht zur Verschiebungsrichtung zueinander ausge richtet sind, die Lichtweglängen zwischen den Beugungsgittern sowie senkrecht zur Verschiebungsrichtung unterschiedlich sind und sich effektiv gegenüberliegende Flächenbereiche der beiden Beugungsgitter in demjenigen Bereich des Lichtdurchgangs wegs, der dem zweifachen der Fresnel-Zahl oder deren Produkt mit einem zweifachen einer ganzen Zahl entspricht, vorliegen,
- d) eine dem zweiten Beugungsgitter optisch nachgeordnete Signal
erzeugungseinrichtung (24A, 24B, 25; 24C, 26) zum Erfassen
der gemittelten Lichtintensitätswerte aus den sich gegenüberlie
genden Bereichen während der Relativbewegung der Beugungs
gitter derart, daß den Intensitätswerten entsprechende Signal
änderungen mit einer der Hälfte der Gitterkonstanten (P) der
Beugungsgitter entsprechenden Periode vorliegen,
dadurch gekennzeichnet, - e) daß die Signalerzeugungseinrichtung (24A, 24B, 25; 24C, 26) die vom zweiten Beugungsgitter (22) ausgehenden Beugungs spektren, die den gleichen positiven und negativen Ordnungen (L-2, L+2) entsprechen, additiv erfaßt, und zwar unter Ausschluß der nullten Ordnung.
2. Stellungsgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Addierer (24C) vorgesehen ist, der das positive und negative Beu
gungslicht (L-2, L+2) gleicher Ordnung photoelektrisch unmittelbar
zusammenfaßt.
3. Stellungsgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
photoelektrische Wandler (24A, 24B) das positive und negative
Beugungslicht gleicher Ordnung getrennt erfassen, und daß die
Ausgangssignale der photoelektrischen Wandler einen Addierer (25)
beaufschlagen.
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JPH06117016A (ja) * | 1992-10-08 | 1994-04-26 | Sekisui Chem Co Ltd | 屋外用床ユニット |
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1989
- 1989-02-24 DE DE3943731A patent/DE3943731C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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