DE3804134A1 - Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires - Google Patents

Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires

Info

Publication number
DE3804134A1
DE3804134A1 DE19883804134 DE3804134A DE3804134A1 DE 3804134 A1 DE3804134 A1 DE 3804134A1 DE 19883804134 DE19883804134 DE 19883804134 DE 3804134 A DE3804134 A DE 3804134A DE 3804134 A1 DE3804134 A1 DE 3804134A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gas
optical
concentration
measuring
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19883804134
Other languages
English (en)
Inventor
Friedrich Karl Dr Levacher
Helmut Dr Federmann
Georg Dr Ing Noack
Anton Dipl Ing Kraus
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Felten and Guilleaume Energietechnik AG
Original Assignee
Felten and Guilleaume Energietechnik AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Felten and Guilleaume Energietechnik AG filed Critical Felten and Guilleaume Energietechnik AG
Priority to DE19883804134 priority Critical patent/DE3804134A1/de
Publication of DE3804134A1 publication Critical patent/DE3804134A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • G01J2009/0207Double frequency, e.g. Zeeman
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • G01N2021/456Moire deflectometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides
    • G01N2201/0833Fibre array at detector, resolving

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zum Messen der Konzentration (Dichte) eines Fremdgases in einem Gas­ gemisch, vorzugsweise der CH4-Konzentration in Luft, mittels einer optischen Gassensor-Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Es eignet sich besonders zur Überwachung von explosiven Gasen (CH4) im Bergbau, in der Offshore-Technik und in der chemischen Industrie.
Die vorerwähnte Gassensor-Einrichtung ist bereits in der älteren Patentanmeldung P 36 27 876.9 angegeben. Bei dem damit betriebenen Verfahren wird die Veränderung der optischen Dichte des Gasge­ misches in einer Meßküvette aus einem Vergleich der beim Zeemann- Effekt auftretenden Schwebungsfrequenz des Lichts ermittelt.
Dazu wird der Resonator eines Lasers axial von einem Magnetfeld durchsetzt, womit er zwei polarisierte Lichtstrahlen gering unter­ schiedlicher Frequenz aussendet, die sich zu einer Schwebung über­ lagern, deren Frequenz man über Fotodioden mißt. Man trennt die beiden Lichtstrahlen voneinander, führt die eine durch die Meß­ küvette und die andere durch eine Referenzküvette mit einem Refe­ renzgas und überlagert beide wieder, so daß man je nach der Zu- oder Abnahme der optischen Dichte in der Meßküvette eine steigende oder sinkende Schwebungsfrequenz erhält. Schließlich zählt man die Frequenz der Meßschwebung hoch und vergleicht diese mit der Fre­ quenz einer Referenzschwebung am Ausgang des Lasers. - Zur Licht­ leitung zwischen der Gassensor-Einrichtung vor Ort und dem Meßraum in sicherer Entfernung dienen Lichtwellenleiter (LWL).
Bei diesem Verfahren wird im wesentlichen die Frequenzänderung des Lichts, durch dessen Laufzeitänderung, in der Meßküvette beim Ein­ tritt des Fremdgases, gegenüber dem Referenzgas (Normalatmosphäre) in der Referenzküvette, zur Detektion des Fremdgases benutzt. Da hierbei der Doppler-Effekt wirksam wird, bleibt die Frequenzände­ rung nur solange bestehen, wie sich der Anteil des Fremdgases än­ dert. Das bedeutet, daß die Anzeige verschwindet, sobald konstante Verhältnisse vorliegen. Dies ist nachteilig.
Daher liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, durch eine Ände­ rung des Meßverfahrens und der optischen Gassensor-Einrichtung eine Anzeige der Fremdgaskonzentration selbst (und nicht nur deren Änderung) zu erhalten.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des An­ spruchs 1 gelöst. Die Lösung besteht im wesentlichen darin, daß der Laufzeitunterschied des Lichts zwischen Gasgemisch und Refe­ renzgas zur Bildung eines, allein von der Fremdgaskonzentration abhängigen, Interferenzgitters benutzt und dieses einem vorgege­ benen Phasengitter überlagert wird, so daß ein Moir´ entsteht, das von einer LWL-Detektorvorrichtung aufgenommen wird, deren Licht­ intensitäten über ein LWL-Kabel einer Auswerteelektronik zugeführt werden.
Die zur Durchführung dieses Meßverfahrens benötigte optische Gas­ sensor-Einrichtung ist in Anspruch 2, Einzelheiten der Detektor­ vorrichtung sind in Anspruch 3 gekennzeichnet.
Der Vorteil der Erfindung besteht im wesentlichen darin, daß man nun eine laufende Anzeige der Fremdgaskonzentration selbst erhält. Des weiteren wirkt sich die räumliche Trennung der Gassensor-Ein­ richtung (kurz: des Gassensors) am Meßort von der elektronischen Auswerteeinrichtung (im Meßraum) vorteilhaft aus, wodurch die Meß­ einrichtung besonders zur Überwachung eines Auftretens explosiver Gase geeignet ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dar­ gestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigt
- Fig. 1 eine schematische Draufsicht auf die LWL-Gassensor-Ein­ richtung zum Interferenz-Moir´-Verfahren und
- Fig. 2 ein schematisches Bild zur Moir´-Überwachung mit dem Moir´ (oben) und der Positionierung der Detektor-LWL-Stirnflächen zum Moir´ (unten).
Bezeichnet sich mit
1 Grundplatte des Gassensors
2 LWL vom Meßraum herkommend
3 Indexgradientenlinse
4 Strahlteiler
5 Meßküvette mit dem zu untersuchenden Gasgemisch
6 Referenzküvette mit dem Referenzgas
7 Prisma zur Strahlen-Zusammenführung
8 Interferenzgitter von Meß- und Referenzstrahl, veränderlich mit der Fremdgaskonzentration
9 Phasengitter, in der Ebene des Interferenzgitters, unveränder­ liches Strichgitter, als Ganzes drehbar
10 Moir´, gemustertes Überlagerungsbild von Interferenz- und Pha­ sengitter
11 Zerstreuungslinse
12 Optische Detektorvorrichtung
13 LWL-Stirnflächen der Detektorvorrichtung
14 LWL-Kabel zum Meßraum abgehend
15 Drehpunkt des Phasengitters.
Wie aus der Fig. 1 ersichtlich ist, gelangt der von einem Laser im Meßraum über den Lichtwellenleiter (LWL) 2 herkommende Lichtstrahl über die Indexgradientenlinse 3 zu dem Strahlteiler 4, die links auf der länglichen Grundplatte 1 des Gassensors angeordnet sind. Nach der Strahlteilung durchläuft der eine Strahl die Meßküvette 5, die das zu untersuchende Gasgemisch enthält, und der andere Strahl parallel hierzu die Referenzküvette 6 mit dem Referenzgas, hier Luft.
Am Ende der Laufstrecke führt das Prisma 7 die beiden Strahlen in der Ebene 9 zusammen, wo durch Überlagerung der beiden Strahlen das Interferenzgitter 8 entsteht. Dieses Gitter ändert seine Lage, sobald in der Meßküvette 5 ein von der Referenzküvette 6 abwei­ chender Brechungsindex (verursacht vom Fremdgas) und damit ein Fremdgas vorliegt.
Wie anhand der Fig. 2 verdeutlicht wird, kann eine Verschiebung des Interferenzgitters 8 sehr präzise mittels dem in dessen Ebene angeordneten Phasengitter (Strichgitter) 9 nachgewiesen werden: Durch die Überlagerung der beiden Gitter entsteht ein Moir´ (gemu­ sterte Überlagerungsbild) 10, dessen Struktur von der optischen Detektorvorrichtung 12 über eine davor angeordnete Zerstreuungs­ linse 11 aufgenommen wird.
Die Detektorvorrichtung 12 besteht aus drei LWL, die mit ihren Stirnflächen 13 das Licht von den ihnen optisch gegenüberliegenden Stellen des Moir´s aufnehmen. Zu einer optimalen Aufnahme sind die LWL-Stirnflächen in einer Linie senkrecht zur Grundplatte 1 über­ einander so positioniert, daß die Intensitätswerte des oben und des unten befindlichen LWL in bezug auf den mittleren LWL um + bzw. -120° verschoben sind. Diese Positionierung kann durch Ver­ änderung des Abstandes der LWL 13 zueinander oder vorzugsweise bei vorgegebenem Abstand der LWL durch Drehung des Phasengitters 9 um den Drehpunkt 15, gegenüber dem Interferenzgitter 8 um den Winkel α, erreicht werden.
Die von der Detektorvorrichtung 10 aufgenommenen Lichtintensitäten werden über das LWL-Kabel 14 zur Auswerteelektronik im Meßraum geführt, die anhand eines vorgegebenen Programms die Fremdgaskon­ zentration ermittelt und beim Überschreiten eines Grenzwertes ein Signal auslöst.

Claims (4)

1. Verfahren zum Messen der Konzentration (Dichte) eines Fremd­ gases in einem Gasgemisch, vorzugsweise der CH4-Konzentration in Luft,
  • - mittels einer optischen Gassensor-Einrichtung, die sich am Meß­ ort befindet und über Lichtwellenleiter (LWL) mit einer im abgele­ genen Meßraum befindlichen Auswerteelektronik verbunden ist,
  • - wobei in der Gassensor-Einrichtung ein Lichtstrahl in zwei Strahlen aufgeteilt wird, der eine Strahl durch das Gasgemisch und der andere Strahl durch ein Referenzgas, vorzugsweise Luft, ge­ führt wird, beide Strahlen wieder zusammengeführt werden und eine charakteristische Strahl-Eigenschaft als Maß für die Fremdgaskon­ zentration benutzt und gemessen wird,
dadurch gekennzeichnet,
  • - daß der Laufzeitunterschied (Unterschied des Brechungsindex) des Lichts zwischen Gasgemisch und Referenzgas zur Bildung eines, allein von der Fremdgaskonzentration abhängigen, Interferenz­ gitters (8) benutzt wird,
  • - dieses einem vorgegebenen Phasengitter (Strichgitter 9) über­ lagert wird,
  • - die Struktur des hierbei entstandenen Moir´s (10) über eine Zer­ streuungslinse (11) von einer Detektorvorrichtung (12) aus Licht­ wellenleitern (13) aufgenommen wird,
  • - und die aufgenommenen Lichtintensitäten über ein LWL-Kabel (14) einer Auswerteelektronik zugeführt werden, die anhand eines vorge­ gebenen Programms die Fremdgaskonzentration ermittelt und oberhalb eines Grenzwertes ein Signal auslöst.
2. Einrichtung zum Messen einer Gaskonzentration gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als optische Gassensor-Einrichtung auf einer länglichen Grundplatte (1) von links nach rechts angeordnet sind:
  • - der eingehende Lichtwellenleiter (LWL 2) eine Indexgradienten­ linse (3) und ein Strahlteiler (4),
  • - im Gang der beiden, parallel zur Plattenlängsachse verlaufenden Teilstrahlen eine Küvette mit dem Gasgemisch (Meßküvette 5) und eine Küvette mit dem Referenzgas (Referenzküvette 6),
  • - anschließend ein Prisma (7) zum Zusammenführen der beiden Teil­ strahlen und ein Phasengitter (Strichgitter 9) in der Ebene des Interferenzgitters (8), wo sich das Moir´ (10) bildet,
  • - und schließlich eine Zerstreuungslinse (11), eine optische Detektorvorrichtung (12) und das zur Auswerteelektronik abgehende LWL-Kabel (14) (Fig. 1).
3. Meßeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
  • - daß die Detektorvorrichtung (12) aus drei LWL besteht, die mit ihren Stirnflächen (13) das Licht an den ihnen gegenüberliegenden Stellen des Moir´s (10) aufnehmen,
  • - wozu die LWL-Stirnflächen (13) in einer Linie senkrecht zur Grundplatte (1) übereinander so positioniert sind, daß die Inten­ sitätswerte des oben und des unten befindlichen LWL in bezug auf den mittleren LWL um + bzw. -120° verschoben sind,
  • - was mittels des Abstandes der LWL zueinander oder vorzugsweise über den Drehwinkel α des Phasengitters (9) einstellbar ist (Fig. 2).
DE19883804134 1988-02-11 1988-02-11 Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires Withdrawn DE3804134A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19883804134 DE3804134A1 (de) 1988-02-11 1988-02-11 Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19883804134 DE3804134A1 (de) 1988-02-11 1988-02-11 Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3804134A1 true DE3804134A1 (de) 1989-08-24

Family

ID=6347122

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19883804134 Withdrawn DE3804134A1 (de) 1988-02-11 1988-02-11 Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3804134A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10200349A1 (de) * 2002-01-08 2003-07-17 Gerhart Schroff Verfahren und Anordnung zur Fremdgaserkennung im Strahlengang optischer Abbildungs- und/oder Strahlführungssysteme
DE102018115420A1 (de) * 2018-06-27 2020-01-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Nachweisen eines Stoffes
CN113058175A (zh) * 2021-04-22 2021-07-02 河北地质大学 火场地图动态重构及危险品边缘检测的消防面罩

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1110918B (de) * 1959-04-21 1961-07-13 Jenoptik Jena Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Dreistoffgemischen mit Hilfe eines Zweistrahlinterferometers
DE3334264A1 (de) * 1982-09-25 1984-04-05 Showa Denko K.K., Tokyo Verfahren und messgeraet zum messen der methan-konzentration in einem gasgemisch
DE3521834A1 (de) * 1984-06-22 1986-01-02 Société Anonyme Elf France, Paris Interferometrisches gasspuergeraet
GB2163251A (en) * 1984-07-19 1986-02-19 Elektrisk Bureau As Infrared gas detector
DE3627876A1 (de) * 1986-08-16 1988-02-25 Felten & Guilleaume Energie Verfahren und einrichtung zum messen der gaskonzentration in einem gasgemisch

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1110918B (de) * 1959-04-21 1961-07-13 Jenoptik Jena Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Dreistoffgemischen mit Hilfe eines Zweistrahlinterferometers
DE3334264A1 (de) * 1982-09-25 1984-04-05 Showa Denko K.K., Tokyo Verfahren und messgeraet zum messen der methan-konzentration in einem gasgemisch
DE3521834A1 (de) * 1984-06-22 1986-01-02 Société Anonyme Elf France, Paris Interferometrisches gasspuergeraet
GB2163251A (en) * 1984-07-19 1986-02-19 Elektrisk Bureau As Infrared gas detector
DE3627876A1 (de) * 1986-08-16 1988-02-25 Felten & Guilleaume Energie Verfahren und einrichtung zum messen der gaskonzentration in einem gasgemisch

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-Z: Optik 24, 1966/1967, S.323-334 *
GB-Journal of Physics E, 8, 1975, S.21-27 *
JP-Z: Japanese Journal of Applied Physoics 25, 1986, S.1717-1722 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10200349A1 (de) * 2002-01-08 2003-07-17 Gerhart Schroff Verfahren und Anordnung zur Fremdgaserkennung im Strahlengang optischer Abbildungs- und/oder Strahlführungssysteme
DE102018115420A1 (de) * 2018-06-27 2020-01-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Nachweisen eines Stoffes
DE102018115420B4 (de) * 2018-06-27 2020-03-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Nachweisen eines Stoffes
CN113058175A (zh) * 2021-04-22 2021-07-02 河北地质大学 火场地图动态重构及危险品边缘检测的消防面罩

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0561015A1 (de) Interferometrische Phasenmessung
DE102015218539B4 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE3142164A1 (de) Vorrichtung zur messung von druckunterschieden
DE2852978B2 (de)
EP0491749B1 (de) Vorrichtung zur absoluten zweidimensionalen positionsmessung
DE69026817T2 (de) Methode zum Detektieren und Messen von äusseren Einwirkungen
DE3441088C2 (de)
DE3813152A1 (de) Einrichtung mit einem optischen gassensor zur dichtemessung und -ueberwachung von gasen
DE3804134A1 (de) Verfahren und einrichtung zum messen der konzentration eines fremdgases in einem gasgemisch unter nutzung eines moires
DE3611119C1 (de) Sensoranordnung
DE2852614A1 (de) Optisches messystem
EP0256314A2 (de) Verfahren und Einrichtung zum Messen der Gaskonzentration in einem Gasgemisch
DE69000564T2 (de) Optisches system zum messen von linear- oder winkelaenderungen.
DE202010002129U1 (de) Sensor zum Erfassen von Relativbewegungen zwischen Objekten
AT396179B (de) Interferometeranordnung
DE4240769A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Geschwindigkeiten, insbesondere von Teilchen-Geschwindigkeiten in Fluiden
DD241643A1 (de) Messverfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen durchmesserbestimmung duenner draehte
DE2744168A1 (de) Magnetooptisches spektralphotometer
DE3908254C2 (de)
DE2321736A1 (de) Wechselweise verschiebbarer lichtmodulator und dessen verwendung in einem flimmerphotometer
DE3807325C2 (de) Gerät zur Messung der Phasenmodulation in einem optischen Wellenleiter
DE3433343A1 (de) Optische messanordnung mit faseroptischer lichtuebertragung
DE10025395C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung einer Differenzgeschwindigkeit und/oder eines Abstandes
DE3528684A1 (de) Messanordnung zum ermitteln des oberflaechenprofils eines objekts
DE4126948A1 (de) Vorrichtung zur erfassung der strahllage von laserstrahlen

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee