DE3821403A1 - Anordnung zum beleuchten und visuellen abtasten eines gegenstandes unter anwendung eines optischen systems - Google Patents
Anordnung zum beleuchten und visuellen abtasten eines gegenstandes unter anwendung eines optischen systemsInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Beleuchten und
visuellen Abtasten eines Gegenstandes unter Anwendung
eines optischen Systems, das mit Spiegeln, einem halb
durchlässigen Spiegel und einem Objektiv so aufgebaut
ist, daß der auf das Objekt fallende Beleuchtungs-Licht
strahl und der vom Objekt reflektierte Abtast-Licht
strahl bei ihrem Weg vom halbdurchlässigen Spiegel durch
das Objektiv zum Objekt und zurück in ein und derselben
Bahn verlaufen und dabei im halbdurchlässigen Spiegel
vereinigt und wieder getrennt werden.
Derartige optische Systeme werden dort angewandt, wo es
darum geht, ein Objekt mit hoher Auflösung zu unter
suchen. Mit einem derartigen System läßt sich der Beleuch
tungsstrahl exakt auf einzelne Punkte des Objektes auch
durch enge Öffnungen richten und die Oberfläche des Ob
jektes läßt sich sehr genau beobachten bzw. optisch ab
tasten. Man hat derartige optische Systeme mit Hilfe von
Prismen aufgebaut, ist aber davon abgekommen, weil durch
Prismen eine Reihe von Störreflektionen in das Abtastbild
gelangen. Daher arbeitet man in derartigen optischen Sy
stemen im allgemeinen mit halbdurchlässigen Spiegeln, bei
denen die dem Objekt zugewandte Seite eine Verspiegelung
trägt, die den Beleuchtungslichtstrahl in ausreichender
Stärke durchtreten läßt und den Abtaststrahl in ausrei
chender Stärke reflektiert. Dabei ist es gleichgültig, ob
der Beleuchtungsstrahl oder der Abbildungsstrahl am halb
durchlässigen Spiegel reflektiert wird. Mit einem solchen
halbdurchlässigen Spiegel hat man dann nur noch eine Stör
reflektion, die von der nicht verspiegelten Oberfläche des
halbdurchlässigen Spiegels ausgeht. Da sich diese Störreflek
tion technisch nicht vermeiden läßt, hat man die halbdurch
lässigen Spiegel sehr dünn gebaut, um das von einer Stör
reflektion erzeugte Bild, z.B. eines Striches, möglichst
weitgehend mit dem über die verspiegelte Fläche erzeugten
gewünschten Bild dieses Striches zusammenfallen zu lassen.
Solche halbdurchlässigen Spiegel stellt man mit einer fast
vernachlässigbaren Dicke her (etwa 1 bis 5 Mikrometer)
und spannt sie in einen festen Ring ein. Technologische
Schwierigkeiten und ungleichartiges Rohmaterial führen
hier jedoch zu schwer reproduzierbaren Eigenschaften
solcher Spiegel, was für eine industrielle Serienfertigung
nachteilig ist.
Ein optisches System der eingangs genannten Art läßt sich
auch für die optische punktweise Abtastung von Objekten
z.B. mit einer Nipkow-Scheibe verwenden. Die parallele
Strahlführung des Beleuchtungslichtstrahles und des Ab
tastlichtstrahles und des aus diesen beiden Strahlen zu
sammengesetzten Strahles sind eine gute Voraussetzung
für diese punktweise Abtastung, wenn es gelingt, die un
erwünschte Reflektion an der nichtverspiegelten Fläche
des halbdurchlässigen Spiegels möglichst gering zu halten.
Die Erfindung vermeidet die Nachteile des Standes der
Technik. Es ist die Aufgabe der Erfindung, bei der op
tischen Abtastung eines Objektes mit dem eingangs ge
nannten optischen System die von der nicht verspiegelten
Fläche des halbdurchlässigen Spiegels ausgehende Reflek
tion zu unterdrücken und dadurch eine besonders hohe
Auflösung und einen besonders starken Kontrast bei der
Abbildung des Objektes mit einfachen Mitteln zu erreichen.
Die Erfindung besteht darin, daß man den unerwünscht an der
nicht verspiegelten Fläche des halbdurchlässigen Spiegels
reflektierten Strahl mit Hilfe einer Rasterscheibe abfängt
und nicht durch diese Rasterscheibe durchtreten läßt. Die
Rasterscheibe ist eine bewegte, z.B. rotierende Scheibe
oder eine Scheibe mit wechselnd durchlässigen Teilen. Die
Rasterscheibenanordnung ist derart, daß sowohl der Be
leuchtungs- als auch der Abbildungsstrahl in definierter
Weise durch das Raster hindurchtreten.
Das läßt sich in einfacher Weise dadurch erreichen, daß
der Beleuchtungslichtstrahl und der Abtastlichtstrahl in
einem Bereich vor dem halbdurchlässigen Spiegel zumindest
genähert parallel zueinander verlaufen, daß in diesem Be
reich eine einer Nipkow-Scheibe ähnliche Rasterscheibe mit
spiralförmig angeordneten Elementaröffnungen vorgesehen
ist, daß auf dieser Rasterscheibe jeweils einer Elementar
öffnung für den Durchtritt des Beleuchtungslichtstrahles
eine gleichweit von der Drehachse der Rasterscheibe ent
fernte Elementaröffnung für den Durchtritt des Abtast
lichtstrahles - von der Drehachse aus gesehen diametral
gegenüberliegend - angeordnet ist, wobei die bildseitigen
Elementaröffnungen so angeordnet und die Stärke des halb
durchlässigen Spiegels so gewählt ist, daß der von der nicht
verspiegelten Oberfläche ausgehende reflektierte Abtast
strahl nicht auf eine Elementaröffnung trifft, sondern auf
einen für Licht undurchlässigen Teil der Rasterscheibe.
Mit dieser Anordnung läßt sich so auf höchst einfache
Weise der unerwünscht von der nichtverspiegelten Fläche
reflektierte Abtaststrahl dadurch unterdrücken, daß er
nicht durch die Rasterscheibe hindurchtreten kann. Dieses
mechanische Abfangen der unerwünschten Reflektion führt
zu einer sehr hohen Auflösung und zu einem hervorragenden
Kontrast. Die dabei angewandten Mittel sind höchst ein
fach, insbesondere dann, wenn man sowieso eine aufeinander
folgende Abtastung der einzelnen Oberflächenpunkte des
Objektes mit Hilfe einer Rasterscheibe vorgenommen hätte.
Die Erfindung nutzt dabei den Wegunterschied des vom Objekt
reflektierten Lichtes. Denn die Erfindung beruht auf der Er
kenntnis, daß der Weg für das am Objekt reflektierte Licht
unterschiedlich lang ist, je nachdem, ob das Licht in er
wünschter Weise an der verspiegelten Fläche oder in unerwünschter
Weise an der nicht verspiegelten Fläche reflektiert wird. Es
ist daher zweckmäßig, wenn der Entfernungsunterschied für je
den von der nicht verspiegelten Oberfläche des halbdurch
lässigen Spiegels reflektierten Abtaststrahles gegenüber
jedem von der verspiegelten Oberfläche das halbdurchlässigen
Spiegels reflektierten Abtaststrahl zwischen dem Objekt
und der Ebene der Rasterscheibe so gewählt ist, daß der
von der nicht verspiegelten Oberfläche ausgehende reflek
tierte Strahl auf einen lichtundurchlässigen Teil der
Rasterscheibe trifft.
Es hat sich als besonders günstig herausgestellt, wenn
der Entfernungsunterschied wenigstens gleich ist dem
Durchmesser einer Elementaröffnung.
Das Wesen der Erfindung ist nachstehend anhand eines
in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbei
spieles näher erläutert.
Die dargestellte Anordnung besitzt eine um ihre Dreh
achse 12 drehbare Rasterscheibe 1 mit einer Anzahl spi
ralförmig angeordneter Öffnungen 11 für den Lichtdurch
tritt, wobei jeweils einer Öffnung 11 a dieser Raster
scheibe 1 eine gegenüber der Drehachse 12 diametral
liegende Elementaröffnung 11 b dieser Rasterscheibe
gegenüberliegt. Die Anordnung besitzt ferner eine
Lichtquelle 6, ein System 5 für das Aufteilen des Lichtes
mit drei Spiegeln 511, 512, 513 mit undurchlässigen
spiegelnden Schichten und einem Spiegel 52 mit einer
halbdurchlässigen spiegelnden Schicht 521, die im ge
zeichneten Ausführungsbeispiel an der unteren Oberfläche
des Spiegels 52 vorgesehen ist. Unterhalb dieses Spiegels
52 befindet sich ein Objektiv 2 des Mikroskopes, welches
auf den untersuchten Gegenstand 14 (das Objekt) scharf
eingestellt ist.
Ein Teil der Rasterscheibe 1 wird im Bereich eines Be
leuchtungsfeldes 3 durch die Lichtquelle 6 derart be
leuchtet, daß einzelne Beleuchtungslichtstrahlen 7 durch
Öffnungen 11 a der Rasterscheibe 1 weitergeleitet werden
und zuerst auf den Spiegel 511 auftreffen, von welchem
sie durch den Spiegel 512 senkrecht nach unten reflek
tiert werden. Ein Teil dieses Beleuchtungslichtstrahles 7
wird durch die halbdurchlässige spiegelnde Schicht 521
des halbdurchlässigen Spiegels 52 zum Objektiv 2 durchge
lassen und trifft auf den zu untersuchenden Gegenstand 14
auf (strichliert gezeichnet). Durch Reflexion von diesem
Gegenstand 14 kehrt ein Teil des Lichtes als reflektierter
Bild- bzw. Abtaststrahl 8 zurück ins Objektiv 2 und ver
läuft weiter gegen die spiegelnde Schicht 521 des Spie
gels 52, (strichliert gezeichnet) von welcher dieser
Lichtstrahl gegen den Spiegel 513 reflektiert wird und
von diesem wiederum als Bild- bzw. Abtaststrahl 8 der Raster
scheibe 1 zugeführt wird, wo dieser Abtastlichtstrahl durch
eine der Elementaröffnungen 11 b der Rasterscheibe 1 dem
Okular 9 des Mikroskopes für Beobachtung des Objektes 14
zugeführt wird. Und zwar fällt dieser Beleuchtungslicht
strahl durch diejenige Öffnung 11 b, die der Elementaröffnung
11 a gegenüber der Drehachse 12 der Rasterscheibe
diametral gegenüberliegt, durch die das Licht ursprüng
lich geleitet wurde.
Gleichzeitig wird jedoch der in das System 5 eintretende
Beleuchtungsstrahl 7 von der anderen, nicht verspiegelten
Oberfläche 522 des Spiegels 52, die keine spiegelnde
Schicht trägt, ebenfalls gegen den Spiegel 513 reflek
tiert (siehe die punktierte Linie 13), von wo dieser
unerwünscht reflektierte Abtastlichtstrahl 13 gegen
die Rasterscheibe 1 gerichtet wird, wo er jedoch von
lichtundurchlässigen Teilen der Rasterscheibe 1 aufge
fangen wird.
Dadurch werden unerwünschte Reflexionen von der nicht
verspiegelten Oberfläche des halbdurchlässigen Spiegels
52 von undurchsichtigen Teilen der Rasterscheibe aufge
fangen, so daß sie nicht in das Okular 9 gelangen, wo
durch ein Verdoppeln des Bildes verhindert wird und ein
Bild hoher Güte erzielt wird.
- Liste der Bezugszeichen
1 Rasterscheibe
11 Elementaröffnung
12 Drehachse
2 Objektiv
3 Beleuchtungsfeld
4 Bildfeld
5 Lichtaufteilungssystem
511 Spiegel
512 Spiegel
513 Spiegel
52 halbdurchlässiger Spiegel
521 obere Oberfläche des Spiegels 52
522 untere Oberfläche des Spiegels 52
6 Lichtquelle
7 Beleuchtungsstrahlenbündel
8 Bildstrahlenbündel
9 Okular
10 Anprall des Bildstrahlenbündels auf die
untere Fläche der Rasterscheibe
13 reflektiertes Bildstrahlenbündel (punktiert)
14 untersuchter Gegenstand
Claims (3)
1. Anordnung zum Beleuchten und visuellen Abtasten eines
Gegenstandes unter Anwendung eines optischen Systems,
das mit Spiegeln, einem halbdurchlässigen Spiegel
und einem Objektiv so aufgebaut ist, daß der auf das
Objekt fallende Beleuchtungs-Lichtstrahl und der vom
Objekt reflektierte Abtast-Lichtstrahl bei ihrem Weg
vom halbdurchlässigen Spiegel durch das Objektiv zum
Objekt und zurück in ein und derselben Bahn verlaufen
und dabei im halbdurchlässigen Spiegel vereinigt
und wieder getrennt werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Beleuchtungslichtstrahl (7) und der Abtast lichtstrahl (8) in einem Bereich vor dem halbdurch lässigen Spiegel (52) zumindest genähert parallel zu einander verlaufen,
daß in diesem Bereich eine einer Nipkowscheibe ähn liche Rasterscheibe (1) mit spiralförmig angeordneten Elementaröffnungen (11) vorgesehen ist,
daß auf dieser Rasterscheibe jeweils einer Elementar öffnung (11 a) für den Durchtritt des Beleuchtungslicht strahles (7) eine gleichweit von der Drehachse (12) der Rasterscheibe (1) entfernte Elementaröffnung (11 b) für den Durchtritt des Abtastlichtstrahles (8) - von der Drehachse (12) aus gesehen diametral gegenüberlie gend - angeordnet ist, wobei die bildseitigen Elementaröffnungen (11 b) so an geordnet und die Stärke des halbdurchlässigen Spiegels (52) so gewählt ist, daß der von der nicht verspiegelten Oberfläche (522) ausgehende reflektierte Abtaststrahl (13) nicht auf eine Elementaröffnung (11 b) trifft, sondern auf einen für Licht undurchlässigen Teil der Rasterscheibe (1).
daß der Beleuchtungslichtstrahl (7) und der Abtast lichtstrahl (8) in einem Bereich vor dem halbdurch lässigen Spiegel (52) zumindest genähert parallel zu einander verlaufen,
daß in diesem Bereich eine einer Nipkowscheibe ähn liche Rasterscheibe (1) mit spiralförmig angeordneten Elementaröffnungen (11) vorgesehen ist,
daß auf dieser Rasterscheibe jeweils einer Elementar öffnung (11 a) für den Durchtritt des Beleuchtungslicht strahles (7) eine gleichweit von der Drehachse (12) der Rasterscheibe (1) entfernte Elementaröffnung (11 b) für den Durchtritt des Abtastlichtstrahles (8) - von der Drehachse (12) aus gesehen diametral gegenüberlie gend - angeordnet ist, wobei die bildseitigen Elementaröffnungen (11 b) so an geordnet und die Stärke des halbdurchlässigen Spiegels (52) so gewählt ist, daß der von der nicht verspiegelten Oberfläche (522) ausgehende reflektierte Abtaststrahl (13) nicht auf eine Elementaröffnung (11 b) trifft, sondern auf einen für Licht undurchlässigen Teil der Rasterscheibe (1).
2. Anordnung nacn Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Entfernungsunterschied für jeden von der nicht
verspiegelten Oberfläche (522) des halbdurchlässigen
Spiegels (52) reflektierten Abtaststrahles (13) gegen
über jedem von der verspiegelten Oberfläche (521) des
halbdurchlässigen Spiegels (52) reflektierten Abtast
strahl (8) zwischen dem Objekt und der Ebene der
Rasterscheibe (1) so gewählt ist, daß der von der nicht
verspiegelten Oberfläche (522) ausgehende reflektierte
Strahl (13) auf einen lichtundurchlässigen Teil der
Rasterscheibe trifft.
3. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Entfernungsunterschied wenigstens gleich ist
dem Durchmesser einer Elementaröffnung.
Applications Claiming Priority (1)
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CS874816A CS265145B1 (en) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | The microscope with double scanning |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE3821403A Withdrawn DE3821403A1 (de) | 1987-06-29 | 1988-06-24 | Anordnung zum beleuchten und visuellen abtasten eines gegenstandes unter anwendung eines optischen systems |
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---|---|
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CS (1) | CS265145B1 (de) |
DE (1) | DE3821403A1 (de) |
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1988
- 1988-06-24 DE DE3821403A patent/DE3821403A1/de not_active Withdrawn
- 1988-06-27 US US07/211,559 patent/US4917478A/en not_active Expired - Fee Related
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