DE3639242A1 - Device for testing electronic modules - Google Patents

Device for testing electronic modules

Info

Publication number
DE3639242A1
DE3639242A1 DE19863639242 DE3639242A DE3639242A1 DE 3639242 A1 DE3639242 A1 DE 3639242A1 DE 19863639242 DE19863639242 DE 19863639242 DE 3639242 A DE3639242 A DE 3639242A DE 3639242 A1 DE3639242 A1 DE 3639242A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
intermediate device
control
testing
switching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19863639242
Other languages
German (de)
Inventor
Horst Dipl Ing Hartenstein
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE19863639242 priority Critical patent/DE3639242A1/en
Publication of DE3639242A1 publication Critical patent/DE3639242A1/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31905Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Published without abstract.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Baueinheiten, insbesondere Platinen von elektronischen Geräten, vor allem Vorrichtungen der elek­ tronischen Datenverarbeitung, Steuerung und dergleichen.The invention relates to a device for testing of electronic components, in particular circuit boards from electronic devices, especially devices of the elek tronic data processing, control and the like.

Die Prüfung elektronischer Baueinheiten von Geräten der vorstehend genannten Art erfolgt bisher mit aufwendigen Vorrichtungen, die sich für die Prüfung von Großserien rechtfertigen, aber für Labor- oder Reparaturzwecke zu aufwendig sind.Testing electronic components of devices the type mentioned above has so far been carried out with complex Devices that are suitable for the testing of large series justify, but for laboratory or repair purposes too are expensive.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zu schaffen, die sich mit vergleichsweise geringem Aufwand erstellen läßt und es dadurch ermöglicht, daß insbesondere Laboratorien und Reparaturwerkstätten damit ausgestattet werden können und die sich leicht an die unterschiedlichsten Anforderungen anpassen läßt.The invention has for its object a To create device that deals with comparatively can be created with little effort and thereby enables that especially laboratories and repair shops can be equipped with it and which is easy on can adapt to a wide variety of requirements.

Eine solche Aufgabe ist gemäß der Erfindung durch eine Prüfvorrichtung zu lösen, die ein Datenverarbeitungs­ gerät, wie insbesondere einen sogenannten Personal-Computer (PC), als Steuergerät und eine zwischen Steuergerät (PC) und Prüfling geschaltete Zwischeneinrichtung als ins­ besondere Anpassungs- und/oder Anzeigeeinheit besitzt, die mit elektronisch steuerbaren Schaltelementen ausge­ rüstet ist, über die die mit dem Steuergerät verbundenen Eingangsleitungen der Zwischeneinrichtung mit deren Aus­ gangsanschlüssen verbindbar sind, an die der Prüfling insbesondere über eine Steckverbindung anschaltbar ist.Such an object is achieved according to the invention to solve a test device that is a data processing device, in particular a so-called personal computer (PC), as control unit and one between control unit (PC)  and DUT switched intermediate device as ins has special adaptation and / or display unit, the out with electronically controllable switching elements is equipped via which is connected to the control unit Input lines of the intermediate device with their off can be connected to the test specimen can be connected in particular via a plug connection.

Eine solche Zwischeneinrichtung kann als selbstän­ dige, an das Steuergerät anschließbare Baueinheit (Adap­ ter-Einheit) ausgebildet sein. Man kann sie aber auch beispielsweise als in einen freien Steckplatz (slot) des Steuergeräts einsteckbare Platine ausbilden, die vorzugs­ weise mit nach außen geführten Ausgangsanschlüssen ausge­ rüstet ist.Such an intermediate device can be self-sufficient The unit that can be connected to the control unit (Adap ter unit). But you can also do it for example, as in a free slot of the Control unit insertable board form the preferred wise with outward led out connections is preparing.

Eine solche Zwischeneinrichtung ist zweckmäßiger­ weise mit Prüfelementen ausgerüstet, mittels derer die an die Ausgangsanschlüsse der durchzuschaltenden Leitungen angeschlossenen Anschlußleitungen vor dem Durchschalten auf vorgegebene Eigenschaften, insbesondere Zustände, überprüfbar sind. Die Schaltelemente der Zwischeneinrich­ tung sind vorzugsweise in einem durch das Steuergerät vorgegebenen Schaltzyklus ein- und ausschaltbar. Dieser Schaltzyklus wiederum kann in Abhängigkeit der von den Prüfelementen erfaßten Werte änderbar und in eine vorgege­ bene Stellung, Lage, Zustand führbar sein, d.h. er kann beispielsweise bei bestimmten Gegebenheiten unterbrochen und in die Ausgangslage zurückgesetzt oder in eine beson­ dere Prüfstellung gebracht werden.Such an intermediate device is more appropriate equipped with test elements by means of which the the output connections of the lines to be switched through connected connecting cables before switching through to specified properties, in particular states, are verifiable. The switching elements of the intermediate device tion are preferably in one by the control unit predefined switching cycle can be switched on and off. This Switching cycle in turn can depend on the Test elements recorded values changeable and in a given level position, location, condition to be feasible, i.e. he can interrupted for example in certain circumstances and reset to the starting position or in a special their test position are brought.

Die Erfindung läßt mannigfache Ausführungsmöglich­ keiten zu. In der Zeichnung ist der prinzipielle Aufbau einer Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung als Beispiel dargestellt und nachfolgend beschrieben sowie daran an­ schließend an einem Funktionsbeispiel erläutert.The invention allows for multiple designs to. In the drawing is the basic structure a test device according to the invention as an example  shown and described below and at finally explained using a functional example.

Bei der in der Zeichnung schematisch mit den zum Verständnis wesentlichen Teilen als mögliche Ausführungs­ form dargestellten Prüfvorrichtung ist von einem PC 1 her­ kömmlicher Bauart ausgegangen, an dessen Systembus über Verbindungselemente 2 die erfindungsgemäße Zwischeneinrich­ tung 3 angeschlossen ist. Diese sollte ein Anzeigegerät 4 und insbesondere einen Einsteckplatz 5 für einen in unter­ brochenen Linien angedeuteten Prüfling 6 besitzen.In the schematically as potential execution form illustrated in the drawing with the essential parts for the understanding Tester kömmlicher type is assumed to be 1 PC forth, to the system bus via connection elements 2, the Zwischeneinrich invention tung 3 is connected. This should have a display device 4 and in particular a slot 5 for a test specimen 6 indicated by broken lines.

Die Zwischeneinrichtung kann, was nicht dargestellt ist, in Form einer normalen Platine (board) ausgebildet und in einen freien Steckplatz des PC-Busses einsteckbar sein. Sie sollte dann, beispielsweise an der dem Busstecker gegenüberliegenden Seite, eine Buchsenleiste oder derglei­ chen besitzen, in die der Prüfling eingesteckt werden kann. Zwischen Busstecker und Buchsenleiste sind in jeder System­ spannungsleitung und in jedem Signalzweig jeweils zumindest ein elektronischer Schalter angeordnet, die einzeln oder gruppenweise durch den PC steuerbar sind, d.h. insbesondere ein- und ausschaltbar sind. Die Schalter sind vorzugsweise - von gewissen Ausnahmen abgesehen - passive, bidirekti­ onale Schaltgatter und verhalten sich im gesamten Signal­ spannungsbereich wie mechanische, potentialfreie Schalter und benötigen daher keinerlei zugriffsabhängige Steuerung, d.h. keinerlei Anpassung an unterschiedliche Prüflinge.The intermediate device can do what is not shown is in the form of a normal board and can be plugged into a free slot on the PC bus be. You should then, for example on the bus connector opposite side, a female header or the like have in which the test object can be inserted. In every system there are between bus connector and socket strip voltage line and at least in each signal branch an electronic switch arranged individually or can be controlled in groups by the PC, i.e. in particular can be switched on and off. The switches are preferred - with certain exceptions - passive, bidirect onal switching gates and behave throughout the signal voltage range such as mechanical, potential-free switches and therefore do not need any access-dependent control, i.e. no adaptation to different test objects.

Man kann die Bussignalgruppen über ein Kommandore­ gister schalten, welches über einen I/O-Write-Befehl geladen werden kann. Die I/OW-Adresse des Kommandoregisters ist eine I/O-Einzeladresse und kann im gesamten I/O-Adreß­ bereich mit einem DIP-Schalter einstellbar ausgebildet werden. Die Bedeutung der Bits im Kommandoregister zeigt nachstehende Übersicht:The bus signal groups can be commanded switch gister, which via an I / O write command can be loaded. The I / OW address of the command register is a single I / O address and can be used in the entire I / O address range adjustable with a DIP switch  will. The meaning of the bits in the command register shows overview below:

Die Wirkung der Kommandobits 1 . . . . 6 ist UND-verknüpft mit dem Kommando-Bit 0, einer Überwachungsschaltung für die zugeschaltete Systemspannung +5V (Vcc) und mit einer Synchronisierschaltung für den Buszugriff (trailing edge MEMR). In Verbindung mit dem "sanft" schaltenden, elektro­ nischen Vcc-Schalter ist sichergestellt, daß die erfin­ dungsgemäße Vorrichtung einen Prüfling per Kommando zu­ schalten und abtrennen kann, ohne den PC-Bus zu stören und ohne den Prüfling durch Stecken und Ziehen unter Spannung zu gefährden.The effect of the command bits 1 . . . . 6 is AND-linked with command bit 0, a monitoring circuit for the connected system voltage + 5V (Vcc) and with a synchronization circuit for bus access (trailing edge MEMR). In connection with the "smooth" switching, electronic African Vcc switch ensures that the device according to the inven tion can switch and disconnect a test specimen by command without disturbing the PC bus and without plugging and pulling the test specimen under voltage endanger.

Durch die Erfindung wird die Möglichkeit geschaffen, mittels eines einfachen PC eine Prüfvorrichtung für kom­ plizierte elektronische Bauteile bzw. Baugruppen zu bilden, in die die Prüflinge eingesteckt und wieder herausgezogen werden können, ohne den PC vorher abschalten zu müssen oder den Prüfling zu gefährden. Auch wird der PC hierbei in seinem Betrieb nicht gestört.The invention creates the possibility a test device for com to form duplicated electronic components or assemblies, into which the test specimens are inserted and removed again without having to switch off the PC beforehand or endanger the examinee. The PC is also in not disrupted its operation.

Claims (6)

1. Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauein­ heiten, insbesondere Platinen von elektronischen Geräten, insbesondere Datenverarbeitungsvorrichtungen, gekennzeich­ net durch die Kombination eines Datenverarbeitungsgerätes, wie eines sogenannten Personal-Computers (PC), als Steuer­ gerät mit einer zwischen Steuergerät (PC) und Prüfling geschalteten Zwischeneinrichtung als insbesondere Anpas­ sungs- und/oder Anzeigeeinheit, die mit elektronisch steuerbaren Schaltelementen ausgerüstet ist, über die die mit dem Steuergerät verbundenen Eingangsleitungen der Zwischeneinrichtung mit deren Ausgangsanschlüssen verbind­ bar sind, an die der Prüfling insbesondere über eine Steck­ verbindung anschaltbar ist.1. Device for testing electronic units, in particular circuit boards of electronic devices, in particular data processing devices, characterized by the combination of a data processing device, such as a so-called personal computer (PC), as a control device with a switch between the control device (PC) and the device under test Intermediate device, in particular adaptation and / or display unit, which is equipped with electronically controllable switching elements via which the input lines of the intermediate device connected to the control device can be connected to their output connections, to which the test object can be connected in particular via a plug connection. 2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Zwischeneinrichtung als selbständige, an das Steuergerät anschließbare Baueinheit ausgebildet ist.2. Testing device according to claim 1, characterized indicates that the intermediate device as an independent, the control unit is designed to be connectable. 3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Zwischeneinrichtung als in einen freien Steckplatz (slot) des Steuergerätes einsteckbare Platine, insbesondere mit nach außen geführten Ausgangsanschlüssen ausgebildet ist. 3. Testing device according to claim 1, characterized records that the intermediate device as in a free Slot of the control unit insertable board, especially with outgoing connections is trained.   4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischeneinrichtung mit Prüfelementen ausgerüstet ist, mittels derer die an den Ausgangsanschlüssen der durchzuschaltenden Leitungen liegenden Anschlußleitungen vor dem Durchschalten auf vorgegebene Eigenschaften, insbesondere Zustände, über­ prüfbar sind.4. Test device according to claim 1, 2 or 3, characterized in that the intermediate device with Test elements is equipped, by means of which the Output connections of the lines to be switched through connecting cables before switching through predefined properties, in particular states, via are testable. 5. Prüfvorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalt­ elemente der Zwischeneinrichtung in einem durch das Steuer­ gerät vorgegebenen Schaltzyklus ein- und ausschaltbar sind.5. Test device according to one or more of the Claims 1 to 4, characterized in that the switching elements of the intermediate device in one by the control specified switching cycle can be switched on and off. 6. Prüfvorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Schalt­ zyklus in Abhängigkeit der von den Prüfelementen erfaßten Werte änderbar ist, insbesondere unterbrochen werden kann, und in eine vorgegebene Stellung führbar ist.6. Test device according to one or more of the Claims 1 to 5, characterized in that the switching cycle depending on those detected by the test elements Values can be changed, in particular can be interrupted, and can be guided into a predetermined position.
DE19863639242 1986-11-17 1986-11-17 Device for testing electronic modules Ceased DE3639242A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863639242 DE3639242A1 (en) 1986-11-17 1986-11-17 Device for testing electronic modules

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863639242 DE3639242A1 (en) 1986-11-17 1986-11-17 Device for testing electronic modules

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3639242A1 true DE3639242A1 (en) 1988-05-19

Family

ID=6314140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19863639242 Ceased DE3639242A1 (en) 1986-11-17 1986-11-17 Device for testing electronic modules

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3639242A1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3823925A1 (en) * 1988-07-14 1990-01-18 Siemens Ag Arrangement for testing peripheral connection modules of a communications system
DE3839211A1 (en) * 1988-11-19 1990-05-23 Ascom Radiocom Ag IO interface for digitial function tests
DE3933222A1 (en) * 1989-10-05 1991-04-18 Ttw Ind & Medizin Messtechnik Measuring arrangement using personal computer as indicator - having measuring program and interface for modules measuring electrical values or converting to them
DE19802003C1 (en) * 1998-01-20 1999-10-21 Siemens Nixdorf Inf Syst Function testing device for surface mounted component group

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0088916B1 (en) * 1982-03-15 1985-11-21 Siemens-Albis Aktiengesellschaft Circuit for testing electrical devices, especially electronic ones
DE3437906A1 (en) * 1984-10-12 1986-04-24 ACS Systemberatung GmbH, 2000 Hamburg Automatic testing device for telecommunications devices

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0088916B1 (en) * 1982-03-15 1985-11-21 Siemens-Albis Aktiengesellschaft Circuit for testing electrical devices, especially electronic ones
DE3437906A1 (en) * 1984-10-12 1986-04-24 ACS Systemberatung GmbH, 2000 Hamburg Automatic testing device for telecommunications devices

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-Z: Testet digital und analog, In: elektro- technik, 66, H.8, 27. April 1984, S.55-57 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3823925A1 (en) * 1988-07-14 1990-01-18 Siemens Ag Arrangement for testing peripheral connection modules of a communications system
DE3839211A1 (en) * 1988-11-19 1990-05-23 Ascom Radiocom Ag IO interface for digitial function tests
DE3933222A1 (en) * 1989-10-05 1991-04-18 Ttw Ind & Medizin Messtechnik Measuring arrangement using personal computer as indicator - having measuring program and interface for modules measuring electrical values or converting to them
DE19802003C1 (en) * 1998-01-20 1999-10-21 Siemens Nixdorf Inf Syst Function testing device for surface mounted component group

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3111852C2 (en)
DE3516755C2 (en)
DE2914106C2 (en) Tester for testing printed circuit cards
DE2341951C2 (en) Device for testing logic circuits
DE2812396A1 (en) ELECTRONIC TESTING DEVICE
DE3116079A1 (en) TEST SYSTEM
WO1993007501A1 (en) Process and device for checking the wiring between an electrical cubicle and field devices connected thereto
DE10326317B4 (en) Test system for testing integrated components
DE10306620B4 (en) Integrated test circuit in an integrated circuit
DE3639242A1 (en) Device for testing electronic modules
DE3933222A1 (en) Measuring arrangement using personal computer as indicator - having measuring program and interface for modules measuring electrical values or converting to them
DE3900040C2 (en) Procedure for the electrical testing of conductor tracks for short circuits
EP0275094B1 (en) Arrangement for testing integrated circuits
DE4414352C2 (en) Device for processing data, in particular for capturing, controlling and / or regulating physical quantities
DE3839539A1 (en) MULTICOMPATIBLE HOLDING DEVICE FOR CHECKING PCBS OR. FLAT ASSEMBLIES, AND FOR CONTACT PIN CARRIER PLATES AND HOLDING PLATES FOR USE IN TEST EQUIPMENT
DE3230208C2 (en)
DE19962868A1 (en) Burn-in-board for performing burn-in-test of semiconductor device e.g. LSI, IC, has substrate consisting of protrusion and connector which are connected to burn-in-apparatus
CH679339A5 (en)
DE19934751B4 (en) System for investigating a network device
DE10001154A1 (en) Circuit for simulating input or output load of analogue circuit - has measuring element between input of driver stage and reference potential, and controllable coupling resistance between output of driver stage and reference potential
DE4136525A1 (en) Electronic circuit testing for PCB mounted devices - reprogramming logic components for test function, stimulating circuit nodes for testing and reprogramming useful function
DE2452134A1 (en) Complex switching circuit function testing device - compares tested circuit function with standard circuit
DE10129625A1 (en) Arrangement for testing device for storing data has device for comparing states of comparison signals on storage device pins, providing function status signal accordingly
DE19950536A1 (en) Circuit for test board of burn-in test system, judges quality of device for comparing output signal with test signal based on run time difference data which are stored corresponding to each type of test signal
DE3800544A1 (en) A digital meter and test device having temporally variable input and output of digital signals

Legal Events

Date Code Title Description
8101 Request for examination as to novelty
8105 Search report available
8110 Request for examination paragraph 44
8131 Rejection