DE3909729A1 - Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldern - Google Patents
Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldernInfo
- Publication number
- DE3909729A1 DE3909729A1 DE19893909729 DE3909729A DE3909729A1 DE 3909729 A1 DE3909729 A1 DE 3909729A1 DE 19893909729 DE19893909729 DE 19893909729 DE 3909729 A DE3909729 A DE 3909729A DE 3909729 A1 DE3909729 A1 DE 3909729A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- probe
- probe according
- variable hybrid
- circuit
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine variable Hybridsonde für Meß- und
Prüfzwecke und zum Abtasten von Oberflächen in der zerstörungs
freie Werkstoffprüfung, auch in starken allgemeinen magnetischen
Überlagerungs/Störfeldern, bestehend aus einer gemeinsamen Anord
nung von Sonden und elektrischen Schaltungsteilen/Verstärkern
nach üblichen bekannten Schaltungsweisen. Damit soll erreicht
werden, daß insbesondere auch für die zerstörungsfreie Werkstoff
prüfung eine weitergreifende Einführung von Hybridsonden mit ihren
Vorteilen möglich wird, auch in Bereichen die bislang nur Passiv-
Sonden vorbehalten zu sein schienen.
In der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung, im folgenden nur
noch ZfP genannt, haben Sonden die Aufgabe, von Werkstoffober
flächen Signale/Meßwerte aufzunehmen, die durch Weiterverarbeitung
auf mögliche Werkstoff-Fehler und Qualitätszustände schließen
lassen. Je nach Werkstoff- bzw. Prüfteilproblem werden dabei
verschiedenartige Meß/Prüf-Verfahren wie z. B. das Streufluß- oder
Wirbelstromprinzip angewandt, bei gleichzeitig großer Variation der
Sondenausführungen. In dynamischen Abtasteinrichtungen wohl
bislang ausschließlich mit Passiv-Sonden.
Die Zuverlässigkeit einer Signalauswertung kann dabei nur so gut
sein, wie es das von der Sonde gelieferte Signal ist. Auf der
notwendigen Signalübertragungsstrecke von der Sonde bis zur
Geräteelektronik erfährt aber oft die Signalgüte Einbußen, weil
sich Fremdeinstreuungen und Rauschen gerade im eigentlichen
Frequenzbereich des Prüfsignales, diesem überlagern können. Man
begegnet diesen Störungen mit Signalerhöhungen, indem Vorverstärker
in möglichster Sondennähe dazwischengebaut werden und z. B. bei
Induktionssonden die Windungszahl möglichst hoch gewählt wird und
diese teils mit ferritischen Kernmaterialien versehen sind. Ein
ausreichend hoher Sondensignalpegel gewährleistet damit die soge
nannte Reproduzierbarkeit einer Prüfung. So ist es heute gängige
Technik, Vorverstärker in üblicher Weise z. B. in Prüfköpfe mit
einzubauen.
Vom Institut Dr. Förster in Reutlingen sind Streuflußprüfver
fahren mit Rotiersonden bekannt, wo Vorverstärker in der üblichen
Bauweise bereits auf der Rotierscheibe sitzen und dabei den Flieh
kräften standhalten. Es verbleiben aber noch ein paar Dezimeter
Übertragungsstrecke zu den Sonden.
Nun gibt es in der ZfP Aufgaben, die beim Abtasten von Ober
flächen eine räumlich sehr feine Auflösung von elektromagnetischen
Feldern verlangen und damit auch der Sondengeometrie kleine
Abmaße vorgeben. Wenn dann noch wegen des Vorhandenseins von
irgendwelchen Gleich- oder Wechsel-Magnetisierungsfeldern keine
ferromagnetischen Kerne in der Sonde sein dürfen, aus Gründen der
unregelmäßigen magnetischen Sättigungsgefahr, werden die effektiven
Sonden-Signalspannungen sehr klein und können im µV-Anfangs
bereich liegen. So ergaben sich schon von 15 Jahren erhebliche
Störprobleme bei einer Mikrowirbelstromsonde von 1 mm⌀, die
wegen einem Magnetisierungsgleichfeld keine Ferritkerne haben
durfte. Insbesondere gibt es bei Wirbelstrom-Differenzsonden häufig
Einkopplungen des betriebseigenen Felderregerstromes in die
Meßspannung, die trotz bestem Nullabgleich der Sonde die Geräte
eingangselektronik übersteuern können.
Es ist ja nun das Dilemma bei der Forderung: feine Sonde- aber
ausreichende Meßspannung, daß alle Maßnahmen an der Sonde zur
Erhöhung der Meßspannung schon ausgeschöpft sind, z. B. weder
Prüfabstands- noch Draht-⌀-Verringerung geht mehr, der Sonden
querschnitt liegt fest und eine Wicklungsfortsetzung in die Höhe
erzielt oft kaum mehr Gewinn, da sich dieser Wickelteil ja vom
Prüfteil entfernt und damit immer weniger Meßspannung beiträgt.
Die Anwendung von Operationsverstärkern mit allen üblichen
Normgehäusen direkt neben der Sonde scheidet meist aus 2 Gründen
aus: manchmal wegen Platzmangel und andermal wegen den verblei
benden Induktionsschleifen, die über die Anschlußpins gebildet
werden. Dahinein stören bei der Wirbelstromprüfung die
Erregungswechselfelder allein schon statisch und bei der Streufluß
prüfung stören die Magnetisierungsfelder beim Abtasten in unbe
rechenbarer Weise, weil die Abtastdynamik immer unkontrollierbare
mechanische Schwingungen der Sonde mit dem Anschlußgebilde
hervorruft. So ist es überhaupt kein neuer Wunsch, eine geeignete
Hybridsonde auch für die ZfP zu haben.
In der allgemeinen Meß- und Prüftechnik sind Hybrid- oder
Integrierte-"Sensoren" schon seit geraumer Zeit bekannt. Verschiedene
Publikationen haben bereits die Vorteile hervorgehoben, welche die
Gemeinsamkeit von "Sensor und Signalelektronik auf einem Chip"
ganz allgemein ergibt, so z. B. in Technisches Messen tm, 53. Jahrgang,
Heft 2/1986 Seite 51.
Die für die ZfP in Frage kommenden, meist magnetfeldempfindlichen
Hybridsonden sind solche mit Hallelementen, Squid-Magnetometer
und besondere Bipolare Transistoren, Magnetfeld-Resistive Typen
scheiden wegen der Hyperbelfunktion und der magnetischen Vorspann-
Notwendigkeit aus. Die Squid-Supraleitenden scheiden insbesondere
als Rotiersonden wegen der erforderlichen Tiefstkühlung aus. Allen
gemeinsam sind aber besonders für die ZfP folgende Nachteile:
Sonde und Schaltkreis liegen immer in einer Ebene, die Sonde hat meist eine mehr oder weniger punktförmige Empfindlichkeit, die Abmaße des Hybrid-Chips selbst sind meist noch viel zu breit und lang und daß die Herstellungskosten eine notwendige Variationsvielfalt gerade in kleinen Stückzahlen kaum erlauben. Doch gerade diese Variationsvielfalt der Sonde fordert die ZfP in allen Raumachsen. Die Integration von Schaltkreis und Sonde in einer Ebene erscheint vor allem deshalb von Nachteil, weil bei räumlich feinstrukturierten Magnetfeldern, deren Auflösung ja gerade die Absicht der ZfP ist, es äußerst unwägbar erscheint, welchen Einfluß alle Induktions schleifen der vorgegebenen Chip-Schaltkreisbahnen beim dynamischen Abtastvorgang haben. Bei gegenwärtigen Hybriden, deren Sonden vom Punkt doch mehr zur linien- bis flächenhaften Auflösung tendieren kommt abwertend hinzu, daß oft nichts bekannt ist über den nichtlinearen Verlauf der Empfindlichkeit innerhalb der Sonden fläche. Das aber bleibt die hervorragende Eigenschaft von Luftspulen:
Linearität über die ganze Querschnittsfläche für alle durch laufenden Magnetfeldlinien, Linearität für alle Feldstärken und Linearität für hohe Frequenzbereiche. Für die ZfP sind diese Forderungen nach Linearität aus Gründen der Signalreproduzier barkeit unaufgebbar. Aus all diesen Gründen finden deshalb die vorhandenen Hybridsonden kaum Einsatz in der ZfP.
Sonde und Schaltkreis liegen immer in einer Ebene, die Sonde hat meist eine mehr oder weniger punktförmige Empfindlichkeit, die Abmaße des Hybrid-Chips selbst sind meist noch viel zu breit und lang und daß die Herstellungskosten eine notwendige Variationsvielfalt gerade in kleinen Stückzahlen kaum erlauben. Doch gerade diese Variationsvielfalt der Sonde fordert die ZfP in allen Raumachsen. Die Integration von Schaltkreis und Sonde in einer Ebene erscheint vor allem deshalb von Nachteil, weil bei räumlich feinstrukturierten Magnetfeldern, deren Auflösung ja gerade die Absicht der ZfP ist, es äußerst unwägbar erscheint, welchen Einfluß alle Induktions schleifen der vorgegebenen Chip-Schaltkreisbahnen beim dynamischen Abtastvorgang haben. Bei gegenwärtigen Hybriden, deren Sonden vom Punkt doch mehr zur linien- bis flächenhaften Auflösung tendieren kommt abwertend hinzu, daß oft nichts bekannt ist über den nichtlinearen Verlauf der Empfindlichkeit innerhalb der Sonden fläche. Das aber bleibt die hervorragende Eigenschaft von Luftspulen:
Linearität über die ganze Querschnittsfläche für alle durch laufenden Magnetfeldlinien, Linearität für alle Feldstärken und Linearität für hohe Frequenzbereiche. Für die ZfP sind diese Forderungen nach Linearität aus Gründen der Signalreproduzier barkeit unaufgebbar. Aus all diesen Gründen finden deshalb die vorhandenen Hybridsonden kaum Einsatz in der ZfP.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, geeignete
Hybridsonden vorzugsweise für die ZfP zu ermöglichen, die bereits
direkt am Abtastort eine hohe ungestörte Meß- und Prüfspannung
erzeugen, bei geringstem Rauschbeitrag des Verstärkers, die Varia
tionsvielfalt der eigentlichen Meß- und Prüfsonden weiter gestattet,
den eigentlichen Sondenraum und die Sondenfunktion nicht behindert
und insbesondere feinauflösende Induktionssonden in kleinen Bau
formen zuläßt. Außerdem soll ihre Anwendbarkeit auch in starken
Magnetisierungs- oder Überlagerungsfeldern gestattet sein, egal ob
im Gleich-, Impuls-, Wechsel- oder Drehfeld, auch wenn hier
zusätzlich mechanische Grob-Schwingungen und Erschütterungen
auftreten durch z. B. Abhebesprünge bei "schleifendem" Abtastorgan.
Dabei sollen die Relativbewegungen beim Abtasten von Oberflächen
sowohl außen als auch innen von Prüfteilen möglich bleiben.
Die Lösung der gestellten Aufgabe gelingt erfindungsgemäß nach
den Merkmalen der Patentansprüche mit den folgenden 4 möglichen
Aufgliederungen a), b), c) und d):
- a) Durch die Anwendung nur von integrierten Schaltkreis-Chips
wird es möglich auch den trotzdem entstehenden letzten Anschluß
weg von der Sonde bis zum ersten Verstärker so zu gestalten, daß
die letzten Reste von Kontaktanschluß-Induktionsschleifen minimal
und kalkulierbar werden. Die Kalkulierbarkeit ergibt sich durch die
eindeutige Feinstebenen-Bildung der Anschlüsse und Verdrahtung.
Hierzu muß folgende oberste Regel konsequent beachtet werden:
n · A 1 << A 2 + A 3 n = Windungszahl der Sonde
A 1 = Fläche des wirksamen Sondenquerschnittes
A 2 = Fläche innerhalb der Anschlußschleife von der Sonde bis zu den Substratkontakten des ersten Verstärkers.
A 3 = Fläche innerhalb des Chips mit dem ersten Verstärkerbereich. - Für dieses Ziel wird außerdem der Chip so eng wie möglich zur Sonde gestellt. Dabei muß beachtet werden, daß der Chip nicht allzusehr in die aufzulösende Feinstruktur der Oberfläche-Magnet felder gerät, wenn die fertige Hybrisonde dann in Abtaststellung zum Prüfteil steht. Natürlich spielen auch die folgenden Schaltungs schleifen eine Rolle, aber bei weitem nicht so stark wie die vorgenannte.
- b) Durch die Verwendung von SMD- oder sonstigen feinsten Schaltbauteilen oder bereits integrierten Schaltbauteil-Chips, unter engstmöglicher Anordnung zu a).
- c) Durch Parallelstellen aller Wirkebenen von Chips, Schalt- bau teilen und der Leitungsbahn zu einer eventuell vorhandenen magne tischen Hauptfeldrichtung. Dabei gilt für die Leitungsbahnen: je ebener desto besser.
- d) Eine Besonderheit der erfinderischen Idee liegt schließlich auch darin, einen spiegelsymmetrischen Dualverstärker-Chip oder 2 gleiche Verstärker-Chips für die Erstverstärkung zu verwenden. Damit gelingt auch hier die Störunterdrückung der induktiven Wirkung von starken Magnetfeldern in den Chips, ohne daß magne tisch geschirmt werden muß. Dies erklärt sich am spiegelsymmetri schen Chip wie folgt: gleiche Flußänderungen gleichen Vorzeichens induzieren hierbei jeweils gleich große aber gegenpolige Spannungen in den getrennten 2 Verstärkern des Chips. Durch anschließendes einfaches Addieren in einem dritten Verstärker, heben sich somit diese Induktions-Störspannungen der 2 Erstverstärker auf, während sich die verstärkte Meßspannung verdoppelt/addiert. Bei entsprechend hoher Erstverstärkung sind induktive Störeinkopplungen in die übrigen Schaltungsschleifen und den dritten Verstärker vernachläs sigbar. Diese spiegelsymmetrische Chip-Anordnung stellt eine Differenzbildung dar, ähnlich wie sie von Differenzspulen beabsichtigt wird. Je nach dem, ob die Art eines störenden Magnetfeldes seine Hauptwirkung hat als Dreh-, Gradient-, Impuls- oder Wechselfeld, oder ob auch noch Gleichtaktstörungen zu berücksichtigen sind, sind aber auch echte Instrumentations-Verstärker oder verschiedene andere Chip-Differenz-Anordnungen zur Erzielung sinngemäßer Kompensations-Symmetrien in allen Ebenen vorstellbar.
Wenn die Verstärker-Gleichtakt-Unterdrückung der Betriebs
spannung PSRR nicht ausreicht, können über SMD- oder andere
Miniatur-Stabilisierbauteile die Betriebsspannungen ausreichend
gesiebt werden. Die Ausbildung der Spannungszuleitungen hierfür
mit Widerstandsdrahtmaterial kann als Maßnahme zur Hybrid
miniaturisierung und zum Fernhalten von Siebwärmeleistung dienen.
Mit SMD-Widerständen kann außerdem die Gesamtverstärkung auf die
gewünschte Höhe fest eingestellt werden. Auch läßt sich ein
Nullabgleich hiermit in gewohnter Schaltpraxis erzielen. Eine Drift-
Gleichspannungsablage kann aber auch bleiben und über Kondensato
ren an entfernterer Stelle mit mehr Platz, z. B. vor einem Rotier
übertrager abgekoppelt werden.
Die innere Hybridverdrahtung können erfindungsgemäß nur feinste
elektrische Leitungen bewältigen. Die Verdrahtungsebene/Leitungs
bahn soll dabei in ihrer der Sonde folgenden Anfangsbreite nicht
über den ersten Schaltkreis-Chip hinausragen. Das führt zu ihrer
Breite von meist <1,5 mm. Anwendbar sind Drähte <0,1 mm⌀.
Sinnvoller ist jedoch die Herstellung von geeigneten Feinstleiter
platinen, die dann auch gedruckte Spulen gleich mit beinhalten
können. Der industrielle Trend in der Herstellbarkeit läuft gegen
wärtig in willkommenerweise auf Leiterabstände <40 µm zu. Die
Kontaktierungen können dann mit einigen der gegenwärtig möglichen
Verfahren, z. B. HAL = Hot Air Leveling partiell, ausgeführt werden.
Vorteile ergeben sich noch zusätzlich wie im folgenden beschrieben.
Die wirksame Sonden-Meßmitte kann bei Bedarf näher zum Prüfteil
rücken, sofern kürzere Sonden-Bauhöhen mit weniger Windungszahlen
durch rauscharme Verstärker erlaubt sind. Bei manch weiteren
Sonden wird es künftig genügen, diese wie gedruckte Schaltungen
herzustellen, mit den bekannten Vorzügen in der Herstellungstoleranz.
Der Hybrid-Ausgangswiderstand ist konstant niedrig und kann je
nach Verstärkertyp kurzschlußfest sein. Je nach Meßverfahren mag
auch die Entkopplung der Sonde von der Kapazität der Signalüber
tragungsleitung von Vorteil sein. Für hochohmigere Sonden wirkt
die Hybridschaltung auch als Impedanzwandler. Ganz allgemein
werden in automatischen Prüfanlagen nochmals verringerte Pseudo-
Fehleranzeigen auftreten. Bei rotierenden Sonden in der ZfP, mit
den so oft beengten Platzverhältnissen, wird nunmehr die Einführung
von rotierenden Hybridsonden möglich, ohne daß Gewichtszunahmen
mit erneuten Problemen zu befürchten sind. Rotier- und Schleifring
übertrager bedürfen dann in der mechanischen Ausführung einer
geringeren Sorgfalt. Für die ganze Gleichfeld- und Hochener
gie/Wechselfeld-Streuflußprüfung genügt dann eine Auswahl von 2
bis 3 Hybridverstärkeranordnungen pro Sonde. Auch sonstige Einzel-
Hybridsonden sind möglich, da die Herstellungskosten tragbar werden.
Hervorzuheben ist auch, daß eine 2-kanalige Hybridverstärkung nach
Anspruch 9 und 10 es teilweise überhaupt erst möglich macht,
entfernt in der Geräteelektronik eine Bildung von Summen- oder
Differenzsignal vorzunehmen, auf deren Ergebnis Verlaß ist.
Schließlich ist es möglich, daß Hybridsonden solch variabler Art
nicht nur in der ZfP nutzbar sind, sondern auch auf anderen Gebieten
und auch mit anderen als den schon erwähnten Sonden, vor allem
wenn auch dort elektromagnetische Felder stören.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den Unter
ansprüchen entnehmbar.
Im folgenden soll die Erfindung mit einem möglichen Aus
führungsbeispiel anhand gezeichneter Figuren erläutert werden.
Fig. 1 der Schaltplan der Hybridsonde.
Fig. 2 die Anordnung der Einzelbauteile in Draufsicht.
Fig. 3 die Anordnung in Seitenansicht.
Fig. 1 zeigt die äußere elektrische Verschaltung eines Dual-
Operationsverstärkers 6. Die beiden nichtinvertierenden Eingänge
7, 8 sind auf das gleiche Massepotential 9 gelegt. Die Sonde 10 ist
eine Induktions-Differenzsonde aus Widerstandsdraht mit einem
Mittelpunkt 11 zum Masseanschluß. Wegen dem ausreichend hohen
Sonde-Quellwiderstand 2 × Ro, genüge dieser zur Justierung der
Verstärkung. Deshalb sind die beiden heißen Wicklungsenden 12, 13
der Sonde 10 direkt auf je einen invertierenden Eingang 14, 15 des
Dualverstärkers 6 gegeben. Für den ersten Verstärkungsgang wird
somit V = R 1/Ro erreicht.
Die Spannungen der zwei Ausgänge 16, 17 des Dualverstärkers 6
führen zur Addition auf die Widerstände R 2, R 4 vor dem inver
tierenden Eingang 18 eines dritten Einzelverstärkers 19 und werden
über R 5 nochmals verstärkt. Wegen der Notwendigkeit nach Symme
trie, werden R 1 = R 3 und R 2 = R 4 gemacht. Am Ausgang 20 erscheint
dann die verstärkte Summe beider Sondenteilspannungen mit
U A = (U 1 + U 2)R 1 · R 5/(Ro · R 2).
Fig. 2 zeigt alle Einzelbauteile in der Draufsicht, wie sie gemäß
Schaltplan vorhanden sind. Die gewählte Anordnungsreihenfolge ist
diese: Sonde 10, Dualchip 6, R 1, R 3, R 2, R 4, Einzelverstärkerchip
19, R 5 und Anschlußpins 21, 22, 23, 24. Alle Widerstände R 1 bis R 5
stellen hier SMD Typen in Flachbauweise dar. Die elektrischen
Leitungen sind hier als gedachte feine Drähte <0,1 mm⌀, die
lackisoliert sein können, mit starkem Strich gezeichnet. Die maximale
Anfangsbreite 25 der Draht/Leiterbahnebene bildet sich zwischen
Dualchip 6 und Widerständen R 1, R 3 aus und verbleibt damit deutlich
weit innerhalb der Chipbreite 26. Die Sonde 10 ist wegen ihrer
Beliebigkeit nur als einfacher Block 10 dargestellt. Die dahinein
gezeichnete Ebene 27 stellt die wirksame Sonde-Meßmitte dar, die
aber nicht identisch ist mit der geometrischen Mittelebene der
Sonde 10. Ihre drei Anschlußdrähte 11, 12, 13 führen auf die isolierte
Oberfläche eines marktüblichen Dualoperationsverstärker-Chips 6
und sind dort mit anderen Leitungsdrähten elektrisch verbunden.
Draht 11 führt auf Masse 9, womit auch die beiden nichtinver
tierenden Eingänge 7, 8 verbunden sind. Die zwei heißen Drähte
12, 13 führen auf je einen invertierenden Eingang 14, 15 und die
folgenden Gegenkopplungswiderstände R 1, R 3. Auf der Dualchip-
Spiegelungslinie 28 liegen die Anschlüsse 29, 30 für die Betriebsspan
nungen +U und -U. Die Dualchipausgänge 16, 17 führen über R 1, R 3
auf die Addierwiderstände R 2, R 4. Diese beiden leiten dann gemeinsam
auf den invertierenden Eingang 18 des Einzelverstärkers 19. Dem folgt
noch sein Gegenkopplungswiderstand R 5 und als letztes ist die
innere Hybridverbindung zu den beliebigen vier Anschluß-Pins
21, 22, 23, 24 erkennbar. Diese haben die Funktionen für die Aus
gangsspannung U A , eine gemeinsame Masse ⟂ und für die Betriebs
spannungen +U und -U.
Der Einfluß von induktiven Einstreuungen wird dargestellt durch
Feldstärkerichtungen . Ist dieses Magnetfeld angenommenerweise
ein Wechselfeld mit gleichmäßiger Verteilung senkrecht zur
Draufsichtsfläche, so entstehen innerhalb des Dual-Chips 6 an allen
Leitungssymmetriepunkten gleich große, aber entgegengesetzte
Spannungen. Das macht erfindungsgemäß ihre gewünschte Kompensa
tion möglich. Dies gilt gleichermaßen für den Leiterbahnteil der
Verdrahtung, der von der Sonde 10 bis zu den Addierwiderständen
R 2, R 4 weitgehend spiegelsymmetrisch zur Anordnungsmittellinie 32
geführt ist. Eine Übersteuerung der Einzelverstärker im Dualchip 6,
noch vor der Kompensation, nur durch Rest-Störeinstreuungen ist
unter Beachtung der Hinweise a) bei der Lösungsbeschreibung nicht
zu befürchten.
Fig. 3 zeigt die Anordnung von der Seitenansicht, auch hier ohne
weitere Hilfsmittel wie Kleber, Isolationen und Stützen o. ä. Die
Leitungsdrahtebene 33 ist hier idealisiert dargestellt, sofern sie
nicht aus einer Feinstleiterplatine besteht. Dabei sollte der Abstand
34 zwischen Leiterbahn 40 und Bauteiloberflächen 35 möglichst klein
bleiben. Die Erhöhungen 36, 37 und 38, 39 entstehen durch Leiter
kreuzungen und Löten/Verbindungen.
In diese Seitenansicht ist nur eine andere Störfeldrichtung
eingezeichnet. Damit wird deutlich, daß ein solcher Feldverlauf
parallel zu den Bauteilwirkebenen 35 und parallel zum Hauptteil
der Leitungsdrahtebene 33 die geringstmögliche Störeinwirkung hat,
weil so fast keine Leiterschleifen vorhanden sind, die vom Fluß
durchsetzt werden können. Die Feldstärke darf so beträchtliche
Werte annehmen. Feldstärke zeigt eine denkbare Empfindlich
keitsrichtung der Sonde 10 an.
Sonde, Schaltbauteile und Anschluß-Pins können gemeinsam so
vergossen/verklebt werden, daß sie damit eine feste Hybridsonde
bilden.
Claims (20)
1. Variable Hybridsonde für Meß- und Prüfzwecke und zum Abtasten
von Oberflächen in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung, auch
in starken allgemeinen magnetischen Überlagerugs/Störfeldern,
bestehend aus einer gemeinsamen Anordnung von Sonden und
elektrischen Schaltungsteilen/Verstärkern nach üblichen bekannten
Schaltungsweisen, dadurch gekennzeichnet, daß integrierte elektrische
Schaltkreis-Chips (6, 19) und SMD- oder kleinere Elektronik-Schalt
bauteile oder bereits integrierte Schaltbauteil-Chips, mit engstem
Abstand untereinander, in einer oder mehreren verschiedenen Ebenen
(35) und einer sehr fein strukturierten Verdrahtung bzw. Feinst
leiterplatine (40), unter größtmöglicher Vermeidung von induktiven
Anschlußschleifen durch kürzeste dicht an dicht-, gekreuzte- oder
verdrillte Führung sehr dünner Drähte bzw. Leitungen in einer auch
flexiblen ein bis mehrfach Ebene die damit in ihrer Anfangsbreite
(25) meist nicht über den ersten der Sonde (10) folgenden Schalt
kreischip (6) hinausragen soll dicht auf den Schaltbauteilen, enthalten
sind, gemeinsam eine Schaltung mit Verstärker bilden, zum Anschluß
einer beliebigen Sonde (10) bis zum kürzesten Abstand und beliebigen
Ebenen/Lageausrichtungen der Schaltungsteile zur Sonde (10),
jedoch beim Vorhandensein eines störenden Magnetfeldes mit
Ausrichtung der Wirkebenen/Flächen (33, 35) aller oder wesentlicher
Schaltungsteile vorzugsweise parallel zu diesem Feld oder dessen
Drehebene und miteinander fest verklebt/vergossen sein können.
2. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß für eine beliebige Lageausrichtung/Einbaulage zur Sonde
(10) ein oder mehrere Dual-Schaltkreis-Chips (6) in spiegelsym
metrischer Ausführung oder einzelne Chips in entsprechender
paarweiser Anordnung enthalten sind und einen parallelschaltbaren
Doppelverstärker bilden, dessen 2 Ausgänge (16, 17) auf einen weiteren
Additions- oder Differenz-Verstärkerchip (19) führen können.
3. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1
oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein oder mehrere Instrumenta
tions-, Addier-, Subtrahier/Differenz-Verstärker enthalten sind,
bestehend aus einem oder mehreren Einzel-, Dual-, oder Quad-Chips.
4. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß vorzugsweise 2 Verstärker-Schaltkreise enthalten und zu
einem Instrumentationsverstärker in einer der bekannten Spar
schaltungen verschaltet sind, deren Merkmale 2 hochohmige Eingänge
und 1 Ausgang sind.
5. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß zusätzlich auch ein oder mehrere Funktions-Schaltkreis-
Chips enthalten sind, Linear und/oder Digital, mit bekannten
Funktionen und wie sie marktüblich in durchaus sehr kleinen Chip-
Abmaßen vorhanden sind.
6. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß notwendige Schaltbauteile, Verstärker-Schaltkreise,
typische Funktions-Schaltkreise Linear und/oder Digital und Lei
tungsbahnen des ganzen Hybrid, aber ohne Sonde, gemeinsam einen
einzigen integrierten Schaltkreis-Chip oder mehrere angeordnet in
verschiedenen Ebenen in der Weise bilden, daß damit auch ein oder
mehrere sogenannter ASIC = "Application Specific IC" entsteht und
für sich allein auf irgendeine bekannte Weise mit gesonderten
Anschluß-Pins/Kontakten versehen und fest verklebt/vergossen sein
kann.
7. Variable Hybridsonde nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich
net, daß der ASIC-Chip mindestens für Sonden mehrere verschiedene
Anschlußmöglichkeiten enthält, wie z. B. für 2 oder mehrere Sonden
anschlußdrähte je nach Sondenart, für verschieden hohe Verstärkun
gen, invertierend und nichtinvertierend oder ähnliches mehr.
8. Variable Hybridsonde nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß mindestens ein Dual-Verstärkerschaltkreis-Chip, oder
2 einzelne Chips in entsprechender paarweiser Anordnung, enthalten
sind und einen parallelschaltbaren Doppelverstärker bilden, dessen
Ausgänge auf mindestens einen ebenfalls enthaltenen ASIC-Chip
führen.
9. Variable Hybridsonde nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß 2 Sonden die vorzugsweise eine
Differenzsonde bilden oder sonstige 2- oder mehrere Sonden, aber
mit einer getrennt bleibenden 2- oder mehr-kanaligen Schaltungs
anordnung enthalten sind und einen Hybrid mit 2 oder mehreren
voneinander unabhängigen Signalausgängen bilden, bis zum Anschluß
an eine Geräteelektronik-Auswertung.
10. Variable Hybridsonde nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem Kombinations-Meß oder Prüfverfahren mit 2 unter
schiedlichen Prinzipien/Verfahren, 2 getrennt funktionierende Sonden-
Kanäle enthalten sind.
11. Variable Hybridsonde nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungsanordnung sich auch
innerhalb einer entsprechend großen Spule/Sonde befinden kann,
selbst wenn diese noch eine getrennt erregte Wechselfeldspule enthält.
12. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 10, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Schaltungsanordnung sich am oder im Wickel
einer umfassenden Durchlaufspule/Sonde befindet.
13. Variable Hybridsonde nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens der erste jeder Sonde
folgende integrierte Schaltkreis-Chip mit einer ferromagnetischen
Abschirmung umgeben ist.
14. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 13, dadurch gekenn
zeichnet, daß elektrisch leitfähige Folien mit kapazitiver Schirm
wirkung in beliebiger Anordnung und Formgebung im Hybrid enthalten
und mit dessen elektrischer Masseleitung verbunden sind.
15. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 14, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine direkte Angliederung von Stabilisierungselementen
für die Betriebsspannung in SMD-, integrierter Chip- oder anderer
Miniaturbauweise enthalten ist.
16. Variable Hybridsonde nach Anspruch 15, dadurch gekenn
zeichnet, daß Siebwiderstände für die Betriebsspannung auch darin
bestehen, daß ihre Zuleitungen aus Widerstandsmaterial bestehen
und auch über den äußeren Hybridanschluß hinaus reichen können.
17. Variable Hybridsonde nach Anspruch 1 bis 10, dadurch ge
kennzeichnet, daß Spulen und Widerstände als gedruckte Schaltung
auf ein oder vorzugsweise mehrlagigem Kupfer- und/oder wider
standskaschiertem Material bestehen und auch Multilayer bilden
können.
18. Variable Hybridsonde nach Anspruch 17, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Sonde aus Rechteck-Spiralformen besteht, als
Einfach- oder Differenzsonde, ein- oder mehrlagig.
19. Variable Hybridsonde nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß besonders für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung zur direkten
Abtastung von Oberflächen mindestens ein ASIC-Chip enthalten ist,
in welchem bereits eine oder mehrere beliebige Sonden/Windungen
unter geeigneter vorzugsweise größtflächiger Ausnutzung der
Chipfläche, auch in die Chip-Schichttiefe (31), integriert sind, mit
einem übrigen ASIC-Design in derartiger Weise, daß die ASIC-
Mikroschaltbauteil-Grundstruktur und der freiwählbare Ver
drahtungsteil durch eine Fein-, Spiegel- oder sonstige symmetrische
Verteilung/Ausnutzung eine kompensierende und minimierende
Wirkung auf die Eigeninduktionsspannungen innerhalb dieses Schalt
kreises hat und die zu messenden Magnetfelder nur in der Sonde
eine weit überwiegende Induktions-Meßspannung erzeugen.
20. Variable Hybridsonde nach allen Ansprüchen, dadurch gekenn
zeichnet, daß mehrere variable Hybridsonden einen Kamm, Kette oder
ähnliches bilden.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893909729 DE3909729A1 (de) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldern |
AU52829/90A AU5282990A (en) | 1989-03-23 | 1990-03-23 | Device for non-destructive testing of workpieces by means of a magnetic field |
PCT/DE1990/000238 WO1990011515A1 (de) | 1989-03-23 | 1990-03-23 | Vorrichtung zum zerstörungsfreien prüfen von werkstücken mittels eines magnetfeldes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893909729 DE3909729A1 (de) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3909729A1 true DE3909729A1 (de) | 1990-09-27 |
Family
ID=6377129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893909729 Withdrawn DE3909729A1 (de) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldern |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU5282990A (de) |
DE (1) | DE3909729A1 (de) |
WO (1) | WO1990011515A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5293117A (en) * | 1992-05-14 | 1994-03-08 | Western Atlas International, Inc. | Magnetic flaw detector for use with ferromagnetic small diameter tubular goods using a second magnetic field to confine a first magnetic field |
DE102006027417A1 (de) | 2006-06-13 | 2007-12-20 | Siemens Ag | Sensorvorrichtung zum Betrieb in einem zeitveränderlichen Magnetfeld und Verfahren |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3132808C2 (de) * | 1981-08-19 | 1984-01-26 | Nukem Gmbh, 6450 Hanau | "Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung ferromagnetischer Körper" |
AU587199B2 (en) * | 1984-08-03 | 1989-08-10 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Conveyor belt cord break detection |
DE3743521A1 (de) * | 1987-12-22 | 1989-07-06 | Foerster Inst Dr Friedrich | Vorrichtung zum pruefen von halbzeug |
-
1989
- 1989-03-23 DE DE19893909729 patent/DE3909729A1/de not_active Withdrawn
-
1990
- 1990-03-23 WO PCT/DE1990/000238 patent/WO1990011515A1/de unknown
- 1990-03-23 AU AU52829/90A patent/AU5282990A/en not_active Abandoned
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
DE-Z.: Elektronik, 30. Jhg, Nr. 12, 1981, S. 26 * |
DE-Z.: Technisches Messen, 53. Jhg., H. 2, 1986, S. 51-54 * |
US- H 471 * |
US-Z.: Review of Scientific Instruments, Vol. 50, No. 11, Nov. 1979, S. 1376-1381 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1990011515A1 (de) | 1990-10-04 |
AU5282990A (en) | 1990-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0742906B1 (de) | Verwendung einer miniaturisierten spulenanordnung hergestellt in planartechnologie zur detektion von ferromagnetischen stoffen | |
DE102007046054B4 (de) | Verbesserter hochgenauer Rogowski-Stromwandler | |
EP1110094B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur bildung eines oder mehrerer magnetfeldgradienten durch einen geraden leiter | |
DE4119903C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung dünner Schichten | |
DE102014103190A1 (de) | Sensoren, Systeme und Verfahren zur Erfassung von Fehlerstrom | |
DE102017213605A1 (de) | Magnetfeldsensorschaltung in einem Package mit Mittel zum Addieren eines Signals aus einer Spule | |
CH414010A (de) | Anordnung zur Messung von Strömen in Hochspannungsleitungen | |
DE102005028572A1 (de) | Magnetkern für einen Stromsensor | |
DE102013226203A1 (de) | Offsetkompensierte Positionsmessvorrichtung | |
EP0947843A2 (de) | Verfahren zur Strommessung | |
DE3615652C2 (de) | Induktives Suchgerät | |
DE3929452A1 (de) | Strom-messeinrichtung | |
DE4202296B4 (de) | Magnetisch kompensierter Stromwandler | |
DE102017215722A1 (de) | Einrichtung zur Messung zeitlich veränderlicher Ströme | |
EP0238524B2 (de) | Stromwandleranordnung für einen statischen elektrizitätszähler | |
DE102018128469B4 (de) | Magnetfeldsensor mit geringem Rauschen und hoher Bandbreite | |
DE3909729A1 (de) | Variable hybridsonde fuer mess- und pruefzwecke und zum abtasten von oberflaechen in der zerstoerungsfreien werkstoffpruefung, auch in starken allgemeinen magnetischen ueberlagerungs/stoerfeldern | |
DE19819470A1 (de) | Verfahren zum potentialfreien Messen von Strömen durch die Aufzeichnung des von ihnen verursachten Magnetfeldes sowie Vorrichtungen zur Durchführung des Verfahrens | |
DE102021134291A1 (de) | Sensorwicklungskonfiguration für induktiven positionscodierer | |
DE4442441C2 (de) | Miniaturisierte Spulenanordnung hergestellt in Planartechnologie zur Detektion von ferromagnetischen Stoffen | |
DE102011010682B3 (de) | Spulenanordnung und Sensor | |
DE102005041089B3 (de) | Vorrichtung zum Erfassen von Wirbelströmen in einem elektrisch leitfähigen Prüfgegenstand | |
DE2247026B2 (de) | Schaltvorrichtung zur magnetischen Prüfung von Werkstücken | |
EP0267498B1 (de) | Flusskompensierter Stromwandler | |
DE2807835C3 (de) | Magnetbläschenspeicheranordnung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |