DE3907301A1 - Vorrichtung zur halterung eines kollektivs von halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen behandlungsschritten und ihre verwendung - Google Patents
Vorrichtung zur halterung eines kollektivs von halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen behandlungsschritten und ihre verwendungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft Vorrichtungen zur Halterung eines Kollek
tivs von Halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen Be
handlungsschritten und ihre Verwendung.
In der Halbleitertechnik werden häufig Prozesse durchgeführt,
bei denen typisch aus 10 bis 150 Einzelscheiben bestehende
Kollektive von Halbleiterscheiben thermischen oder chemischen
Behandlungsschritten wie Temperaturbehandlungen, Oxidationen,
Diffusions- oder Transportvorgängen oder auch Reinigungsschrit
ten unterworfen werden. Überlicherweise befinden sich dabei die
Scheiben parallel hintereinander ausgerichtet in vertikaler
Stellung in sogenannten Booten aus Quarz oder gesintertem kera
mischem Material. Diese Boote sind als Einstücksysteme gestal
tet und bestehen im allgemeinen aus Front- und Endteil, welche
je nach Material durch Verschmelzen oder Sintern fest mit dazwi
schenliegenden Seitenteilen verbunden sind, die die Halbleiter
leiterscheiben in der gewünschten Position halten.
Diese bekannten Systeme haben jedoch eine Reihe von Nachteilen.
Zum einen ist ihre Herstellung insbesondere wegen der durch
Schmelzen oder Sintern hergestellten Verbindung aufwendig und
schwierig, vor allem im Hinblick auf die für eine exakte Aus
richtung der Scheiben erforderliche Genauigkeit, was auch einen
hohen Preis zur Folge hat. Weiterhin lassen sich solche Ein
stücksysteme im Falle einer Beschädigung nur schwer reparieren,
wobei häufig die erforderliche Präzision nicht mehr eingehalten
und das gesamte Boot nicht mehr verwendet werden kann. Schließ
lich sind auch die verwendeten Materialien im allgemeinen nicht
völlig frei von kontaminierenden Stoffen und können daher als
Quelle für bei solchen Prozessen unerwünschte Verunreinigungen
wirken.
Aufgabe der Erfindung war es, Vorrichtungen anzugeben, die ein
facher herstellbar sind, hohe Präzision aufweisen, leicht zu
reparieren sind und sich aus Materialien fertigen lassen, die
auch bei höchste Reinheit fordernden Prozessen keine Kontamina
tion der Scheiben verursachen können. Gelöst wird die Aufgabe
durch Vorrichtungen der eingangs genannten Art, welche aus über
lösbare Verbindungen zusammengesetzten Einzelteilen aus hoch
temperaturfestem keramischem oder Halbleitermaterial bestehen.
Grundsätzlich eigenen sich jeweils solche keramischen oder Halb
leitermaterialien, die bei den vorgesehenen Prozeßbedingungen
die erforderliche mechanische, chemische und thermische Stabili
tät aufweisen. Beispiele sind etwa oxidische keramische Materi
alien wie Quarz, Quarzglas, Saphir oder Korund, carbidische oder
nitridische keramische Materialien wie z. B. Siliciumcarbid,
Siliciumnitrid oder Aluminiumnitrid, oder vorzugsweise Element-
oder Verbindungshalbleitermaterialien wie Galliumarsenid, Ger
manium oder insbesondere Silicium.
Das Material wird nach Maßgabe der vorgesehenen Anwendung aus
gewählt, wobei vor allem die Art des Prozesses, das jeweilige
Scheibenmaterial und die Reinheitsanforderungen zu berücksichti
gen sind. Bevorzugt wird man für die Halterung von Silicium
scheiben Quarz oder insbesondere Silicium als Material für die
Vorrichtung verwenden. Der Einsatz von Silicium bietet den
Vorteil, daß das Material in höchsten Reinheitsgraden zur Ver
fügung steht, wobei gegebenenfalls sogar die Dotierung der zu
behandelnden Scheiben berücksichtigt werden kann. Damit können
die Halterungen aus Material gefertigt werden, das in Bezug auf
die Reinheit und Halbleiterscheiben selbst, so daß die Kontami
nationsgefahr besonders gering gehalten werden kann. Dies gilt
sinngemäß auch für andere Halbleitermaterialien wie Germanium,
Galliumarsenid oder Indiumphosid.
Obwohl es grundsätzlich möglich ist, für die verschiedenen Ein
zelteile der Vorrichtung auch verschiedene Materialien zu ver
wenden, werden schon wegen des thermischen Verhaltens vorzugs
weise alle Einzelteile aus dem gleichen Material gefertigt. Kri
stalline Materialien können dabei eingesetzt werden.
Die erfindungsgemäßen Vorrichtungen bestehen aus mindestens
einem mit Ausnehmungen zur Aufnahme der Scheiben an ihrem Außenumfang
versehenen Front- und Endteil sowie Befestigungsele
menten, die die Herstellung einer lösbaren Verbindung zwischen
mindestens einem Halteelement sowie Front- und Endteil gestat
ten.
In der Figur ist beispielhaft eine mögliche Ausführungsform
einer erfindungsgemäßen Vorrichtung dargestellt.
Diese besteht aus 4 rundstabförmigen Halteelementen 1, die an
ihrer den Scheiben zugewandten Seite mit z. B. spalten- oder nu
tenförmigen Ausnehmungen 2 versehen sind. die den vorgesehenen
Abstand voneinander besitzen und in welche die hier nicht dar
gestellten Scheiben in der Weise eingestellt werden können, daß
sie an vier Abschnitten ihres Außenumfanges in vertikaler, zu
einander paralleler Stellung und im für den jeweiligen Prozeß
schritt erforderlichen Abstand gehalten werden. Der Übersicht
keit wegen wurden nur 4 Schlitze gezeichnet. Die Halteelemente
weisen jedoch auf ganzer Länge im jeweils gewünschten Abstand
Ausnehmungen (Schlitze) auf. Grundsätzlich sind auch andere
Ausführungsformen möglich, bei denen die länglichen Halteelemte
keinen runden. sondern einen polygonalen Querschnitt haben, al
so beispielsweise trigonal, teragonal, quadratisch, penta- oder
hexagonal. Solche Geometrien haben den Vorteil, daß bei der Her
stellung der Halteelemenete aus größeren Werkstücken der Ver
schnitt gering gehalten werden kann.
Auch die Zahl der Halteelemente kann je nach Anzahl und Größe
der Scheiben und der erforderlichen mechanischen Stabilität der
Vorrichtung variieren. Bevorzugt werden 2 bis 6, insbesondere 3
oder 4 derartige Halteelemente vorgesehen, da diese Anzahl in
den meisten Fällen ausreichende Stabilität und Tragfähigkeit
gewährleistet, während die Zahl der Kontaktstellen mit den
Scheiben gering gehalten wird. Grundsätzlich sind jedoch Halte
rungen mit mehr Halteelementen nicht ausgeschlossen, ebensowe
nig wie solche mit nur einem, das beispielsweise trogförmig ge
staltet sein kann.
Die Ausnehmungen 2 in den Halteelementen zur Aufnahme der
Scheiben können in der von den gängigen Booten her bekannten
Art und Weise gestaltet sein, d. h. vorzugsweise nut- oder spalt
förmig mit beispielsweise V- oder U-förmigem Querschnitt.
Das Frontteil 3 sowie das Endteil 3 sind zweckmäßig so geformt,
daß sie über Auflageflächen verfügen, die das Abstellen der
Vorrichtung auf einer Unterlage oder das Auflegen auf Halte
stangen oder -flächen ermöglichen. Als Möglichkeiten zur Befe
stigung der Halteelemente 1 sind sie mit Öffnungen 4 versehen.
durch welche die räumliche Anordnung der Halteelemente 1 und da
mit letzlich festgelegt wird, in welchem Bereich ihres Außenum
fanges die zu halternden Halbleiterscheiben jeweils mit den Hal
teelementen in Kontakt kommen. Diese Öffnungen können rund sein,
so daß die Halteelemente in ihnen drehbar sind: gemäß einer be
vorzugten Ausführungsform sind diese jedoch so gestaltet, daß
die Halteelemente gegen Verdrehung gesichert sind, was bei
spielsweise durch eine nicht runde, also z. B. schlitzartige
oder eckige Formgebung erreicht werden kann. Die Front- und End
teile 3 können massiv sein, sie können aber auch als im Inneren
offener Rahmen gestaltet sein.
Die Halteelemente 1 sind an ihren Enden mit Gewinden 5 verse
hen, die dann mittels Muttern 6 mit dem Front- bzw. Endteil ver
bunden werden können. Günstig werden die Gewinde bei größeren
Durchmesser nicht völlig rund, sondern seitlich abgeflacht ge
staltet, um gegen Verdrehung gesichert in die paßgerecht gefer
tigten Öffnungen der Front- bzw. Endteile eingeführt werden zu
können. Neben dem System Schraube/Mutter können auch beispiels
weise Bajonettverschlüsse, Überfallringe oder auch solche Syste
me verwendet werden, die mittels Keilen oder Stiften eine lös
bare Verbindung darstellen.
Die erfindungsgemäßen Vorrichtungen eignen sich insbesondere
zur Verwendung bei Hochtemperaturprozessen im Bereich von 300
bis 1250 Grad C. Daneben lassen sie sich auch mit Vorteil bei
Reinigungsprozessen oder Diffusionsvorgängen einsetzen. Die Vor
züge liegen insbesondere bei aus Silicium gefertigten Halterun
gen in der hohen verfügbaren Reinheit, der Artgleichheit des
verwendeten Materials, insbesondere bei Notwendigkeit gleicher
Dotierung, der hohen erzielbaren Fertigungspräzision und der
leichten Austauschbarkeit einzelner Teile im Falle von Beschä
digungen oder Verunreinigungen, sowie der schnellen Wiederein
satzbereitschaft durch kurze Reparaturzeiten vor Ort.
Claims (10)
1. Vorrichtung zur Halterung eines Kollektives von Halbleiter
scheiben bei thermischen oder chemischen Behandlungsschrit
ten, bestehend aus über lösbare Verbindungen zusammengesetz
ten Einzelteilen aus hochtemperaturfestem keramischem oder
Halbleitermaterial.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bestehend aus mindestens einem,
vorzugsweise 2 bis 6, mit Ausnehmungen zur Aufnahme der Schei
ben an ihrer Längsseite vergesehenen länglichen Halteelemen
ten, mindestens je einem mit Öffnungen zur Aufnahme der Hal
teelemente versehenen Front- und Endelement, sowie Befesti
gungselementen, die die Herstellung einer lösbaren Verbin
dung zwischen den Halteelementen und den Front- und Endele
menten gestatten.
3. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Halteelemente an ihren Enden mit Gewinden
versehen sind und als Befestigungselementen passende Schrau
benmuttern vorgesehen sind.
4. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halteelemente polygonalen
bis runden Querschnitt besitzen.
5. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halteelemente mit nutenför
migen Ausnehmungen versehen sind.
6. Vorrichtungen nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis
5, dadurch gekennzeichnet, daß alle Einzelteile aus demsel
ben Material gefertigt sind.
7. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einzelteile aus Silicium,
Siliciumcarbid oder Siliciumnitrid gefertigt sind.
8. Verwendung von Vorrichtungen gemäß den Ansprüchen 1 bis 7
bei Hochtemperaturprozessen im Bereich von 300 bis 1250
Grad C.
9. Verwendung von Vorrichtungen gemäß den Ansprüchen 1 bis 7 bei
Reinigungsprozessen.
10. Verwendung von Vorrichtungen gemäß den Ansprüchen 1 bis 7 bei
Diffusionsprozessen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893907301 DE3907301A1 (de) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | Vorrichtung zur halterung eines kollektivs von halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen behandlungsschritten und ihre verwendung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893907301 DE3907301A1 (de) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | Vorrichtung zur halterung eines kollektivs von halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen behandlungsschritten und ihre verwendung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3907301A1 true DE3907301A1 (de) | 1990-09-13 |
Family
ID=6375726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893907301 Withdrawn DE3907301A1 (de) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | Vorrichtung zur halterung eines kollektivs von halbleiterscheiben bei thermischen oder chemischen behandlungsschritten und ihre verwendung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3907301A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4428169A1 (de) * | 1994-08-09 | 1996-02-15 | Steag Micro Tech Gmbh | Träger für Substrate |
DE19856468C1 (de) * | 1998-11-30 | 2000-06-15 | Sico Jena Gmbh Quarzschmelze | Verfahren zur Herstellung einer Haltevorrichtung für Halbleiterscheiben |
WO2020048833A1 (de) * | 2018-09-06 | 2020-03-12 | centrotherm international AG | Waferboot |
-
1989
- 1989-03-07 DE DE19893907301 patent/DE3907301A1/de not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO1996005611A1 (de) * | 1994-08-09 | 1996-02-22 | Steag Microtech Gmbh Donaueschingen | Träger für substrate |
DE19856468C1 (de) * | 1998-11-30 | 2000-06-15 | Sico Jena Gmbh Quarzschmelze | Verfahren zur Herstellung einer Haltevorrichtung für Halbleiterscheiben |
US6276592B1 (en) | 1998-11-30 | 2001-08-21 | Sico Jena Gmbh Quarzschmelze | Process for the production of a holding device for semiconductor disks and holding device produced by this process |
WO2020048833A1 (de) * | 2018-09-06 | 2020-03-12 | centrotherm international AG | Waferboot |
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