DE3941795A1 - Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung der schicht - Google Patents
Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung der schichtInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine optisch wirkende Schicht
für Substrate, die insbesondere eine hohe
Antireflexwirkung aufweist, und Verfahren zur Herstellung
der Schicht.
Es gibt eine breite Palette von Schichtsystemen für
Substrate, insbesondere für Glas, die bestimmte optische
Funktionen erfüllen. Die vorliegende Erfindung betrifft
die Gattung der Antireflexschichten, beziehungsweise
Antireflexschichtsysteme.
Durch die deutsche Offenlegungsschrift 36 29 996 ist ein
Vorsatzaggregat für die Katodenstrahlröhre von Monitoren,
Fernsehapparaten und dergleichen, bestehend aus einer
Glasscheibe, insbesondere einer Grauglasscheibe, einer
vorderseitigen Antireflexionsausrüstung und einer
rückseitigen Absorptionsbeschichtung, wobei die
Absorptionsbeschichtung Metallatome aufweist, bekannt
geworden.
In dieser deutschen Offenlegungsschrift wird
vorgeschlagen, daß die Absorptionsbeschichtung
einschichtig aus Chrom,
einer Chrom/Nickel-Legierung oder Siliciden aufgebaut
und antistatisch eingerichtet und geerdet, sowie mit
einer Dicke versehen ist, welche die Lichttransmission
gegenüber der unbeschichteten Glasscheibe um etwa ein
Drittel absenkt.
In der US-Patentschrift 38 54 796 wird weiterhin eine
Beschichtung vorgeschlagen, die zur Reduzierung der
Reflexion dienen soll. Die Beschichtung soll für ein
Substrat angewendet werden, das eine Mehrzahl von
Schichten aufweist. In der Reihenfolge beginnend beim
Substrat ist in der US-Patentschrift folgende Anordnung
beschrieben: drei Gruppen von wenigstens zwei
Lambda/4-Schichten, die aufeinanderfolgenden Schichten
der ersten Gruppe haben einen Brechungsindex, der
unterhalb des Brechungsindexes des Substrats liegt. Die
Schichten der zweiten Gruppe haben einen sich
vergrößernden Brechungsindex und die Schichten der dritten
Gruppe haben einen Brechungsindex unterhalb des
Brechungsindexes des Substrats. Weitere Einzelheiten
sind der genannten US-Schrift zu entnehmen.
Zum Stand der Technik gehört weiterhin die
US-Patentschrift 37 61 160. Dort werden eine
Breitbandantireflexionsbeschichtung und Substrate, die
damit beschichtet sind, vorgeschlagen. Sie weisen
wenigstens vier Schichten für Glas mit hohem Index und
wenigstens sechs Schichten für Glas mit niedrigem Index
auf. Weitere Einzelheiten sind der genannten US-Schrift
zu entnehmen.
Weiterhin wird in der US-Patentschrift 36 95 910 ein
Verfahren zur Anbringung einer Antireflexbeschichtung
auf einem Substrat beschrieben. Diese Beschichtung besteht
aus mehreren Einzelschichten. Das Verfahren für die
Aufbringung der Antireflexionsschichten erfolgt unter
Vakuum, und zwar unter Verwendung von Elektronenstrahlen.
Weitere Einzelheiten sind der genannten US-Patentschrift
zu entnehmen.
Weiterhin gehört zum Stand der Technik die
US-Patentschrift 38 29 197, die einen Antireflexionsbelag,
der als Mehrschichtsystem ausgebildet ist, beschreibt.
Dieser Belag soll auf einem stark brechenden Substrat
angebracht werden. Das Schichtsystem besteht aus fünf
einzelnen Schichten, die gegenseitig angepaßt sind,
und zwar in Hinsicht auf ihren Brechungsindex und in
Hinsicht auf ihre optische Dicke. Durch diese Anpassung
soll eine günstige Antireflexionskurve mit einem breiten,
flachen, mittleren Teil erreicht werden. Weitere
Einzelheiten dieses Vorschlags sind der genannten
US-Patentschrift zu entnehmen.
Zum Stand der Technik gehört weiterhin die schweizerische
Patentschrift 2 23 344. Diese Schrift befaßt sich mit
einem Überzug zur Verminderung der Oberflächenreflexion.
Der Überzug besteht aus mindestens drei Schichten mit
verschiedenen Brechzahlen. Die Verminderung der
Oberflächenreflexion soll nach dieser Schrift durch eine
bestimmte Auswahl der Brechzahlen der einzelnen Schichten
erzielt werden.
Aus dem zitierten Stand der Technik geht eindrucksvoll
hervor, welche Anstrengungen unternommen wurden, um eine
befriedigende Antireflexwirkung zu erzielen. Insbesondere
sind der Aufwand an Schichtsystemen mit zahlreichen
Einzelschichten und der Aufwand an Materialien bei den
Gegenständen des Standes der Technik bemerkenswert hoch.
Dies führt notwendigerweise zu verhältnismäßig aufwendigen
und daher kostspieligen Herstellungsverfahren. Außerdem
muß in vielen Fällen relativ teures Material verwendet
werden. Ebenfalls ist die Aufbringung der Materialien
in vielen Fällen kompliziert und kostenintensiv.
Der Erfindung liegen folgende Aufgaben zugrunde:
Die Nachteile des Standes der Technik sollen behoben
werden.
Es sollen gute Voraussetzungen für die wirtschaftliche
Herstellung einer Antireflexbeschichtung für transparente
Substrate geschaffen werden.
Transparente Substrate werden in einer Vielzahl moderner
Einrichtungen und Geräte benötigt. Die Hersteller dieser
Einrichtungen und Geräte stellen hohe Anforderungen in
Hinsicht auf die optischen und sonstigen Eigenschaften
der Beschichtung dieser Substrate.
Die Erfindung soll diese hohen Anforderungen insbesondere
in Hinsicht auf die Entspiegelung, die Kontrasterhöhung
und die Erhöhung der Antistatikwirkung erfüllen.
Weiterhin sollen Voraussetzungen dafür geschaffen werden,
daß nur eine Schicht benötigt wird, um eine gute
Antireflexwirkung zu erzielen.
Die Erfindung macht sich weiterhin zur Aufgabe,
Voraussetzungen für den Einsatz eines preisgünstigen
Materials zu schaffen.
Mit der Erfindung soll ein Konzept vorgeschlagen werden,
bei dem DC-reaktiv mit Magnetron vom Metalltarget
gesputtert werden kann.
Die Anwendung nur einer Schicht, der Einsatz eines
preisgünstigen Targetmaterials und die Möglichkeit,
DC-reaktiv mit Magnetron vom Metalltarget zu sputtern,
führen zu einer äußerst wirtschaftlichen Herstellung
der erfindungsgemäßen Antireflexbeschichtung.
Die gestellten Aufgaben werden erfindunggemäß dadurch
gelöst, daß auf der vom Betrachter abgewandten
Substratseite (Rückseite) (9) eine Rückseitenschicht
(8), die TiNx aufweist, angeordnet ist.
In der Praxis hat sich besonders bewährt, wenn ein
Substrat mit einem Brechungsindex n = 1,52 eingesetzt
wird und dabei vorgesehen wird, daß auf der vom Betrachter
abgewandten Substratseite (Rückseite) (9) eine
Rückseitenschicht (8), die TiNx mit x größer als 1
aufweist, angeordnet ist.
Als besonders wirkungsvoll hat sich herausgestellt, daß
bei Glas mit einem Brechnungsindex von n = 1,52 auf der
vom Betrachter abgewandten Glasseite (Rückseite) (9)
eine Rückseitenschicht (8), die TiNx mit x größer als
1 aufweist, angeordnet ist.
Außerdem kann vorgesehen werden, daß die auf der Rückseite
angeordnete TiNx-Schicht (8) eine Dicke von 40 bis
200 Ångström, insbesondere von 60 bis 70 Ångström,
aufweist.
Besonders gute Ergebnisse werden dadurch erreicht, daß
die auf der Rückseite angeordnete TiNx-Schicht (8)
eine Dicke von 70 Ångström aufweist.
Eine weitere Ausführungsform mit besonders guten
Ergebnissen besteht darin, daß die Rückseitenschicht
(8) TiNx aufweist und eine Dicke von cirka 100 Ångström
besitzt.
Bei einem besonders bevorzugten Ausführungsbeispiel wird
vorgesehen, daß die auf der Rückseite angeordnete TiNx
-Schicht (8) eine Dicke von 70 Ångström besitzt und einen
komplexen Brechungsindex mit Realteil n = 1,85 und
Imaginärteil k = 1,18 bei einer Wellenlänge 550 nm
aufweist, daß das Substrat (1) aus Glas besteht, eine
Dicke von z. B. 2 mm besitzt und einen Brechungsindex
n = 1,52 aufweist. Obwohl in den vorangegangenen
Ausführungsbeispielen das Substrat aus Glas eine Dicke
von 2 mm aufweist, kann die Erfindung grundsätzlich aus
bei Glassubstraten eingesetzt werden, die andere Dicken
aufweisen.
Ein besonders modernes und rationelles Herstellung der
TiNx-Schicht wird dadurch erreicht, daß ein
Katodenzerstäubungsverfahren, insbesondere ein
DC-reaktives Sputtern vom Target mit Magnetron, zur
Beschichtung eingesetzt wird.
Im einzelnen kann hierbei vorgesehen werden, daß durch
reaktives Sputtern vom Ti-Target mit Magnetron eine
Schicht aus TiN bei Anwesenheit eines Sputtergasgemisches,
das Ar und N2 umfaßt, gebildet wird, und zwar bei
einem Druck von circa 5×10-3 mbar.
Alternativ wird vorgeschlagen, daß ein an sich bekanntes
Aufdampfverfahren, Chemical Vapor Deposition
(CVD)-Verfahren, Plasma-gestütztes CVD-Verfahren,
Pyrolyse-Verfahren, oder Tauchverfahren zur Beschichtung
eingesetzt wird.
Eine gute Ableitung elektrostatischer Aufladung und damit
eine gute Antistatikwirkung wird dadurch erreicht, daß
die TiNx -Schicht einen Flächenwiderstand von 100 bis
500 Ohm pro Quadrat aufweist.
Mit der Erfindung werden folgende Vorteile erzielt.
Die eingangs beschriebenen Aufgaben werden gelöst.
Ganz überraschend hat sich herausgestellt, daß eine sehr
hohe Antireflexwirkung alleine schon dadurch erreicht
wird, daß auf der vom Betrachter abgewandten Substratseite
lediglich eine einzige TiNx-Rückseitenschicht angeordnet
ist.
Wenn man die normale Reflexion an der nicht mit TiNx
beschichteten Rückseite eines Substrats aus Glas, mit
100% angibt, dann reduziert die TiNx-Schicht diese
Reflexion an der Rückseite um 90%. Dies ist ein großer
technischer Fortschritt, der mit einfachen Mitteln erzielt
wird.
Neben der geschilderten hohen Entspiegelung wird eine
markante Kontrasterhöhung erreicht.
Dadurch, daß die TiNx-Schicht elektrisch leitend ist
und einen relativ niedrigen Flächenwiderstand aufweist,
kann durch Erdung auf einfache Weise die elektrostatische
Aufladung reduziert oder verhindert werden. Durch die
Reduzierung bzw. Verhinderung der elektrostatischen
Aufladung wird die Antistatikwirkung verbessert.
Die Gesamtdicke der Schicht ist, verglichen mit den
Schichtsystemen des Standes der Technik, sehr klein.
Schon aus diesem Grund sind die Herstellungskosten für
die erfindungsgemäße Schicht gering.
Weitere Einzelheiten der Erfindung, der Aufgabenstellung
und der erzielten Vorteile sind der folgenden Beschreibung
mehrerer Ausführungsbeispiele der Erfindung zu entnehmen.
Diese Ausführungsbeispiele werden anhand von vier Figuren
erläutert.
Die Fig. 1 zeigt ein Substrat ohne Beschichtung.
Die Fig. 2 zeigt ein Substrat mit Beschichtung.
Die Fig. 3 und 4 zeigen Transmissions- beziehungsweise
Reflexions-Kurven in Prozent über Wellenlängen in nm.
In schematischer Darstellung ist in Fig. 1 ein aus Glas
bestehendes Substrat 1 dargestellt. Die Vorderseite trägt
die Bezugsziffer 2, die Rückseite trägt die Bezugsziffer
9. Mit Vorderseite ist die dem Betrachter zugewandte
Seite gemeint. Mit Rückseite ist die vom Betrachter
abgewandte Seite gemeint. Der Pfeil 3 bezeichnet die
Blickrichtung des Betrachters.
Mit 4 ist das einfallende Licht bezeichnet. 5 stellt
das an der Vorderseite reflektierte Licht (Rg1 = Reflexion
am Glas) dar. Mit 6 ist das an der Rückseite reflektierte
Licht (Rg2 = Reflexion am Glas) bezeichnet.
Die Reflexionen am Glas und zwar an der Vorderseite und
an der Rückseite betragen normalerweise je ca. 4,2%.
Bei einem Glassubstrat, wie es in Fig. 1 gezeigt wird,
beträgt daher die Gesamtreflexion:
Rgesamt = Rg1+Rg2 = ca. 8,4%
Fig. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei dem das
Substrat 1 aus Glas besteht, das einen Brechungsindex
von n = 1,52 aufweist. Die Dicke des Glassubstrats beträgt
2 mm.
Auf der Rückseite 9 des Glassubstrats ist eine
TiNx-Schicht 8 angebracht. Diese Schicht kann eine Dicke
von 40 bis 200 Ångström aufweisen. Besonders bewährt
hat sich eine Dicke von 60 bis 70 Ångström.
Bei der Reflexionsmessung an einem Beispiel, wie es in
Fig. 2 dargestellt ist, hat sich ergeben, daß die
Reflexion 7 an der Rückseite 9 des Substrats, die die
TiNx-Schicht 8 aufweist, um 90% reduziert wird.
Mit anderen Worten: Das an der Rückseite 9 des
Glassubstrats nach Fig. 2 reflektierte Licht (Rs) beträgt
lediglich 10% des an der Rückseite 9 des Glassubstrats
der Fig. 1 reflektierten Lichts.
Damit ergibt sich eine Gesamtreflexion bei dem System
nach Fig. 2 von
Rgesamt = Rg1+Rs = ca. 4,6%
Im Gegensatz dazu, siehe oben, beträgt bei dem
unbeschichteten Substrat nach Fig. 1:
Rgesamt = Rg1+Rg2 = ca. 8,4%
Damit löst dieses Ausführungsbeispiel die gestellte
Aufgabe, Erzielung einer hohen Antireflexwirkung, in
eindrucksvoller Weise.
Als Substrat können außer Mineralglas, Floatglas auch
Plexiglas, durchsichtige Kunststoffschichten, Folien
usw. eingesetzt werden.
Es folgt die Beschreibung zweier Ausführungsbeispiele,
bei denen die Reflexion und die Transmission im sichtbaren
Wellenbereich des Lichts gemessen wurden. Die
Meßergebnisse sind grafisch anhand von Kurven in den
Fig. 3 und 4 dargestellt.
- - Substrat: Glas (1), Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52
- - Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 120 Ångström Brechungskoeffizient n = 1,85 (Real-) und k = 1,18 (Imaginärteil)
Für dieses Beispiel wurden die Gesamtreflexion und die
Transmission in Prozent gemessen, und zwar für einen
Wellenlängenbereich von 400 nm bis 700 nm.
Nachfolgend werden die Meßergebnisse für die
Gesamtreflexion und die Transmission in einer Tabelle
bestimmten Wellenlängen gegenübergestellt:
Die Meßergebnisse werden, wie dargelegt, als Kurven
in Fig. 3 grafisch dargestellt. Auf der Abzisse 10 des
Koordinatensystems in Fig. 3 sind die Wellenlängen in
nm eingetragen. Auf der linken Ordinate 11 des
Koordinatensystems sind die Prozentwerte für die
Gesamtreflexion eingetragen. Auf der rechten Ordinate
12 des Koordinatensystems sind die Prozentwerte für die
Transmission eingetragen.
Aus den Kurven ist deutlich erkennbar, daß die
Gesamtreflexionskurve 14 im Kernwellenlängenbereich des
sichtbaren Lichts außerordentlich niedrig ist. Sie liegt
zwischen 4 und 5%. Im Bereich zwischen 580 und 620 nm
unterschreitet die Reflexionskurve sogar die 4%-Grenze.
Damit ist die gewünschte hohe Antireflexwirkung in
deutlicher Weise erzielt worden. Im gleichen
Kernwellenlängenbereich hat die Transmissionskurve 13
relativ hohe Werte.
Das Schichtsystem des zweiten Beispiels ist wie folgt
gekennzeichnet:
- - Substrat: Glas, Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52
- - Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 70 Ångström Brechungskoeffizient wie im ersten Beispiel
Für dieses Schichtsystem wurden die Gesamtreflexion in
Prozent und die Transmission in Prozent gemessen, und
zwar für einen Wellenlängenbereich von 400 nm bis 700 nm.
Nachfolgend werden die Meßergebnisse für die
Gesamtreflexion und die Transmission in einer Tabelle
bestimmten Wellenlängen gegenübergestellt:
Die Meßergebnisse werden, wie dargelegt, als Kurven
in Fig. 4 grafisch dargestellt. Die Abzisse und die
Ordinaten tragen die im Zusammenhang mit Fig. 3
beschriebenen Maßeinheiten.
Aus der Gesamtreflexionskurve 16 ist deutlich erkennbar,
daß die Reflexion im Bereich zwischen 5 und 4% liegt.
Ab 520 nm nähert sie sich der 4%-Linie. Damit ist die
gewünschte hohe Antireflexwirkung auch durch dieses
Beispiel in überzeugender Weise erzielt worden. Die
Transmissionskurve 15 hat im Kernbereich des sichtbaren
Lichts ihr Maximum.
Zu der Transmissionskurve 13 (Fig. 3) und zu der
Transmissionskurve 15 (Fig. 4) ist grundsätzlich
folgendes zu sagen:
Geringe Transmissionswerte, z. B. bei einer Vorsatzscheibe
können auf einfache Weise durch Verstärkung der
Lichtquelle, z. B. durch Aufdrehen des Potentiometers
bei einem LCD, kompensiert werden. Die TiNx-Schicht der
beiden letztgenannten Ausführungsbeispiele sind nach
dem im folgenden beschriebenen Verfahren hergestellt
worden:
Es wurde mit Magnetron gesputtert und zwar in reaktiver
Gasatmosphäre.
Als Sputtermaterial wurde TiN und als Sputtergemisch
wurde eine Mischung aus Ar und N2 benutzt.
Der Druck während des Sputtervorgangs betrug ca.
5×10-3 mbar.
Als Targetmaterial wurde Ti benutzt.
Liste der Einzelteile
1 Substrat, Glas
2 Vorderseite
3 Pfeil, Blickrichtung
4 einfallendes Licht
5 an der Vorderseite reflektiertes Licht
6 an der Rückseite reflektiertes Licht (Fig. 1)
7 an der Rückseite reflektiertes Licht (Fig. 2)
8 Rückseitenschicht, TiNx-Schicht
9 Rückseite
10 Abzisse
11 linke Ordinate
12 rechte Ordinate
13 Transmissionskurve
14 Reflexionskurve
15 Transmissionskurve
16 Reflexionskurve
2 Vorderseite
3 Pfeil, Blickrichtung
4 einfallendes Licht
5 an der Vorderseite reflektiertes Licht
6 an der Rückseite reflektiertes Licht (Fig. 1)
7 an der Rückseite reflektiertes Licht (Fig. 2)
8 Rückseitenschicht, TiNx-Schicht
9 Rückseite
10 Abzisse
11 linke Ordinate
12 rechte Ordinate
13 Transmissionskurve
14 Reflexionskurve
15 Transmissionskurve
16 Reflexionskurve
Claims (17)
1. Optisch wirkende Schicht für Substrate, die
insbesondere eine hohe Antireflexwirkung aufweist, dadurch
gekennzeichnet, daß auf der vom Betrachter abgewandten
Substratseite (Rückseite) (9) eine Rückseitenschicht
(8), die TiNx mit x größer als 1 aufweist, angeordnet
ist.
2. Optisch wirkende Schicht für ein Substrat, das einen
Brechungsindex n = 1,52 aufweist, dadurch gekennzeichnet,
daß auf der vom Betrachter abgewandten Substratseite
(Rückseite) (9) eine Rückseitenschicht (8), die TiNx
mit x größer als 1 aufweist, angeordnet ist.
3. Optisch wirkende Schicht für ein Substrat, das aus
Glas mit einem Brechungsindex vom n gleich 1,52 besteht,
dadurch gekennzeichnet, daß auf der vom Betrachter
abgewandten Glasseite (Rückseite) (9) eine
Rückseitenschicht (8), die TiNx mit x größer als 1
aufweist, angeordnet ist.
4. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der
Rückseite angeordnete TiNx-Schicht (8) eine Dicke von
40 bis 200 Ångström, insbesondere von 60 bis 70 Ångström,
aufweist.
5. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der
Rückseite angeordnete TiNx-Schicht (8) eine Dicke von
70 Ångström aufweist.
6. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Rückseitenschicht (8) TiNx aufweist und eine Dicke
von cirka 100 Ångström besitzt.
7. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der
Rückseite angeordnete TiNx -Schicht (8) eine Dicke von
70 Ångström besitzt und einen komplexen Brechungsindex
mit Realteil n = 1,85 und Imaginärteil k = 1,18 bei einer
Wellenlänge 550 nm aufweist, daß das Substrat (1) aus
Glas besteht, eine Dicke von z. B. 2 mm besitzt und einen
Brechungsindex n = 1,52 aufweist.
8. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Katodenzerstäubungsverfahren,
insbesondere ein DC-reaktives Sputtern vom Target mit
Magnetron, zur Beschichtung eingesetzt wird.
9. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß durch reaktives Sputtern vom Ti-Target
mit Magnetron eine Schicht aus TiN bei Anwesenheit eines
Sputtergasgemisches, das Ar und N2 umfaßt, gebildet
wird, und zwar bei einem Druck von cirka 5×10-3 mbar.
10. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein an sich bekanntes
Aufdampfverfahren zur Beschichtung eingesetzt wird.
11. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein an sich bekanntes Chemical Vapor
Deposition (CVD)-Verfahren zur Beschichtung eingesetzt
wird.
12. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein an sich bekanntes
Plasma-gestütztes CVD-Verfahren zur Beschichtung
eingesetzt wird.
13. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein an sich bekanntes
Pyrolyse-Verfahren zur Beschichtung eingesetzt wird.
14. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem
oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß ein an sich bekanntes Tauchverfahren
zur Beschichtung eingesetzt wird.
15. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen
Flächenwiderstand von 100 bis 500 Ohm pro Quadrat
aufweist.
16. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen
Flächenwiderstand von 290 Ohm pro Quadrat aufweist.
17. Schicht nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen
Flächenwiderstand von 460 Ohm pro Quadrat aufweist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3941795A DE3941795A1 (de) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung der schicht |
DE4117258A DE4117258A1 (de) | 1989-12-19 | 1991-05-27 | Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3941795A DE3941795A1 (de) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung der schicht |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3941795A1 true DE3941795A1 (de) | 1991-06-20 |
Family
ID=6395724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3941795A Ceased DE3941795A1 (de) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | Optisch wirkende schicht fuer substrate, die insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung der schicht |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3941795A1 (de) |
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